![工業(yè)電源自測(cè)考試_第1頁(yè)](http://file4.renrendoc.com/view/ac0a44372276d303370f18f35a2ebb65/ac0a44372276d303370f18f35a2ebb651.gif)
![工業(yè)電源自測(cè)考試_第2頁(yè)](http://file4.renrendoc.com/view/ac0a44372276d303370f18f35a2ebb65/ac0a44372276d303370f18f35a2ebb652.gif)
![工業(yè)電源自測(cè)考試_第3頁(yè)](http://file4.renrendoc.com/view/ac0a44372276d303370f18f35a2ebb65/ac0a44372276d303370f18f35a2ebb653.gif)
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1、填空類:1: MTBF是指:平均故障間隔時(shí)間2:降額設(shè)計(jì)一般包含的項(xiàng)目有:電壓、 電流、 功率、溫度、集成電路(邏輯類)主要降額參數(shù)為電阻器的主要降額參數(shù)為:額定功率和兩段最大電壓電容器的主要降額參數(shù)為:電源電壓和額定功率繼電器和開(kāi)關(guān)的主要降額參數(shù)為:二極管降額的主要參數(shù)為:最大反向電流和最大反向電壓3:可靠性與溫度關(guān)系極大,一般:電容溫度每升高迫度,壽命減少一半;電感和變壓器溫度每升高10 度,壽命減少一半;集成電路結(jié)溫溫度每升高迫度,失效率增加一倍;極限方面:4:非破壞性極限測(cè)試和破壞性極限測(cè)試各自考察的重點(diǎn)是什么?與EUT工作的I、II、III區(qū)的關(guān)系是怎樣的?答:非損壞性極限測(cè)試,主要
2、考察電源產(chǎn)品在規(guī)格書規(guī)定的工作環(huán)境(包括溫度環(huán)境、電磁 環(huán)境)及工作條件(包括輸入條件、輸出條件)下的可靠性。產(chǎn)品工作在圖1的I區(qū)內(nèi),產(chǎn) 品性能指標(biāo)必須滿足規(guī)格書要求;損壞性極限測(cè)試,主要考察在工作環(huán)境及工作條件逐步惡化的情況下,產(chǎn)品的極限工作 能力,在II區(qū),產(chǎn)品的某些性能指標(biāo)開(kāi)始出現(xiàn)劣化,到III區(qū),產(chǎn)品就有可能損壞。通過(guò)損壞 性極限測(cè)試,可以確認(rèn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)裕量,找出產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié),最終找到成本與性能的最佳 結(jié)合點(diǎn)。5:根據(jù)實(shí)例,寫出詳細(xì)的極限測(cè)試步驟,所需儀器,并畫出接線圖(輸入反復(fù)開(kāi)關(guān)機(jī)為例)一模塊的輸入電壓范圍為140 300Vac,負(fù)載為15A,限流點(diǎn)為16A,回答如下問(wèn)題:a:列
3、出進(jìn)行短路極限測(cè)試所需要的主要儀器設(shè)備答:調(diào)壓器或ACSOURCE、示波器、電子負(fù)載、時(shí)間繼電器b:寫出詳細(xì)的測(cè)試步驟以及環(huán)境條件答:高溫條件下:空載到短路:在輸入電壓范圍內(nèi)(140Vac、220、300Vac),將模塊從空載(1S)到短路(1S),模塊應(yīng)能正常實(shí)現(xiàn)輸出限流或回縮,短路排除后,模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作,各反復(fù) 短路30分鐘。滿載到短路:在輸入電壓范圍內(nèi)(140Vac、220、300Vac),將模塊從滿載(1S)到 短路(1S),模塊應(yīng)能正常實(shí)現(xiàn)輸出限流或回縮,短路排除后,模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作,各反 復(fù)短路30分鐘。短路開(kāi)機(jī):將模塊的輸出先短路,再上市電,在模塊的輸入電壓范圍內(nèi)上電,
4、模塊 應(yīng)能實(shí)現(xiàn)正常的限流或回縮,電源開(kāi)2S,關(guān)2S。短路故障排除后,模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作。 在140Vac/300Vac條件下各30分鐘。長(zhǎng)時(shí)間短路:輸入140/300Vac,輸出短路,時(shí)間60分鐘,短路故障排除后,模塊應(yīng) 能恢復(fù)正常工作。EMC方面:6:進(jìn)行比較詳細(xì)的輻射測(cè)試,請(qǐng)描述列出對(duì)天線的高度、角度、被測(cè)試設(shè)備角度之間的一般組合條件;答:天線的測(cè)試條件為1m、3m,水平和垂直,被測(cè)設(shè)備0、90、180、360度,以上各類條件應(yīng)該組合測(cè)試7:輻射干擾測(cè)試時(shí)所掃描頻率的范圍:30 1000M傳導(dǎo)干擾測(cè)試時(shí)所掃描的頻率范圍:0.15 30M8: ESD測(cè)試時(shí),每個(gè)測(cè)試點(diǎn)測(cè)試的次數(shù)應(yīng)該不少于:
5、正負(fù)極性各 10 次,相鄰兩次放電的時(shí)間間隔至少秒9: ESD測(cè)試中什么是直接放電、什么是間接放電?答:直接放電指測(cè)試時(shí)直接對(duì)被測(cè)設(shè)備放電,對(duì)位于或安裝于EUT附近物體的放電以ESD發(fā)生器對(duì)偶合板接觸放電的方式來(lái)模擬,成為間接放電。10:空氣放電和接觸放電的適用條件是什么,測(cè)試點(diǎn)如何選擇?11: 一般的抗擾性測(cè)試的測(cè)試結(jié)果四個(gè)判定等級(jí)的基本內(nèi)容是什么?答:A級(jí):在技術(shù)規(guī)范限值內(nèi)性能正常B級(jí):功能或性能暫時(shí)降低或喪失,但能自行恢復(fù)C級(jí):功能或性能暫時(shí)降低或喪失,但需操作者干預(yù)或系統(tǒng)復(fù)位D級(jí):因設(shè)備(元件)或軟件損壞,或數(shù)據(jù)丟失而造成不能自行恢復(fù)至正常狀態(tài)的功能降低或者喪失12: 一模塊輸入為L(zhǎng)/
6、N/PE三線,測(cè)試EFT時(shí)存在幾種測(cè)試情況?答:應(yīng)該有七種組合情況:分別對(duì)L、N、PE、L-N、L-PE、N-PE、L-N-PE進(jìn)行組合測(cè)試13:目前公司對(duì)傳導(dǎo)干擾、輻射干擾測(cè)試的裕量有什么樣的要求?答:傳導(dǎo)干擾在我司和華為技術(shù)測(cè)試要求有3dB的裕量,在廣州五所測(cè)試要求有6dB裕量, 對(duì)于輻射干擾測(cè)試要求有6dB裕量。14: 15:簡(jiǎn)述EMC的含義,列舉EMC包括的主要方面冬摩船為化峙也法稔此匕時(shí)七 史族免2好的夜移戶中夸4卞止4血八戎不九H 淚I .此用小筮如拓亦也念B捫、部5 ,也褐杯勿三漫遂、EAU包遙(場(chǎng)角盼(仁),席打炊代驊),傍禳m禮,珈浦州椅覽婭,電tM帶中0 *劫成花也.J1第
7、禍魏感*蝕,億m故戲幼單站如 蛔夠牛拇呼咿侑饋M就孫飩%為常規(guī)方面16:有一正樣測(cè)試模塊,有如下測(cè)試結(jié)果,請(qǐng)針對(duì)是否是問(wèn)題,問(wèn)題嚴(yán)重性等級(jí)、如何處理作出判斷:?jiǎn)栴}一:a:其傳導(dǎo)干擾測(cè)試結(jié)果裕量為2dB,問(wèn)題應(yīng)該如何定位、處理?(嚴(yán)重,應(yīng)該更改)b:實(shí)測(cè)輸入欠壓保護(hù)點(diǎn)為139.9V,規(guī)格數(shù)規(guī)定為1455V,如何定位、處理?(一般,應(yīng)該更改)c:開(kāi)關(guān)管額定電壓500V,在輸出動(dòng)態(tài)條件相下測(cè)試得到有10個(gè)500V以上尖峰,最高值505V,超標(biāo)為10nS,問(wèn)題如何定位?處理(討論,可不作更改,但需記錄)d:紋波造成測(cè)試結(jié)果為195mV,規(guī)格書規(guī)定為200mV,問(wèn)題如何定位,應(yīng)該如何處理?(一般問(wèn)題,可
8、以不改)e:在輸入電壓上限的條件下,輸出大動(dòng)態(tài)空載一限流,發(fā)生輸入過(guò)壓保護(hù),問(wèn)題如何定位,應(yīng)該如何處理?(討論問(wèn)題,可以不改,但需記錄)問(wèn)題二:當(dāng)測(cè)試報(bào)告中包含a、c、d、e時(shí),測(cè)試報(bào)告是否合格?(不合格)當(dāng)測(cè)試報(bào)告中包含b、c、d、e時(shí),測(cè)試報(bào)告是否合格?(合格)17:請(qǐng)根據(jù)給出的負(fù)載動(dòng)態(tài)的波形,請(qǐng)畫出如何測(cè)試過(guò)沖以及恢復(fù)時(shí)間答:18:下圖為測(cè)試啟動(dòng)沖擊電流時(shí)得到的波形,請(qǐng)選擇具體結(jié)果?(標(biāo)尺為:10A/10mV)19:請(qǐng)回答交叉調(diào)整率的概念,并下面根據(jù)給定的數(shù)據(jù)計(jì)算VO1交叉調(diào)整率的結(jié)果。一模塊有三路輸出,交調(diào)測(cè)試結(jié)果如下,請(qǐng)根據(jù)結(jié)果分別計(jì)算出VO1 (5V)、VO2(12V)、VO3(1
9、5V)的交叉調(diào)整率(負(fù)載組合情況中,H代表滿載,L代表空載或者最小載):負(fù)載組合:VO1 VO2 VO3VO1VO2VO3H H H5.0512.1115.08H H L4.9712.1015.10H L L5.0012.0815.02L L L4.9912.0914.98L H H5.0812.1015.01L L H5.0012.0714.99L H L5.0212.0615.00H L H4.9812.0514.90多路輸出電源中,第n路負(fù)載的變化造成第m路輸出電壓變化的百分比,稱之為交叉調(diào)整率。VO1 的交叉調(diào)整率分別為:0.8%(VO3: 0.8%、0.6%),0.7%(VO2: 0
10、.7%、0.6%)20:簡(jiǎn)單繪制漏電流測(cè)試的原理,如果結(jié)果超標(biāo),應(yīng)該如何處理?答:a:(此圖為原來(lái)的圖,新的安規(guī)要求是不同的)b:如果超標(biāo)應(yīng)該按照安規(guī)要求貼漏電流告警標(biāo)簽21:輸出過(guò)壓保護(hù)如何測(cè)試?答:A:標(biāo)稱輸入電壓,半載情況下。B:可以通過(guò)如下方式進(jìn)行測(cè)試:1:通過(guò)調(diào)整反饋環(huán)PI調(diào)節(jié)器反饋端或參考端分壓電阻(并聯(lián)電位器)的方法,使 輸出電壓慢慢調(diào)高,并用萬(wàn)用表檢測(cè)輸出電壓,記錄過(guò)壓保護(hù)時(shí)的輸出電壓值。去掉電位器, 電源應(yīng)保持關(guān)機(jī),但重新關(guān)機(jī),再開(kāi)機(jī)后,應(yīng)能正常工作。2:斷開(kāi)反饋環(huán)路,使輸出電壓達(dá)到過(guò)壓點(diǎn),測(cè)試方法同1;3:如果上述方法不可操作,可使用外灌電壓的方法,采用外灌電壓法測(cè)試時(shí),負(fù)
11、 載選擇最小負(fù)載。C:可通過(guò)如下方式判斷模塊是否保護(hù):1:模塊本身的指示功能,包括電平信號(hào)(BIT STATUS)、指示燈等;2:多路電源中可以通過(guò)觀測(cè)其他輸出電壓是否關(guān)斷來(lái)判斷(針對(duì)保護(hù)時(shí)關(guān)閉所有 輸出的模塊);3:如果不具備以上條件,那就要逐漸升高外灌電壓,在每一個(gè)點(diǎn)關(guān)閉外灌電源, 看模塊是否保護(hù),未保護(hù)則繼續(xù)升高電壓,外灌電壓升高步進(jìn)幅幽.IV;D:其余各路負(fù)載保持滿載,記錄該條件下的測(cè)試結(jié)果。同時(shí)要考察其他路負(fù)載變化 對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響,同樣不能超出范圍,但合格的測(cè)試結(jié)果可以不作記錄。E:發(fā)生輸出過(guò)壓保護(hù)時(shí),輸出電壓應(yīng)該立即關(guān)斷,不能出現(xiàn)反復(fù)振蕩等現(xiàn)象;環(huán)境測(cè)試方面:22:高低溫沖擊測(cè)試
12、是否帶電?高低溫循環(huán)測(cè)試是否帶電?循環(huán)次數(shù)?答:高低溫沖擊測(cè)試不帶電,高低溫循環(huán)測(cè)試帶電,一般進(jìn)行3個(gè)或者6個(gè)循環(huán)答:23:環(huán)境測(cè)試中溫箱的選用原則?溫箱體積應(yīng)該大于被測(cè)試樣品體積5倍以上;溫降各壁距離模塊表面應(yīng)該大于10cm以上;盡量選用風(fēng)速較低的溫箱,即一般體積較大的溫降;24:答:自然冷環(huán)境的基本要求是什么?平時(shí)測(cè)試應(yīng)該如何達(dá)到?環(huán)境中風(fēng)速低于0.5m/S就基本可以認(rèn)為是自然冷環(huán)境;平時(shí)的測(cè)試環(huán)境基本可以認(rèn)為是自然冷環(huán)境,溫箱中則可以通過(guò)適當(dāng)?shù)恼趽鯗叵滹L(fēng)扇來(lái)達(dá)到要求25:簡(jiǎn)單描述恒定濕熱的操作過(guò)程順序答:對(duì)樣品進(jìn)行檢測(cè)一放置好被測(cè)試樣品一升溫預(yù)熱一加濕一條件實(shí)驗(yàn)一減濕一降溫一恢 復(fù)最后檢
13、測(cè)白盒測(cè)試方面:26:請(qǐng)描述環(huán)路測(cè)試中測(cè)試點(diǎn)的選取原則。然后根據(jù)下面兩幅圖標(biāo)出合適的測(cè)試點(diǎn)(可能多 個(gè)),并畫出測(cè)試時(shí)與測(cè)試儀器的簡(jiǎn)單連接方式(以第二張圖為例)答:a:斷點(diǎn)選取原則為:首先應(yīng)該是單一回路,其次輸入阻抗應(yīng)該遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于輸出阻抗。b:選擇測(cè)試點(diǎn)以及畫出連線(略) 27:環(huán)路測(cè)試結(jié)果的裕量應(yīng)該如何要求?答:相位裕量要求30150度,增益裕量要求大于6dB28:環(huán)路測(cè)試的注入信號(hào)選擇原則是什么?答:注入的信號(hào)原則上要求盡量小,在能夠得到光滑曲線的前提下,以測(cè)試信號(hào)小的曲線為 準(zhǔn),測(cè)試過(guò)程中盡量不要用慢速掃描鍵(INTEG TIME中的LONG)29:有如下儀器:TEK754示波器以及原配探
14、頭,Agilent示波器及原配探頭,TEK340及原配探頭,高壓探頭P5200/P5210/P5205。現(xiàn)在需要測(cè)試一 400V-500V的電壓尖峰,請(qǐng)選擇可測(cè)試的儀器以及配套方案,以及注意事項(xiàng) 答:a: Agilent示波器及原配探頭,注意應(yīng)該在CATI條件下測(cè)試b: TEK754示波器配合P5205高壓探頭可以測(cè)試測(cè)試下圖中MOSFET的電壓應(yīng)力V=510V(MOSFET額定500V),應(yīng)該如何處理?30:答:測(cè)試點(diǎn)選擇不準(zhǔn)確,應(yīng)該重新測(cè)試,應(yīng)測(cè)試磁珠上端31:測(cè)試下圖中MOSFET、整流二極管的電流應(yīng)力,標(biāo)明測(cè)試點(diǎn)應(yīng)選取何處,說(shuō)出可行的 測(cè)試方法。答:略32:請(qǐng)?jiān)敿?xì)描述推薦的電應(yīng)力的測(cè)試
15、條件答:a穩(wěn)態(tài)條件下1最高或最低電壓輸入時(shí)(輸入電壓全范圍)2最大或最小負(fù)載條件下(輸入負(fù)載全范圍)測(cè)試上給定條件各種組合情況下的電壓應(yīng)力b輸入大動(dòng)態(tài)條件下1輸入電壓從最小值到最大值之間跳變、跌落;2測(cè)試輸出負(fù)載以下各種狀態(tài)時(shí)功率器件的Vds應(yīng)力:空載、滿載、限流載、短路;c輸出大動(dòng)態(tài)條件下1輸出負(fù)載空載一限流之間跳變或從滿載一限流之間跳變;2輸出負(fù)載空載一滿載之間跳變;c.3輸出負(fù)載空載一短路之間跳變;4輸入全范圍,即在輸入最高、低電壓條件下重復(fù)前面的測(cè)試條件;d輸入輸出同時(shí)動(dòng)態(tài)變化條件下1.輸入最大、最小電壓之間的跌落、跳變;2輸出動(dòng)態(tài)條件參考4.3.1 4.3.3;e開(kāi)關(guān)機(jī)條件下1輸入條
16、件:輸入電源0V一最低啟動(dòng)電壓、0V一最高輸入電壓,反復(fù)開(kāi)關(guān)機(jī);2遙控開(kāi)關(guān)機(jī);e.3輸出條件:空載、滿載、短路等條件;33:電壓應(yīng)力測(cè)試超標(biāo)應(yīng)該如何處理?答:記錄詳細(xì)的超標(biāo)數(shù)據(jù),包括最高應(yīng)力、超標(biāo)部分寬度,超標(biāo)波頭數(shù),然后提交器件認(rèn)證 室審核。34:電解電容紋波電流降額判定標(biāo)準(zhǔn)答:紋波電流值應(yīng)小于額定值的2.2倍測(cè)試溫升,計(jì)算壽命應(yīng)滿足要求8000小時(shí)。35:如何根據(jù)半導(dǎo)體器件的殼溫估算結(jié)溫?答:結(jié)溫T=t (殼溫)+R (殼對(duì)結(jié)的熱阻)XW (開(kāi)關(guān)管損耗)36:根據(jù)變壓器線包外面的溫升估算線包內(nèi)部溫升的原則是什么(線包厚度低于5mm)?答:自然冷條件在線包表面溫升的基礎(chǔ)上疊加10度作為內(nèi)部溫
17、升;風(fēng)冷條件下疊加20度, 作為內(nèi)部溫升。37:有一自然冷模塊,需要白盒測(cè)試熱應(yīng)力,請(qǐng)列出詳細(xì)的測(cè)試條件答:a常溫條件下,輸出負(fù)載調(diào)節(jié)到可以輸出的最大負(fù)載(輸出電壓上限,輸出電流 最大),輸入電壓高壓、低壓、額定時(shí)的溫升;(自然冷、風(fēng)冷均測(cè)試)b常溫條件下,輸出滿載,將風(fēng)冷模塊風(fēng)扇關(guān)閉,測(cè)試輸入電壓低壓、高壓、額 定條件下發(fā)生過(guò)溫保護(hù)時(shí)的各點(diǎn)溫度;(自然冷無(wú)此項(xiàng)測(cè)試)c環(huán)境溫度上限,輸出最大負(fù)載,輸入電壓高壓、低壓、額定條件下的器件溫升; (自然冷、風(fēng)冷均測(cè)試此項(xiàng))d環(huán)境溫度上限,輸出最大負(fù)載,關(guān)閉風(fēng)扇,開(kāi)機(jī),測(cè)試輸入電壓高壓、低壓、 額定條件下模塊發(fā)生過(guò)溫保護(hù)時(shí)的各點(diǎn)溫度;(針對(duì)風(fēng)冷)e環(huán)境
18、溫度上限,輸出最大負(fù)載,輸入電壓高壓、低壓、額定、條件下工作穩(wěn)定 后,關(guān)閉風(fēng)扇,測(cè)試發(fā)生過(guò)溫保護(hù)時(shí)的器件溫升;(針對(duì)風(fēng)冷)f輸入電壓高壓、低壓、額定,輸出最大負(fù)載,逐漸升高溫箱的環(huán)境溫度,直至模塊發(fā)生過(guò)溫保護(hù)時(shí),記錄各點(diǎn)溫度。(自然冷、風(fēng)冷模塊都要測(cè)試)儀器類38: TEK340 的采樣率多少 Sa/S。(500)AGILIENT54622A 的采樣率多少 MSa/S。(200)39: AGILIENT54622A使用原配探頭10074C (10: 1)可測(cè)試的電壓峰值是多少?示波器使用隔離電源Vpp(500);示波器使用不隔離電源 Vpp(400)。40:菊水PLZ4000LAC-SOURCE分別有多少種電壓輸出模式(AC、DC、AC+DC)。41:
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