平面度測量與評定形位公差

1、公差之二集團標(biāo)準(zhǔn)化工作小組Q8QX9QT-X8QQB8Q8-NQ8QJ8-M8QMN平面度誤差的測量和評定方法1、平面度公差：被測平面對理想平面的允許變動量。2、平面度公差帶：距離為公差值t的兩平行平面之間的區(qū)域。3、平面度誤差的測量方法1）直接方法（1）間隙法：刀口尺、平尺等（2）指示表法：調(diào)整被測表面與平板平行（即確定理想平面的位置），一般有兩種方法：A、對角線法（四點法）：調(diào)整支撐使被測表面兩端點等高，即1點與2點等高，3點與4點等高（結(jié)果唯一但是不符合最小4b、三點法：b調(diào)整支撐使被測表面最遠(yuǎn)三點等高（結(jié)果不唯一且不符合最小條件，實測結(jié)果偏1按一定的布點測量被測表面，同時記錄*值，一般

2、可用指 示表的最大讀數(shù)與最小讀數(shù)之差近似地做為被測平面的平面度誤差。必要時可根據(jù)記錄的示值用計算法（圖解法）按最小條件計 算平面度誤差。（3）光軸法：自準(zhǔn)直儀將反射鏡放在被測表面上，并把自準(zhǔn)值儀調(diào)整到與被測表 面平行，沿對角線按一定布點測量、重復(fù)上述方法分別測量另一 條對角線和被測表面上其他各直線上的各布點。把各點示值換算 成線值，記錄在圖表上，通過中心點建立參考平面，由計算法（圖解法）按對角線法計算平面度誤差。必要時按最小條件計算 平面度誤差。標(biāo)準(zhǔn)27頁（4）干涉法：平晶將平晶放在被測表面上，觀測它們之間的干涉條紋。平面度誤差 為：對于封閉環(huán)形:平面度誤差等于干涉條 .一.I_紋數(shù)x光波波

3、長之半（圖a），即f = n x 2對于不封閉圖形:平面度誤差等于條紋的彎曲度與相鄰兩條紋間距之比再乘以光波波 長之半（圖b）2）間接方法（1）布點形式矩形平面的布點形式：網(wǎng)格布點、對角線布點園形平面的布點形式：網(wǎng)格布點、對角線布點園環(huán)形平面的布點形式：對于較寬的環(huán)形平面，其圓環(huán)測 量線不得少于兩圈，對于較窄的環(huán)形平面，可采用單圈測量線的 形式。3）水平儀法4）斑點法4、平面度誤差的評定方法1）最小包容區(qū)域法；對被測平面的偏差進(jìn)行旋轉(zhuǎn)和平移，不改變被測平面的平面 度評定結(jié)果，是以構(gòu)成平面度最小包容區(qū)域的兩平行平面之一作為理想 平面。最小包容區(qū)域面的判定準(zhǔn)則A、三角形準(zhǔn)則有三個高極點（極點是實際

4、被測平面與最小包容區(qū)域面 的接觸點）與一個極低點，或相反有三個低極點與一個高極+1+2+4+3+54)三遠(yuǎn)點平面法+4-1:適用于低精度的中小平面，評定結(jié)果不唯一。點，其中的那個低極點（或高極點）位于三個高極點（或低 極點）構(gòu)成的三角形內(nèi)或位于三角形的一條邊上。這種情況 說明被測平面是凹面或凸面。B、交叉準(zhǔn)則有兩個高極點和兩個低極點，其各自的連線成互相交叉的形 式。C、直線準(zhǔn)則有兩個高（低）極點與一個低（高）極點成直線排列，且那 個低（高）極點在兩個高（低）極點之間。2）.最小二乘法3）對角線平面法：適用于中、高精度的較大平面。基準(zhǔn)平面經(jīng)過被測實際面的一條對角線，且平行于 另一條對角線，實際面上距離該基準(zhǔn)面的最高點與最低點的代數(shù) 差即為該平面的平面度誤差。f=5-(-1)=6um基準(zhǔn)平面通過被測實際平面上相距最遠(yuǎn)且不在一條直線上的三點（通常為3個角點），實際面上距此基準(zhǔn)平面的最高點f=7-(-與最低點的代數(shù)差近似為該平面的平面度誤差。+1+3+7+2+5+2m+1-33)=10u5、平面度誤差的數(shù)據(jù)處理1-6-1-5+1+2-3+16)=8um對角2+ 1 線法+-3+2-6-2 02-(-+1+1-2+11-6-1-5+1+2-3+15)=7um+1-3+2+20/-5f=2w+1+1-40對直