電子元器件驗(yàn)證要求與方法

1、電子元器件入廠檢驗(yàn)規(guī)程1目的為本公司電子元器件類進(jìn)料檢驗(yàn)提供科學(xué)、客觀的方法和依據(jù)， 進(jìn)而不斷提高產(chǎn)品質(zhì)量。2適用范圍本檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)適用于所有電子元器件原材料的檢驗(yàn) /驗(yàn)收。對某些 無法用定量說明的缺陷，可用供需雙方制訂的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)和封樣的方法 加以解決。3參考文件GB/T 17215-2002 1 級和2級靜止式交流有功電度表。相關(guān)電子元器件技術(shù)文件和樣品。4缺陷類型A 類：嚴(yán)重缺陷CRICITAL DEFECT簡寫CRI，是指不良缺 陷足使產(chǎn)品失去規(guī)定的主要或全部功能，或者特別情況下可能帶來安 全問題，或者為客戶或市場拒絕接受的特別規(guī)定的缺點(diǎn)。B類：主要缺陷MAJODEFECT,簡寫MAJ ,不

2、良缺陷足使產(chǎn) 品失去部分功能，或者相對嚴(yán)重的結(jié)構(gòu)及外觀異常， 從而顯著降低產(chǎn) 品的使用性能。C 類： 次要缺陷MINOR3EFECT簡寫MIN，不良缺陷可以造成產(chǎn)品部分性能偏差或一般外觀缺點(diǎn)，雖不影響產(chǎn)品性能，但會使產(chǎn) 品價值降低的缺點(diǎn)。5判定依據(jù)取一般檢驗(yàn)水平II ,正常檢驗(yàn)AQL A類缺陷為0, B類缺陷為 0.4, C類缺陷為1.0。當(dāng)缺陷位于產(chǎn)品的LOGO產(chǎn)品名稱或圖標(biāo)的 40mm內(nèi)時，應(yīng)重新審核決定此缺陷是否到達(dá)了影響標(biāo)識、產(chǎn)品名稱 或圖標(biāo)的程度。在實(shí)際執(zhí)行時依照檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的條款或參照產(chǎn)品的封樣。 6工作程序和要求外觀缺陷的檢驗(yàn)方法及要求視力：具有正常視力1.0-1.2 視力和色感。照

3、度：室內(nèi)照明800Lux40W陽光燈以上。目測距離： 眼睛距離15-30cm處目視，必要時以（三倍或三倍以 上）放大照燈檢驗(yàn)確認(rèn)。ESD防護(hù)：凡接觸電子元器件必需配帶檢測合格的靜電防護(hù)措施 （配帶干凈手套與防靜電手環(huán)接上靜電接地線）；檢驗(yàn)前需先確認(rèn)所使 用工作平臺清潔。外觀尺寸及尺寸的配合的檢驗(yàn)方法使用普通長度測量儀或各種量規(guī)量具進(jìn)行測量。試裝配：將電子元器件與 PCB等試裝位置、尺寸等應(yīng)配合良 好，并且插入后不應(yīng)占到別的元器件的位置。檢驗(yàn)儀器、儀表、量具的要求所有檢驗(yàn)儀器、儀表、量具必須在校正計量期內(nèi)。本檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)假設(shè)與其它標(biāo)準(zhǔn)文件相沖突時，依據(jù)順序如下：本公司所提供的技術(shù)文件等提出的特殊需求

4、；本檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)；由供給商提供的檢驗(yàn)報告、規(guī)格書、承認(rèn)書等資料；假設(shè)有外觀標(biāo)準(zhǔn)爭議時，由質(zhì)檢部解釋與核判是否允收。涉及功能性問題時，由技術(shù)部或質(zhì)檢部分析原因與責(zé)任單位， 并于驗(yàn)證后由質(zhì)檢部復(fù)判外觀是否允收。7檢驗(yàn)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)按照“電子元器件檢驗(yàn)明細(xì)表”見附錄以及有關(guān)進(jìn)料檢驗(yàn)的 規(guī)定對新進(jìn)原材料進(jìn)行檢驗(yàn)。對于我司目前不能檢驗(yàn)的項(xiàng)目，可以驗(yàn)證供方提供的檢驗(yàn)數(shù)據(jù), 也可以委托國家檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)進(jìn)行檢驗(yàn)。附錄 電子元器件檢驗(yàn)明細(xì)表1 包裝、標(biāo)識檢查通用序號檢驗(yàn)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)要求缺陷類型檢驗(yàn)方法包裝、標(biāo)識1、不允許包裝箱內(nèi)無合格證、測試記錄；B目視2、不允許沒有制造商的名稱；B3、不允許沒有元器件名稱；B4、不允許沒有元

5、器件型號、規(guī)格；B5、不允許沒有包裝數(shù)量；B6、不允許沒有生產(chǎn)日期和生產(chǎn)批號；C7、不允許沒有制造商合格蓋章；B8、針對不同元器件的特性必須使用適當(dāng)?shù)陌b方式；B數(shù)量1、不允許實(shí)際包裝數(shù)量與標(biāo)識上的數(shù)量不相同；B目視點(diǎn)檢2、不允許實(shí)際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量不吻合；B2外觀檢查通用序號檢驗(yàn)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)要求缺陷類型檢驗(yàn)方法材質(zhì)不允許與文件要求不符合；A目視污跡不允許異物、油污、灰塵及其它污垢；C金屬殼體外表、引腳1、輕微不光亮、發(fā)黑，不影響上錫功能；C2、發(fā)黑，生銹嚴(yán)重，上錫困難，甚至不能上錫；B3、影響組裝；B4、不影響組裝；C絲印1、絲印錯、漏；B2、絲印模糊，至字體無法識別；B3、字體排版錯誤

6、大小不等、次序顛倒；B4、絲印模糊，但字體仍可識別；C外表、引腳顏色不允許一批中有多種顏色；B劃傷1、劃傷深度不超過2mm,不明顯可見；C2、明顯可見元器件內(nèi)部材質(zhì)；B破裂1、本體破損面積超過 2mm 2,明顯可見；B2、本體有裂紋面積小于 2mm 2,不明顯可見；C線頭1、線頭有松散現(xiàn)象；B2、堆錫超過1mm ;C絕緣膠皮1、破損嚴(yán)重，看到內(nèi)部芯線；B2、輕微破損，看不到內(nèi)部芯線；B外表保護(hù)膜不能有脫落嚴(yán)重，看到內(nèi)部材質(zhì)；B引出線方向不允許一批中有多種引出線方向；B元器件封口處不允許封口不光滑、有縫隙嚴(yán)重，用手搖動引出端有松動， 甚至有脫落現(xiàn)象；B帶金屬焊接部分不允許絕緣膠粘附于部件焊接部分

7、， 帶金屬部分有氧化，生B銹、壓傷嚴(yán)重現(xiàn)象；極性不允許標(biāo)識與實(shí)際不符；A變形不允許外形變形嚴(yán)重；B3尺寸檢查通用序號檢驗(yàn)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)要求缺陷類型檢驗(yàn)方法尺寸不允許重要尺寸不符合圖紙、bom要求引腳直徑、定位尺寸、本體直徑、引腳長度；A卡尺4裝配檢查通用序號檢驗(yàn)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)要求缺陷類型檢驗(yàn)方法裝配1、插不進(jìn)PCB板、表殼、端子等；A試裝目視2、插入PCB板、表殼、端子等困難；B5可焊性試驗(yàn)通用序號檢驗(yàn)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)要求缺陷類型檢驗(yàn)方法無特殊技術(shù)要求，以下兩種方法可選其一試驗(yàn)：a、用電烙鐵以溫度為235C,時間為3S試驗(yàn)，錫點(diǎn)圓潤有光澤，可焊性穩(wěn)固；A實(shí)際操作b、PIN上錫不良，或完全不上錫，均不可接受；（將零

8、件腳插入恒溫烙鐵現(xiàn)使用之合格松香水內(nèi)， 全部浸潤；再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN是否100娘好上錫；如果不是則拒收）；錫爐耐焊接熱溫度24010C,浸錫焊接時間 5s后，外觀、電氣與機(jī)械性能良好；A6電性檢驗(yàn)6.1 電阻序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷 類型電阻值不允許實(shí)際測量電阻值超出偏差范圍；數(shù)字萬用表或LCR數(shù)字電橋耐壓測試儀A*耐壓不允許實(shí)際測量耐壓值超出偏差范圍；A*額定功耗不允許實(shí)際測量功耗超出偏差范圍；A6.2 電容序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷 類型電容值不允許實(shí)際測量電容值超出偏差范圍；數(shù)字電容表或LCR數(shù)字電橋測 耐壓測試儀A空載漏電流不允許實(shí)際測量漏

9、電流值超出偏差范圍；A耐壓不允許實(shí)際測量耐壓值超出偏差范圍；A損耗角不允許實(shí)際測量損耗角超出偏差范圍；A電感、磁珠序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷 類型電感量不允許實(shí)際測量電容值超出偏差范圍；電容電感表或LCR數(shù)字電橋測A繞組不允許不同繞組短路，同組線圈開路；A平衡度不允許兩組電感量平衡度不符要求；B電壓試驗(yàn)電壓不符合要求；A光耦序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型1、數(shù)字萬用表檢測法：下面以PC 1 1 1光耦檢測為例來說明數(shù) 字萬用表檢測的方法，檢測電路如圖1所示。檢測時將光耦內(nèi)接 二極管的十端1腳和一端2腳 分別插入數(shù)字萬用表的H f

10、e的 c、e插孔內(nèi)，此時數(shù)字萬用表應(yīng)置于NPN擋；然后將光耦內(nèi) 接光電三極管c極5腳接指針式萬用表的黑表筆，e極 4腳 接 紅表筆，并將指針式萬用表撥在RX 1 k擋。這樣就能通過指針 式萬用表指針的偏轉(zhuǎn)角度一一實(shí)際上是光電流的變化，來判斷光 耦的情況。指針向右偏轉(zhuǎn)角度越大，說明光耦的光電轉(zhuǎn)換效率越光電轉(zhuǎn)換高，即傳輸比越高，反之越低；假設(shè)表針不動，則說明光耦已損 壞。數(shù)字萬用表指針式萬用表光電轉(zhuǎn)換高，即傳輸比越高，反之越低；假設(shè)表針不動，則說明光耦已損 壞。數(shù)字萬用表指針式萬用表50100 50100 Q 電阻指針式萬用表2、光電效應(yīng)判斷法：仍以PC 1 1 1光 耦合器的檢測為例，檢測電路如

11、圖2所示。將萬用表置于RX 1 k電阻擋，兩表筆分別接在光耦的輸出端4、5腳；然后用一節(jié)1. 5 V的電池與一只5 0-100 Q的電阻串接后，電池的正極端接P C 1 1 1的 1腳，負(fù)極端碰接2腳，或者正 時觀察接在輸出端 萬用表的才 光耦是好的，如果不擺動，則說 偏轉(zhuǎn)角度越大，說明光電轉(zhuǎn)換靈極端碰接1腳, 多針偏轉(zhuǎn)情況。如一 明光耦已損壞。萬 敏度越高。PE r2腳，這 說明勵M哨5 Ao 口叫6.5 變壓器序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型電壓檢驗(yàn)變壓器的各次級空載、負(fù)載電壓是否與技術(shù)文件要求一致；耐壓測試儀數(shù)字萬用表DC穩(wěn)壓電源A耐壓用耐壓測試儀給變壓器進(jìn)行各項(xiàng)耐壓測試耐壓測

12、試儀的測試時 間設(shè)為5S,最大漏電流設(shè)為1mA，假設(shè)耐壓測試儀顯示“PASS” 則所測變壓器抗電強(qiáng)度合格；A6.5.3通斷不允許線圈開路、短路、無電壓輸出；A電壓互感器序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷 類型耐壓用耐壓測試儀給電壓互感器的“初級與次級”間加2KV、50HZ的交流電壓進(jìn)行耐壓測試耐壓測試儀的測試時間設(shè)為5S,最大漏電流設(shè)為1mA，假設(shè)；耐壓測試儀 數(shù)字萬用表A通斷用萬用表歐姆檔測量初次級各導(dǎo)線是否有斷開或短路；A電流互感器序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷 類型耐壓用耐壓測試儀給電流互感器的“初級與次級”間加 3KV、50HZ 的交流電壓進(jìn)行耐壓測試耐壓測試儀的測試時間設(shè)

13、為60S ,最大漏電流設(shè)為1mA，假設(shè)耐壓測試儀顯示“ PASS”則所測電流 互感器抗電強(qiáng)度合格；耐壓測試儀 數(shù)字萬用表A通斷用萬用表歐姆檔測量次級兩根導(dǎo)線是否有斷開或短路現(xiàn)象A繞組檢測一次繞組與二次繞組之間的絕緣電阻，要求1000M QDC=500VA6.8發(fā)光二極管序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷 類型發(fā)光特性選擇數(shù)字萬用表的二極管檔，正向測量，LED需發(fā)出與要求相符的顏色的光，而反向測量不發(fā)光；否則該二極管不合格。注：有標(biāo)記的一端為負(fù)極。數(shù)字萬用表A6.9 二極管序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷 類型正向壓降選擇數(shù)字萬用表的二極管檔，正向測量，讀數(shù)需小于1,而反向測量讀數(shù)需無

14、窮大；否則該二極管不合格。注：有顏色標(biāo)記的一端為負(fù)極。數(shù)字萬用表A6.10 三極管序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷 類型特性a.先選量程：R*100或R*1K檔位；b.測量PNP型半導(dǎo)體三極管的發(fā)射極和集電極的正向電阻值：紅表筆接基極，黑表筆接發(fā)射極，所測得阻值為發(fā)射極正向電阻值，假設(shè)將黑表筆接集電極（紅表筆不動，所測得阻值便是集電極的正向 電阻值，正向電阻值愈小愈好；c.測量PNP型半導(dǎo)體三極管的發(fā)射極和集電極的反向電阻值：將黑表筆接基極，紅表筆分別接發(fā)射極與集電極，所測得阻值分別為 發(fā)射極和集電極的反向電阻，反向電阻愈小愈好；d.測量NPN型半導(dǎo)體三極管的發(fā)射極和集電極的正向電阻值的

15、方法和測量PNP型半導(dǎo)體三極管的方法相反；萬用表A6.11穩(wěn)壓芯片序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷 類型穩(wěn)壓值穩(wěn)壓值符合技術(shù)要求；DC穩(wěn)壓電源A6.12 晶振序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型特性無特殊技術(shù)要求，以下兩種方法可選其一試驗(yàn)：a.測量電阻方法：用萬用表 RX10K檔測量石英晶體振蕩器的正， 反向電阻值，正常時應(yīng)為無窮大。假設(shè)測得石英晶體振蕩器有一 定的阻值或?yàn)榱?，則說明該石英晶體振蕩器已漏電或擊穿損壞；b.動態(tài)測量方法：用是波器在電路工作時測量它的實(shí)際振蕩頻是 否符合該晶體的額定振蕩頻率；如果是，說明該晶振是正常的， 如果該晶體的額定振蕩頻率偏低，偏高或根本不起振，說

16、明該晶 振已漏電或擊穿損壞；萬用表 示波器A6.13 繼電器序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷 類型分、合檢測繼電器按下列圖所示接好穩(wěn)壓電源、萬用表、繼電器，萬用 表接電流檔100mA范圍。將繼電器線圈、電流表串入電路，注意 電流表的正、負(fù)極不要接錯。接好后穩(wěn)壓電源通電，并逐漸增加 電壓數(shù)值，直到聽見銜鐵發(fā)出“咔”的一聲，磁鐵已將銜鐵吸住，DC穩(wěn)壓電源 數(shù)字萬用表A拿開萬用表表筆，+銜鐵分開，說明繼電器良好；-1穩(wěn)壓苣源K6.14 電池序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷 類型空載電壓空載電壓符合技術(shù)要求；萬用表A6.15 液晶序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷 類型顯示功能正常進(jìn)入

17、界面，顯示無異常條紋，背光良好，無明顯色差；測試工裝、目測A6.16 可控硅序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷 類型單向可控硅檢測萬用表選電阻 R*1Q擋，用紅、黑兩表筆分別測任意兩引腳間正 反向電阻直至找出讀數(shù)為數(shù)十歐姆的一對引腳，此時黑表筆的引 腳為控制極G,紅表筆的引 腳為陰極K,另一空腳為陽極 Ao此 時將黑表筆接已判斷了的陽極A,紅表筆仍接陰極 Ko此時萬用表指針應(yīng)不動。用短線瞬間短接陽極 A和控制極G,此時萬用表電 阻擋指針應(yīng)向右偏轉(zhuǎn)，阻值讀數(shù)為 10歐姆左右。如陽極 A接黑表 筆，陰極K接紅表筆時，萬用表指針發(fā)生偏轉(zhuǎn)，說明該單向可控 硅已擊穿損壞。萬用表 短接線A雙向可控硅檢

18、測用萬用表電阻 R*1Q擋，用紅、黑兩表筆分別測任意兩引腳間正 反向電阻，結(jié)果其中兩組讀數(shù)為無窮大。假設(shè)一組為數(shù)十歐姆時， 該組紅、黑表所接的兩引腳為第一陽極A1和控制極G,另一空腳即為第二陽極 A2。確定A1、G極后，再仔細(xì)測量A1、G極間正、 反向電阻，讀數(shù)相對較小的那次測量的黑表筆所接的引腳為第一 陽極A1 ,紅表筆所接引腳為控制極 Go將黑表筆接已確定的第二 陽極A2,紅表筆接第一陽極 A1,此時萬用表指針不應(yīng)發(fā)生偏轉(zhuǎn)， 阻值為無窮大。再用短接線將A2、G極瞬間短接，給G極加上正 向觸發(fā)電壓，A2、A1間阻值約10歐姆左右。隨后斷開 A2、G間萬用表短接線A短接線，萬用表讀數(shù)應(yīng)保持 1

19、0歐姆左右?；Q 紅、黑表筆接線， 紅表筆接第二陽極 A2,黑表筆接第一陽極 A1。同樣萬用表指針 應(yīng)不發(fā)生偏轉(zhuǎn)，阻值為無窮大。用短接線將A2、G極間再次瞬間短接，給G極加上負(fù)的觸發(fā)電壓，A1、A2間的阻值也是10歐姆 左右。隨后斷開 A2、G極間短接線，萬用表讀數(shù)應(yīng)不變，保持在 10歐姆左右。符合以上規(guī)律，說明被測雙向可控硅未損壞且三個 引腳極性判斷正確。檢測較大功率可控硅時，需要在萬用表黑筆中串接一節(jié)1.5V干電池，以提高觸發(fā)電壓。6.17 按鍵序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷 類型導(dǎo)通性用萬用表測量接點(diǎn)通/斷狀態(tài)與開關(guān)切換相符合；數(shù)字萬用表A手感切換片應(yīng)無切換不順無法切換之現(xiàn)象及手

20、感受不良等現(xiàn)象；實(shí)際操作B6.18 通訊模塊、射頻連接線、天線序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷 類型通訊模塊、射頻連接線、天線裝到配變 /負(fù)控/集中器終端，測試能否連 接主站；配變/負(fù)控/集中 器終端A6.19 USB頭、卡座序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷 類型導(dǎo)通性量測各腳通，斷接點(diǎn)導(dǎo)電性能必須良好；數(shù)字萬用表A6.20 排針、排線、接插件類序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷 類型導(dǎo)通性量測各腳通，斷接點(diǎn)導(dǎo)電性能必須良好；數(shù)字萬用表A安裝針腳不能與標(biāo)準(zhǔn)PCB順利安裝；mmmm范圍內(nèi)；安裝數(shù)顯卡尺B6.21 線材序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷 類型導(dǎo)通性導(dǎo)電性良好，無

21、短路現(xiàn)象；萬用表 卡尺A線徑線徑符合“中國、國際電工委員會、”；B線損率線損率符合技術(shù)要求；A7輔料檢驗(yàn) 說明書序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷 類型7.1.1紙質(zhì)符合設(shè)計要求；比照目測B7.1.2紙張厚度符合設(shè)計要求；比照目測B7.1.3印刷文字印刷文字正確、清晰，字體、大小 、位置應(yīng)符合設(shè)計要求，文字無缺筆斷畫，無變形字；比照目測B7.1.4印刷顏色封面和書頁的顏色及墨色符合樣板或規(guī)定色號；比照目測B書頁與書貼1、書帖平服整齊，無明顯八字皺折、死折、折角、殘頁和臟跡；目測B2、；游標(biāo)卡尺，直尺B3、書帖的劃口排列正確，劃透，均在折縫線上；目測B成品裁切成品裁切歪斜誤差0 1.0mm

22、,裁切后無嚴(yán)重刀花，無連刀頁，無嚴(yán)重破頭；游標(biāo)卡尺，直尺B成品外觀成品外觀整潔，無壓痕，無污跡；目測C標(biāo)簽貼紙序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型7.2.1標(biāo)簽材料符合設(shè)計要求；比照目測B7.2.2標(biāo)簽厚度符合設(shè)計要求；比照目測B7.2.3覆膜材料符合設(shè)計要求；比照目測B7.2.4覆膜厚度符合設(shè)計要求；比照目測B7.2.5標(biāo)簽?zāi)z材料符合設(shè)計要求；比照目測B7.2.6印刷油墨符合設(shè)計要求；比照目測B7.2.7膠的粘性將標(biāo)簽粘在測試工裝上，各位置都與板殼粘接良好，無翹起；目測B7.2.8各部分尺寸符合設(shè)計要求（外型尺寸，邊框的位置及尺寸 ）；比照標(biāo)準(zhǔn)樣B7.2.9印刷文字印刷文字正確，字體、大小、位置與設(shè)計樣板或圖紙一致；比照目測A7.2.10印刷顏色印刷部分顏色符合設(shè)計樣板或規(guī)定色號；比照目測A7.2.11平整、清潔度不允許有折痕、滴墨、墨跡不均、污跡、油跡、毛邊、上翹、翹邊、雜質(zhì)、拱起等不良現(xiàn)象；目測B7.2.12劃傷允許有直徑不大于 0.2 mm ,長度不