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(建筑電氣工程]電子電氣產(chǎn)品中限制使用物質(zhì)水平的測(cè)定方法20XX年(建筑電氣工程]電子電氣產(chǎn)品中限制使用物質(zhì)水平的測(cè)定方法20XX年XX丿多年的企業(yè)咨詢顧問經(jīng)驗(yàn)」經(jīng)過實(shí)戰(zhàn)驗(yàn)證可以落地執(zhí)行的卓越管鯉75案,值得您下載擁育電子電氣產(chǎn)品中限制使用物質(zhì)水平的測(cè)定方法(內(nèi)部資料僅供參考)IECACEAadhoc工作組adhoc工作組的使命:制定標(biāo)準(zhǔn)文本,定義檢驗(yàn)程序,以允許電子電氣行業(yè)在全球協(xié)調(diào)一致的基礎(chǔ)上測(cè)定電子電氣產(chǎn)品中鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、聚溴聯(lián)苯和聚溴二苯醚這些限制使用物質(zhì)的濃度(歐盟RoHS指令,中國(guó),美國(guó),日本等)adhoc工作組的目標(biāo):為電子電氣行業(yè)制定標(biāo)準(zhǔn)文本供實(shí)驗(yàn)室使用,并提供給全球范圍內(nèi)的OEM廠商,供應(yīng)商,非政府組織,政府部門等。該標(biāo)準(zhǔn)文本將作為IEC標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行提交發(fā)布。目錄TOC\o"1-5"\h\z前言7范圍7參考文獻(xiàn)7術(shù)語和定義8檢驗(yàn)程序簡(jiǎn)介8檢驗(yàn)程序范圍8檢驗(yàn)程序流程8材料調(diào)節(jié)(基質(zhì))10定性和定量篩選檢驗(yàn)程序10驗(yàn)證檢驗(yàn)程序10機(jī)械樣品制備過程116.1制備方法的范圍、應(yīng)用和概要116.2參考資料,參考標(biāo)準(zhǔn),參考方法和參考材料11術(shù)語和定義11儀器/設(shè)備和材料11檢驗(yàn)程序..12樣品12切割...12粗磨...12均質(zhì)化.12細(xì)磨12X射線熒光光譜儀(XRF)的定性篩選13范圍13引用標(biāo)準(zhǔn)13術(shù)語和定義14儀器/設(shè)備和材料15標(biāo)準(zhǔn)樣品16檢驗(yàn)程序17分光計(jì)的準(zhǔn)備17檢準(zhǔn)17分光計(jì)性能驗(yàn)證17測(cè)量樣品介紹18測(cè)量18試驗(yàn)報(bào)告19方法評(píng)價(jià)19附件197.7.1根據(jù)RoHS指令對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的解釋19基質(zhì)影響20樣品的尺寸和厚度考慮20X射線熒光光譜儀的定量篩選(XRF)21范圍21引用標(biāo)準(zhǔn)21術(shù)語和定義21儀器/設(shè)備和材料22標(biāo)準(zhǔn)樣品23測(cè)試程序24分光計(jì)調(diào)整24校準(zhǔn)24定量篩選測(cè)試24測(cè)試報(bào)告24附件258.6.1按RoHS指令解釋測(cè)試結(jié)果25基質(zhì)影響25樣品大小和厚度考慮259用GC/MS測(cè)量聚合物中的多溴聯(lián)苯PBB和多溴聯(lián)苯醚PBDE27范圍,應(yīng)用和方法概要27參考資料,引用標(biāo)準(zhǔn),標(biāo)準(zhǔn)方法和標(biāo)準(zhǔn)材料...27術(shù)語和定義27儀器/設(shè)備和材料28儀器28設(shè)備28試劑28樣品制備29樣品辯認(rèn)29提?。ㄝ腿。?9樣品清洗和純化29測(cè)試步驟29校準(zhǔn)29儀器性能29樣品分析30分析結(jié)果的計(jì)算30測(cè)試報(bào)告30質(zhì)量控制31方法評(píng)估31附件..3110用HPLC/UV測(cè)定聚合物中的PBB禾和PBDE32范圍,應(yīng)用和方法概要32參考資料,引用標(biāo)準(zhǔn),標(biāo)準(zhǔn)方法和材料32術(shù)語和定義32儀器/設(shè)備和材料32儀器/設(shè)備32材料32試劑....32標(biāo)準(zhǔn)制備/儲(chǔ)存溶液制備33樣品制備...33測(cè)試程序33校準(zhǔn)33儀器性能33樣品分析33分析結(jié)果的計(jì)算.34測(cè)試報(bào)告34質(zhì)量控制...34方法評(píng)估...3411在無色和有色鉻涂層中對(duì)六價(jià)鉻的點(diǎn)滴試驗(yàn)36范圍,應(yīng)用和方法概要..36參考資料,引用標(biāo)準(zhǔn),標(biāo)準(zhǔn)方法和材料36術(shù)語和定義36儀器/設(shè)備和材料36試劑...36樣品制備36測(cè)試程序36方法評(píng)估3712用比色法檢測(cè)六價(jià)鉻38范圍,運(yùn)用及方法總結(jié)38引用標(biāo)準(zhǔn),標(biāo)準(zhǔn)樣品,標(biāo)準(zhǔn)方法和標(biāo)準(zhǔn)材料38術(shù)語和定義39儀器/設(shè)備和材料39儀器/設(shè)備39材料4012.4..3試劑4012.5樣品制備40測(cè)試步驟4112.6.1提取41顯色和測(cè)試41校準(zhǔn)曲線的準(zhǔn)備42分析結(jié)果的計(jì)算42質(zhì)量控制43方法評(píng)估434413用CVAAS,AFS和ICP-AES/MS測(cè)量聚合材料、金屬物質(zhì)和電子產(chǎn)品中的汞44TOC\o"1-5"\h\z范圍、應(yīng)用和方法概要44參考資料、引用標(biāo)準(zhǔn)、標(biāo)準(zhǔn)方法和標(biāo)準(zhǔn)材料.44術(shù)語和定義45儀器/設(shè)備和材料46試劑..46污染46樣品制備47測(cè)試部分47濕法消解(金屬材料和電子產(chǎn)品的消解)47用硝酸/氟硼酸/過氧化氫進(jìn)行微波消解48檢測(cè)步驟48標(biāo)準(zhǔn)制備/存儲(chǔ)溶液制備48校準(zhǔn)48儀器性能49儀器參數(shù)49樣品分析50分析結(jié)果的計(jì)算50測(cè)試報(bào)告51質(zhì)量控制51方法評(píng)估51附件5114用ICP-AES,ICP-MS和AAS測(cè)量聚合材料中的鉛和鎘52范圍,應(yīng)用和方法概述52參考資料,引用標(biāo)準(zhǔn),標(biāo)準(zhǔn)方法和材料52術(shù)語和定義52儀器/設(shè)備和材料..53儀器/設(shè)備53試劑54樣品制備55測(cè)試部分....55測(cè)試溶液的制備55實(shí)驗(yàn)室空白試劑的制備57測(cè)試步驟...57校準(zhǔn)溶液的制備57校準(zhǔn)曲線的制定57測(cè)量樣品58計(jì)算58測(cè)試報(bào)告58質(zhì)量控制58方法評(píng)估59附件..59ICP/AES(-OES)59ICP/MS60AAS...6015用ICP-AES,ICP-MS,andAAS檢測(cè)金屬材料中的鉛和鎘…….61范圍,應(yīng)用和方法概要61參考資料,引用標(biāo)準(zhǔn),標(biāo)準(zhǔn)方法和標(biāo)準(zhǔn)材料61術(shù)語和定義61儀器/設(shè)備和材料62試劑...62樣品制備63測(cè)試部分63測(cè)試樣品溶液的制備63實(shí)驗(yàn)室空白試劑的制備64測(cè)試程序64校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的制備65校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量65樣品的檢測(cè)66計(jì)算66測(cè)試報(bào)告66質(zhì)量控制66方法評(píng)估66附件...66ICP/AES(-OES)66ICP/MS68AAS...6816用ICP-AES,ICP-MS,andAAS測(cè)量電器產(chǎn)品中的鉛和鎘69范圍,應(yīng)用和方法概要69參考資料,引用標(biāo)準(zhǔn),標(biāo)準(zhǔn)方法和標(biāo)準(zhǔn)材料69術(shù)語和定義69儀器/設(shè)備和材料70試劑....71樣品制備72測(cè)試部分72用王水消解72微波消解72測(cè)試程序73校準(zhǔn)溶液的制備73標(biāo)準(zhǔn)的制備73校準(zhǔn)74校準(zhǔn)曲線的制定74樣品的測(cè)試75分析結(jié)果的計(jì)算75測(cè)試報(bào)告75質(zhì)量控制75方法評(píng)估75附件.7616.9.116.9.1ICP/AES(-OES)16.9.116.9.1ICP/AES(-OES)ICP/MSAAS..7.717標(biāo)準(zhǔn)方法和材料791、前言電子電氣產(chǎn)品的廣泛應(yīng)用對(duì)環(huán)境造成的影響越來越引起人們的關(guān)注。全世界很多國(guó)家都采用法規(guī)來影響電子電氣產(chǎn)品廢物、物質(zhì)和能源的使用。象鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻和一些溴化阻燃劑(類似多溴聯(lián)苯BB、多溴聯(lián)苯醚PBDE等)特定物質(zhì)在電子電氣產(chǎn)品中的使用,目前在立法中是被規(guī)定的,例如:歐盟指令“電子電氣設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)的指令”(RoHS)中國(guó)起草法律“電子信息產(chǎn)品污染防治管理辦法”美國(guó)(加利福尼亞)“2003年電子廢棄物回收法”和“電子廢棄物高級(jí)處理費(fèi)”歐盟的RoHS指令規(guī)定,從2006年7月1日起,禁止在電子電氣設(shè)備中使用鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻和兩類溴化阻燃劑(多溴聯(lián)苯和多溴聯(lián)苯醚)。中國(guó)草案中也規(guī)定有相同的物質(zhì),和歐盟RoHS指令的時(shí)限也相同。同樣的,加利福尼亞盡管比歐盟RoHS指令中覆蓋的產(chǎn)品范圍要窄,但也在這個(gè)期限內(nèi)限制了這些物質(zhì)的使用。對(duì)于要進(jìn)入或已在市場(chǎng)上銷售的電子電氣產(chǎn)品中限定的物質(zhì)的試驗(yàn)方法進(jìn)行定義是很重要的,產(chǎn)業(yè)部意識(shí)到了這一點(diǎn),于是制定頒布了在電子電氣設(shè)備中限制使用某些物質(zhì)的法規(guī)。施行試驗(yàn)可能基于如下原因:?作為供應(yīng)鏈材料聲明的補(bǔ)充,企業(yè)可能選擇直接檢驗(yàn)產(chǎn)品以判定符合性?企業(yè)可能要求它的供應(yīng)商進(jìn)行試驗(yàn),作為供應(yīng)商材料聲明的補(bǔ)充?企業(yè)可能對(duì)其供應(yīng)商實(shí)行抽樣調(diào)查以確定符合性?官方可能以此試驗(yàn)為基礎(chǔ)去評(píng)估符合性確定限制物質(zhì)的檢驗(yàn)程序已經(jīng)存在,但大多數(shù)對(duì)檢驗(yàn)電子電氣產(chǎn)品不適用,并且在國(guó)際上也沒有獲得公認(rèn)。目前,對(duì)于符合性程序和在電子電氣產(chǎn)品中限制使用物質(zhì),各國(guó)并沒有達(dá)成一致。產(chǎn)業(yè)協(xié)會(huì)和業(yè)界正在討論的有關(guān)確定這些禁用物質(zhì)的存在和含量的檢驗(yàn)程序,這些檢驗(yàn)程序彼此各不相同。除非政府、業(yè)界和其他相關(guān)的利害關(guān)系人在如何測(cè)量電子電氣產(chǎn)品中限定物質(zhì)上達(dá)成一致,如果檢驗(yàn)是由不同國(guó)家的國(guó)內(nèi)執(zhí)行當(dāng)局或非政府組織進(jìn)行的,那么業(yè)界就不能合法地確定產(chǎn)品的符合性。因此該標(biāo)準(zhǔn)文本的目的就是提出一種檢驗(yàn)程序,允許電子電氣行業(yè)在全球一致的基礎(chǔ)上確定電子電氣設(shè)備中限制使用的物質(zhì)鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯和多溴聯(lián)苯醚(歐盟RoHS指令,中國(guó),美國(guó),日本等)的含量水平。2、范圍該標(biāo)準(zhǔn)提出了確定電子電氣產(chǎn)品中含有的鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻和兩類溴化阻燃劑多溴聯(lián)苯和多溴聯(lián)苯醚含量水平的檢驗(yàn)程序。電子電氣產(chǎn)品種類舉例如下:?大型家電用品?小型家電用品?信息技術(shù)及通訊設(shè)備?消費(fèi)類電子電氣設(shè)備?照明設(shè)備?電子及電氣工具(大型固定工業(yè)工具除外)?玩具和休閑運(yùn)動(dòng)設(shè)備?自動(dòng)售貨機(jī)該標(biāo)準(zhǔn)沒有確定:?作為樣本的“個(gè)體”或者“同質(zhì)材料”的定義?得到樣本的分解程序?評(píng)定程序3、參考文獻(xiàn)電子電氣設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)的指令(RoHS)電子信息產(chǎn)品污染防治管理辦法美國(guó)(加利福尼亞)2003年電子廢棄物回收法(SB20)美國(guó)(加利福尼亞)電子廢棄物高級(jí)處理費(fèi)(S.B.50)其他的參考資料見檢驗(yàn)程序的參考部分4、定義和術(shù)語本標(biāo)準(zhǔn)中用到的關(guān)鍵術(shù)語的定義如下:電子電氣產(chǎn)品:指為正常工作而依賴于電流或電磁場(chǎng)的設(shè)備和能產(chǎn)生、傳輸和測(cè)量電流和電磁場(chǎng)的設(shè)備。物質(zhì):指化學(xué)元素和它們的化合物(例如鉛是一種化學(xué)元素,鉛氧化物就是化合物)。美國(guó)化學(xué)學(xué)會(huì)的化學(xué)文摘系統(tǒng)給所有化學(xué)元素和大多數(shù)化合物分配了注冊(cè)號(hào),可以用于對(duì)化學(xué)物質(zhì)的識(shí)別。同質(zhì)材料:由一種或多種具有相同成分的物質(zhì)構(gòu)成,不能被機(jī)械分解成不同的物質(zhì)。定性篩選:主要目的在于檢驗(yàn)試驗(yàn)材料中是否含有被分析元素的一種分析方法。定量篩選:主要目的在于確定試驗(yàn)材料中被分析元素的濃度的一種分析方法。聚合材料:聚乙烯、聚氯乙烯、環(huán)氧樹脂、聚酰胺、聚碳酸酯ABS樹脂、聚苯乙烯等。金屬材料:鐵合金、鎳合金、錫合金、鋁合金、鎂合金、銅合金、鋅合金、貴金屬合金。電子產(chǎn)品(印刷線路板/電子元器件):電路板、線材、接觸端子、電阻器、電容器、電線、連接器等。被分析物:被測(cè)的物質(zhì)或元素基質(zhì):被分析物所包含的材料或物質(zhì),形式或狀態(tài)。其他的術(shù)語和定義見檢驗(yàn)程序中的術(shù)語和定義部分。5、檢驗(yàn)程序簡(jiǎn)介檢驗(yàn)程序范圍檢驗(yàn)程序的內(nèi)容分成兩個(gè)重要的步驟:?分析檢驗(yàn)程序?實(shí)驗(yàn)室實(shí)現(xiàn)分析檢驗(yàn)程序要能實(shí)現(xiàn)并有效,以保證它們是適合用于檢驗(yàn)設(shè)計(jì)的目的。而后還要對(duì)相關(guān)的當(dāng)事人公開以便他們可以實(shí)現(xiàn)這些檢驗(yàn)程序。分析檢驗(yàn)程序本身可以分成以下七個(gè)要點(diǎn):?檢驗(yàn)方法的范圍、應(yīng)用和概要(包括機(jī)遇和風(fēng)險(xiǎn))?參考文獻(xiàn)、標(biāo)準(zhǔn)引用、參考方法和參考資料?術(shù)語和定義?儀器/設(shè)備和材料?試劑?樣品制備?檢驗(yàn)程序O校準(zhǔn)O儀器性能O樣本分析O分析結(jié)果計(jì)算O實(shí)驗(yàn)報(bào)告O質(zhì)量控制第一個(gè)要點(diǎn)包括檢驗(yàn)方法的范圍,最佳應(yīng)用以及簡(jiǎn)要概括。它也強(qiáng)調(diào)了檢驗(yàn)程序的最佳應(yīng)用的機(jī)遇和程序本身固有的限制風(fēng)險(xiǎn)。第二個(gè)要點(diǎn)是該方法參考了商品標(biāo)準(zhǔn)和相應(yīng)的校準(zhǔn)試樣。第三個(gè)要點(diǎn)定義了整個(gè)方法程序過程中所用到的術(shù)語。第四個(gè)要點(diǎn)描述了儀器,所需設(shè)備和檢驗(yàn)方法中用到的材料。第五個(gè)要點(diǎn)描述了所有的在檢驗(yàn)方法中測(cè)量時(shí)用到的試劑。第六個(gè)要點(diǎn)涉及到樣品本身的樣品制備。第七個(gè)要點(diǎn)講述了與所用分析儀器相關(guān)的現(xiàn)實(shí)的檢驗(yàn)程序。它描述了儀器的性能,樣本分析和分析結(jié)果的計(jì)算。實(shí)驗(yàn)報(bào)告的內(nèi)容要被總結(jié)概括。這一要點(diǎn)也涉及了和所選擇的分析檢驗(yàn)程序直接相關(guān)的質(zhì)量方面的問題。單獨(dú)的檢驗(yàn)程序?qū)⒆裱@七個(gè)概括的要點(diǎn)。在該標(biāo)準(zhǔn)中不涉及實(shí)驗(yàn)室運(yùn)作,因?yàn)閷?shí)驗(yàn)室應(yīng)能運(yùn)用其他來源的方法或標(biāo)準(zhǔn)來實(shí)現(xiàn)所述的檢驗(yàn)程序。實(shí)現(xiàn)步驟包括在實(shí)驗(yàn)室使用儀器的適當(dāng)?shù)馁|(zhì)量保證措施和有效的證明分析方法性能的協(xié)議。強(qiáng)烈鼓勵(lì)運(yùn)用象良好實(shí)驗(yàn)室操作規(guī)范(GLP)和國(guó)際認(rèn)可體系(如ISO)這樣的質(zhì)量保證體系。檢驗(yàn)程序流程下圖給出了確定電子電氣產(chǎn)品中限制使用物質(zhì)的含量水平的檢驗(yàn)程序的流程。圖1:檢驗(yàn)程序流程圖取得樣本后要進(jìn)行判定,是否使用篩選檢驗(yàn)程序還是用多種試驗(yàn)方法的驗(yàn)證檢驗(yàn)程序。取得樣本的方法沒有在標(biāo)準(zhǔn)文本中提及,在單獨(dú)的指南文本附件N中有述。篩選檢驗(yàn)程序既可從定性也可從定量上進(jìn)行。定性篩選要指明物質(zhì)是否存在,但卻不能給出確切的存在物質(zhì)的含量。定量篩選過程會(huì)給出存在物質(zhì)的含量。定性篩選可以通過直接測(cè)量樣本(非破壞性的)進(jìn)行,也可以先通過機(jī)械樣品制備步驟進(jìn)行(破壞性的)。很多同質(zhì)材料的有代表性樣本的篩選(如塑料、合金、玻璃)可能是非破壞性的,然而對(duì)于其他的更多的復(fù)合樣本(象裝配印刷線路板),機(jī)械樣品制備可能是必需的。對(duì)于定量篩選,機(jī)械樣品制備是必需的。定性和定量篩選的機(jī)械樣品制備是一樣的,和驗(yàn)證檢驗(yàn)程序也是一樣的。樣品制備由樣本的切、磨和同質(zhì)化組成。樣品的定性和定量篩選是用能量色散(射線熒光分析儀或者是波長(zhǎng)色散X射線熒光分析儀來實(shí)現(xiàn)的。必須注意的是,篩選檢驗(yàn)程序應(yīng)該在一定的約束條件下進(jìn)行。因?yàn)楸M管這兩種儀器尤其在電子技術(shù)行業(yè)有著分析快速,節(jié)約資源的優(yōu)點(diǎn),但是對(duì)于它們的使用以及獲得結(jié)果的應(yīng)用方面仍然有局限。篩選檢驗(yàn)程序之后,要判定樣品是否滿足限定物質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)中所規(guī)定的限度,并判定是否需要進(jìn)一步的檢驗(yàn)。驗(yàn)證檢驗(yàn)程序要在用多種適合于樣品中限制物質(zhì)和材料的分析方法將機(jī)械樣品制備好之后進(jìn)行。這些樣品或者是聚合材料,金屬材料,或者是電子材料(裝配印刷線路板或者元器件的形式)。運(yùn)用特定的驗(yàn)證檢驗(yàn)程序的目的就是要保證檢驗(yàn)結(jié)果盡可能準(zhǔn)確;但是,它很可能需要消耗更多的資源。驗(yàn)證檢驗(yàn)程序之后可能要判定樣品是否滿足限定物質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)中所規(guī)定的限度。材料調(diào)節(jié)(基質(zhì))在其他相對(duì)高濃度含量或代表樣品的主要成分的化學(xué)元素或化合物中,限制物質(zhì)的含量水平相對(duì)較低,其分析程序經(jīng)常是取決于材料或者基質(zhì)。因此檢驗(yàn)程序不得不依被測(cè)材料進(jìn)行調(diào)整,可以通過引入適當(dāng)?shù)恼{(diào)整過核準(zhǔn)樣品的基板或基材,或者通過將被分析物從附著材料或主基質(zhì)中分離出來的準(zhǔn)備步驟。電子設(shè)備中的主材料類型(或基質(zhì))是聚合材料,而且大部分是一個(gè)完全系列的能被著色的附加物;金屬材料,也是不同種類型的合金;象組裝的印刷線路板的電子產(chǎn)品和電子電氣元器件。定性和定量篩選檢驗(yàn)程序樣品的定性和定量篩選是通過運(yùn)用能量色散X射線熒光分析儀或者是波長(zhǎng)色散X射線熒光分析儀來實(shí)現(xiàn)的,通過照X光來測(cè)樣品的成分。手持和臺(tái)式類型的設(shè)備都是可以的。必須注意的是,篩選檢驗(yàn)程序應(yīng)該在一定的約束條件下進(jìn)行。因?yàn)楸M管這兩種儀器尤其在電子技術(shù)行業(yè)有著分析快速,節(jié)約資源的優(yōu)點(diǎn),但是對(duì)于它們的使用以及獲得結(jié)果的應(yīng)用方面仍然有局限。驗(yàn)證檢驗(yàn)程序樣品的驗(yàn)證檢驗(yàn)程序要運(yùn)用多種適合于樣品中限制物質(zhì)和材料的分析方法來完成。這些樣品或者是塑料,金屬材料,或者是電子材料(裝配印刷線路板或者元器件的形式)。驗(yàn)證檢驗(yàn)程序的運(yùn)用會(huì)保證檢驗(yàn)結(jié)果盡可能少出錯(cuò),但是會(huì)需要消耗更多的資源來實(shí)現(xiàn)。6機(jī)械樣品制備過程制備方法的范圍、應(yīng)用和概要本標(biāo)準(zhǔn)的目的是運(yùn)用在IECACEAadhoc工作組文件中描述的程序,為機(jī)械樣品制備準(zhǔn)備步驟提供實(shí)際的指引。該標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于提供一般性的針對(duì)電子電氣產(chǎn)品機(jī)械樣品制備的實(shí)用方法的指引是有局限性的。由于電子產(chǎn)品的數(shù)量巨大,性質(zhì)也千差萬別,要在本標(biāo)準(zhǔn)的細(xì)節(jié)中覆蓋所有的電子電氣產(chǎn)品是不可能的。如果需要產(chǎn)品類型或產(chǎn)品系列的詳細(xì)導(dǎo)則,應(yīng)該由制造產(chǎn)品的個(gè)別行業(yè)部門的技術(shù)委員會(huì)來制定。為了允許重復(fù)性的篩選結(jié)果,樣品材料應(yīng)該盡可能同質(zhì)(假設(shè)萬一是不同質(zhì)的材料)并且樣品的粒度分布和密度也是一致的(對(duì)于同質(zhì)材料來說)。參考資料,參考標(biāo)準(zhǔn),參考方法和參考材料EN13346:2000污泥的特性-微量元素和含磷化合物的測(cè)定-王水萃取法EPAmethod3052:1996硅酸和有機(jī)基質(zhì)的微波輔助酸消化法EPAmethod3050B:1996Rev.2沉淀物,污泥和土壤的酸消化法ASTMD4004-93:2002-堿熔法總煮解EN1122:2001塑料-鎘的測(cè)定-濕分解法ISO247:1990橡膠-灰份的測(cè)定g)ISO3696:1987-用水規(guī)范h)ISO40andJIS40-氫氟酸規(guī)范術(shù)語和定義儀器/設(shè)備和材料a)帶有4和1毫米不銹鋼底篩的切割式碾磨儀(RetschSM2000或近似的儀器)b)帶有25微米硬質(zhì)合金(WC)鍍層鋼篩的離心粉碎機(jī),6重涂層轉(zhuǎn)子(對(duì)于同質(zhì)塑料,適用1毫米的鋼篩)(RetschZM100或近似的儀器)為避免在磨制過程中混入雜質(zhì),應(yīng)該使用1毫米的鈦篩或鋼鈦篩轉(zhuǎn)子c)振動(dòng)型進(jìn)料器(RetschDR100或近似的儀器)d)攪拌器(TurbulaT2F或近似的儀器)e)分析天平:要能精確到0.0001gf)刷子(不同尺寸的)g)紙張h)剪刀,厚鋼板剪刀i)250毫升玻璃燒杯j)液氮(N2)k)粉末漏斗l)手套m)安全眼鏡檢驗(yàn)程序6.5.1樣品被分析的樣品應(yīng)該是同質(zhì)材料,例如聚合材料,金屬材料或者電子器件。如何獲得樣品的導(dǎo)則應(yīng)該由實(shí)體,即制造產(chǎn)品的個(gè)別行業(yè)部門或產(chǎn)品組的技術(shù)委員會(huì)來制定發(fā)布。6.5.2切割樣品按規(guī)格裁切成不超過2x10x10cm3大小的尺寸。電子器件:樣品用厚鋼板剪按規(guī)格裁切成4x4cm大小的尺寸。聚合材料:樣品用厚鋼板剪或者剪刀按規(guī)格裁切成5x5mm大小的尺寸。薄的聚合箔片要用剪刀裁切成細(xì)小的碎片。6.5.3粗磨如果需要用液氮冷卻樣品。對(duì)于不含金屬的有機(jī)樣品,推薦使用低溫碾磨。然后用4毫米不銹鋼底篩的碾磨儀磨制樣品。小心清掃,收集所有的顆粒。用1毫米不銹鋼底篩修整碾磨,再加工成4毫米的材料。小心清掃碾磨儀,收集所有的顆粒。在碾磨循環(huán)間有一個(gè)5分鐘的冷卻周期。6.5.4均質(zhì)化得到的粗大的粉粒在離心粉碎機(jī)里進(jìn)一步細(xì)化之前,要在攪拌器里同質(zhì)化。在一個(gè)粉粒容量?jī)杀洞蟮娜萜骼镞M(jìn)行混合。調(diào)整驅(qū)動(dòng)帶在驅(qū)動(dòng)皮帶輪的中央以把攪拌器設(shè)置成中速。攪拌45分鐘。6.5.5細(xì)磨如果需要用液氮冷卻樣品。對(duì)于不含金屬的有機(jī)樣品,推薦使用低溫碾磨。注意不要讓液氮直接接觸到粉粒以避免飛濺和樣品損耗。用離心粉碎機(jī)碾磨樣品粉粒。小心清掃離心粉碎機(jī),收集所有的顆粒用于分析檢驗(yàn)7X射線熒光光譜測(cè)定的定性篩選范圍該標(biāo)準(zhǔn)描述了運(yùn)用X射線熒光對(duì)電子電氣產(chǎn)品中發(fā)現(xiàn)的限制使用的物質(zhì)進(jìn)行定性篩選的過程。它覆蓋了部分和所有的材料類型,如聚合物,金屬和電子器件。定性篩選可以通過直接測(cè)量樣品(非破壞性的)或者通過機(jī)械樣品制備(破壞性的)來實(shí)現(xiàn)。有代表性的樣品或者同質(zhì)材料的篩選(如塑料)可以是非破壞性的,然而對(duì)于其他的樣品(象裝配印刷線路板),機(jī)械樣品制備可能是必需的。樣品被來自X射線源的光束照射。結(jié)果,元素的X射線特征就顯現(xiàn)在被測(cè)樣品中,并轉(zhuǎn)化成元素的質(zhì)量百分比濃度。用X射線熒光光譜測(cè)定分析的定性篩選是運(yùn)用一種定性的分析方法去識(shí)別是否存在限制使用的物質(zhì)。和其它的分析方法比起來,這種試驗(yàn)方法有更高的通量,最小或不用樣品制備,更廣的測(cè)量濃度動(dòng)態(tài)范圍。指定的設(shè)備在大多數(shù)情況下比需要的其他方法花費(fèi)少。對(duì)于限制物質(zhì)和試驗(yàn)中所用的分析器的性能來說,依靠適當(dāng)?shù)慕邮軜?biāo)準(zhǔn)可能是也可能不是決定性的。如果是后者的情況,該試驗(yàn)必須既遵從定量篩選分析也要遵從另一種決定樣品中限制使用物質(zhì)的存在和含量的驗(yàn)證檢驗(yàn)程序。必須注意X射線熒光光譜測(cè)定分析只是提供限制使用物質(zhì)是否有以元素形式存在的信息。需要特別關(guān)注的如鉻和溴,其結(jié)果決定的是全部的鉻和溴的存在情況,但并不一定是限制使用的六價(jià)鉻,多溴聯(lián)苯和多溴聯(lián)苯醚。因此,如果測(cè)到有鉻和溴元素的存在,要判定是否存在六價(jià)鉻,多溴聯(lián)苯和多溴聯(lián)苯醚必須通過驗(yàn)證檢驗(yàn)程序來確定。另一方面,必須注意的是如果沒有測(cè)到元素形態(tài)的鉻和溴,那么六價(jià)鉻,多溴聯(lián)苯和多溴聯(lián)苯醚的存在是不可能的。既然X射線熒光光譜測(cè)定是一個(gè)比較方法,它的性能取決于校準(zhǔn)的質(zhì)量,而校準(zhǔn)的質(zhì)量又反過來取決于用于設(shè)定儀器校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)精度。X射線熒光分析對(duì)基質(zhì)是非常敏感的。這就意味著在分析過程中必須考慮光譜和基質(zhì)干擾的因素(比如吸收和增加現(xiàn)象),尤其對(duì)于象聚合體和電子元器件這種多變復(fù)雜的樣品。X射線熒光利用的是對(duì)人體危險(xiǎn)的放射線。因此,所有能產(chǎn)生放射線的儀器應(yīng)該一直在由制造商提供的安全指示下運(yùn)作,并且和當(dāng)?shù)氐姆ㄒ?guī)相一致。另外,使用設(shè)備的人員應(yīng)該就相關(guān)的安全事宜進(jìn)行過適當(dāng)?shù)呐嘤?xùn)。引用標(biāo)準(zhǔn)以下引用標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)于該標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用有幫助。對(duì)于作廢的引用標(biāo)準(zhǔn),只有引用的版本是適用的。對(duì)于未作廢的引用標(biāo)準(zhǔn),最新的版本(包括任何修訂)是適用的。ASTMC982能量擴(kuò)散的X射線熒光系統(tǒng)的構(gòu)件選擇指南,ASTM標(biāo)準(zhǔn)年鑒,Vol.12.01C1118-89(2000)波長(zhǎng)擴(kuò)散的X射線熒光系統(tǒng)的構(gòu)件選擇指南Bertin,E.P."X射線光譜測(cè)定分析的原則和規(guī)范”紐約Plenum出版社第二版BuhrkeV.E.,Jenkins,R.,SmithDK,"用X射線熒光和X射線衍射分析法制備樣品的實(shí)用指南”Wiley-VCHISO20847:2004,石油產(chǎn)品-汽車燃料中含硫量的測(cè)定-能量擴(kuò)散的X射線熒光光譜測(cè)定法ISO8754:2003,石油產(chǎn)品-含硫量的測(cè)定-能量擴(kuò)散的X射線熒光光譜測(cè)定法ISO14596:1998,石油產(chǎn)品-含硫量的測(cè)定-波長(zhǎng)擴(kuò)散的X射線熒光光譜測(cè)定法vanGriekenR.“X射線光譜測(cè)定法手冊(cè)”MarcelDekkerInc.德國(guó)汽車工業(yè)聯(lián)合會(huì)(VDA)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)No001~004,參考物質(zhì)和測(cè)定研究所(IRMM),Geel市,1993年6月認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)BCR-680和BCR-681,聚乙烯中的微量元素,歐洲委員會(huì),歐共體參考物署-BCR,布魯塞爾,2000年1月術(shù)語和定義由于該標(biāo)準(zhǔn)是國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),因而使用下列術(shù)語和定義。X射線熒光光譜測(cè)定法:一種比較分析方法,為引發(fā)樣品中元素的X射線發(fā)射特性,在嚴(yán)格控制的條件下,用一束X射線或者低通量的伽馬射線照射材料樣品。對(duì)每一種元素,當(dāng)射線強(qiáng)度是直接測(cè)量樣品中元素濃度的時(shí)候,這些具有特性的X射線的能量是特定的。X射線發(fā)射特性的方法被稱作X射線熒光或者XRF。XRF光譜測(cè)定法有兩種實(shí)現(xiàn)方式:O波長(zhǎng)擴(kuò)散的x射線熒光光譜測(cè)定法(WDXRF)(波長(zhǎng)擴(kuò)散):一種光譜測(cè)定法。從樣品中散發(fā)的X射線通過分散元素依據(jù)射線的波長(zhǎng)而不是能量進(jìn)行排序,比如晶狀的或多層的,然后只有通過典型的充氣或閃爍探測(cè)器才能檢測(cè)到。O能量擴(kuò)散的X射線熒光光譜測(cè)定法(EDXRF)(能量擴(kuò)散):一種光譜測(cè)定法。從樣品中散發(fā)的X射線依據(jù)射線在探測(cè)器中的能量進(jìn)行排序,探測(cè)器具有雙重的作用:既作為擴(kuò)散儀器,本身又同時(shí)作為探測(cè)器。b)激發(fā)X射線:由分光計(jì)的X射線源發(fā)出的直接對(duì)準(zhǔn)樣品以引發(fā)樣品中元素的X射線熒光的X射線。激發(fā)X射線可以由X射線管或者合適的放射性同位素源來產(chǎn)生。c)二級(jí)目標(biāo)法:為樣品中元素的選擇和更加有效的激發(fā),從一個(gè)源發(fā)出的X射線首先對(duì)準(zhǔn)適當(dāng)?shù)募兘饘倌繕?biāo),然后再將它的特性X射線用于引發(fā)樣品中元素的X射線熒光。這種方法主要用在能量擴(kuò)散的X射線熒光光譜測(cè)定法中。d)初光束過濾器:一個(gè)薄金屬片(通常不總是由純金屬制成的)放置在激發(fā)X射線中,位于激發(fā)光源和樣品中間,用于改變激發(fā)X射線的光譜分布。典型地,這種過濾器的厚度是可選擇的,這樣,激發(fā)源所發(fā)出的低能的X射線就不能透射過去,而高能的X射線就可以透射過去。e)合成多層薄膜:用于X射線擴(kuò)散元素的兩層或多層材料。f)X射線探測(cè)器:用于探測(cè)X射線光子并將其轉(zhuǎn)變成同光子能的振幅同比例的電脈沖的儀器。例如正比計(jì)數(shù)器(氣流型和密封型)和用于波長(zhǎng)擴(kuò)散的X射線熒光光譜測(cè)定法的閃爍計(jì)數(shù)器。對(duì)于能量擴(kuò)散的X射線熒光光譜測(cè)定法,通常使用固態(tài)、半導(dǎo)體探測(cè)器比如硅(鋰)或硅PIN二極管。g)探測(cè)器的能量分辨率:放射探測(cè)器的臨界參數(shù)反映了它區(qū)分鄰近能量X射線的能力。對(duì)于用在X射線熒光光譜測(cè)定法中的探測(cè)器,這個(gè)參數(shù)是用直接在探測(cè)器中以光譜中的總次數(shù)速率每秒不超過1000次照射得到的MnK-alpha線峰值的半幅全寬(FWHM)來表示的。對(duì)于固態(tài)探測(cè)器,半幅全寬(FWHM)是用能量單位電子伏特來表示的,而充氣正比探測(cè)器是用MnK-alpha峰值能量的半幅全寬的百分比來表示的。h)校準(zhǔn)試樣:設(shè)定成分十分明確的樣品,用于繪制和更新元素的校準(zhǔn)曲線。i)標(biāo)準(zhǔn)化樣品:用于確定儀器正確操作的樣品。這種樣品總是在相同的條件下進(jìn)行測(cè)量,并且包括分析誤差在內(nèi)的分析結(jié)果必須在一個(gè)預(yù)先指定的接受范圍內(nèi),以便儀器用于未知材料的定量分析。樣品不能隨時(shí)間而改變成分,它的成分應(yīng)該在實(shí)際中盡可能的與未知的被測(cè)材料相似。這種樣品經(jīng)常被稱為“檢驗(yàn)樣品”或者“標(biāo)準(zhǔn)樣品”。j)分析背景:從樣品光譜中測(cè)得的當(dāng)元素不在樣品中時(shí)的特定元素區(qū)域(被分析物)的射線強(qiáng)度?,F(xiàn)代(射線熒光分光計(jì)能自動(dòng)說明分析背景。k)逃逸峰:這是一個(gè)在X射線光譜上觀察到的能量低于上一級(jí)由探測(cè)材料的特性X射線能量產(chǎn)生的特性X射線峰能量的伴隨峰。對(duì)于硅探測(cè)器而言,逃逸峰出現(xiàn)在1.74keV上級(jí)峰偏左,然而對(duì)于氬充氣探測(cè)器,逃逸峰出現(xiàn)在2.96keV上級(jí)峰偏左。這種峰的典型強(qiáng)度大約是上級(jí)峰的1%。探測(cè)器越小,越可能產(chǎn)生逃逸峰?,F(xiàn)代X射線熒光分光計(jì)能自動(dòng)從光譜中消除逃逸峰。l)和峰:X射線光譜中的假峰,發(fā)生在能量是特性X射線峰能量的倍數(shù)復(fù)合(通常是兩倍)的時(shí)候。這種現(xiàn)象是當(dāng)兩個(gè)連續(xù)的光子在一個(gè)很短的時(shí)間內(nèi)發(fā)生的時(shí)候(典型的是幾百個(gè)十億分之一秒),分光計(jì)無法區(qū)分它們的結(jié)果。這種現(xiàn)象是在挑戰(zhàn)分光計(jì)精度時(shí)間的高次速率下觀測(cè)到的?,F(xiàn)代X射線熒光分光計(jì)能自動(dòng)更正這種光譜中的假峰。m)計(jì)算的統(tǒng)計(jì)誤差:在樣品中元素X射線強(qiáng)度的重復(fù)測(cè)量中得到的計(jì)數(shù)波動(dòng)(或計(jì)數(shù)值),只是由于X射線與物質(zhì)作用的隨機(jī)性質(zhì)。這種波動(dòng)服從泊松分布,因此,它的測(cè)量可以表示成次數(shù)的平方根。儀器/設(shè)備和材料a)X射線熒光分光計(jì):任何一種X射線熒光分析儀(分光計(jì))都可以使用,只要它的設(shè)計(jì)至少附合以下特征:o激發(fā)X射線源。能產(chǎn)生能量等于或高于35keV的X射線的X射線源。X射線管或者放射性同位素通常被用于作為X射線激發(fā)源。警告:如果使用放射源,必須按國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)要求做好防護(hù),因此,不能出現(xiàn)任何安全危險(xiǎn)。注意放射源只能由經(jīng)過全套培訓(xùn),有能力的,經(jīng)授權(quán)的人員用正確的防護(hù)技術(shù)進(jìn)行操作。使用(射線管源的分析者的操作必須符合制造商的安全指示和當(dāng)?shù)氐姆ㄒ?guī)。o用于分析的樣品介紹方法。分析者必須用一致可重復(fù)的方式按規(guī)定介紹用于分析的樣品。這個(gè)可能是個(gè)樣品支持裝置,樣品臺(tái)或取樣量杯固定器(萬一被分析的是液體或粉狀材料)-由于在實(shí)驗(yàn)室類型儀器中是有代表性的,或者具體直接對(duì)準(zhǔn)被測(cè)樣品壓住的窗口的特定配置的扁平外表面-對(duì)于手持便攜式儀器這是一個(gè)典型的特征。oX射線探測(cè)器:在2到35keV的能量范圍內(nèi)具有足夠敏感性的X射線探測(cè)器,能量精確不能差于220eV。固態(tài)探測(cè)器,如液氮制冷硅(鋰)探測(cè)器或者室溫?zé)犭娭评銹IN硅二極管,適合用于X射線的探測(cè)和計(jì)數(shù)。o濾光器或其他改變或最優(yōu)化原x射線的方法,以提高儀器的分析性能。o包括X射線強(qiáng)度計(jì)算功能,光譜處理功能和把測(cè)得的元素強(qiáng)度(計(jì)數(shù)值)轉(zhuǎn)變成樣品中元素的質(zhì)量濃度的功能的信號(hào)調(diào)節(jié)和數(shù)據(jù)處理電路和軟件。o顯示、打印或其他與操作員交流的方式,以報(bào)告分析結(jié)果和接受操作員的反饋。有兩種類型的X射線熒光分光計(jì)-波長(zhǎng)擴(kuò)散X射線熒光分光計(jì)和能量擴(kuò)散X射線熒光分光計(jì)。兩者都能用于定性篩選。與所用的X射線熒光分光計(jì)不相關(guān),設(shè)備需要能區(qū)別包含限制使用物質(zhì)的材料是低于還是高于表3中所給定的限定值。由于這些限定值被看成是最低檢測(cè)量,因此分析者應(yīng)該能得到水平在篩選限值三分之一的檢測(cè)限(LOD)。這個(gè)要求列在表4中,其檢測(cè)限的計(jì)算遵從國(guó)際理論和應(yīng)用化學(xué)聯(lián)合會(huì)(IUPAC)的定義:這里U:背景強(qiáng)度(次數(shù))C0:樣品濃度(接近檢測(cè)限)(ug/g)N0:凈脈沖強(qiáng)度(次數(shù))表4:滿足各種基質(zhì)中的不同物質(zhì)的定性篩選檢驗(yàn)限并以mg/kg(ppm)表示的理想檢測(cè)限注釋:這些檢測(cè)限應(yīng)該是在適合的認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)(CRMs)基礎(chǔ)上測(cè)定的,例如BCR-680、BCR681或者可用的等效標(biāo)準(zhǔn)。否則,就可能用到具有很好特征的樣品中。7.4.1標(biāo)準(zhǔn)樣品可商業(yè)用存在很多種商業(yè)上可用的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),主要是聚合和金屬基質(zhì),但也有少量的玻璃和陶瓷基質(zhì)。這些物質(zhì)已經(jīng)摻雜了五種相關(guān)的元素(鉛、鎘、汞、鉻和溴),也可能會(huì)有其他的元素。然后在很多測(cè)試實(shí)驗(yàn)室,用種種濕法化學(xué)對(duì)這些摻雜元素的物質(zhì)進(jìn)行分析,以測(cè)定這些元素的濃度。在X射線熒光分析中,用到標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的時(shí)候,就要修改或者更正儀器的半定量程序。儀器所用的軟件決定了每種物質(zhì)中每種元素的濃度。然后這些濃度值被修正(也就是說,認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的已知值替換儀器測(cè)得的值),以產(chǎn)生一種標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)。這種標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)用于以后對(duì)未知物質(zhì)的分析。內(nèi)部參考物質(zhì)在商業(yè)用物質(zhì)不存在的情況下,就要?jiǎng)?chuàng)造實(shí)驗(yàn)室特定的標(biāo)準(zhǔn)樣品。盡管當(dāng)多個(gè)實(shí)驗(yàn)室不能進(jìn)行分析的時(shí)候驗(yàn)證過程不完全,但創(chuàng)造這些物質(zhì)的過程和上述方法還是一樣的。對(duì)于所有運(yùn)用參考對(duì)內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行的分析,都必須有文件說明。新認(rèn)定標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的創(chuàng)造為了保證一致性,對(duì)所有的基質(zhì)都需要?jiǎng)?chuàng)建認(rèn)定標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),既包括較高濃度也包括較低濃度的水平。創(chuàng)造一種認(rèn)定標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的步驟如下:確定每一種相關(guān)元素的濃度水平。得到基質(zhì)(聚合物、金屬、玻璃、陶瓷等)的制造商準(zhǔn)備具有前述特定規(guī)格的樣品。給多個(gè)實(shí)驗(yàn)室提供這種物質(zhì)的樣品進(jìn)行分析??捎玫姆治龇椒òㄔ游展庾V法;感應(yīng)耦合等離子體光譜法;感應(yīng)耦合等離子體發(fā)射光譜法;儀器中子活化分析;儀器光子活化分析;滴定法;和其他適當(dāng)?shù)姆椒ā7治鲞@種實(shí)驗(yàn)室間的測(cè)試結(jié)果并確定差異。如果實(shí)驗(yàn)室間的差異被視為可接愛的,那么得到的平均濃度水平就是元素的推薦值。檢驗(yàn)程序分光計(jì)的準(zhǔn)備按照儀器操作手冊(cè)開啟電源。并按制造商的操作指南讓儀器預(yù)熱并穩(wěn)定運(yùn)行。為確保測(cè)量穩(wěn)定,應(yīng)該按照制造商的操作指南使探測(cè)器獲到穩(wěn)定性。7.5.2校準(zhǔn)如果不需要儀器校準(zhǔn),則直接跳到7.5.3。儀器經(jīng)常碰到的狀況就是運(yùn)用所謂的基本參數(shù)法。如果儀器需要校準(zhǔn),則應(yīng)遵照儀器使用手冊(cè)中的指南進(jìn)行操作。有兩種基本方法進(jìn)行儀器校準(zhǔn):實(shí)驗(yàn)式和基本參數(shù)式。o實(shí)驗(yàn)式校準(zhǔn)涉及一整套校準(zhǔn)樣品的測(cè)量。用于校準(zhǔn)的樣品成分應(yīng)該與未知物質(zhì)盡可能接近。校準(zhǔn)樣品中被分析物的濃度應(yīng)該是已知的,應(yīng)該能括起未知物質(zhì)的預(yù)期濃度,并且應(yīng)該不能通過稀釋的方式獲得。既然每種被分析物需要至少5種不同濃度的樣品,那么要校準(zhǔn)儀器就需要25種甚至更多的樣品。樣品測(cè)量后,每種被分析物的X射線強(qiáng)度是通過多元線性回歸方程與被分析物的濃度數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)的。o在基本參數(shù)校準(zhǔn)方法中,每一種樣品基質(zhì)類型可能只需要一種校準(zhǔn)樣品。如果基本參數(shù)校準(zhǔn)是完全由使用者操作的,那么在使用手冊(cè)中會(huì)給出詳細(xì)的操作程序。o不管儀器運(yùn)用哪一種校準(zhǔn)類型,每一次校準(zhǔn)和更新后儀器的性能必須能按7.5.3款中的規(guī)定進(jìn)行驗(yàn)證。7.5.3分光計(jì)性能驗(yàn)證所用的儀器是否能夠滿足所要求的性能標(biāo)準(zhǔn)必須經(jīng)過測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)或可比標(biāo)準(zhǔn)樣品才能測(cè)定。這樣的樣品中所含的元素具有的濃度水平必須不能超過被測(cè)元素篩選限值(見表3)的3到5倍。從標(biāo)準(zhǔn)樣品中獲得的結(jié)果必須和接受的樣品濃度值相一致,并在測(cè)量誤差的范圍內(nèi)。但是儀器有可能用于分析未知物質(zhì)。因而一些制造商在給儀器配備適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)樣品的同時(shí),可能也備有一套標(biāo)準(zhǔn)操作程序(SOP)。標(biāo)準(zhǔn)操作程序中包含有相應(yīng)的建議以保證操作員能測(cè)得最佳的分析結(jié)果。測(cè)量樣品介紹a)如果被測(cè)的包括樣品在內(nèi)的部分能被放在桌上X射線熒光分光計(jì)的試件室里,這樣的話樣品本身能被放在正確的測(cè)量位置,從而對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)量。如果樣品不能合適的放入試件室,必須切割成適當(dāng)?shù)某叽绮拍苡糜跍y(cè)量。太小或很薄的樣品可能不符合為保證測(cè)量結(jié)果有效而必須遵從的最小樣品厚度或最小樣品質(zhì)量的要求。這種情況下,就應(yīng)該把大量的同種小樣品(比如小螺絲釘)放在樣品杯里,然后再進(jìn)行分析。類似的,同種薄的樣品應(yīng)該疊放起來以滿足最小樣品厚度要求,然后再進(jìn)行分析。一般地原則是,所有的樣品必須完全覆蓋分光計(jì)的測(cè)量窗口,并且聚合物和輕質(zhì)合金,象鋁、鎂或鈦這樣的應(yīng)該至少有5毫米厚,液體應(yīng)該最小15毫米厚,其他合金大約1毫米厚。但是,由于分光計(jì)儀器所需樣品尺寸的個(gè)體差異,建議操作員總是參照儀器操作手冊(cè)或制造商對(duì)樣品的最小尺寸/質(zhì)量/厚度條件的要求。b)如果測(cè)量用的是便攜手持式的X射線熒光分析儀,必須小心,保證被測(cè)樣品靠分析儀測(cè)量窗口放置,并直接與其接觸。小、薄的樣品必須如上面a)中所述一樣放置。如果分析要在附加附件的幫助下才能進(jìn)行(如果這樣才能使用分析儀)的話,則允許手持分析儀在樣品杯中測(cè)量樣品。所有關(guān)于樣品最小尺寸/質(zhì)量/厚度的要求同樣也適用于便攜式分析儀。c)如果樣品是液體、粉末或小球狀,或者是一個(gè)非常小的部件,要把樣品放在填充一次性窗口薄膜的一次性樣品杯(不應(yīng)該再次使用)中進(jìn)行測(cè)量。當(dāng)處理窗口薄膜的時(shí)候,注意不要因?yàn)橛|摸污染了薄膜表面。7.5.5測(cè)量a)按照儀器操作手冊(cè)中的說明分析樣品,說明中至少應(yīng)該包括以下基本步驟:o把樣品放在測(cè)量位置(試件室),按照用戶手冊(cè)的說明進(jìn)行測(cè)量。如果用便攜式儀器,把分析儀的測(cè)量窗口靠在樣品表面,然后通過初始化樣品獲得的光譜一個(gè)預(yù)定的時(shí)間來測(cè)量樣品。o測(cè)量結(jié)束后,儀器應(yīng)該能夠給出所測(cè)的被分析物的濃度或者是和樣品中元素濃度相關(guān)的一個(gè)數(shù)值。o如果儀器不能自動(dòng)保存結(jié)果,那么就記錄下結(jié)果和其他相關(guān)的信息。繼續(xù)測(cè)量。o幾種未知樣品按照如7.5.3節(jié)中的標(biāo)準(zhǔn)樣品的測(cè)量進(jìn)行。有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)樣品要多長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量一次才能維持結(jié)果的真實(shí)性,推薦遵照制造商提供的標(biāo)準(zhǔn)操作程序或者用戶自己的標(biāo)準(zhǔn)操作程序(如果有的話)。b)為了保證每一種被測(cè)元素的分析性能,應(yīng)該通過激發(fā)參數(shù)(比如同位素的類型或者X射線管高電壓,電流和初級(jí)光束過濾器,每一樣品的測(cè)量時(shí)間)的正確選擇來最優(yōu)化儀器的測(cè)量條件。這些條件是儀器的詳細(xì)說明,一般此類信息會(huì)在分析儀說明手冊(cè)中找到。作為一般性的指南,建議這種方法的使用者要了解在元素和基質(zhì)之間存在的光譜干擾因樣品的不同而有所差異,因而會(huì)大大影響每一種被分析物的準(zhǔn)確性,精度和最小檢測(cè)極限。例如,對(duì)于純聚乙烯中的鎘,要得到15mg/kg的檢測(cè)極限是可行的,但是倘若聚乙烯中有10%的溴化合物或者2%的銻,要得到15mg/kg的檢測(cè)極限就是不可能的了。下面的表5給出了對(duì)個(gè)別被分析物的推薦特性X射線強(qiáng)度:表5:個(gè)別被分析物的特性X射線強(qiáng)度c)檢測(cè)受限物質(zhì)所必需的每一樣品的測(cè)量時(shí)間因儀器和基質(zhì)的不同而不同,并且要滿足7.4款中的要求來選定。每一樣品的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量時(shí)間的可能變化范圍是30-300秒,主要取決于被分析物,樣品類型和儀器型號(hào)。7.5.6試驗(yàn)報(bào)告由試驗(yàn)進(jìn)行的工作應(yīng)在報(bào)告中述及,正確并且清楚明白的寫明試驗(yàn)結(jié)果和其他的相關(guān)信息。每一份試驗(yàn)報(bào)告應(yīng)至少包括以下信息:a)分析中所涉及的每一實(shí)驗(yàn)室的名稱、地址和所在地b)報(bào)告的唯一標(biāo)識(shí)(比如序列號(hào)),報(bào)告的每一頁的頁碼和總頁數(shù)樣品描述和鑒定收到樣品日期和測(cè)試性能日期IEC標(biāo)準(zhǔn)的引用所用的方法,程序和儀器設(shè)備可選的未在本標(biāo)準(zhǔn)中指定的細(xì)節(jié),和其他可能影響試驗(yàn)結(jié)果的因素試驗(yàn)報(bào)告簽發(fā)后的修正和附加都應(yīng)該在進(jìn)一步的文本中適當(dāng)?shù)倪M(jìn)行標(biāo)注,例如:“修訂/試驗(yàn)報(bào)告序列號(hào)(或其他可識(shí)別的標(biāo)志)的補(bǔ)充”,同時(shí)還應(yīng)該滿足前述章節(jié)中的相關(guān)要求。方法評(píng)價(jià)方法的精度和偏差要在有資質(zhì)的聯(lián)合聲明試驗(yàn)中進(jìn)行評(píng)價(jià)。附件7.7.1根據(jù)RoHS指令對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的解釋如果定性分析給出了所有元素的結(jié)果低于表3中所列的最低限量,那么根據(jù)RoHS指令,樣品試驗(yàn)是合格的。如果定性分析給出的任一元素結(jié)果高于表3中所列的最高限量,那么根據(jù)RoHS指令,羊品試驗(yàn)是不合格的。7.7.2基質(zhì)影響a)樣品中元素的標(biāo)識(shí)輻射強(qiáng)度受激發(fā)輻射散射的反作用,這取決于光譜背景。另外也產(chǎn)生兩個(gè)主要的影響:b)由樣品中的被分析物或其他元素(基質(zhì))產(chǎn)生的激發(fā)射線和繼而產(chǎn)生的熒光射線發(fā)射的吸收。c)由樣品中的其他元素產(chǎn)生的分析物的二次激發(fā)(增強(qiáng)):o塑料物質(zhì):在塑料樣品中,基質(zhì)對(duì)分析物的特性X射線強(qiáng)度的影響來自于:初級(jí)放射的散射(主要是不連續(xù)的),主要是影響光譜背景熒光射線的吸收,主要產(chǎn)生自聚氯乙烯中的氯,類似鈣、鈦、鋅、錫等的附加元素和類似溴和銻這樣的用在阻燃劑中的元素。由鉛、錫和溴這樣的元素產(chǎn)生的二次激發(fā)o金屬:在金屬樣品中,初級(jí)放射的散射并不起很重要的作用?;|(zhì)的影響主要是由吸收和二次激發(fā)產(chǎn)生的對(duì)于不同的金屬基質(zhì)這種影響還有所不同。下表給出了在不同基質(zhì)中的一些典型元素:?鐵合金:鐵、鉻、鎳、鈮、鉬、鎢…?鋁合金:鋁、鎂、硅、銅、鋅…?銅合金:銅、鋅、錫、鉛、錳、鎳、鉆…?焊料合金:鉛、銅、鋅、錫、銻、鉍、銀…?鋅合金:鋅、鋁…?貴金屬合金:銠、鈀、銀、銥、鉑、金、銅、鋅…o電子元器件和印刷電路板:所有影響的原則,是描述聚合體和金屬的。7.7.3樣品的尺寸和厚度考慮為了保證試驗(yàn)結(jié)果的有效性,必須提出最小樣品厚度和質(zhì)量的條件要求。很小很薄的樣本很可能不符合這一條件。這種情況下,就該把這些同種類型的小物體(例如小螺絲釘)放在取樣量杯中,然后再單獨(dú)進(jìn)行分析。同樣地,同種類型的薄樣品就該堆放起來,使厚度滿足最小樣品厚度的要求,然后再進(jìn)行分析。通常,所有的樣品必須完全覆蓋分光計(jì)的測(cè)量窗口,如果是聚合物和鋁、鎂或鈦的輕質(zhì)合金,則至少要5毫米厚,液體要至少15毫米厚,其他所有的合金大約要1毫米厚。但是,由于儀器所需要樣本大小的個(gè)體差異,建議分光計(jì)的操作員總是參考儀器操作手冊(cè)或制造商對(duì)于樣本最小尺寸/質(zhì)量/厚度條件的要求。.XRF熒光光譜定量篩選法8?1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子技術(shù)產(chǎn)品中存有的管制物質(zhì)的定量測(cè)試的程序,本標(biāo)準(zhǔn)適用于零部件如聚合物、金屬和電子元件和各種原材料。被檢樣品適當(dāng)?shù)剡\(yùn)用機(jī)械樣品制備器制備,其代表性的試樣被X光熒光輻射定量測(cè)試限制物質(zhì)。XRF熒光光譜定量測(cè)試分析是基于參照物比照的分析方法。必須指出的是,XRF分析儀提供現(xiàn)存的限制物質(zhì)的元素形態(tài)的信息。特別應(yīng)注意,如對(duì)Cr,B啲測(cè)試,結(jié)果會(huì)影響總鉻和總溴的百分含量的測(cè)量,但不會(huì)影響六價(jià)鉻,PBB或PBDE,所以在測(cè)得鉻或溴的時(shí)候,有否六價(jià)鉻、PBB或PBDE須用不同的試驗(yàn)方法確認(rèn)。換言之,必須注意,如果鉻和溴未檢測(cè)至忻素態(tài)時(shí),則六價(jià)鉻、PBB或PBDE的存在是不可能的。本試驗(yàn)方法須仔細(xì)考慮校準(zhǔn):光譜的干擾,基質(zhì)影響或其它影響,這些可能從光譜的螢光輻照的強(qiáng)度的測(cè)定受至影響Cd:影響可能來自Br,Pb,Sn,和SbPb:影響可能來自Br,Hg:影響可能來自Br,Pb和富含Ca和Fe的樣品中Cr:影響可能來自ClBr:影響可能來自Fe,和Pb另外,樣品厚度也影響熒光強(qiáng)度以及(特別是在測(cè)量Cd)參比試樣應(yīng)與所測(cè)試樣相近的厚度。XRF總的說來是一個(gè)比較分析方法,分析結(jié)果總是基于校準(zhǔn)狀態(tài),可接受的參照方式由本標(biāo)準(zhǔn)第10節(jié)到第16節(jié)規(guī)定8.2引用標(biāo)準(zhǔn)以下標(biāo)準(zhǔn)為本標(biāo)準(zhǔn)所引用,如著日期引用標(biāo)準(zhǔn),則該版本為適用版本;對(duì)不著日期的,則引用其最新版本(包括任何修訂)C982XRF系統(tǒng)能量分布的成分選擇的標(biāo)準(zhǔn)指南C118-89(2000)XRF波長(zhǎng)分布的成分選擇的標(biāo)準(zhǔn)指南Bertin.E.PX光光譜分析的原理和實(shí)踐紐約Plenum出版社,第2版、Bumk.VE.Jenkin.R.Smith.d.k"用于XRF和X光衍射分析的樣品制備的應(yīng)用指南”Wiley-VCH出版VanGriekenR“X光譜手冊(cè)”MarcelDekkerinc有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)BCR-680和BCR-681有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)VDA1-48.3術(shù)語和定義適用以下術(shù)語和定義,為本標(biāo)準(zhǔn)的國(guó)際性標(biāo)準(zhǔn)A)X光熒光光譜:一種比較分析技術(shù),擬分析材料的樣品在嚴(yán)格控制條件下由一束X光或低能量伽碼光線照射,因樣品中的元素弓I起X光的性能發(fā)射,這些X光的性狀的測(cè)量專屬于每一種元素,而它們的強(qiáng)度直接由樣品中的元素濃度而測(cè)得,這個(gè)X光的性狀的激發(fā)過程就叫做XRF即X光熒光,他們是二種實(shí)際利用的XRF光譜OWDXRF光譜(波長(zhǎng)色散)來自樣品激發(fā)的光譜根據(jù)所分散的原理如晶體或多層體的波長(zhǎng)而非能量來分類,然后僅有(典型的)充氣或閃光檢測(cè)器檢測(cè)OEDXRF(能量色散)來自樣品的X光譜在檢測(cè)器根據(jù)它們的能量分類,檢測(cè)器在這量起雙重作用,一作為色散裝置同時(shí)以作為檢測(cè)器B)X光激發(fā)源:X光管或放射性同位素常用于X光激發(fā)器C)X光檢測(cè)器:一種用于轉(zhuǎn)換X光熒光強(qiáng)度到相應(yīng)脈沖,樣品均衡計(jì)數(shù)器(氣流型和密封型)和用于WDXRF的閃爍計(jì)數(shù)器而對(duì)于EDXRF,是帶有高能量解析的半導(dǎo)體檢測(cè)器,(最好超過220eV,相對(duì)于Mn,Ka解析輻射,適用Hg和Pb的分析),如果需要的話,半導(dǎo)體檢測(cè)器可以用液氮或冷卻劑冷卻。8?4儀器/設(shè)備和材料A)XRF:由X光激發(fā)源,各種樣品掃描方式,X光檢測(cè)器,數(shù)據(jù)處理器和控制系統(tǒng),有二種型號(hào),即WDXRF和EDXRF。警告:警告:當(dāng)測(cè)試者產(chǎn)生或使用X光輻射時(shí),像X光管或放射性同位互源必須根據(jù)制造商的安全指令和政府法令指導(dǎo)下進(jìn)行,如果使用輻射源,它就必須根據(jù)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)得到有效防護(hù),不得對(duì)人身安全受損。注意,放射源只能由經(jīng)充分培訓(xùn),有法定資格和授權(quán)的專門人員利用正確的防護(hù)技術(shù)進(jìn)行操作。B)分析方法可以在樣品中區(qū)別應(yīng)用,如安全濃度的樣品,低于臨界值的樣品和那些明顯高于允許值的樣品,這種情況下,結(jié)論不能明確作出,需要附加的其它分析方法驗(yàn)證。C)單獨(dú)可使用的方法的使用,以下檢出限必須考慮,這時(shí)X表示區(qū)域范圍,需要作進(jìn)一步驗(yàn)證(檢出限經(jīng)由實(shí)驗(yàn)室間得到證實(shí))。表6:不同元素在各種基質(zhì)中的定量檢出限測(cè)試人員應(yīng)當(dāng)用已知成分的物質(zhì)試驗(yàn)以證明儀器性能,建議使用至少2種試驗(yàn)物質(zhì),一種濃度應(yīng)在下限的50%左右;另一種應(yīng)為上限的150%左右。操作員應(yīng)當(dāng)有能力取出如表7的檢出限,這時(shí)的檢出限遵守IUPAC的限度式中:U:基準(zhǔn)強(qiáng)度(計(jì)數(shù))C0:樣品濃度(接近LOD)NO:凈脈沖強(qiáng)度(計(jì)數(shù))表7在各種基質(zhì)中不同元素的完成定量檢測(cè)的檢出限注意:這些檢出限應(yīng)基于適當(dāng)?shù)挠凶C標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)(CRMS)的測(cè)量決定,例如BCR-680和BCR-681或相當(dāng)物質(zhì),否則,應(yīng)選用均相的樣品。8.4.1標(biāo)準(zhǔn)樣品有效商品標(biāo)準(zhǔn)樣:市售各種標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)商品,不但如主要聚合物和金屬基質(zhì),而且對(duì)如陶瓷、玻璃基質(zhì)等較少用的量,這些物質(zhì)用這種給定的元素(Pb,Cd,Hg,Cr,Br)專門復(fù)配的,可能也會(huì)帶有其它元素,然后這些復(fù)配的材料用各種濕法化學(xué)分析測(cè)試,一組實(shí)驗(yàn)室來驗(yàn)證這些元素的濃度。XRF分析法,儀器半定量分析程序可以用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)修正,儀器所用軟件決定各材料中每個(gè)元素的濃度,這此濃度隨后校準(zhǔn)(即用從有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)得到的值代替儀器所測(cè)得的值,產(chǎn)生一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)物可以用于分析未知的材料。實(shí)驗(yàn)室標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)當(dāng)市售標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)缺乏時(shí),實(shí)驗(yàn)室可制備出專門的標(biāo)準(zhǔn)樣品,制取標(biāo)準(zhǔn)樣品的程序可參照上述步驟,盡管其證實(shí)的過程不如多重實(shí)驗(yàn)完成的那樣,不能導(dǎo)出分析,為了使用,實(shí)驗(yàn)室的標(biāo)準(zhǔn)材料必須文件化。制備新的有證標(biāo)準(zhǔn)材料為了均勻性,規(guī)定對(duì)于所有基質(zhì)包括下限和上限的濃度水平,需要制備有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),其步驟如下:A)決定每一個(gè)規(guī)定元素的濃度水平,對(duì)預(yù)先規(guī)定的規(guī)格與所需基質(zhì)的制造商簽訂合同。(各聚合物,金屬,玻璃,陶瓷等)B)提供這種材料的樣品給多個(gè)實(shí)驗(yàn)室比對(duì),比對(duì)方法可以使用包括原子吸收光譜,電感耦合等電子光譜,電感耦合等電子光學(xué)輻射光譜,儀器中子激活分析,滴定或其它適當(dāng)方法。C)實(shí)驗(yàn)室比對(duì)結(jié)果用作分析和偏差測(cè)定,如果實(shí)驗(yàn)室間的偏差是可以接受的,則獲得平均濃度值即可成為這個(gè)元素的標(biāo)示值。8.5檢測(cè)程序:8.5.1光譜儀的調(diào)整根據(jù)儀器制造廠的使用手冊(cè)給儀器接通電源,由于需要光學(xué)和電子的穩(wěn)定,對(duì)于溫度的穩(wěn)定所需時(shí)間由型號(hào)決定,為了保證測(cè)量的穩(wěn)定性,檢測(cè)設(shè)備首先須穩(wěn)定,由制造商的指南規(guī)定。8.5.2校準(zhǔn)a)根據(jù)儀器使用說明,利用表7規(guī)定的參比樣選擇校準(zhǔn)樣,樣品中的元素濃度應(yīng)獨(dú)立變化,如果校準(zhǔn)包含廣譜濃度的多種元素,則需要一個(gè)多組校準(zhǔn)樣,一組校準(zhǔn)樣可以用下列簡(jiǎn)化:o用基礎(chǔ)參數(shù)方法校準(zhǔn)(非標(biāo))o用基礎(chǔ)參數(shù)方法校準(zhǔn)(用同一標(biāo)準(zhǔn))o用基礎(chǔ)參數(shù)+經(jīng)驗(yàn)校準(zhǔn)b)定量分析測(cè)試所需測(cè)量:oCd檢測(cè)用Cd-K系列o鋁檢測(cè)用Pb-L系列o汞檢測(cè)用Hg-L系列o鉻檢測(cè)用Cr-K系列o溴檢測(cè)用Br-k系列依據(jù)儀器用戶手冊(cè)檢測(cè)校準(zhǔn)樣O如果是液態(tài)、粉末狀或微量組分,樣品杯需用相當(dāng)數(shù)量的酒精或試劑在使用前清洗干凈
并烘干觀察窗的薄膜,若取窗薄膜,須要注意不要觸摸測(cè)量面中間,應(yīng)拿住薄膜兩端。O分析測(cè)試所用標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間應(yīng)隨儀器和基質(zhì)不同而改變,必須遵守滿足7C的準(zhǔn)則。根據(jù)儀器用戶手冊(cè)做好校準(zhǔn)如7C規(guī)定的濃縮過程的質(zhì)量控制當(dāng)規(guī)范操作后,重復(fù)質(zhì)量控制的樣品作為儀器性能的檢測(cè)。8.5.3定量篩選試驗(yàn)依照每一臺(tái)儀器專門方式將試樣放在測(cè)量位在特定的時(shí)間執(zhí)行測(cè)量,或者用X光光譜或者標(biāo)示能量水平測(cè)量X光的強(qiáng)度完成定量分析顯示和記錄分析結(jié)果結(jié)果的可能的解讀按附錄第8.6章規(guī)定.8.5.4檢驗(yàn)報(bào)告試驗(yàn)由實(shí)驗(yàn)室完成后出具準(zhǔn)確,清楚的,不含糊的檢測(cè)結(jié)果和其它相關(guān)信息每份檢驗(yàn)報(bào)告至少應(yīng)包含以下信息:名稱、地址唯一性的報(bào)告識(shí)別號(hào)(例如系列號(hào))及頁數(shù)和報(bào)告總頁數(shù)樣品描述和識(shí)別樣品的收到日期和檢驗(yàn)日期IEC標(biāo)準(zhǔn)號(hào)使用的過程、程序和儀器本標(biāo)準(zhǔn)未專門規(guī)定的可選擇的詳細(xì)信息及如此可能影響結(jié)果的其它因素。報(bào)告簽發(fā)以后的改錯(cuò)或附加應(yīng)當(dāng)有一個(gè)進(jìn)一步的文件化的合適標(biāo)志,如“本檢驗(yàn)報(bào)告是對(duì)檢驗(yàn)報(bào)告*號(hào)的更正/補(bǔ)遺”(即具備另外的識(shí)別號(hào))和滿足前幾段的相關(guān)要求。8?6附件8.6.1根據(jù)ROHS的結(jié)果解釋C)對(duì)所有的元素如定量分析給出一個(gè)結(jié)果是低于表1所列的最低限度,根據(jù)ROHS,表示樣品合格。D)對(duì)所有的元素臺(tái)定量分析給出的結(jié)果高于表1所列的最高限度,依據(jù)ROHS,樣品不合格。對(duì)所有的元素臺(tái)定量分析給出的結(jié)果落于高低限限度內(nèi),則需要附加的驗(yàn)證。8.6.2基質(zhì)影響樣品中元素的輻照性能的強(qiáng)度受到激發(fā)輻射的散射過程的不利影響,另外二個(gè)主要影響發(fā)生在:激發(fā)輻射的吸收及被分析物和樣品中基質(zhì)元素引起的隨后的熒光輻射的散射。由樣品中其它元素引起被分析物的次級(jí)激活(提高)塑料類:在此類樣品中,被分析物的X光線強(qiáng)度的基質(zhì)影響來自:—級(jí)輻射的散射(主要為不連貫的散射)對(duì)光譜基準(zhǔn)貢獻(xiàn)最大主要由PVC中的CL原子引起的熒光的吸收影響,類似阻燃整理劑中Rr和Pb被附加的Sb.Sn兀素影響由象Sb.Sn和Br所引起的次級(jí)輻射。o金屬:金屬樣品中的一級(jí)輻射的散射不會(huì)起重要作用,基質(zhì)的影響主要是由次級(jí)激發(fā)影響和吸收所引起的,而每種金屬基抽的影響是不同的,下表表示在各種基質(zhì)中的典型兀素:?鐵合金:Fe.Cr.Ni.Nb.Mo.Cu....鋁合金:AI.Mg.Si.Cu.Zn....銅合金:Cu,Zn,Sn,Pb,Mn,Ni,Co,.焊料合金:Pb,Cu,Zn,Sn,Sb,Bi,Ag.鋅合金:Zn,AI,.貴金屬合金:Rh,Pd,Ag,Ir,Pt,Au,Cu.Zn”..o電子兀器件和印刷線路板:其主要作用如上所述的聚合物和金屬。8.6.3樣品大小和厚度的考慮:試樣如果太小或太薄,可能干擾最小的樣品厚度或質(zhì)量的試驗(yàn)條件,這些條件是為了保證結(jié)果的有效性制定的,在這種情況下,一組相同的小物件(如螺釘)應(yīng)置于樣品杯中,然后再測(cè)試分析,同樣,太薄的樣品用同一種樣品疊成一堆的厚度以滿足樣品厚度要求然后分析測(cè)試。所有樣品的總的原則是要完全履蓋光譜儀的測(cè)量窗,因此至少需要4mm厚的聚合物和輕合金樣品,但,由于每臺(tái)儀器樣品尺寸的個(gè)體變異,建議儀器操作者參考儀器手冊(cè)或制造商對(duì)所測(cè)樣品的最小尺寸、質(zhì)量、厚度的條件。9.用GC/MS測(cè)試聚合物中的多溴聯(lián)苯(PBB)和多溴聯(lián)苯醚(PBDE).1范圍、應(yīng)用和評(píng)價(jià)本方法用于檢驗(yàn)在電器設(shè)備上所用聚合材料中從一到十溴聯(lián)苯醚(BDE)和聯(lián)苯(BB)。樣品準(zhǔn)備,應(yīng)首先用紅外光譜(IR)或相當(dāng)方法鑒別材料,根據(jù)所得信息決定溶解聚合物的溶劑。在樣品清除程序中,基質(zhì)用非溶劑沉淀去除及常規(guī)清除程序包括凝膠純化。對(duì)于那些無法用常用溶劑溶解的聚合物,其樣品可用冷凍碾磨粉碎的方法。通過正常的樣品準(zhǔn)備和清除程序,樣品用氣相色譜和質(zhì)量色譜分析。對(duì)個(gè)別的同分異構(gòu)體須用可靠的標(biāo)準(zhǔn)化合物特定的離子比較相應(yīng)的色譜保留時(shí)間和離子富含比率來鑒別。而定量分析則是相比可靠的標(biāo)準(zhǔn)化合物的特定離子的當(dāng)前色譜輪廓來完成。本方法最適用于哪些在溶劑中可以完全或部分溶解的像橡膠一類的大多數(shù)聚合物。最大的危險(xiǎn)在于:a)對(duì)那些不能用大多數(shù)溶劑溶解的聚合物,不能準(zhǔn)確決定被測(cè)物的分離。b)根據(jù)歐盟RoHS,本方法的結(jié)果應(yīng)用被限制:o總PBDE(特定同分異構(gòu)體的總量)1OOOppm:部分有用o單個(gè)PBDE同分異構(gòu)體或同種物質(zhì)1000ppm不能使用o總PBDEs,100ppm:非常有用o單個(gè)PBDE同分異構(gòu)體或同種物質(zhì)100ppm:部分有用c)在沒有非常小心安全指導(dǎo)下請(qǐng)勿用溶劑煮沸樣品9.2參考資料、引用標(biāo)準(zhǔn),標(biāo)準(zhǔn)方法和標(biāo)準(zhǔn)材料a)EPA1613:1994用同位素稀釋的四到八氯代二氧芑和呋喃HRGC/HRMSb)EPA8270c氣質(zhì)聯(lián)用儀的半揮發(fā)有機(jī)化合物c)分析和文件的證書:加拿大的Wellington實(shí)驗(yàn)室,SputhgateDr,Guelphd)J,Brandrup,E.H,Immergut,EA,Grulke.聚合物手冊(cè)。1999VII497-VII545e)參照物和處理指南(GC/MS選定的鹵化芬香化合物的性能和分析)加拿大的Wellington實(shí)驗(yàn)室,SputhgateDr,Guelphf)來自BAM的備忘錄(聚合物中的五溴和八溴BDE的測(cè)定)g)標(biāo)準(zhǔn)材料oBDE-MXE(天然BDE混合物)Wellington實(shí)驗(yàn)室oBDE-MXD(天然BDE混合物)Wellington實(shí)驗(yàn)室oMBDE-MXE(13C12質(zhì)量標(biāo)簽的BDE混合物Wellington實(shí)驗(yàn)室oBDE-CVS-E(1-5:校準(zhǔn)溶液)Wellington實(shí)驗(yàn)室oMBDE-139-IS(13C12質(zhì)量標(biāo)簽的六溴BDEWellington實(shí)驗(yàn)室o菲D10oBAM的材料o含八溴和五溴BDE的ABS,PS,PUR及環(huán)氧樹脂o室內(nèi)用合成材料o含十溴BDE的ABS-SAN,PC,PMMAlbemarleo不知來源的含各類BDE的ABS-SAN,PC,PMM9.3術(shù)語和定義本文獻(xiàn)的所用的關(guān)鍵術(shù)語的限定按字母順序排列如下:被測(cè)物:用于本方法測(cè)試的PBDE和PBB校準(zhǔn)化合物:用于校準(zhǔn)質(zhì)譜儀MS的準(zhǔn)確m/z標(biāo)尺的化合物(PFK,PFTBA)校準(zhǔn)溶液:一種次級(jí)標(biāo)準(zhǔn)和/或原液制備的溶液,用于校準(zhǔn)相對(duì)于被測(cè)物濃度的儀器響應(yīng)情況PFK:磷酸果糖激酶。用于校準(zhǔn)質(zhì)譜儀MS的m/z標(biāo)尺精度的混合化合物PFTBA全氟三丁胺。在室溫條件下用于校準(zhǔn)質(zhì)譜儀MS的m/z標(biāo)尺精度的混合化合物可溶聚合物:室溫下可溶于溶劑的聚合物部分可溶聚合物:室溫下在溶劑中可溶脹或部分溶解的聚合物不溶聚合物:在室溫下溶劑不能溶解的聚合物9?4儀器/設(shè)備和材料9.4.1儀器實(shí)驗(yàn)室煙罩10mg量程的天平玻璃移液管:150mm長(zhǎng),內(nèi)徑5mm帶有冷凝器索氏提取裝置:帶100ml或更多圓頸瓶的50-100ml的索氏提取器滿足用于索氏提取器圓頸瓶的加熱器用密封于玻璃的磁力棒攪拌的攪拌裝置來溶解聚合物帶可變溫度和抽真空的的旋轉(zhuǎn)蒸發(fā)器h)置于煙罩的氮吹氣裝置i)可保持一定溫度的(105-250°C)的烘箱j)400°C或更高的焙烘爐k)玻璃器皿:玻璃漏斗(125-1000ml),畢氏漏斗(15cm),燒杯(100-500ml),小玻璃瓶(1-2ml)洗瓶9.4.2設(shè)備a)氣相色譜儀:帶不可分的注入部分的程控器,用于毛細(xì)管色柱色柱:(5%苯甲基聚硅醚和340或更高的溫限(長(zhǎng)15m,內(nèi)徑0.25mm,0.1um壁厚:推薦:DB-5HT或相當(dāng)型號(hào)b)質(zhì)譜儀:在電子撞擊離子極的70e-伏(常態(tài))電子能,具有在一秒種內(nèi)相對(duì)選定的離子檢測(cè)12種離子的m/z值,將有能力掃描從222即730amu(推薦:960)并產(chǎn)生一質(zhì)量光譜對(duì)照PFK或PFTBA(推薦:高級(jí)PFK和超高級(jí)PFK)警告:若使用超高級(jí)PFK由于其高粘度可能會(huì)對(duì)質(zhì)譜儀產(chǎn)生危險(xiǎn)9.5試劑a)硫酸:試劑級(jí)或CMOS級(jí)b)純化的氮?dú)鈉)溶劑:GC級(jí)或更高(推薦:農(nóng)藥級(jí))d)主要用品:丙酮,四氫呋喃,甲苯,已烷,二氯甲烷,三氯甲烷,甲醇,所有用品都應(yīng)去干擾e)石英毛或玻璃毛:用二氯甲烷漂洗或在400C至少焙烘4小時(shí)f)硅膠:O活化:70-230目,用二氯甲烷漂洗130°C活化一晚并貯存在預(yù)先洗好的帶螺帽的玻璃瓶中以防受潮。o酸性硅膠:用1.76g濃硫酸混合2。24g活化硅膠o堿性硅膠:不推薦水:經(jīng)已烷洗滌的水校準(zhǔn)溶液用13C12BDEs或4,4'-dibromoonctafluro聯(lián)苯(f)或PenathreneD10作為分析多溴聯(lián)苯醚PBDEs的識(shí)別標(biāo)簽;用13C12PBB或4,4'-dibromoonctafluro聯(lián)苯(f)或Penathrene作為分析多溴聯(lián)苯PBBs的識(shí)別標(biāo)簽。9.6樣品制備9.6.1樣品辨認(rèn)紅外光譜或相當(dāng)?shù)姆椒ㄗR(shí)別樣品,根據(jù)參照物選定溶劑或非溶劑9.6.2提取(萃取)樣品在液氮下冷卻后用切割或粉碎成1.0mm尺寸的顆粒每1.0g樣品根據(jù)6。1節(jié)附加13C12標(biāo)簽的PBDEs或正?;瘜W(xué)品作為分離標(biāo)準(zhǔn)所選定的溶液劑10ml溶解,用玻璃封的磁棒攪拌1小時(shí)。對(duì)可溶及部分可溶的聚合物用非溶劑沉淀聚合物。通過石英毛過濾其懸浮液并將剩液在分液漏斗中分離,用液-液萃取提取化合物或執(zhí)行樣品洗滌和膠體純化,當(dāng)溶劑是極性時(shí)液-液萃取才可考慮。對(duì)在石英毛中固體材料,應(yīng)當(dāng)由索氏提取器提取。對(duì)于這些情況,需要9小時(shí)或以上時(shí)間的萃取。對(duì)非溶聚合物不能沉淀和液-液萃取的聚合物應(yīng)當(dāng)由索氏提取器萃取至少16小時(shí),這種情況下,甲苯或四氫呋喃或1:1的混合溶液被用作萃取液。在索氏萃取后,萃取液和過濾液混合并用硫酸洗滌直到無色,然后用已烷處理過的水洗至中性。9.6.3樣品清洗和純化用帶溶劑洗滌過的玻璃毛的250ml的貯液器堵塞一玻璃柱的一端(20mmx350mm)按程序加,1g脫水硫酸鈉,1g硅膠,4g酸化硅膠;按先前步驟加相同的量。用附加130ml已烷洗提色柱并保持整個(gè)洗提過程。蒸餾這溶液約1-2ml的量,并移至一玻璃瓶(6mmx13mm)中。9.7測(cè)試步驟9.7.1校準(zhǔn)準(zhǔn)備壬烷或購(gòu)買溶劑或混合物,市售有效的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)混合物(劍橋同位素實(shí)驗(yàn)室或惠林頓實(shí)驗(yàn)室產(chǎn)),至少,準(zhǔn)備在GC/MS的線性范圍內(nèi)的五種不同的校準(zhǔn)液,對(duì)于所含高濃度目標(biāo)聚合物的樣品,應(yīng)準(zhǔn)備樣品的校準(zhǔn)液9.7.2儀器性能9.7.3樣品分析用注入器注入1山的濃縮樣,含內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)溶液,注入的量須與用于校準(zhǔn)的量相同。數(shù)據(jù)收集可以在BDE或BB洗提以后停止。層柱的烘箱溫度由程序控制110°C(5min),40°C/min到200°C(4.5min),10°C/min到325°C(15min),注入器的溫度保持在250°C質(zhì)譜(GC/MS)分析由以下條件執(zhí)行:a)分辯率(1000m/e或更高)b)電離極:電子沖擊c)熱源溫度:250°Cd)監(jiān)控極:選定離子監(jiān)控器,精確的離子質(zhì)量監(jiān)控按表1,對(duì)13C12標(biāo)簽的內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn),選定M+12第一級(jí)分析分析從6-2所得的樣品濃度,用下列公式(1&3)計(jì)算樣品濃度。如果濃度超出臨界值(閾值),二級(jí)分析就不在需要,如果不是,則進(jìn)行第二級(jí)分析操作者應(yīng)當(dāng)知道儀器的檢出極限第二級(jí)分析(為了確認(rèn)或最低極限:100-500ppm總量)a)濃縮樣品到原始溶液的一半(對(duì)100ppm:1/10)b)稱重并決定用量,按溶液密度。c)用相同方法分析樣品9.7.4分析結(jié)果的計(jì)算對(duì)每一個(gè)要確定的的化合物準(zhǔn)備好校準(zhǔn)曲線a)公式1校準(zhǔn)液的計(jì)算oY=AX+BoY:每一聚合物的范圍oA=角系數(shù)o乂=溶液中的每一種PBDE的濃度oB=長(zhǎng)軸交叉點(diǎn)b)公式2R=Rsm/RstoR=復(fù)原率oRsm=在標(biāo)準(zhǔn)溶液中的復(fù)原標(biāo)準(zhǔn)的區(qū)域oRst=樣品的分離標(biāo)準(zhǔn)的區(qū)域C)公式3樣品的未知含量的的測(cè)定(ppm)oC(ppm)=〔(Ys-B)/A〕〕*R*WcfoC(ppm)=樣品的未知含量oYs=樣品的同分異構(gòu)體的區(qū)域oWcf=轉(zhuǎn)換因子(須包括W/VW/W)9.7.5檢驗(yàn)報(bào)告a)樣品和測(cè)試者的信息o材料信息o萃取液和用量o標(biāo)準(zhǔn)化合物(型號(hào)、用量和制備)O用校準(zhǔn)化合物的GC/MS的操作條件o每一種同分異構(gòu)體的線性率和復(fù)原率o空白試驗(yàn)的結(jié)果o檢驗(yàn)結(jié)果(總量、每一種同分異構(gòu)體的含量)b)來自所有的質(zhì)量保證和質(zhì)量控制(QA/QC)的檢驗(yàn)結(jié)果9.7.6質(zhì)量控制參照USEPA1613從9.1.3到9.8的相關(guān)章節(jié)9.8方法評(píng)價(jià)本方法由十六家韓國(guó)分析硏究院對(duì)三星公司高級(jí)技術(shù)院、Cheil紡織公司和三星電子所制備的參考材料進(jìn)行評(píng)價(jià)。9.9附件表9對(duì)PBDE的定量的參考量萃取液中的所監(jiān)測(cè)的離子一溴BDE247?98249.98二溴BDE325.89327.89329.98三溴BDE403.80450?80407.80四溴BDE323.87325?87483.71五溴BDE401.78403?78561.62
六溴BDE481.69483.69643.52七溴BDE559.60561.60721.44八溴BDE639.51641.51643.51(801.34)九溴BDE717.42719.42721.42(879.25)十溴BDE797.33799.33959.16對(duì)十溴BDE的任選的離子:231.8,3986799.3括號(hào)內(nèi)為可選離子粗體字:量化的離子有下劃線的:識(shí)別離子對(duì)于PBB而言:用PBDE-16(如:一溴BB=247.98-16=231.98)10.高效液相色譜/紫外檢測(cè)聚合物中的PBB和PBDE?1范圍,適用及方法概要本方法提供的程序,用于檢測(cè)聚合材料中的PBB和PBDE,本文規(guī)定了鑒別在聚合材料和印刷線路板中的阻燃劑PBB/PBDE類型的材料檢測(cè)方法,本試驗(yàn)方法應(yīng)用帶紫外測(cè)試的高效液相色譜來分析聚合材料中的PBB和PBDE。被測(cè)物是各類PBB和PBDE,最常見的PBB是OBB(八溴聯(lián)苯)和DBB(十溴聯(lián)苯),最常見的PBDE是OBDE(八溴聯(lián)苯氧化物)和DBDE(十溴聯(lián)苯氧化物)。10.2參考資料,引用標(biāo)準(zhǔn),標(biāo)準(zhǔn)方法和材料a)M,Riesst和R.vanEldikr聚合材料中含溴阻燃劑的帶紫外檢測(cè)回流液相色譜儀鑒別色譜A刊827(1998)65-7110.3術(shù)語和定義本文中的關(guān)鍵術(shù)語的定義如下:a)同類材料:一種材料完全為同一成分,已不能用機(jī)械方法分離出不同的材料.b)應(yīng)用材料:不能被進(jìn)一步機(jī)械分離單一材料的單元,如小于1g的多層材料和電子元器件.10.4儀器/設(shè)備和材料g)DE-USC910g)DE-USC910八溴聯(lián)苯醚(工業(yè)純)(DE-79-大湖)(如LGC-Promochem)(U-RBF-102十溴聯(lián)苯)(如10.4.1儀器/設(shè)備a)提取單元:BehrSMA12的加熱棒。b)帶低壓傾斜泵的HPLC系統(tǒng),自動(dòng)樣品器,色譜柱烘箱及紫外掃描檢測(cè)器,(如P580泵,ASI100自動(dòng)樣品注入器,STH585色譜柱烘箱和產(chǎn)自德國(guó)DIONEX的PDA100光電二極管的化驗(yàn)檢測(cè)器。c)常規(guī)實(shí)驗(yàn)室工具和設(shè)備。d)可被替代的帶相同功能的儀器10.4.2材料a)容量瓶b)可調(diào)移液管c)12x32mm小瓶d)過濾盤e)固定相:改性C18色譜柱(例如Macherey-NagelNucleosilCC125/4100-5C18”Nautilus"帶預(yù)色譜柱的CC8/4Nucleosil100-5C18”Nautilus”(MachereyNagel))10.5試劑:a)甲醇(HPLC級(jí))b)水(HPLC級(jí))c)KH2PO4p.a.d)NaHPO4p.a.e)DE-USC902十溴聯(lián)苯醚(工業(yè)純)(DE-83R-大湖)(如(LGC-Promochem)f)U-RBF-074八溴聯(lián)苯(工業(yè)純)(FR250BA,Dow化學(xué))(如LGC-Promochem)LGC-Promochem)10.5.1標(biāo)準(zhǔn)制備/儲(chǔ)存溶液制備a)流動(dòng)相:97%的甲醇和3%的緩沖水。使用磷酸作為緩沖劑,用0。1509g磷酸二氫鉀和0。2477g的磷酸氫鈉溶于100ml的水中制成緩沖液,在流速1ml/min流動(dòng)時(shí)間為12min.b)作為樣品溶劑的純標(biāo)準(zhǔn)溶劉和為提取樣品的使用n-Propanol。10-6樣品制備被測(cè)樣品在離心磨盤中磨碎中1mm的顆粒大小,有些則需在液氮中冷卻后硏磨。100mg的樣品在索氏提取器中用70mln-Propanol提取3小時(shí),待冷卻至室溫后,提取物過濾并裝滿100ml?如果樣品中的阻燃劑的濃度接近閾值時(shí),需要附加濃縮步驟和更多的樣品質(zhì)量。作為純標(biāo)準(zhǔn)物的樣品溶劑和提取樣品的試劑,使用n-Propanol10.7測(cè)試程序10.7.1校準(zhǔn)推薦使用二極管化驗(yàn)檢測(cè)器來正確鑒別未知物,市售的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)物用來校準(zhǔn)保留時(shí)間,紫外光譜和波峰區(qū)域/濃度10.7.2儀器性能對(duì)HPLC的測(cè)量和數(shù)據(jù)評(píng)價(jià),應(yīng)遵守儀器供應(yīng)商的指南,國(guó)內(nèi)參照樣品和市售標(biāo)準(zhǔn)物可用于參考。10.7.3樣品分析本方法適用阻燃劑中的PBB和PBDE,用于PBB的標(biāo)準(zhǔn)物為八溴聯(lián)苯(OBB),用于PBDE的標(biāo)準(zhǔn)物十溴聯(lián)苯氧化物(DECA)和八溴聯(lián)苯氧化物(OCTA)OBB僅作為聚溴代聯(lián)苯常用于工業(yè)塑料,OBB作為工業(yè)產(chǎn)品不僅含有八溴代化合物而且還根據(jù)生產(chǎn)方法和工業(yè)純度含有七和六溴衍生物相似與OCTA屬于聚溴代聯(lián)苯氧化物,它含1-7和6溴化合物,DECA(10溴代聯(lián)苯氧人物也屬于的聚溴代聞苯氧化物而且由10溴及1溴化合物。對(duì)HPLC的測(cè)試及數(shù)據(jù)評(píng)價(jià),儀器供應(yīng)商的操作指南應(yīng)遵守,建議使用二極管化驗(yàn)檢測(cè)器作為正確鑒別未知物的方法,市售工業(yè)純標(biāo)準(zhǔn)物可用于校準(zhǔn)保留時(shí)間,紫外光譜和波峰
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