光纜接續(xù)與測試

光纜接續(xù)與測試第一章光纜接續(xù)一：接續(xù)方式1熔接（死接頭）是相對最快的光纖端接方式。用輔助工具將鋪設(shè)光纖與尾纖（光纖）剝?nèi)ネ馄?、切割、清潔后，在熔接盤等的保護(hù)下使用光熔接機(jī)“熔”為一體即成。熔接方式穩(wěn)定可靠，失敗率在以下，缺點(diǎn)是需要在現(xiàn)場有電源，設(shè)備體積龐大、價格昂貴而且需要專業(yè)人員操作和日常維護(hù)。2機(jī)械接續(xù)（活接頭）是將鋪設(shè)光纖與尾纖（光纖）均剝?nèi)ネ馄?、切割、清潔后，插入接續(xù)匹配盤中對準(zhǔn)、相切并鎖定。機(jī)械接續(xù)過程可逆，速度也較快，失敗率略高于熔接，工具簡易投入很小，但接續(xù)匹配盤通常不便宜?！袄w對接頭”，是指鋪設(shè)光纖與光連接器直接相連接。二：接續(xù)步驟光纜接續(xù)步驟：三、單模光纖在接續(xù)中應(yīng)注意的技術(shù)問題單模光纖是在給定的工作波長中，只傳輸單一基模的光纖。光纖接續(xù)的方法很多，現(xiàn)階段以電弧熔接法最為優(yōu)越，應(yīng)用最為廣泛。電弧熔接法是利用光纖高溫時的熔融性能和高壓尖端放電產(chǎn)生的理，使光纖熔接起來的。光纖接續(xù)損耗是由于接續(xù)點(diǎn)不完善而產(chǎn)生的損耗，影響接續(xù)點(diǎn)不完善的因素很多，歸納起來有兩大類，即外因和內(nèi)因。1、內(nèi)因內(nèi)因是指光纖本身的不完善，不能通過改善接續(xù)工藝來減少損耗，它包括芯徑失配，折射率分布失配，光纖同心度不良，模場直徑失配，所以在接續(xù)測試中，接續(xù)損耗值會出現(xiàn)大正大負(fù)的現(xiàn)象。通過多次接續(xù)只能使單向值小些，平均值趨于零，但正負(fù)現(xiàn)象不能避免，正負(fù)現(xiàn)象對光纖傳輸損耗有一定的影響。在工程中，光纜配盤時應(yīng)盡量選用同一批出廠的光纜，、端盡量一一對應(yīng)，人為的完善接續(xù)工藝以減少接續(xù)損耗。2、外因外部因素是指非光纖本身不完善，而是接續(xù)工藝不良造成的，包括芯位置橫向、縱向、光纖軸向角的偏差，光纖端面污染，這是由于在接續(xù)過程中屬于熔接機(jī)的維護(hù)不及時、操作不當(dāng)?shù)热藶橐蛩卦斐山永m(xù)損耗過大。值得注意的是熱縮管也要講究干凈、清潔、無塵，否則熱熔時，塵土對接續(xù)點(diǎn)有損傷，引起損耗增大。收容到收容盤時，盡量收成大圈，避免小圈所引起的損耗增大。光纖在收容盤中要用膠帶使之固定好，不能出現(xiàn)上彈趨勢，避免日后損傷。四、光纜接續(xù)作為光纜接續(xù)的中心環(huán)節(jié)，應(yīng)抓好軟硬兩大因素和具體操作中的剝、潔、切、熔、盤、測、封。1光纖端面的制備⑴光纖涂覆層的剝除應(yīng)掌握平、穩(wěn)、快三字剝纖法?！捌健?，即持纖要平。左手拇指和食指捏緊光纖，使之成水平狀，所露長度以 為宜，余纖在無名指、小拇指之間自然打彎，以增加力度，防止打滑。“穩(wěn)”即剝纖鉗要握得穩(wěn)?！翱臁?，即剝纖要快，剝鉗應(yīng)與光纖垂直，上方向內(nèi)傾斜一定角度，然后用鉗口輕輕卡住光纖，右手隨之用力，順光纖軸向平推出去，整個過程要自然流暢，一氣呵成。⑵裸纖的清潔一是講究清潔用料擇優(yōu)原則，即選擇使用優(yōu)質(zhì)醫(yī)用脫酯棉，工業(yè)用優(yōu)質(zhì)無水乙醇。二是應(yīng)用“兩次”清潔法，即剝纖前對所有光纖用干棉捋擦，并用酒精棉對尾纖 處重點(diǎn)清潔；三是注意與切、熔操作的銜接，清潔后勿久置空氣中，謹(jǐn)防二次污染。⑶裸纖的切割切割是光纖端面制備中最為關(guān)鍵的步驟。操作規(guī)范如下以手動為例：光纖的放置，應(yīng)講究“前抵后掀、先進(jìn)后撤”，即手持光纖，稍超前刻度要求平放導(dǎo)槽中，后部稍向上抬起，使光纖前半部緊抵導(dǎo)槽底部，然后向后撤至要求刻度，從而確保光纖吻合"”導(dǎo)槽并與刀刃垂直。切割時，動作要自然、平穩(wěn)、勿重、勿急，避免斷纖、斜角、毛刺、裂痕等不良端面的產(chǎn)生。3光纖熔接光纖熔接是接續(xù)工作的中4環(huán)節(jié)。首先應(yīng)根據(jù)光纜工作要求配備蓄電池容量和精密合適的熔接設(shè)備，操作中應(yīng)狠抓“快、準(zhǔn)、細(xì)、嚴(yán)”四字。即動作快捷，放纖準(zhǔn)確，觀察仔細(xì)，嚴(yán)格按流程操作，光纖的接、放、取、縮及儀器操作應(yīng)快速、程序化。光纖在導(dǎo)槽及熔接室中放置應(yīng)準(zhǔn)確、到位，以便于儀器校準(zhǔn)調(diào)節(jié)。操作過程中觀察仔細(xì)，應(yīng)做到“一瞧、二看、三分析”。即拿纖后快速觀察，有無明顯的棉花絨毛、灰塵顆粒粘附，光纖端面有無因斷、碎而造成側(cè)面反光現(xiàn)象，在光纖的拿、放、取過程中，應(yīng)隨時觀察兩側(cè)光纖有無掛、扯、擠壓。同時觀察熔接中屏幕上有無氣泡、過細(xì)、過粗、虛熔、分離等不良現(xiàn)象的原因，若產(chǎn)生不良現(xiàn)象應(yīng)檢查熔接的兩根光纖材料、型號是否匹配，切刀和熔接機(jī)是否被灰塵污染，并檢查電極氧化狀況，若均無問題，則應(yīng)適當(dāng)提高熔接電流。4盤纖（1）：盤纖規(guī)則和方法：沿松套管或光纜分支方向進(jìn)行盤纖，前者適用于所有的接續(xù)過程，后者僅適用于主干光纜末端，且為一進(jìn)多出。⑵注意事項(xiàng)：盤纖中應(yīng)特別注意“底、邊、沿、坎”四個部位。即在預(yù)留盤上光纖的盤繞應(yīng)盡量沉底，靠邊，并用膠帶粘貼加固，同時避免靠、漫預(yù)留盤的沿和有異物突起的坎，必要時用膠帶進(jìn)行包裹保護(hù)。統(tǒng)計表明盤纖后的斷纖現(xiàn)象80與%此有關(guān)。5．封盒封盒是接續(xù)中的收尾工作，講究“嚴(yán)密”二字，操作時應(yīng)兼顧里外兩個方面。里：指封盒前，檢查光纖有無外露，余留盤整體是否固定？在盒內(nèi)擺放是否端正到位，填充膠是否均勻，特別是光纜根部纏膠要恰到好處，盒體合攏部位凹凸是否吻合，既要密封又不會使合攏困難。外：指盒體封固應(yīng)講究方法，對螺釘式，要采用循環(huán)遞進(jìn)加力法，使盒體受力均勻，謹(jǐn)防斷裂。對卡接式，冬季施工，必要時應(yīng)預(yù)熱烘烤卡接環(huán)。五、管序及纖序管序類似電纜色譜排序法：正對光纜端面，使其中的松套管（帶狀纜除外）按填充芯顏色：紅、綠??順時針（或逆時針）統(tǒng)一排列編號。2、纖序松套管中的光纖色譜：蘭、桔、綠、棕、灰、白、紅、黑、黃、紫、粉紅、粉綠順排。第二章光纖接續(xù)損耗分析、 測試原理及光纜測試的常見問題光纖接續(xù)損耗分析光纖接續(xù)損耗產(chǎn)生的原因本征損耗（2）光纖的附加損耗附加損耗是成纖后產(chǎn)生的損耗，主要是由于光纖受到彎曲和微彎所產(chǎn)生的，在成纜和光纜的施工過程中，都不可避免地要發(fā)生彎曲，因此就會產(chǎn)生附加損耗，對于單模光纖，對接的兩根纖，由于模場直徑，纖芯和包層的同心度、纖芯的不圓度參數(shù)的差異，會導(dǎo)致光纖接續(xù)損耗的產(chǎn)生，在兩根光纖完全對準(zhǔn)，且忽略端面間隙的情況下，接續(xù)損耗主要取決于光纖模場直徑的差異。影響光纖接續(xù)損耗的原因影響光纖接續(xù)損耗的原因，主要是光纖本身的結(jié)構(gòu)參數(shù)和熔接機(jī)的熔接質(zhì)量，同時還有一些人為因素和機(jī)械因素，比如光纖收容盤纖產(chǎn)生的彎曲損耗，光纖切割的斷面質(zhì)量，橫向失配、縱向分離、軸向傾斜等。光纖接續(xù)損耗測試分析1、熔接機(jī)對接續(xù)損耗估算原理熔接機(jī)接續(xù)是通過對光纖軸和軸方向的錯位調(diào)整，在軸心錯位最小時進(jìn)行熔接的，這種能調(diào)整軸心的方法稱為纖芯直視法，這種方法不同于功率檢測法，現(xiàn)場是無法知道接續(xù)損耗的確切數(shù)值的，在整個調(diào)整軸心和熔接接續(xù)過程中，通過攝像機(jī)把探測到所熔接纖芯狀態(tài)的信息，送到熔接機(jī)的分析程序中，然后熔接機(jī)計算出接續(xù)損耗值，其實(shí)準(zhǔn)確地說，這只能是說明光纖軸心對準(zhǔn)的程度，并不含有光纖本身的固有特性所影響的損耗，而 的測試方法是后向散射法，它包含有光纖參數(shù)的不同形式的反射損耗，所以熔接機(jī)所顯示的數(shù)據(jù)配合觀察光纖接續(xù)斷面情況只是粗略地估計了光纖接續(xù)點(diǎn)損耗的狀況，不能作為光纖接續(xù)損耗的真實(shí)值。2用 監(jiān)測光纖接續(xù)，常用的有兩種方法第一種是前向單程測試法，在光纖接續(xù)方向前一個接頭點(diǎn)進(jìn)行測試，采用這種方法監(jiān)測，測試點(diǎn)與接續(xù)點(diǎn)始終只隔一盤光纜長度，測試接頭衰耗較為準(zhǔn)確，測試速度較快，大部分情況下能較為準(zhǔn)確的取得光纖接續(xù)的損耗值，但缺點(diǎn)是所測得的損耗值全部是單向測試數(shù)據(jù)，還不能全面、精確地反映光纖接續(xù)的真正的損耗值。第二種是前向雙程測試法， 測試點(diǎn)與接續(xù)點(diǎn)的位置仍同前向單程監(jiān)測布置一樣，但須在接續(xù)方向的最始端做環(huán)回，即在接續(xù)方向的始端將每組束管內(nèi)的光纖分別兩兩短接，組成環(huán)回回路，由于增加了環(huán)回點(diǎn)，所以 測試可以測出接續(xù)損耗的雙向值，用 前向雙程測試光纖，兩方向測試的結(jié)果有時會不同，主要原因是光纖芯徑和相對折射率均不相同時（即不同品牌或不同批次的光纖熔接），不僅會造成熔接損耗增加，還會造成 兩個方向（端到端或端到端）的測量值相差很大，當(dāng)兩根被熔接的光纖的模場直徑不同時，因?yàn)樾∧鲋睆焦饫w傳導(dǎo)瑞利散射光的能力比大模場直徑光纖強(qiáng)，所以當(dāng)這兩種直徑的光纖熔接時，若從小模場直徑光纖向大模場直徑光纖方向測試時，熔接損耗可能是負(fù)值（即虛假增益），反之，則出現(xiàn)高損耗值，這是一種表面現(xiàn)象，是由于不同模場直徑對瑞利散射光傳導(dǎo)能力不同所造成測量上的缺陷，并非熔接點(diǎn)的實(shí)際損耗，所以從兩個不同方向測試并取平均值后，所得的損耗才是熔接點(diǎn)的真正損耗，所以雙向測試能避免這種誤判的情況，具體測試原理及方法如下：j 設(shè)置及曲線分析1：距離與脈沖的設(shè)置距離與脈沖的關(guān)系為正比關(guān)系。距離越長脈沖越大。一般為 測試距離脈沖為 為 一為，為— 0在測試使用時，可根據(jù) 屏幕顯示曲線長度調(diào)整距離長短及脈沖大?。灰话闱€長度顯示在屏幕上以屏幕的1/為2佳。2：時實(shí)與平均時實(shí)測試是 激光器一次發(fā)光測試光纜纖芯，在障礙處理時，可在短距離中繼段使用，快速測定障礙點(diǎn)。平均測試是 激光器多次發(fā)光后，除以平均次數(shù)所得纖芯數(shù)據(jù)。平均次數(shù)越大（或平均時間越長），測試結(jié)果越準(zhǔn)確。3：波長選擇使用測試光纖接續(xù)損耗或障礙測試時， 的波長對光纖彎曲的損耗較 敏感即在判斷障礙性質(zhì)時在同一點(diǎn)如果 的損耗比損耗大即可判斷為光纜在該點(diǎn)受外力擠壓形成微彎，所以光纖接續(xù)損耗測試應(yīng)選擇 波長，以便觀察光纜敷設(shè)和光纖接續(xù)中是否會因光纖彎曲過度而造成損耗增大，但采用光源光功率計全程傳輸損耗測試時應(yīng)對 和 兩波長進(jìn)行分測。曲線分析（根據(jù) 反映的曲線對纖芯質(zhì)量進(jìn)行分析，確定故障地點(diǎn)和故障原因）（1）纖芯完好

10.00tfi/div二次反射峰Loss*，口加！ReturnZ0982BFibeiLossToldReturnLos^DistanceMarkerPosition 泌 他718km*: .7.35546km測試近端H.^HIFT0.00000kn席HIFI-ScalebShiftH-SCAL￡257184km/divV-SCALE測試遠(yuǎn)端反射尾峰9.82c￡纖芯總損耗讀數(shù)10.00tfi/div二次反射峰Loss*，口加！ReturnZ0982BFibeiLossToldReturnLos^DistanceMarkerPosition 泌 他718km*: .7.35546km測試近端H.^HIFT0.00000kn席HIFI-ScalebShiftH-SCAL￡257184km/divV-SCALE測試遠(yuǎn)端反射尾峰9.82c￡纖芯總損耗讀數(shù)纖芯平均損耗讀數(shù)光纖距離讀數(shù)CurrentPositionOutofRangeMarkerMoveV-OffsetL：q_qcLl5s（2）纖芯中斷-ScaleitShift HSCALE2.558G8Wdiv怏SCALE10.00dB/divH.SHIFT0.0D000knV卅IFT向2.62dB胤yoffsetRsrrn0.00dBHCurentPosition解ofRangeSiJlic.e&Return LossLTotalReturnLossFtaL幽 俅?.± ]: 0.36 dB?kmTotalRetumLoss：,*):好dB$LEADistance 1^.* ): 7,4,7646 km 「鄴（3）纖芯存在大損耗點(diǎn)

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