微電子技術用貴金屬漿料規(guī)范

微電子技術用貴金屬漿料規(guī)范

編制說明送審稿）二OO七年五月微電子技術用貴金屬漿料規(guī)范一、工作簡況本標準修訂工作由全國有色金屬標準化技術委員會以有色標委（2006）第13號文下達，國家標準計劃修訂項目編號20062652—T—610,項目起止時間為2006年4月?2007年12月，本標準的修訂工作由貴研鉑業(yè)股份有限公司負責。本標準主要起草人：趙汝云、劉成、陳伏生、馬曉峰。二、修訂原則GB/T17472-1998從發(fā)布至今已有九年，在這九年中隨著科學技術的進步，不斷地有新的漿料品種出現(xiàn)，原來的貴金屬漿料定義范圍、技術要求和檢測方法已不能滿足現(xiàn)在漿料使用的要求，因此，將現(xiàn)在使用的貴金屬漿料重新定義，修改了部分技術要求和檢測方法，并根據(jù)客戶使用的實際情況和物流要求，修改了包裝、運輸和貯存的相關內(nèi)容。該標準的修訂原則是以GB/T17472-1998為基礎，既考慮標準的先進性，又考慮標準的適用性和可操作性，根據(jù)我國貴金屬漿料加工能力、分析檢測水平、物流運輸狀態(tài)等實際情況而進行的修訂。通過此次修訂，使本標準能更好的體現(xiàn)生產(chǎn)方的技術水平，滿足使用方的技術要求。編制格式按GB/T-1.12000進行。三、修訂的主要技術內(nèi)容本標準與原標準相比，主要有如下變動：1、將原標準適用范圍由以前的厚膜微電子技術用貴金屬漿料擴大至燒結(jié)型及固化型微電子用貴金屬漿料。2、將貴金屬漿料分類為燒結(jié)型貴金屬漿料和固化型貴金屬漿料。4、將漿料固體含量分開定義為燒結(jié)型漿料的固體含量和固化型漿料的固體含量。5、將原定義的漿料方阻、漿料附著力、漿料分辨率、漿料可焊性、漿料耐焊性分別改為方阻、附著力、分辨率、可焊性、耐焊性。6、將原3.4分別定義為燒結(jié)型貴金屬漿料和固化型貴金屬漿料的固體含量，并改用質(zhì)量分數(shù)表示測定值。7、將原3.5中“漿料導體膜”改為“漿料固化膜或燒成膜”，原“在厚膜微電子技術中，通常采用剝離方法測定”改為“通常采用剝離方法測定”。8、將原3.7中“漿料用絲網(wǎng)印刷，經(jīng)烘干或燒成后”改為“漿料用絲網(wǎng)印刷，經(jīng)烘干、燒成或固化后”。9、將原3.8、3.9中“漿料導體膜改為漿料燒成膜”。10、增加5.1.1貴金屬漿料按工藝分為燒結(jié)型貴金屬漿料和固化型貴金屬漿料。11、重新定義5.1.3漿料的牌號表示方法。12、刪除原5.3中5.3.1和5.3.2內(nèi)容，將5.3中“漿料應符合訂貨單所規(guī)定的如下要求：”改為“漿料應符合合同或訂貨單所規(guī)定的要求?！?。13、增加6.2固化型貴金屬漿料的固體含量測定按GB/T2793-1995的規(guī)定進行、6.8固化膜硬度試驗按GB/T6739-1996的規(guī)定進行、6.9固化膜厚度按GB/T13452.2-1992的規(guī)定進行三項實驗方法。14、原8.1.1“每瓶漿料的重量最多為1000g。包裝瓶應耐漿料腐蝕，不易破損。瓶口應加密封，再用塑料袋密封，然后裝入木箱中，塑料袋四周應充填安全物質(zhì)”改為“每瓶漿料的重量最多為2000g。包裝瓶應耐漿料腐蝕，不易破損。瓶口應再用塑料封口膠帶密封，然后裝入包裝箱中，包裝瓶四周應充填安全物質(zhì)。外包裝材料參照GB/T19445-2004進行”。15、原8.1.2去除“稀釋劑型號”項，增加“儲存條件和時間”項。16、原8.2.1“產(chǎn)品以空運為主，產(chǎn)品在運輸途中應防污染、防火、防潮、防熱。有特殊要求時，在訂貨合同中注明”改為“產(chǎn)品在運輸途中應防污染、防火、防潮、防熱。有特殊要求時，在訂貨合同中注明”。17、原8.2.2“漿料應在5?10°C下動態(tài)貯存，確保漿料成分的均勻性，貯存期為6個月”改為“漿料一般應在5?25C下貯存，特殊要求的漿料需雙方協(xié)商，并在訂貨合同中注明”。四、與現(xiàn)行法規(guī)、標準的關系本標準完全滿足現(xiàn)行國家法規(guī)的要求，與現(xiàn)行標準相比，技術參數(shù)要求更合理，格式更規(guī)范，更符合生產(chǎn)、包裝、運輸和客戶使用的實際要求，建議用修訂后的標準代替GB/T17472-1998。五、參考標準1、GB/T17473.1-1998厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法固體含量測定2、GB/T17473.2-1998厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法細度測定3、GB/T17473.3-1998厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法方阻測定4、5、6、GB/TGB/TGB/T7、GB/T耐焊性試驗8、GB/T9、GB/T17473.4-199817473.5-199817473.6-199817473.7-199813452.2-19922793-199510、GB/T6739-199611、GB/T19445-2004厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法厚膜微