GB/T 10581-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗(yàn)方法

ICS29.035.99K15中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T10581-2006/IEC60345:1971代替GB/T10581-1989絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗(yàn)方法Methodoftestforelectricalresistanceandresistivityofinsulatingmaterialsatelevatedtemperatures(IEC60345:1971.IDT)2006-02-15發(fā)布2006-06-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局愛(ài)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

中華人民共和國(guó)國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗(yàn)方法GB/T10581-2006/1EC60345:1971中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號(hào)郵政編碼：100045電話：63787337637874472006年6月第一版2006年7月電子版制作書(shū)號(hào)：155066·1-27636版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報(bào)電話：（010)68533533

GB/T10581-2006/IEC60345：1971前本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC60345:1971《絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗(yàn)方法》(英文版)為便于使用，本標(biāo)準(zhǔn)做了下列編輯性修改：a）刪除國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的序言和前言；b）增加了第2章規(guī)范性引用文件；C）圖圖按GB/T1.1—2000標(biāo)注本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T10581—1989《固體絕緣材料在高溫下絕緣電阻和體積電阻率的試驗(yàn)方法》本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)絕緣材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：桂林電器科學(xué)研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：王先鋒。本標(biāo)準(zhǔn)于1989年2月首次發(fā)布.本次為第一次修訂。

GB/T10581一2006/IEC60345:1971絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗(yàn)方法范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了絕緣材料在800℃及以下的絕緣電阻和體積電阻率的測(cè)定方法本標(biāo)準(zhǔn)適用于耐高溫的絕緣材料電阻的測(cè)定規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T1410—2006固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法(IEC60093：1980.IDT）GB/T10064—2006測(cè)定固體絕緣材料絕緣電阻的試驗(yàn)方法(IEC60167:1964,IDT)GB/T10580—2003固體絕緣材料在試驗(yàn)前和試驗(yàn)時(shí)采用的標(biāo)準(zhǔn)條件(IEC60212:1971,IDT)電極和試樣的準(zhǔn)備測(cè)量絕緣電阻時(shí).試樣可以是任何合適的尺寸和形狀,見(jiàn)（B/T10064—2006。測(cè)量體積電阻率時(shí),最好采用圓板試樣及三電極系統(tǒng)。其中有一個(gè)電極是保護(hù)電極。試樣任何兩處的厚度偏差不應(yīng)大于平均厚度的5%。電極最好是圓形的。由燒熔導(dǎo)電涂料或經(jīng)蒸發(fā)或噴涂于試樣表面而制成的導(dǎo)電覆層組成電極。金或鉑是合適的電極材料。銀不能用，因?yàn)楦邷叵裸y要遷移。薄層的金在較高溫下會(huì)產(chǎn)生燒結(jié)作用,從而降低導(dǎo)電率。對(duì)多孔的試樣不應(yīng)采用蒸發(fā)或噴鍍電極，為了減小試樣邊緣表面的影響,若不用保護(hù)電極，推薦電極至試樣邊緣的最小距離為5mm.武驗(yàn)設(shè)備4.1電阻測(cè)量（見(jiàn)圖1）應(yīng)采用靈敏度和精確度符合要求的合適裝置進(jìn)行測(cè)址(見(jiàn)（B/T1410—2006)4.2加熱室應(yīng)采用合適的電熱烘箱或電爐加熱試樣，其結(jié)構(gòu)應(yīng)能使整個(gè)試樣均勾受熱,溫度的波動(dòng)要盡量小。用合適的隔熱罩遮蔽試樣,避免試樣受到加熱元件的直接輻射。隔熱罩可以用陶瓷做成,例如氧化鋁或類似于這類的材料。烘箱內(nèi)要安裝銀、不銹鋼或類似材料的接地金屬屏蔽，防止加熱回路與測(cè)量回路之間發(fā)生漏電流。在試樣電阻很高的情況下.測(cè)量期間必須斷開(kāi)加熱元件電源,以免測(cè)量受到干擾。4.3試樣架試樣應(yīng)緊密地放在加熱室內(nèi)兩塊金屬電極之間.金屬電極及它的引線用耐高溫抗氧化及足夠機(jī)械穩(wěn)定性的金屬或合金制成.如不銹鋼等。此外，試驗(yàn)也可在情性氣體中進(jìn)行,兩塊電極應(yīng)具有足夠的厚度.以防翹曲并保證試樣和兩塊電極溫度均等。兩塊電極的接觸面的尺寸等于試樣上的電極尺寸.其中一塊可以移動(dòng)，以使試樣可插入或取出。4.4測(cè)量導(dǎo)線為防止泄漏電流影響試驗(yàn)結(jié)果,采用帶有絕緣的測(cè)量導(dǎo)線穿過(guò)高電阻的陶瓷絕緣子而進(jìn)入加熱室內(nèi)，絕緣