GB/T 10581-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗方法

ICS29.035.99K15中華人民共和國國家標準GB/T10581-2006/IEC60345:1971代替GB/T10581-1989絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗方法Methodoftestforelectricalresistanceandresistivityofinsulatingmaterialsatelevatedtemperatures(IEC60345:1971.IDT)2006-02-15發(fā)布2006-06-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局愛布中國國家標準化管理委員會

中華人民共和國國國家標準絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗方法GB/T10581-2006/1EC60345:1971中國標準出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復興門外三里河北街16號郵政編碼：100045電話：63787337637874472006年6月第一版2006年7月電子版制作書號：155066·1-27636版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報電話：（010)68533533

GB/T10581-2006/IEC60345：1971前本標準等同采用IEC60345:1971《絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗方法》(英文版)為便于使用，本標準做了下列編輯性修改：a）刪除國際標準的序言和前言；b）增加了第2章規(guī)范性引用文件；C）圖圖按GB/T1.1—2000標注本標準代替GB/T10581—1989《固體絕緣材料在高溫下絕緣電阻和體積電阻率的試驗方法》本標準由中國電器工業(yè)協(xié)會提出。本標準由全國絕緣材料標準化技術(shù)委員會歸口。本標準起草單位：桂林電器科學研究所。本標準主要起草人：王先鋒。本標準于1989年2月首次發(fā)布.本次為第一次修訂。

GB/T10581一2006/IEC60345:1971絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗方法范圍本標準規(guī)定了絕緣材料在800℃及以下的絕緣電阻和體積電阻率的測定方法本標準適用于耐高溫的絕緣材料電阻的測定規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標準，然而，鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標準。GB/T1410—2006固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法(IEC60093：1980.IDT）GB/T10064—2006測定固體絕緣材料絕緣電阻的試驗方法(IEC60167:1964,IDT)GB/T10580—2003固體絕緣材料在試驗前和試驗時采用的標準條件(IEC60212:1971,IDT)電極和試樣的準備測量絕緣電阻時.試樣可以是任何合適的尺寸和形狀,見（B/T10064—2006。測量體積電阻率時,最好采用圓板試樣及三電極系統(tǒng)。其中有一個電極是保護電極。試樣任何兩處的厚度偏差不應大于平均厚度的5%。電極最好是圓形的。由燒熔導電涂料或經(jīng)蒸發(fā)或噴涂于試樣表面而制成的導電覆層組成電極。金或鉑是合適的電極材料。銀不能用，因為高溫下銀要遷移。薄層的金在較高溫下會產(chǎn)生燒結(jié)作用,從而降低導電率。對多孔的試樣不應采用蒸發(fā)或噴鍍電極，為了減小試樣邊緣表面的影響,若不用保護電極，推薦電極至試樣邊緣的最小距離為5mm.武驗設備4.1電阻測量（見圖1）應采用靈敏度和精確度符合要求的合適裝置進行測址(見（B/T1410—2006)4.2加熱室應采用合適的電熱烘箱或電爐加熱試樣，其結(jié)構(gòu)應能使整個試樣均勾受熱,溫度的波動要盡量小。用合適的隔熱罩遮蔽試樣,避免試樣受到加熱元件的直接輻射。隔熱罩可以用陶瓷做成,例如氧化鋁或類似于這類的材料。烘箱內(nèi)要安裝銀、不銹鋼或類似材料的接地金屬屏蔽，防止加熱回路與測量回路之間發(fā)生漏電流。在試樣電阻很高的情況下.測量期間必須斷開加熱元件電源,以免測量受到干擾。4.3試樣架試樣應緊密地放在加熱室內(nèi)兩塊金屬電極之間.金屬電極及它的引線用耐高溫抗氧化及足夠機械穩(wěn)定性的金屬或合金制成.如不銹鋼等。此外，試驗也可在情性氣體中進行,兩塊電極應具有足夠的厚度.以防翹曲并保證試樣和兩塊電極溫度均等。兩塊電極的接觸面的尺寸等于試樣上的電極尺寸.其中一塊可以移動，以使試樣可插入或取出。4.4測量導線為防止泄漏電流影響試驗結(jié)果,采用帶有絕緣的測量導線穿過高電阻的陶瓷絕緣子而進入加熱室內(nèi)，絕緣