GB/T 15078-2021貴金屬電觸點(diǎn)材料接觸電阻的測(cè)量方法

ICS7712099

CCSH.21.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T15078—2021

代替GB/T15078—2008

貴金屬電觸點(diǎn)材料接觸電阻的測(cè)量方法

Testingmethodforcontactresistanceofpreciousmetalselectricalcontactmaterials

2021-08-20發(fā)布2022-03-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T15078—2021

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件代替貴金屬電觸點(diǎn)材料接觸電阻的測(cè)量方法與

GB/T15078—2008《》,GB/T15078—2008

相比除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性修改外主要技術(shù)變化如下

,,:

增加了試驗(yàn)在下進(jìn)行見(jiàn)第章

a)10℃~40℃(5);

更改了推薦值為見(jiàn)年版

b)3.3μm/s(6.2.5,20085.2.5);

更改了電位引線的要求見(jiàn)年版

c)(6.4.3,20085.4.3);

增加了對(duì)試樣和探頭的要求對(duì)試樣表面清潔程度的具體觀察手段見(jiàn)

d)、(7.4);

增加了無(wú)明顯氣流流動(dòng)見(jiàn)

e)(8.1.1);

增加了-2的說(shuō)明見(jiàn)

f)1cN=10N(8.1.2);

更改了電源閉合和設(shè)備預(yù)熱次序見(jiàn)年版

g)(8.3.3,20087.3.3);

增加了將置于標(biāo)準(zhǔn)電阻選擇位置后間隔再升起探頭見(jiàn)

h)K310s,(8.4.1);

更改了由低到高的順序進(jìn)行見(jiàn)年版

i)(8.4.3,20087.4.3);

更改了電阻RRRi的單位為歐姆見(jiàn)

j)n,c,c“(Ω)”(9.1);

增加了隨著測(cè)量電流測(cè)量壓力的變大接觸電阻均會(huì)減小且與接觸時(shí)間的增長(zhǎng)表現(xiàn)為先快速

k)、,

減小而后逐漸穩(wěn)定的衰減過(guò)程基于該特征可以選擇適當(dāng)?shù)慕佑|壓力測(cè)試電流和測(cè)試時(shí)間

,,、

條件降低這些主要因素對(duì)接觸電阻測(cè)量的影響見(jiàn)

,(9.3);

更改了試驗(yàn)報(bào)告的內(nèi)容見(jiàn)第章年版第章

l)(10,20089)。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專(zhuān)利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專(zhuān)利的責(zé)任

。。

本文件由中國(guó)有色金屬工業(yè)協(xié)會(huì)提出

。

本文件由全國(guó)有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC243)。

本文件起草單位貴研鉑業(yè)股份有限公司哈爾濱工業(yè)大學(xué)昆明貴研金峰科技有限公司西北有色

:、、、

金屬研究院西安瑞鑫科金屬材料有限責(zé)任公司貴研中希上海新材料科技有限公司有色金屬技術(shù)

、、()、

經(jīng)濟(jì)研究院有限責(zé)任公司

。

本文件主要起草人陳松任萬(wàn)濱馬駿陳雯鄭晶尹克江謝明王靖坤朱武勛向磊吳慶偉

:、、、、、、、、、、。

本文件所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為

:

年首次發(fā)布為年第一次修訂

———1994GB/T15078—1994,2008;

本次為第二次修訂

———。

Ⅰ

GB/T15078—2021

貴金屬電觸點(diǎn)材料接觸電阻的測(cè)量方法

警示———使用本文件的人員應(yīng)有正規(guī)實(shí)驗(yàn)室工作的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)本文件并未指出所有可能的安全問(wèn)

。

題使用者有責(zé)任采取適當(dāng)?shù)陌踩徒】荡胧┎⒈ＷC符合國(guó)家相關(guān)法規(guī)規(guī)定的條件

。,。

1范圍

本文件規(guī)定了貴金屬電觸點(diǎn)材料靜態(tài)接觸電阻的測(cè)量方法

()。

本文件適用于貴金屬電觸點(diǎn)材料接觸電阻的測(cè)量其他金屬及合金電觸點(diǎn)材料也可參照使用

。。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

數(shù)值修約規(guī)則與極限數(shù)值的表示和判定

GB/T8170

3術(shù)語(yǔ)和定義

下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

。

31

.

靜態(tài)接觸staticcontact

觸點(diǎn)相互靜止接觸無(wú)連續(xù)性的離合動(dòng)作

、。

32

.

收縮電阻constrictionresistance

電流通過(guò)接觸面時(shí)因電流線急劇收縮而產(chǎn)生的電阻增量

,。

33

.

膜電阻membraneresistance

觸點(diǎn)表面膜所產(chǎn)生的電阻

。

34

.

接觸電阻contactresistance

電流通過(guò)觸點(diǎn)時(shí)在接觸處產(chǎn)生的總電阻包括收縮電阻與膜電阻總電阻數(shù)值為兩種電阻之和

,,。

35

.