標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 17573-1998 半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路 第1部分:總則》作為中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),為半導(dǎo)體器件的分類、命名、型號(hào)編制以及標(biāo)識(shí)方法等提供了統(tǒng)一規(guī)范。然而,您提供的對(duì)比信息不完整,沒(méi)有明確指出要與哪個(gè)具體的標(biāo)準(zhǔn)或版本進(jìn)行比較。因此,我無(wú)法直接列出與某個(gè)特定標(biāo)準(zhǔn)相比的具體變更內(nèi)容。

如果您的意圖是了解《GB/T 17573-1998》相比于其前一版或是其他相關(guān)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(如IEC標(biāo)準(zhǔn))的主要差異,通常這類更新會(huì)涉及以下幾個(gè)方面:

  • 技術(shù)內(nèi)容更新:隨著半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展,新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)納入新的器件類型、性能指標(biāo)或測(cè)試方法,以適應(yīng)行業(yè)進(jìn)步。
  • 命名規(guī)則調(diào)整:為了更準(zhǔn)確地描述不斷涌現(xiàn)的新器件特性,標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)修訂器件的命名規(guī)則或型號(hào)編碼系統(tǒng)。
  • 測(cè)試和評(píng)估方法優(yōu)化:改進(jìn)測(cè)試條件、評(píng)估流程,確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可比性。
  • 標(biāo)準(zhǔn)化術(shù)語(yǔ)統(tǒng)一:更新和統(tǒng)一專業(yè)術(shù)語(yǔ),提高國(guó)內(nèi)外交流的一致性和便利性。
  • 增強(qiáng)兼容性與互換性:提升不同廠家產(chǎn)品間的兼容性和互換性要求,促進(jìn)市場(chǎng)流通。

若需要關(guān)于該標(biāo)準(zhǔn)與某一具體標(biāo)準(zhǔn)版本差異的詳細(xì)解析,請(qǐng)?zhí)峁┩暾麡?biāo)準(zhǔn)名稱或版本號(hào)以便進(jìn)行準(zhǔn)確對(duì)比分析。


如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。

....

查看全部

  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1998-11-17 頒布
  • 1999-06-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 17573-1998半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第1部分:總則_第1頁(yè)
GB/T 17573-1998半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第1部分:總則_第2頁(yè)
GB/T 17573-1998半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第1部分:總則_第3頁(yè)
GB/T 17573-1998半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第1部分:總則_第4頁(yè)
GB/T 17573-1998半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第1部分:總則_第5頁(yè)
已閱讀5頁(yè),還剩51頁(yè)未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

GB/T 17573-1998半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第1部分:總則-免費(fèi)下載試讀頁(yè)

文檔簡(jiǎn)介

ICs31.080.01L40中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T.17573-1998idtIEC747-1:1983半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第1部分:總則SemiconductordevicesDiscretedevicesandintegratedcircuitsPart1:General1998-11-17發(fā)布1999-06-01實(shí)施國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T17573-1998次前育eoooooooooooooooooooooIEC前言第I篇IEC747和IEC748標(biāo)準(zhǔn)的范圍和說(shuō)明11EC747標(biāo)準(zhǔn)IEC748標(biāo)準(zhǔn)第I篇IEC747-1標(biāo)準(zhǔn)的目的和說(shuō)明百的1?!ぁぁぁ?2說(shuō)明······第工篇IEC747-2、IEC747-3等標(biāo)準(zhǔn)的目的、說(shuō)明和要求每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的目的對(duì)每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的說(shuō)明2···?!ぁ?對(duì)每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)各篇的要求第W篇名詞術(shù)語(yǔ)(通用部分1·32物理學(xué)術(shù)語(yǔ)34器件類型有關(guān)額定值和特性的術(shù)語(yǔ)……小5脈沖術(shù)語(yǔ)和定義……·翰人至輸出脈沖開(kāi)關(guān)時(shí)間,通用術(shù)語(yǔ)19第V篇文字符號(hào)(通用部分電流、電壓和功辜的文字符號(hào)221電參數(shù)的文字符號(hào)….3小其他量的文字符號(hào)·以對(duì)數(shù)標(biāo)度單位dB表示的信號(hào)比的文字符號(hào)27第篇基本頰定值和特性(通用部分)引膏····28介紹發(fā)布資料的標(biāo)準(zhǔn)格式……·228定義…·3

GB/T17573-1998冷卻條件的定義…·.295推薦的溫度一覽表……推薦的電壓、電流一覽表………·630機(jī)械額定值、特性和其他資料32半導(dǎo)體器件管座上引出端位置的標(biāo)準(zhǔn)化………….3.3半導(dǎo)體器件引出端的色碼……………349910用于具有公用封裝的復(fù)合半導(dǎo)體器件的通用資料3511產(chǎn)品的離散性和一致性3612印制導(dǎo)線和印制電路36第篇一般測(cè)試方法和基準(zhǔn)測(cè)試方法(通用部分)第1節(jié)一般測(cè)試方法36。oooooooo。-般注意事項(xiàng)………·236第2節(jié)基準(zhǔn)測(cè)試方法基準(zhǔn)測(cè)試方法導(dǎo)則·1_38電基準(zhǔn)測(cè)試方法的熱條件……….2_38第亞篇分立器件的接收和可靠性第1節(jié)述·…·第2節(jié)一般原理40電耐久性試驗(yàn)第3節(jié)40日的和注意事項(xiàng)…………40一般要求…侍珠要求(通用部分)…343第區(qū)篇靜電敏感器件44標(biāo)志和符號(hào)…244對(duì)短電壓脈沖敏感的電子器件的試驗(yàn)方法……….46

GB/T17573-1998三本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC747-1:1983《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第1部分:總則》1991年9月,IEC747-1作了第一次修訂;1993年10月,IEC747-1作了第二次修訂。本標(biāo)準(zhǔn)包括了這兩次修訂的內(nèi)容。由于IEC747-1作了兩次修訂,使圖號(hào)的顧序打亂,本標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)圖出現(xiàn)的先后順序重新編排了圖本標(biāo)準(zhǔn)的第I篇至第篇是對(duì)IEC747和IEC748這兩套標(biāo)準(zhǔn)的范圍、說(shuō)明和要求,不涉及具體內(nèi)容,為便于和IEC標(biāo)準(zhǔn)等同,仍保留這三篇。但因我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)給號(hào)與IEC不同,不便于敘述,故仍直接使用IEC標(biāo)準(zhǔn)號(hào)敘述。IEC標(biāo)準(zhǔn)與國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)對(duì)應(yīng)如下:IEC747-1GB/T17573-1998IEC747-2GB/T4023-1997IEC747-3GB/T6571-1995IEC748-1GB/T16464-1996IEC748-2GB/T17574-1998本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)電子工業(yè)部提出:本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口本標(biāo)準(zhǔn)由電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所負(fù)責(zé)起草。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:王長(zhǎng)福、顧振球、吳連、干麗芬

GB/T17573-1998IEC前育1)IEC(國(guó)際電工委員會(huì))在技術(shù)問(wèn)題上的正式?jīng)Q議或協(xié)議,是由對(duì)這些問(wèn)題特別關(guān)切的國(guó)家委員會(huì)參加的技術(shù)委員會(huì)制定的,對(duì)所涉及的問(wèn)題盡可能地代表了國(guó)際上的一致意見(jiàn)。2)這些決議或協(xié)議,以推薦標(biāo)準(zhǔn)的形式供國(guó)際上使用,并在此意義上為各國(guó)家委員會(huì)所認(rèn)可。3)為了促進(jìn)國(guó)際間的統(tǒng)一,IEC希塑各國(guó)家委員會(huì)在木國(guó)條件許可的情況下,采用IEC標(biāo)準(zhǔn)的文本作為其國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),IEC標(biāo)準(zhǔn)與相應(yīng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)之間的差異,應(yīng)盡可能在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中指明。本標(biāo)準(zhǔn)是國(guó)際電工委員會(huì)第47技術(shù)委員會(huì)(半導(dǎo)體器件和集成電路)制定的。1EC747-1標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)成半導(dǎo)體器件通用標(biāo)準(zhǔn)的第一部分,它給出的是通用條文。IEC747-2、1EC747-3等標(biāo)準(zhǔn)中的每一個(gè)標(biāo)準(zhǔn),是給某一種類型的器件提出補(bǔ)充條文。1982年9月在倫敦舉行的第47技術(shù)委員會(huì)會(huì)議上批準(zhǔn)了將IEC147和IEC148標(biāo)準(zhǔn)改編成現(xiàn)行的按器件編排的建議。由于所有的組成部分都已預(yù)先按“六個(gè)月法"或"二個(gè)月程序"表決批準(zhǔn),因而無(wú)需重新表決。1EC147和IEC148標(biāo)準(zhǔn)中有關(guān)集成電路的內(nèi)容已包括在JEC747-1和IEC748標(biāo)準(zhǔn)中。IEC147-5和IEC147-5A標(biāo)準(zhǔn)中有關(guān)機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法的內(nèi)容,已包括在IEC749標(biāo)準(zhǔn)中

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路GB/T17573-1998idtIEc747-1:1983第1部分:總則SemiconductordevicesDiscretedevicesandintegratedcircuitsPart1:General第I篇IEC747和IEC748標(biāo)準(zhǔn)的范圍和說(shuō)明1IEC747標(biāo)準(zhǔn)1.1范圍IEC747標(biāo)準(zhǔn)包括如下內(nèi)容:分立器件和集成電路的通用標(biāo)準(zhǔn);-為完善分立器件標(biāo)準(zhǔn)用的補(bǔ)充標(biāo)準(zhǔn)1.2說(shuō)明IEC747標(biāo)準(zhǔn)由單行本IEC747-1、IEC747-2等幾個(gè)標(biāo)準(zhǔn)組成。通過(guò)發(fā)布補(bǔ)充件,例如IEC747-1A,來(lái)跟上時(shí)代的發(fā)展。2IEC748標(biāo)準(zhǔn)2.1范圍IEC748標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)與IEC747-1標(biāo)準(zhǔn)一起使用。IEC748標(biāo)準(zhǔn)給出了有關(guān)集成電路的標(biāo)準(zhǔn),2.2!說(shuō)明IEC748標(biāo)準(zhǔn)由單行本IEC748-1.IEC748-2等幾個(gè)標(biāo)準(zhǔn)組成,通過(guò)發(fā)布補(bǔ)充件,例如IEC748-1A來(lái)限上時(shí)代的發(fā)展。第工篇IEC747-1標(biāo)準(zhǔn)的目的和說(shuō)明1目的-提供有關(guān)IEC747和IEC748標(biāo)準(zhǔn)(見(jiàn)第篇)的范圍和說(shuō)明的通用內(nèi)容:提

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)文本僅供個(gè)人學(xué)習(xí)、研究之用,未經(jīng)授權(quán),嚴(yán)禁復(fù)制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡(luò)傳播等,侵權(quán)必究。
  • 2. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)均為PDF格式電子版文本(可閱讀打?。驍?shù)字商品的特殊性,一經(jīng)售出,不提供退換貨服務(wù)。
  • 3. 標(biāo)準(zhǔn)文檔要求電子版與印刷版保持一致,所以下載的文檔中可能包含空白頁(yè),非文檔質(zhì)量問(wèn)題。

最新文檔

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論