GB/T 18500.2-2001半導體器件集成電路第4部分：接口集成電路第二篇：線性模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)空白詳細規(guī)范

ICS31.200L56中華人民共和國國家標準GB/T.18500.2-2001idtIEC748-4-2:1993QC790304半導體器件集成電路第4部分:接口集成電路第二篇;線性模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)空白詳細規(guī)范Semiconductordevices--IntegratedcircuitsPartA：InterfaceintegratedcircuitsSeetion2:Blankdetailspecificationforlinearanalogue-to-digitalconverters（ADC)2001-11-05發(fā)布2002-06-01實施中華：人民共和.發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

GB/T18500.2-2001本標準等同采用國際電工委員會(IEC)標準IEC748-4-2:1993《半導體器件集成電路第4部分：接口集成電路第二篇：線性模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)空白詳細標準》,以促進我國該類產(chǎn)品的國際貿(mào)易、技術和經(jīng)濟交流本標準可作為編制線性ADC詳細規(guī)范的依據(jù)本標準引用了下列標準：GB/T4937一1995半導體器件機械和氣候試驗方法(idtIEC749:1984)GB/T16464—1996半導體器件成電路第1部分：總則(idtIEC748-1:1984)GB/T17573—1998半導體器件分立器件和集成電路第1部分：總則(idtIEC747-1:1983)IEC68-2-17:1978環(huán)境試驗第2部分：試驗——試驗Q密封修改單4(1991）IEC747-10:1991半導體器件第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范IEC748-4:1987半導體器件集成電路第4部分：接口集成電路修改單(1991)IEC748-11:1990半半導體器件集成電路第11部分：半導體集成電路(不包括混合電路)分規(guī)范IECQC001002:1986IEC電子元器件質(zhì)量評定體系（IECQ)程序規(guī)則修改單1（1992）IC748-4-2中極限值表分為兩個部分·為了與已發(fā)布的空白詳細規(guī)范一致·本標準將其合成個表。本標準由中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部提出。本標準由全國集成電路標準化分技術委員會歸口。本標準起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標準化研究所。本標準主要起草人：李燕榮、陳燴理

GB/T18500.2-2001IEC前音1）IEC(國際電工委員會)是由各個國家電工委員會(IEC國家委員會)組成的世界性的標準化組織.IEC的目的是促進電工電子領域標準化問題的國際合作。為此目的,除其他活動外.IEC發(fā)布國際標準。國際標準的制定由技術委員會承擔，對所涉及內(nèi)容關切的任何IC國家委員會均可參加國際標準的制定工作。與IEC有聯(lián)系的任何國際、政府及非官方組織也可以參加國際標準的制定。IEC與國際標準化組織(ISO)根據(jù)兩組織間協(xié)商確定的條件保持密切的合作關系。2）IEC在技術問題上的正式?jīng)Q議或協(xié)議，是由對這些問題特別關切的國家委員會參加的技術委員會制定的.對所涉及的問題盡可能地代表了國際上的一致意見。3）這些決議或協(xié)議以標準、技術報告或?qū)t的形式發(fā)布，以推薦的形式供國際上使用，并在此意義上，為各國家委員會所認可。4）為了促進國際上的統(tǒng)一.各IEC國家委員會應有責任使其國家和地區(qū)標準盡可能采用IEC標準。IEC標準與相應國家或地區(qū)標準之間的任何差異應在國家或地區(qū)標準中指明。本標準IEC748-4-2由IEC/TC47（半導體器件）的SC47A（集成電路）制定本標準是IEC電子元器件質(zhì)量評定體系(IECQ)范圍內(nèi)的線性模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)空白詳細標淮本標準文本以下列文件為依據(jù)：六個月法表決報告47A（CO）27147A（CO)282表決批準本標準的詳細資料可在上表列出的表決報告中查閱，在本標準封面的QC編號是IEC電子元器件質(zhì)量評定體系（IECQ)的規(guī)范號，本標準引用下列IEC標準：IEC68-2-17:1978環(huán)境試驗第2部分：試驗一-試驗Q密封修改單4（1991）IEC747-1:1983半導體器件分立器件和集成電路第1部分：總則IEC747-10:19911半導體器件第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范IEC748-1:1984半導體器件集成電路第1部分：總則修改單1(1991)TEC748-4:1987半導體器件集成電路第4部分;接口集成電路修改單(1991）集成電路IEC748-11:1990半導體器件各第11部分：半導體集成電路(不包括混合電路)分規(guī)范IEC749:1984半導體器件機械和氣候試驗方法修改單1(1991)IECQC001002:1986IEC電子元器件質(zhì)量評定體系（IECQ)程序規(guī)則修改單1(1992)

中華人民共和國國家標準半導體器件集成電路第4部分：接口集成電路第二篇：線性模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)空白詳細規(guī)范GB/T18500.2-2001idtIEC748-4-2:1993Semiconductordevices-lntegratedcircuitsQC790304PartA:lnterfaceintegratedcircuitsSection2:Blankdetailspecificationforlinearanalogue-to-digitalconverters（ADC)引言IEC電子元器件質(zhì)量評定體系遵循IEC的章程并在IEC授權下進行工作。該體系的目的是確定質(zhì)量評定程序，以這種方式使-一個參加國按有關規(guī)范要求放行的電子元器件無需進一步試驗而為其所有參加國同樣接受。本空白詳細規(guī)范是半導體器件的一系列空白詳細規(guī)范之一.并且與下列IC標準一起使用。IEC747-10/QC700000半導體器件第10部分:分立器件和集成電路總規(guī)范IEC748-11/QC790100華導體器件集成電路第11部分：半導體集成電路(不包括混合電路)分規(guī)范要求的資料本頁和后面方括號內(nèi)的數(shù)字與下列各項要求的資料相對應,這些資料應填入相應的欄中詳細規(guī)范的識別「1授權發(fā)布詳細規(guī)范的國家標準化機構(gòu)名稱【2詳細規(guī)范的IECQ編號.「37總規(guī)范、分規(guī)范的編號及版本號?！?詳細規(guī)范的國家編號、發(fā)布日期及國家標準體系要求的其他資料。器件的識別「51主要功能和型號。L6典型結(jié)構(gòu)(材料、主要工藝)和封裝資料如果具有若干種派生產(chǎn)品，則應指出其差別，例如用對照表列出特性差異如果器件屬靜電敏感型，應在詳細規(guī)范中附加預防說明【7外形圖、引出端識別、標志和