GB/T 19943-2005無(wú)損檢測(cè)金屬材料X和伽瑪射線照相檢測(cè)基本規(guī)則

ICS19.100J04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T：19943-2005/ISO5579:1998無(wú)損檢測(cè)金屬材料X和伽瑪射線照相檢測(cè)基本規(guī)則Non-destructivetesting-RadiographieexaminationofmetallicmaterialsbyX-andgamma-rays-Basicrules（ISO5579:1998,IDT)2006-09-19發(fā)布2006-04-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局愛布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T19943-2005/IS05579:1998三前言引言1范圍2規(guī)范性引用文件3定義4射線照相技術(shù)分級(jí)55.1電離輻射防護(hù)5.2檢測(cè)布置·….….……5.3表表面準(zhǔn)備和檢測(cè)時(shí)機(jī)5.4射線照相底片的標(biāo)識(shí)標(biāo)記5.55.6膠片的搭接5.7像質(zhì)計(jì)（IQI)6推薦的射線照相技術(shù)6.1X射線管電壓和射線源的選擇6.2膠片系統(tǒng)和增感屏6.3射線束的對(duì)準(zhǔn)6.4散射線的控制6.5源源至工件距離…6.6一次暉光最大區(qū)域·6.7射線照相底片密度…………6.8膠片處理….6.9觀片條件？檢測(cè)報(bào)告·參考文獻(xiàn)

GB/T19943-2005/ISO5579:1998前本標(biāo)準(zhǔn)是首次制定本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO5579：1998《無(wú)損檢測(cè)金屬材料X和伽瑪射線照相檢測(cè)本規(guī)則》英文版）本標(biāo)準(zhǔn)等同翻譯ISO5579：1998。為便于使用.本標(biāo)準(zhǔn)做了下列編輯性修改：“本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)"一詞改為"本標(biāo)準(zhǔn)"：b）用小數(shù)點(diǎn)"."代替作為小數(shù)點(diǎn)的返號(hào)","；c）刪除國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的前言；d）使用GB/T1.1—2000規(guī)定的引導(dǎo)語(yǔ)。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC56)歸口本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：上海材料研究所，本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：金宇飛、它中玉。

GB/T19943-2005/ISO5579：1998用X射線或伽瑪射線進(jìn)行射線照相檢測(cè),其探傷能力取決于射線照相技術(shù)的細(xì)節(jié)。由于射線照相底片的質(zhì)量不能完全通過使用像質(zhì)計(jì)（IQI)來(lái)確保,本標(biāo)準(zhǔn)聞明了獲得良好射線照相質(zhì)量的基本規(guī)則和技術(shù)步驛相關(guān)的特定應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)宜符合這些基本規(guī)則。?。罕緲?biāo)準(zhǔn)中的術(shù)語(yǔ)“傷”.并不涉及拒收與驗(yàn)收的含義

GB/T19943-2005/IS05579：1998無(wú)損檢測(cè)金屬材料X和伽瑪射線照相檢測(cè)基本規(guī)則范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用膠片技術(shù)、對(duì)金屬材料和制品實(shí)施以探傷為目的的工業(yè)X和伽瑪射線照相的基本規(guī)則2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而.鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T19348.1無(wú)損檢測(cè)工業(yè)射線照相膠片第1部分：工業(yè)射線照相膠片系統(tǒng)的分類(GB/T19348.1-2003.1SO11699-1:1998.IDT)GB/T19802無(wú)損檢測(cè)工業(yè)射線照相觀片燈最低要求(GB/T19802—2005,ISO5580:1985.IDT)GB/T19803無(wú)損檢測(cè)射線照相像質(zhì)計(jì)原則與標(biāo)識(shí)(GB/T19803—2005.ISO1027:1983Rediographicimagequalityindicatorsfornon-destructivetesting-PrinciplesandidentificationIDT)GB/T19938無(wú)損檢測(cè)焊縫射線照相和底片觀察條件像質(zhì)計(jì)推薦型式的使用（GB/T19938-2005.ISO2504:1973Radiographyofweldsandviewingconditionsforfilms-Utilizationofrecommendedpatternsofimagequalityindicators(l.Q.1.）,IDT)定義本標(biāo)準(zhǔn)采用的術(shù)語(yǔ)定義如下。31標(biāo)稱厚度Enominalthickness被檢范圍內(nèi)材料的標(biāo)稱厚度主：不必考店制造公差32透照厚度enetratedthickness以標(biāo)稱厚度（包括多壁技術(shù))為基礎(chǔ)算出的射線束方向上材料的厚度3.3工件至膠片距離ohjcct-to-filmdistance沿射線