標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 25076-2010 太陽(yáng)電池用硅單晶》是一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),旨在規(guī)定用于太陽(yáng)電池生產(chǎn)的硅單晶的技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則以及標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存等方面的內(nèi)容。該標(biāo)準(zhǔn)適用于通過(guò)直拉法或懸浮區(qū)熔法制備的太陽(yáng)電池用P型或N型硅單晶。
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容,硅單晶材料需滿(mǎn)足一定的電阻率范圍要求,并且對(duì)于晶體內(nèi)的氧含量、碳含量等雜質(zhì)濃度也有明確規(guī)定。此外,還對(duì)硅單晶的表面質(zhì)量(如裂紋、劃痕)提出了具體要求,以確保其適合后續(xù)加工成為高效的太陽(yáng)能電池片。
在測(cè)試方法方面,《GB/T 25076-2010》詳細(xì)描述了如何測(cè)定硅單晶的導(dǎo)電類(lèi)型、電阻率、少子壽命等關(guān)鍵參數(shù)的方法。這些測(cè)試不僅包括物理性質(zhì)的測(cè)量,也涵蓋了化學(xué)成分分析,比如使用紅外光譜法來(lái)檢測(cè)氧含量。
針對(duì)檢驗(yàn)規(guī)則部分,則定義了抽樣方案、合格判斷準(zhǔn)則等內(nèi)容,為生產(chǎn)者提供了一個(gè)清晰的質(zhì)量控制框架。同時(shí),在標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存章節(jié)中,標(biāo)準(zhǔn)指出了產(chǎn)品標(biāo)識(shí)信息的要求及其安全保護(hù)措施,保證了從工廠(chǎng)到用戶(hù)整個(gè)過(guò)程中的產(chǎn)品質(zhì)量與安全性。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 25076-2018
- 2010-09-02 頒布
- 2011-04-01 實(shí)施
文檔簡(jiǎn)介
ICS29045
H80.
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T25076—2010
太陽(yáng)電池用硅單晶
Monocrystallinesiliconofsolarcell
2010-09-02發(fā)布2011-04-01實(shí)施
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布
中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T25076—2010
前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)材料分技術(shù)委員會(huì)歸口
(SAC/TC203/SC2)。
本標(biāo)準(zhǔn)由有研半導(dǎo)體材料股份公司萬(wàn)向硅峰電子股份有限公司洛陽(yáng)鴻泰半導(dǎo)體有限公司西安
、、、
隆基硅材料有限公司無(wú)錫尚德太陽(yáng)能電力有限公司上海九晶電子材料股份有限公司起草
、、。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人孫燕張果虎盧立延樓春蘭蔣建國(guó)曹宇孫世龍?jiān)膹?qiáng)
:、、、、、、、。
Ⅰ
GB/T25076—2010
太陽(yáng)電池用硅單晶
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了太陽(yáng)電池用硅單晶的技術(shù)要求試驗(yàn)方法檢驗(yàn)規(guī)則以及標(biāo)志包裝運(yùn)輸貯存
、,、、、。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于直拉摻雜制備的地面空間太陽(yáng)電池用硅單晶
。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
非本征半導(dǎo)體材料導(dǎo)電類(lèi)型測(cè)試方法
GB/T1550
硅鍺單晶電阻率測(cè)定直排四探針?lè)?/p>
GB/T1552、
硅和鍺體內(nèi)少數(shù)載流子壽命測(cè)定光電導(dǎo)衰減法
GB/T1553
硅晶體完整性化學(xué)擇優(yōu)腐蝕檢驗(yàn)方法
GB/T1554
半導(dǎo)體單晶晶向測(cè)定方法
GB/T1555
硅晶體中間隙氧含量的紅外吸收測(cè)量方法
GB/T1557
硅中代位碳原子含量紅外吸收測(cè)量方法
GB/T1558
半導(dǎo)體硅片電阻率及硅薄膜薄層電阻測(cè)試方法非接觸渦流法
GB/T6616
硅片徑向電阻率變化的測(cè)量方法
GB/T11073
硅片直徑測(cè)量方法
GB/T14140
半導(dǎo)體材料術(shù)語(yǔ)
GB/T14264
用微波反射光電導(dǎo)衰減法非接觸測(cè)量硅片載流子復(fù)合壽命的測(cè)試方法
SEMIMF1535
3術(shù)語(yǔ)和定義
界定的術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件
GB/T14264。
4技術(shù)要求
41分類(lèi)
.
硅單晶按導(dǎo)電類(lèi)型分為型型兩種類(lèi)型按外形可分為圓形硅單晶棒和準(zhǔn)方形硅單晶棒
p,n;。
42規(guī)格
.
圓形硅單晶棒分為直徑?和?準(zhǔn)方形硅單晶棒尺寸為和
150mm200mm,125mm×125mm
其他尺寸規(guī)格由供需雙方協(xié)商解決
156mm×156mm。。
43尺寸及允許偏差
.
431圓形硅單晶的直徑
..
圓形硅單晶可以分為滾圓和未滾圓兩種滾圓后的硅單晶直徑和允許偏差應(yīng)符合表的規(guī)定
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