標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 28872-2012 活細(xì)胞樣品納米結(jié)構(gòu)的磁驅(qū)動輕敲模式原子力顯微鏡檢測方法》是一項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn),旨在規(guī)范使用磁驅(qū)動輕敲模式原子力顯微鏡(AFM)對活細(xì)胞樣品進(jìn)行納米結(jié)構(gòu)檢測的技術(shù)要求和操作流程。該標(biāo)準(zhǔn)適用于生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域中對于活細(xì)胞表面或內(nèi)部納米尺度結(jié)構(gòu)的研究。

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容,首先定義了術(shù)語與定義部分,明確了諸如“原子力顯微鏡”、“磁驅(qū)動輕敲模式”等專業(yè)詞匯的確切含義,為后續(xù)章節(jié)的理解打下基礎(chǔ)。接著,在原理介紹中,描述了利用磁驅(qū)動技術(shù)實(shí)現(xiàn)探針輕敲掃描的基本原理,并解釋了這種方法如何能夠減少對軟性樣品如活細(xì)胞造成的損傷,從而獲得更真實(shí)可靠的圖像信息。

標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了實(shí)驗(yàn)前準(zhǔn)備工作,包括但不限于選擇合適的AFM設(shè)備、準(zhǔn)備清潔無污染的環(huán)境以及處理待測活細(xì)胞樣品的方法。此外,還強(qiáng)調(diào)了在操作過程中需要注意的安全事項(xiàng),比如正確穿戴個(gè)人防護(hù)裝備、避免直接接觸有害物質(zhì)等。

關(guān)于具體的操作步驟,從安裝探針開始直至完成數(shù)據(jù)采集,每一步都有明確指導(dǎo),確保實(shí)驗(yàn)者能夠按照標(biāo)準(zhǔn)化流程執(zhí)行。其中特別提到了參數(shù)設(shè)置的重要性,例如掃描速度、反饋增益等關(guān)鍵因素如何調(diào)整以適應(yīng)不同類型或狀態(tài)下的活細(xì)胞樣品。

最后,該標(biāo)準(zhǔn)還涵蓋了數(shù)據(jù)分析及報(bào)告撰寫方面的指南。它建議采用特定軟件工具來處理原始數(shù)據(jù),并提供了幾種常見類型的分析方法供參考;同時(shí)指出最終形成的報(bào)告應(yīng)該包含哪些必要信息,以便其他研究人員可以復(fù)現(xiàn)結(jié)果或進(jìn)一步研究。


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....

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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2012-11-05 頒布
  • 2013-02-15 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 28872-2012活細(xì)胞樣品納米結(jié)構(gòu)的磁驅(qū)動輕敲模式原子力顯微鏡檢測方法_第1頁
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文檔簡介

ICS17180

A60.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T28872—2012

活細(xì)胞樣品納米結(jié)構(gòu)的磁驅(qū)動輕敲模式

原子力顯微鏡檢測方法

Testingmethodofmagneticlightly-strikingmodeatomicforcemicroscopefor

nanotopographyoflivingcells

2012-11-05發(fā)布2013-02-15實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T28872—2012

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別這些專利的責(zé)任

。。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國科學(xué)院提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC279)。

本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位國家納米科學(xué)中心

:。

本標(biāo)準(zhǔn)主要參加起草單位中國科學(xué)院電工研究所中國人民解放軍第二軍醫(yī)大學(xué)

:、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人韓東韓立孫全梅陳佩佩馮建濤陳龍殷伯華初明璋林云生楊勇驥

:、、、、、、、、、。

GB/T28872—2012

活細(xì)胞樣品納米結(jié)構(gòu)的磁驅(qū)動輕敲模式

原子力顯微鏡檢測方法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了磁驅(qū)動輕敲模式原子力顯微鏡檢測活細(xì)胞樣品的技術(shù)和規(guī)范

。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于使用磁驅(qū)動輕敲模式原子力顯微鏡對活細(xì)胞的形貌和物性的檢測

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

微束分析電子探針顯微分析術(shù)語

GB/T21636—2008(EPMA)

3術(shù)語和定義

界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件

GB/T21636—2008。

31

.

活細(xì)胞樣品livingcells

離體培養(yǎng)或急性分離的細(xì)胞

。

32

.

磁驅(qū)動輕敲模式原子力顯微鏡magneticlightly-strikingmodeatomicforcemicroscope

使用交變磁場驅(qū)動背面鍍有磁膜的微懸臂探針對樣品形貌及物性進(jìn)行輕敲模式檢測的原子力顯

微鏡

。

33

.

磁性懸臂magneticcantilever

背面鍍有磁膜的微懸臂

34

.

振幅衰減值magnitudeofamplitudedamping

微懸臂的工作振幅與自由振幅的比值

。

4基本原理

原子力顯微鏡采用帶有針尖的對微弱力極其敏感的微懸臂在樣

(atomicforcemicroscope,AFM)

品表面進(jìn)行掃描從而得到圖像掃描過程中針尖頂部最外層原子與樣品表面原子之間的相互作用力

。,

使微懸臂不斷發(fā)生形變或改變運(yùn)動狀態(tài)因此一束激光經(jīng)由微懸臂的光滑背面反射到光電檢測器上的

,

位置也不斷發(fā)生變化就是通過光電檢測器來檢測微懸臂的狀態(tài)從而獲得樣品形貌和作用力等

。AFM

信息

。

原子力顯微鏡的磁驅(qū)動輕敲模式適合于對生物樣品等柔軟物體進(jìn)行非破壞性成像該模式使用交

,

變磁場驅(qū)動背面鍍有磁膜的微懸臂探針使其以特定振幅進(jìn)行高頻

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