標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 30116-2013 半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)施電磁兼容性要求》是一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),旨在規(guī)范半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)備及其環(huán)境在設(shè)計(jì)、安裝、運(yùn)行過(guò)程中對(duì)于電磁干擾的控制措施。該標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體材料、器件及集成電路等產(chǎn)品的制造過(guò)程中的相關(guān)設(shè)備與系統(tǒng)。
根據(jù)文檔內(nèi)容,主要涉及以下幾個(gè)方面:
- 術(shù)語(yǔ)和定義:明確了與電磁兼容(EMC)相關(guān)的專業(yè)詞匯及其含義。
- 一般要求:規(guī)定了所有半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)備必須滿足的基本電磁兼容性能要求,包括但不限于發(fā)射限值、抗擾度水平等。
- 試驗(yàn)方法:詳細(xì)描述了如何通過(guò)特定測(cè)試來(lái)驗(yàn)證設(shè)備是否符合上述的一般要求。這些測(cè)試可能包括輻射發(fā)射測(cè)量、傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量以及不同類型的抗擾度測(cè)試。
- 設(shè)備分類:依據(jù)其使用場(chǎng)景或功能特性將半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)備分為幾類,并針對(duì)每一類提出了更加具體的技術(shù)指標(biāo)。
- 實(shí)施指南:為制造商提供了一些實(shí)用建議和技術(shù)手段,幫助他們?cè)诋a(chǎn)品開(kāi)發(fā)階段就考慮到電磁兼容問(wèn)題,從而提高最終產(chǎn)品的質(zhì)量。
- 標(biāo)志與文件:強(qiáng)調(diào)了合格產(chǎn)品應(yīng)當(dāng)具備的相關(guān)標(biāo)識(shí)信息及隨附技術(shù)資料的要求,確保用戶能夠獲取到必要的EMC相關(guān)信息。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2013-12-17 頒布
- 2014-04-15 實(shí)施




下載本文檔
GB/T 30116-2013半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)施電磁兼容性要求-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
ICS31550
L95.
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T30116—2013
半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)施電磁兼容性要求
Requirementsforsemiconductormanufacturingfacilityelectromagnetic
compatibility
2013-12-17發(fā)布2014-04-15實(shí)施
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布
中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
中華人民共和國(guó)
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)施電磁兼容性要求
GB/T30116—2013
*
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行
北京市朝陽(yáng)區(qū)和平里西街甲號(hào)
2(100013)
北京市西城區(qū)三里河北街號(hào)
16(100045)
網(wǎng)址
:
服務(wù)熱線
:400-168-0010
年月第一版
20142
*
書號(hào)
:155066·1-48178
版權(quán)專有侵權(quán)必究
GB/T30116—2013
前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任
。。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)半導(dǎo)體設(shè)備與材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口
(SAC/TC203)。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究院安徽鑫陽(yáng)電子有限公司
:、。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人黃英華譚建國(guó)劉軍周歷群鐘華馮亞彬
:、、、、、。
Ⅰ
GB/T30116—2013
半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)施電磁兼容性要求
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了為保證半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)施與用于生產(chǎn)半導(dǎo)體器件的設(shè)備能一起可靠運(yùn)行的電磁兼容性
要求
(EMC)。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于生產(chǎn)半導(dǎo)體器件的設(shè)施和設(shè)備這些設(shè)施和設(shè)備涵蓋所有的設(shè)施警報(bào)安全通信與
,、、
控制系統(tǒng)工藝設(shè)備測(cè)量設(shè)備自動(dòng)化設(shè)備以及信息技術(shù)設(shè)備
、、、。
本標(biāo)準(zhǔn)不適用于集成電路的封裝與功能測(cè)試所采用的設(shè)備和設(shè)施也不適用于可能在半導(dǎo)體生產(chǎn)
,
過(guò)程中產(chǎn)生的靜電
。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
信息技術(shù)設(shè)備的無(wú)線電騷擾限值和測(cè)量方法
GB9254
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.2—2006
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.3—2006
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.4—2008
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌沖擊抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.5—2008()
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.16—20070Hz~150kHz
3術(shù)語(yǔ)和定義
下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件
。
31
.
電磁兼容性electromagneticcompatibilityEMC
;
電子設(shè)備在電磁干擾和靜電放電環(huán)境中正常工作且不對(duì)該環(huán)境中的任何事物構(gòu)成不
(EMI)(ESD)
能承受的電磁干擾的能力
。
32
.
電磁干擾electromagneticinterferenceEMI
;
電磁波譜的非離子化亞光學(xué)部分中任何可能會(huì)引起電子設(shè)備中不希望有的反應(yīng)的電磁信號(hào)
()。
33
.
靜電放電electrostaticdischargeESD
;
具有不同靜電電位的物體相互靠近或直接接觸引起的電荷轉(zhuǎn)移
。
34
.
超低頻磁場(chǎng)extremelylowfrequencymagneticELF
;
設(shè)備和設(shè)施內(nèi)電流產(chǎn)生的超低頻約為磁場(chǎng)
(1Hz~1kHz)
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