GB/T 38944-2020無損檢測(cè)中子小角散射檢測(cè)方法

ICS19100

J04.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T38944—2020

無損檢測(cè)中子小角散射檢測(cè)方法

Non-destructivetesting—Testingmethodofsmall-angleneutronscattering

2020-06-02發(fā)布2020-12-01實(shí)施

國家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T38944—2020

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

符號(hào)

4………………………2

方法概要

5…………………2

檢測(cè)系統(tǒng)和器材

6…………………………3

譜儀準(zhǔn)備

7…………………4

樣品檢測(cè)

8…………………5

數(shù)據(jù)處理

9…………………8

檢測(cè)報(bào)告

10………………11

附錄規(guī)范性附錄探測(cè)器的校正

A()……………………12

附錄規(guī)范性附錄絕對(duì)散射強(qiáng)度校正

B()………………13

附錄規(guī)范性附錄譜儀分辨率

C()………………………14

附錄規(guī)范性附錄誤差分析

D()…………16

參考文獻(xiàn)

……………………17

Ⅰ

GB/T38944—2020

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國無損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC56)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位中國工程物理研究院核物理與化學(xué)研究所中國科學(xué)院長春應(yīng)用化學(xué)研究所

:、、

上海材料研究所中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)中國科學(xué)院高能物理研究所中國原子能科學(xué)研究院上海交通大

、、、、

學(xué)中國科學(xué)院金屬研究所

、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人閆冠云陳杰陳波孫光愛黃朝強(qiáng)劉棟錢達(dá)志劉耀光龔建門永鋒丁杰

:、、、、、、、、、、、

李良彬程賀王芳衛(wèi)李天富鐘圣怡蔡桂喜

、、、、、。

Ⅲ

GB/T38944—2020

引言

中子小角散射是由樣品中納米到亞微米尺度結(jié)構(gòu)不均勻性引起的位于入射中子束附近通常小于

、(

的相干散射中子小角散射試驗(yàn)指利用中子小角散射譜儀測(cè)量入射中子束附近的相干散射信號(hào)

10°)。,

并進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析以獲得樣品內(nèi)部納米到亞微米尺度結(jié)構(gòu)信息的試驗(yàn)方法典型可測(cè)量結(jié)構(gòu)包含

,,

金屬樣品中的析出相氣泡礦石樣品中的孔洞陶瓷高分子溶液樣品中的聚集體等為便于表述本

、,,、、,,

標(biāo)準(zhǔn)中用第二相粒子代指上述特征結(jié)構(gòu)中子小角散射試驗(yàn)可以給出第二相粒子的含量尺寸分布比

。、、

表面積等信息特定條件下還可以分析第二相粒子的形狀隨著我國大型中子散射科研設(shè)施的建設(shè)和

,,。

發(fā)展借助中子小角散射試驗(yàn)開展研究工作的用戶群體將不斷擴(kuò)大因此制定相關(guān)無損檢測(cè)方法可為檢

,,

測(cè)樣品中第二相粒子提供技術(shù)規(guī)范

。

中子小角散射試驗(yàn)獲得的數(shù)據(jù)是倒易空間信息通過數(shù)據(jù)反演分析可以給出實(shí)空間中樣品第二相

,

粒子的結(jié)構(gòu)信息其數(shù)據(jù)分析和解釋經(jīng)常和掃描電鏡透射電鏡原子力顯微鏡等其他觀測(cè)方法結(jié)合

,、、

使用

。

Ⅳ

GB/T38944—2020

無損檢測(cè)中子小角散射檢測(cè)方法

警示———本標(biāo)準(zhǔn)不涉及任何安全問題即使有任何這方面的內(nèi)容也是與其應(yīng)用有關(guān)使用的安全

,,。

和健康行為規(guī)范由本標(biāo)準(zhǔn)的用戶建立并在使用本標(biāo)準(zhǔn)時(shí)加以遵守

,。

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了基于反應(yīng)堆中子源的中子小角散射試驗(yàn)檢測(cè)樣品內(nèi)部第二相粒子微孔洞析出相

(、、

填料等尺寸分布含量和比表面積的方法

)、。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于第二相粒子尺寸在納米到亞微米范圍的統(tǒng)計(jì)各向同性的稀疏樣品體系本標(biāo)準(zhǔn)適用

。

于金屬陶瓷高分子礦物等固體樣品的檢測(cè)對(duì)于液體樣品可參考執(zhí)行適宜的樣品厚度約

、、、,,0.5mm~

例如高分子樣品約陶瓷礦物約常用金屬材料約

10mm(,0.5mm~3mm,、0.5mm~5mm,0.5mm~

10mm)。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

無損檢測(cè)術(shù)語中子檢測(cè)

GB/T12604.8

無損檢測(cè)術(shù)語射線數(shù)字成像檢測(cè)

GB/T12604.11X

無損檢測(cè)測(cè)量殘余應(yīng)力的中子衍射方法

GB/T26140

微束分析電子探針顯微分析波譜法實(shí)驗(yàn)參數(shù)測(cè)定導(dǎo)則

GB/T30705

射線反射法測(cè)量薄膜的厚度密度和界面寬度儀器要求準(zhǔn)直和定位數(shù)據(jù)采

GB/T36053X、、、

集數(shù)據(jù)分析和報(bào)告

、

3術(shù)語和定義