標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 4377-1996 半導(dǎo)體集成電路 電壓調(diào)整器測試方法的基本原理》與《GB 4377-1984》相比,在多個(gè)方面進(jìn)行了更新和完善。首先,從標(biāo)準(zhǔn)的編號來看,《GB/T 4377-1996》作為推薦性國家標(biāo)準(zhǔn)(T表示推薦),取代了之前的強(qiáng)制性國家標(biāo)準(zhǔn)《GB 4377-1984》,這反映了隨著技術(shù)發(fā)展和市場需求變化,對于某些非安全關(guān)鍵領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)更加傾向于采用指導(dǎo)而非強(qiáng)制執(zhí)行的方式。

在內(nèi)容上,《GB/T 4377-1996》對電壓調(diào)整器的定義、分類以及主要性能參數(shù)給出了更為詳細(xì)和準(zhǔn)確的描述。例如,它明確了不同類型電壓調(diào)整器的工作模式及其適用范圍,并且增加了關(guān)于新型電壓調(diào)節(jié)技術(shù)的信息,如開關(guān)型穩(wěn)壓器等。此外,該版本還引入了一些新的測試項(xiàng)目,比如瞬態(tài)響應(yīng)特性測試,以適應(yīng)當(dāng)時(shí)半導(dǎo)體技術(shù)的進(jìn)步和發(fā)展趨勢。

針對測試條件,《GB/T 4377-1996》也做出了一定調(diào)整。相較于舊版,新標(biāo)準(zhǔn)細(xì)化了環(huán)境溫度、濕度等因素對測試結(jié)果影響的規(guī)定,同時(shí)提出了更嚴(yán)格的精度要求,確保測試數(shù)據(jù)的一致性和可靠性。另外,為了提高測量準(zhǔn)確性,《GB/T 4377-1996》還建議使用特定類型的儀器設(shè)備,并對其校準(zhǔn)程序進(jìn)行了規(guī)范說明。


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  • 1996-07-09 頒布
  • 1997-01-01 實(shí)施
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GB/T 4377-1996半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器測試方法的基本原理_第1頁
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ICS31.200L56中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4377-1996半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器測試方法的基本原理SemiconductorintegratedcircuitsGeneralprinciplesofmeasuringmethodsofvoltageregulator1996-07-09發(fā)布1997-01-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

次主題內(nèi)容與適用范圍引用標(biāo)準(zhǔn)3電特性測試………4.1電壓調(diào)整率Sv和電壓穩(wěn)定系數(shù)Sv。4.2電流調(diào)整率S,和電流穩(wěn)定系數(shù)S。4.3紋波抑制比Sm4.4輸出電壓溫度系數(shù)Sr4.5輸出電壓長期穩(wěn)定性S.4.6輸出噪聲電壓VNo·4.7備用消耗電流/o和備用消耗電流變化o4.8短路電流1os…4.9出阻抗Zo4.10基準(zhǔn)電壓VREF4.11啟動電壓范圍Vor4.12熱調(diào)整率S?!?.13最小輸入輸出壓差I(lǐng),-Volcma4.14入電壓變化瞬態(tài)響應(yīng)時(shí)間和輸入電壓變化瞬態(tài)過沖電壓V14“.15負(fù)載電流交化瞬態(tài)響應(yīng)時(shí)間和負(fù)教電流變化瞬態(tài)過沖電壓Vm"o,

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器測試方法的基本原理GB/T4377-1996Semiconductorintegratedcircuits代替GB4377-84Generalprinciplesofmeasuringmethodsofvoltageregulator主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器(以下簡稱器件)電特性測試方法的基本原理本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器電特性的測試,不適用于雙端(單端口)器件。引用標(biāo)準(zhǔn)GB3431.1半導(dǎo)體集成電路文字符號電參數(shù)文字符號總的要求37在所有測試期間,應(yīng)注意查明沒有寄生振蕩出現(xiàn)、3.2偷入電源對測試中所使用的信號頻率應(yīng)基本上具有零阻抗。3.3應(yīng)避免不希塑有的瞬態(tài)輸入電壓和電流。3.4如果測試結(jié)果由熱效應(yīng)影響,則測試應(yīng)在短時(shí)間內(nèi)完成。例如,推薦脈沖法,在這種情況中,應(yīng)規(guī)定脈沖條件。3.5所有測試設(shè)備應(yīng)僅引入忽略不計(jì)的誤差。上述適用于靜態(tài)測試和動態(tài)測試3.6相對于被測電壓差,輸出電壓測試設(shè)備應(yīng)必須具有滿足要求的靈敏度。相適應(yīng)的方法即是輸出電壓Vo與高穩(wěn)定預(yù)調(diào)基準(zhǔn)電壓Vaer相比較。然后Vo與Veer之差被檢測和放大,最好采用增益穩(wěn)定放大3.7若無特殊說明,在器件測試期間,環(huán)境或參考點(diǎn)溫度偏離規(guī)定值的范圍應(yīng)符合詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定.3.8被測器件與測試系統(tǒng)連接或斷開時(shí),不應(yīng)超過器件的使用極限條件。3.9測試期間,被測器件應(yīng)連接詳細(xì)規(guī)范所規(guī)定的附加網(wǎng)絡(luò)。3.10圖1為總測試電路,圖2~圖16為圖1分解后各參數(shù)的測試電路。3.1

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