GB/Z 21738-2008一維納米材料的基本結(jié)構(gòu)高分辨透射電子顯微鏡檢測方法

犐犆犛１７．１８０．０１

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中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)化指導(dǎo)性技術(shù)文件

犌犅／犣２１７３８—２００８

一維納米材料的基本結(jié)構(gòu)高分辨透射

電子顯微鏡檢測方法

犉狌狀犱犪犿犲狀狋犪犾狊狋狉狌犮狋狌狉犲狊狅犳狅狀犲犱犻犿犲狀狊犻狅狀犪犾狀犪狀狅犿犪狋犲狉犻犪犾狊—犎犻犵犺狉犲狊狅犾狌狋犻狅狀

狋狉犪狀狊犿犻狊狊犻狅狀犲犾犲犮狋狉狅狀犿犻犮狉狅狊犮狅狆狔犮犺犪狉犪犮狋犲狉犻狕犪狋犻狅狀

２００８０５０８發(fā)布

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

書

犌犅／犣２１７３８—２００８

前言

本指導(dǎo)性技術(shù)文件由全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會納米材料分技術(shù)委員會提出。

本指導(dǎo)性技術(shù)文件由全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會納米材料分技術(shù)委員會歸口。

本指導(dǎo)性技術(shù)文件起草單位：中國科學(xué)院物理研究所電子顯微鏡實驗室。

本指導(dǎo)性技術(shù)文件主要起草人：李建奇。

Ⅰ

書

犌犅／犣２１７３８—２００８

一維納米材料的基本結(jié)構(gòu)高分辨透射

電子顯微鏡檢測方法

１范圍

本指導(dǎo)性技術(shù)文件規(guī)定了采用高分辨透射電子顯微鏡檢測納米材料中一維或準(zhǔn)一維納米材料的原

理，術(shù)語和定義，儀器和設(shè)備，樣品制備，測量程序，結(jié)果表示以及試驗報告等。

本指導(dǎo)性技術(shù)文件適用于測量一維或準(zhǔn)一維納米材料的基本結(jié)構(gòu)（形貌、排列情況、大小線度的分

布、晶化情況、生長取向關(guān)系），元素組分，截面及界面原子排布等。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本指導(dǎo)性技術(shù)文件的引用而成為本指導(dǎo)性技術(shù)文件的條款。凡是注日期的

引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本指導(dǎo)性技術(shù)文件，然而，鼓

勵根據(jù)本指導(dǎo)性技術(shù)文件達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用

文件，其最新版本適用于本指導(dǎo)性技術(shù)文件。

ＧＢ／Ｔ１９６１９納米材料術(shù)語

３術(shù)語和定義

ＧＢ／Ｔ１９６１９確立的以及下列術(shù)語和定義適用于本指導(dǎo)性技術(shù)文件。

３．１

一維納米材料狅狀犲犱犻犿犲狀狊犻狅狀犪犾狀犪狀狅犿犪狋犲狉犻犪犾

納米材料的形狀為絲線狀，通常包括納米纖維、納米管、納米線、納米帶。

３．２

準(zhǔn)一維納米材料狇狌犪犻狅狀犲犱犻犿犲狀狊犻狅狀犪犾狀犪狀狅犿犪狋犲狉犻犪犾

在兩維方向上為納米尺度，第三維方向為宏觀尺度的新型納米材料。

３．３

高分辨透射電子顯微鏡法犺犻犵犺狉犲狊狅犾狌狋犻狅狀狋狉犪狀狊犿犻狊狊犻狅狀犲犾犲犮狋狉狅狀犿犻犮狉狅狊犮狅狆狔

點分辨率可達(dá)原子層次的透射電子顯微鏡。在低倍圖形模式可以對各種材料進(jìn)行直接形貌觀察，

粒度分析。采用電子衍射分析及高分辨電子顯微術(shù)可以對材料進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)研究。配合能譜儀可以對

各種元素進(jìn)行定性、定量及半定量的微區(qū)元素組分分析，是一種圖像和能譜結(jié)合的綜合表征手段。

４原理

電子具有波動性，與物質(zhì)相互作用時將發(fā)生衍射現(xiàn)象。物質(zhì)的三維周期性分布可以用晶體點陣及

其倒易點陣描述。晶體點陣的單胞基矢犪，犫，犮和倒易點陣的單胞基矢犪，犫，犮滿足下列倒易關(guān)系，

犪·犪＝犫·犫＝犮·犮＝１，犪·犫＝犪·犫＝犫·犮＝犫·犮＝犮·犪＝犮·犪＝０。當(dāng)衍射矢量等于倒易

矢量時電子波發(fā)生強(qiáng)衍射。根據(jù)上述基本原理制造的透射電子顯微鏡是研究物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的強(qiáng)有力工

具之一［１］。它由電子光學(xué)系統(tǒng)、真空系統(tǒng)、供電控制系統(tǒng)和附加儀器系統(tǒng)四大部分組成。最主要的電子

光學(xué)系統(tǒng)，分為照明系統(tǒng)，成像系統(tǒng)和照相系統(tǒng)三