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文檔簡介

離子色譜樣品前處理19056樣品分析常規(guī)樣品離子分析痕量離子分析大體積進(jìn)樣

低的背景電導(dǎo)遠(yuǎn)離水負(fù)峰的色譜固定相在線濃縮復(fù)雜基體中離子的處理大的交換容量預(yù)處理小柱，不同分離方式的柱切換樣品前處理采樣溶樣凈化樣品,基體消除濃縮\富集樣品采樣(在線離子色譜測定系統(tǒng))溶樣無機(jī)樣品

i.水不溶性固體

用水或淋洗液提取被測物ii.水溶性固體針對不同分析物的含量,選擇不同的稀釋比,通過預(yù)處理方式盡量減少基體對其的干擾

有機(jī)樣品中雜質(zhì)離子不溶性有機(jī)化合物超聲提取法加速溶劑萃取儀水溶性有機(jī)化合物高溫焙燒法氧瓶燃燒法紫外光分解法

有機(jī)樣品結(jié)構(gòu)中的離子高溫焙燒法氧瓶燃燒法紫外光分解法凈化樣品,基體消除物理\化學(xué)法SPE小柱閥切換技術(shù)化學(xué)法針對不同的基體成分,選用不同的化學(xué)沉淀劑去除(與被測物不干擾)如:電鍍行業(yè)氯的測定,采用水合聯(lián)氨\草酸等還原沉淀法去除Cr(VI)SPE小柱過濾：樣品中有顆粒狀物質(zhì)基體消除：

*去除樣品中所包含的，有可能損壞儀器或者影響色譜柱/抑制器性能的成分；——重金屬離子、有機(jī)大分子

*去除樣品中所包含的，有可能干擾目標(biāo)離子測定的成分?！唠x子強(qiáng)度基體0.22，0.45um濾膜——去除顆粒狀雜質(zhì)C18預(yù)處理小柱、On-GuardRP柱——去除有機(jī)大分子On-GuardH柱——去除溶液中的金屬離子On-GuardAg柱——去除溶液中的Cl-離子主要測定高氯物質(zhì)中的NO2-，NO3-等離子On-GuardBa柱——去除溶液中的硫酸根閥切換技術(shù)應(yīng)用于樣品前處理采樣泵

停止開始測定采樣泵富集樣品富集廢液濃縮柱采樣泵開始淋洗液至分離柱沖洗采樣管閥切

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