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測(cè)井方法原理電法測(cè)井(九)第三節(jié)雙側(cè)向測(cè)井第二節(jié)七電極側(cè)向測(cè)井第一節(jié)三電極側(cè)向測(cè)井

第四節(jié)微側(cè)向測(cè)井第五節(jié)鄰近側(cè)向測(cè)井第六節(jié)微球形聚焦測(cè)井第四章側(cè)向測(cè)井第八節(jié)側(cè)向測(cè)井視電阻率計(jì)算第七節(jié)電阻率測(cè)井方法綜合第三節(jié)雙側(cè)向測(cè)井是在三、七側(cè)向測(cè)井基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的。雙側(cè)向測(cè)井測(cè)量精度較高,動(dòng)態(tài)范圍大,適用于高阻碳酸鹽巖地層,也適用于低阻砂泥巖地層是目前油氣田應(yīng)用最廣泛的電阻率測(cè)井方法之一一、測(cè)井原理與七側(cè)向類(lèi)似,不同的是在七電極系的外面再加上兩個(gè)屏蔽電極A1′、A2′。為了增加探測(cè)深度,屏蔽電極A1′、A2′不是環(huán)狀,而是柱狀(與三側(cè)向屏蔽電極相同)電極系結(jié)構(gòu)測(cè)井原理測(cè)井時(shí),主電極A0發(fā)出恒定電流I0,并通過(guò)兩對(duì)屏蔽電極A1、A1和A2、A2發(fā)出與I0極性相同的屏蔽電流I1和I1。在主電流I0恒定不變的條件下,測(cè)得的電位差和地層的視電阻率成正比。

測(cè)井通過(guò)自動(dòng)調(diào)節(jié)使得滿足:屏蔽電極A1與A1(或A2與A2)的電位比值為一常數(shù),即UA1/UA1=;監(jiān)督電極M1與M1(M2與M2)之間的電位差為零。然后,測(cè)量任一監(jiān)督電極(如M1)和無(wú)窮遠(yuǎn)電極N之間的電位差(即UM1)。測(cè)得的視電阻率RaP101→(3-16)

其中:UM1——監(jiān)督電極M1表面電位I0——主電流強(qiáng)度k——電極系系數(shù)(可通過(guò)理論計(jì)算、也可通過(guò)實(shí)驗(yàn)求出)電極系k值:kd=0.733m,ks=1.505m儀器全長(zhǎng):9.36m儀器直徑:0.089m雙側(cè)向尺寸屏蔽電極A1、A2很長(zhǎng)→確保深側(cè)向探測(cè)深度大深、淺側(cè)向電極系的尺寸完全一樣。不同處:將深側(cè)向的屏蔽電極A1、A2改成回路電極后,就構(gòu)成了淺側(cè)向電極系→這樣,深、淺側(cè)向的縱向分辨率是相同的,且受?chē)鷰r、層厚影響基本一樣→用深、淺側(cè)向測(cè)出的電阻率判別油、氣、水層具有良好效果。

有錯(cuò)電極系確定原則:分層能力強(qiáng)(0102間距離要?。⑻綔y(cè)深度大(A1、A2要長(zhǎng))、井眼影響小縱向分辨率一般0.6m左右

深側(cè)向探測(cè)深度一般2~3m淺側(cè)向探測(cè)深度一般0.5m左右二、雙側(cè)向視電阻率曲線及校正P104→圖3-22電模型實(shí)驗(yàn)與七側(cè)向視電阻率曲線相似

對(duì)稱(chēng)于地層中部界面有屏流效應(yīng),隨著層厚增加,屏流效應(yīng)減小影響Ra因素:電極系特性、介質(zhì)電阻率自學(xué)P105-106(校正圖版)井眼、圍巖、侵入氣層:深淺雙側(cè)向“正差異”水層:深淺雙側(cè)向“負(fù)差異”三、雙側(cè)向、三側(cè)向、七側(cè)向比較1.探測(cè)深度三側(cè)向—探測(cè)深度小,侵入影響大,深淺三側(cè)向探測(cè)深度差異不大,判別油、氣水層效果差。原因:主電極與屏蔽電極同電位,電極系長(zhǎng)度有限,主電流發(fā)散快

七側(cè)向—探測(cè)深度高于三側(cè)向,但高侵時(shí),探測(cè)深度變淺。原因:采用監(jiān)督電極M1′、M1′同電位來(lái)控制電流場(chǎng)。分布比s↑→屏流↑→屏蔽電極電位↑→探測(cè)深度↑雙側(cè)向—探測(cè)深度最大。原因:將屏蔽電極分成多段(兩對(duì))加長(zhǎng)→控制各段電壓→探測(cè)深度↑電阻率測(cè)井在油氣勘探開(kāi)發(fā)中應(yīng)用非常廣泛四、雙側(cè)向測(cè)井資料應(yīng)用主要應(yīng)用⑸估算裂縫參數(shù)⑴地層對(duì)比⑵裂縫識(shí)別⑶油、氣、水層判別⑷計(jì)算地層含水飽和度⑴地層對(duì)比決定地層電阻率大小的主要因素四是巖石孔隙中地層水的性質(zhì)一是巖石的組織結(jié)構(gòu)二是巖石的孔隙度()大小三是巖石的含水飽和度的高低進(jìn)行地層對(duì)比時(shí),通常采用自然伽馬(GR)曲線與電阻率(RLLD、RLLS)曲線。特別是在碳酸鹽巖剖面,軟地層(如泥巖、頁(yè)巖)導(dǎo)電性好,電阻率測(cè)井值都較低,而碳酸鹽巖(灰?guī)r、白云巖、硬石膏等)導(dǎo)電性較差,電阻率測(cè)井值都較高。因此,電阻率(RLLD、RLLS)曲線在碳酸鹽巖剖面軟、硬地層的特征差異明顯,可以較好地區(qū)分典型地層界面。

主要巖石、礦物的電阻率巖石名稱(chēng)電阻率礦物名稱(chēng)電阻率粘土1-200石英1012-1014

頁(yè)巖10-100白云母41011

疏松砂巖2-50長(zhǎng)石41011致密砂巖20-1000石油109-1016

含油氣砂巖2-1000方解石5108-51012

泥灰?guī)r5-500無(wú)水石膏109

石灰?guī)r600-6000石墨10-6-310-4

白云巖50-6000磁鐵礦10-4-310-3

硬石膏104-106黃鐵礦10-4

無(wú)煙煤0.01-1黃銅礦10-3

煙煤10-10000石油109-1016

玄武巖、花崗巖600-105

⑵裂縫識(shí)別四川測(cè)井研究所水槽模型實(shí)驗(yàn)結(jié)果:裂縫的產(chǎn)狀與深、淺雙側(cè)向的“差異”有著直接關(guān)系裂縫產(chǎn)狀、發(fā)育程度不同,雙側(cè)向測(cè)井的響應(yīng)也不同高角度(75以上)縫,“正差異”低角度(60以下)縫,“負(fù)差異”6075裂縫,差異較小和無(wú)差異45裂縫時(shí),“負(fù)差異”,且差異幅度最大斯侖貝謝公式1984年用有限元素法得出了類(lèi)似的結(jié)論結(jié)論裂縫性地層,雙側(cè)向差異主要受裂縫的產(chǎn)狀、發(fā)育程度控制角度越高,張開(kāi)度越大,“正差異”的差異幅度也越大

低角度縫雙側(cè)向呈“負(fù)差異”高角度縫雙側(cè)向呈“正差異”雙側(cè)向?qū)崪y(cè)雙側(cè)向裂縫特征(高角度)渡1井:(4270m4305m),雙側(cè)向明顯的“正差異”。射孔測(cè)試:獲日產(chǎn)天然氣44.15104m3/d⑶油、氣、水層判別油、氣層:電阻率較高;水層:電阻率相對(duì)較低。油、氣層:侵入帶孔隙空間中的油、氣部分被泥漿濾液取代,導(dǎo)致侵入帶地層電阻率降低,在雙側(cè)向曲線上表現(xiàn)為“正差異”,即RLLD>RLLS水層:泥漿濾液電阻率一般大于地層水電阻率,深淺雙側(cè)向呈“負(fù)差異”,即RLLD≤RLLS判別原理油、氣基本不導(dǎo)電;地層水含有NaCl、KCl等鹽份而導(dǎo)電,礦化度越高,其導(dǎo)電性越好。鉆井時(shí),泥漿濾液侵入滲透層,井壁附近由近及遠(yuǎn)形成沖洗帶、侵入帶和原狀地層。大天5井:石炭系上段:深側(cè)向電阻率值在500.m左右,深淺雙側(cè)向呈“正差異”;氣層。中段:深側(cè)向電阻率值在200500.m左右,深淺雙側(cè)向也逐漸由“正差異”、無(wú)差異、最后過(guò)渡到“負(fù)差異”;氣水過(guò)渡帶。下段:深側(cè)向電阻率值在20050.m之間,深淺雙側(cè)向呈“負(fù)差異”;水層碳酸鹽巖地層雙側(cè)向須四氣層氣層:大于10Ω.m,水層:小于8Ω.m,氣水層:8~10Ω.m之間。須四儲(chǔ)層孔隙型儲(chǔ)層可以近似看作均勻、各向同性介質(zhì),可直接用阿爾奇公式計(jì)算含水飽和度Sw

⑷計(jì)算地層含水飽和度a、m、n-分別為巖性系數(shù)、孔隙度指數(shù)、飽和度指數(shù);Rw、Rt-分別為地層水電阻率、深側(cè)向電阻率測(cè)井值;Φ-地層孔隙度。⑸估算裂縫參數(shù)裂縫的產(chǎn)狀、張開(kāi)度及發(fā)育程度不同,雙側(cè)向電阻率的響應(yīng)也不同。基于這一原理,可以用雙側(cè)向測(cè)井信息估算裂縫的孔隙度、張開(kāi)度等參數(shù),并評(píng)價(jià)裂縫的發(fā)育程度裂縫孔隙度裂縫張開(kāi)度水層油氣層高角度縫低角度縫裂縫孔隙度裂縫張開(kāi)度練習(xí)電阻率測(cè)井實(shí)驗(yàn)報(bào)告實(shí)驗(yàn)安排實(shí)驗(yàn)?zāi)康模憾ㄐ粤私馄胀姌O系在不同電阻率地層所得視電阻率曲線形態(tài)特征;了解電阻率測(cè)井的刻度原理;加深對(duì)理論曲線的理解。實(shí)驗(yàn)設(shè)備:EL-85型電測(cè)井實(shí)驗(yàn)儀、函數(shù)記錄儀、穩(wěn)壓電源、雙蹤示波器、萬(wàn)用電表等。實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目名稱(chēng):普通電極系視電阻率測(cè)井模擬實(shí)驗(yàn)地點(diǎn):重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)樓B109要求:掌握原理、熟悉過(guò)程、編寫(xiě)實(shí)驗(yàn)報(bào)告實(shí)驗(yàn)安排實(shí)驗(yàn)?zāi)康模簻y(cè)量不同厚度地層的雙側(cè)向測(cè)井曲線;分析高阻鄰層的屏蔽影響,加深對(duì)側(cè)向測(cè)井優(yōu)點(diǎn)的理解,掌握雙側(cè)向測(cè)井曲線的特點(diǎn),重點(diǎn)掌握聚

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