降低電芯低電壓比例課件

6-SigmaBBProject降低常規(guī)疊片電池復(fù)檢低壓率實施時間：2005年4月~2005年9月16σ項目立項注冊表公司名稱TCL金能電池有限公司項目編號6σB0801YY05167項目名稱降低常規(guī)疊片電池復(fù)檢低壓率項目負(fù)責(zé)人何顯峰項目類型■DMAIC■BB□DMADV□GB牽頭部門質(zhì)量管理部涉及流程設(shè)計、工藝、設(shè)備、檢驗涉及產(chǎn)品常規(guī)疊片電池項目成員何顯峰(BB)、余濤(GB)、李榮(GB)、程凱、肖斌、劉希萬/李瑞霞區(qū)分姓名意見倡導(dǎo)者吳永剛主黑帶吳久發(fā)財務(wù)確認(rèn)曾禮發(fā)起人吳永剛黑帶何顯峰2.基線與目標(biāo)1.基本信息3.效果預(yù)算項目投入節(jié)約成本預(yù)想效果降低常規(guī)疊片電池復(fù)檢低壓率10萬89.87萬元創(chuàng)造利潤79.87萬元4.日程計劃D2005.4.11-2005.5.10M2005.5.11-2005.5.31A2005.6.1-2005.7.15I/D2005.7.16-2005.8.31C/V2005.9.1-2005.9.155.現(xiàn)狀描述:目前復(fù)檢工序低壓率較高（平均為1.02%），同時客戶投訴率也排在首位，給公司造成較大的經(jīng)濟(jì)損失。6.項目范圍:從沖片工序開始，到復(fù)檢結(jié)束。7.效果及影響:低壓是業(yè)內(nèi)存在的普遍難題，降低其比例不僅有利于降低產(chǎn)品成本，也能夠提升產(chǎn)品的質(zhì)量（如自放電率），最終將有利于客戶滿意度的提升，增加產(chǎn)品的競爭力。CTQ/Y單位現(xiàn)水平目標(biāo)水平先進(jìn)水平低壓率ppm10200500010002項目背景AMICD1、項目選擇的理由2、FEA計算財務(wù)收益(常)＝常規(guī)疊片電池年產(chǎn)量×合格品與不良品間差價×(現(xiàn)不良率－目標(biāo)不良率)×100％－投入資金=20350000x8.492824795x(1.02%-0.5%)-100000=798709(元)目前客戶投訴最多的問題產(chǎn)生不良品重要的因素影響公司產(chǎn)品的銷售持續(xù)改進(jìn)的重點產(chǎn)品成本上升平均不良率為1.02%平均不良率為0.064%3VOC/VOB/CTQ分析AMICD客戶VOC/VOB需求驅(qū)動因素CTQ外部客戶內(nèi)部客戶市場部移動裝配部電池低壓給我們帶來較大的損失，客戶投訴率較高電池低壓導(dǎo)致生產(chǎn)成本的上升,主要是殼料的報廢;客戶投訴率增加,影響銷量電池電壓滿足規(guī)格要求生產(chǎn)過程電池低壓率CTQ及缺陷定義CTQ(常規(guī)疊片電池低壓率）=常規(guī)疊片電池復(fù)檢低壓數(shù)量÷常規(guī)疊片電池復(fù)檢總數(shù)量×100%低壓(低電壓)指成品電池下線老化后復(fù)檢時電壓低于規(guī)定值3.80V(補(bǔ)電至3.90V)，包括無電壓電池。5AMICDSponsor吳永剛Leader:何顯峰MBB吳久發(fā)工藝保證李榮D:參與制定項目章程創(chuàng)建SIPOC圖收集客戶之聲M:篩選關(guān)鍵影響因子制定數(shù)據(jù)收集計劃GageR&R分析流程能力分析A:數(shù)據(jù)門與流程門根本原因分析I:產(chǎn)生解決方案風(fēng)險評估試產(chǎn)C:參與制定控制計劃建立SPC控制系統(tǒng)質(zhì)量保證余濤/孟磊D:參與制定項目章程創(chuàng)建SIPOC圖收集客戶之聲M:制定詳細(xì)流程圖篩選關(guān)鍵影響因子制定數(shù)據(jù)收集計劃GageR&R分析A:GageR&R分析根本原因分析I:產(chǎn)生解決方案風(fēng)險評估試產(chǎn)C:制定控制計劃建立SPC控制系統(tǒng)工程保證肖斌生產(chǎn)保證劉希萬/李瑞霞技術(shù)保證程凱＊制定項目章程＊管理項目進(jìn)度＊組織會議及討論＊負(fù)責(zé)總體協(xié)調(diào)工作項目團(tuán)隊D:參與制定項目章程M:GageR&R分析A:根本原因分析I:產(chǎn)生解決方案風(fēng)險評估試產(chǎn)C:參與制定控制計劃D:參與制定項目章程M:制定詳細(xì)流程圖篩選關(guān)鍵影響因子A:根本原因分析I:產(chǎn)生解決方案風(fēng)險評估試產(chǎn)C:參與制定控制計劃D:參與制定項目章程創(chuàng)建SIPOC圖收集客戶之聲M:數(shù)據(jù)收集GageR&R分析A:GageR&R分析根本原因分析I:試產(chǎn)C:參與制定控制計劃6AMICD極片沖切N質(zhì)量檢測極耳來料短路測試1超焊短路測試2包裝熱封短路測試3真空烘烤注液預(yù)充返修YYYNN短路測試4報廢YNYN相應(yīng)工序老化復(fù)（返）檢質(zhì)量合符入庫存放超期出貨YYNN來料質(zhì)量檢驗退貨調(diào)試沖切機(jī)來料質(zhì)量檢驗隔膜裁剪極耳裁剪質(zhì)量檢驗疊片隔膜來料包裝膜來料來料質(zhì)量檢驗12鋁鎳極耳定位修剪、折焊趾貼膠紙包裝預(yù)封退貨調(diào)試機(jī)器設(shè)備質(zhì)量檢驗4沖壓成型退貨調(diào)試沖壓機(jī)質(zhì)量檢驗超焊參數(shù)調(diào)試二次熱封全工序YYYNNNNY續(xù)充化成刀模來料海棉來料上夾板不良品處置13324說明：1）流程圖中紅色標(biāo)識部分為本項目流程中的關(guān)鍵工序部分；2）其余標(biāo)識按相應(yīng)序號、色彩、方向?qū)?yīng)；YNNYNY詳細(xì)流程圖7AMICD變量分析（FMEA）

通過FMEA分析找出126項影響因子，經(jīng)對其進(jìn)行評估篩選后，聚焦出主要的可能影響因子7項9AMICD數(shù)據(jù)收集計劃10AMICDGageR&R（內(nèi)阻測試儀電壓測試）GageR&RStudy-ANOVAMethod

Gagename:內(nèi)阻測試儀復(fù)檢電壓MSADateofstudy:2005-5-18Reportedby:付曉紅Tolerance:0.02VMisc:無Two-WayANOVATableWithInteraction

SourceDFSSMSFPpart90.1237600.01375112062.670.000operator20.0000130.00000671.000.387part*operator180.0001200.0000067**Repeatability300.0000000.0000000Total590.123893GageR&R

%ContributionSourceVarComp(ofVarComp)TotalGageR&R0.00000330.15Repeatability0.00000000.00Reproducibility0.00000330.15operator0.00000000.00operator*part0.00000330.15Part-To-Part0.002290799.85TotalVariation0.0022941100.00StudyVar%StudyVarSourceStdDev(SD)(6*SD)(%SV)TotalGageR&R0.00182570.0109543.81Repeatability0.00000000.0000000.00Reproducibility0.00182570.0109543.81operator0.00000000.0000000.00operator*part0.00182570.0109543.81Part-To-Part0.04786170.28717099.93TotalVariation0.04789650.287379100.00NumberofDistinctCategories=36測量系統(tǒng)分辨率滿足要求測量系統(tǒng)重復(fù)性、再現(xiàn)性滿足要求產(chǎn)品間無交互作用人員間檢量一致性良好11AMICD數(shù)據(jù)展示/流程能力目前低電壓不良率（%）常規(guī)疊片電池最高9.95%最低0均值1.08%13AMICD測量階段總結(jié)FMEA聚焦?jié)撛趩栴}潛在影響工序名稱聚焦?jié)撛趩栴}編號聚焦可能影響因子極片沖切極片周邊粉塵1沖切方式不當(dāng)極片毛刺過大疊片疊片短路2不同供應(yīng)商所供隔膜質(zhì)量不同3極片粉塵多4極片毛刺大短路測試誤判5短路測試儀選用不是最佳6短路測試方法不合理續(xù)充化成化成不充分7化成補(bǔ)電截止電壓、截止電流不合理聚焦?jié)撛趩栴}說明：沖切方式不當(dāng)項已由公司安排相關(guān)部門牽頭解決(如從采用滾壓分切、落料模沖切、刀模與底板的配合等方面進(jìn)行研究)，本項目中對此項可能影響因子只作跟蹤不作重點研究。14AMICD數(shù)據(jù)門分析(分析型號、隔膜與低電壓的影響關(guān)系）總結(jié)：1）本分層數(shù)據(jù)取自4～5月復(fù)檢工序所有常規(guī)疊片電池低壓不良比率狀況，共33種型號141批；2）從上述結(jié)果來看，除PL-355585/465585/385068等個別型號低壓不良比率相對較高外（經(jīng)調(diào)查此幾種型號所用隔膜為“Celgard”隔膜）其余大多數(shù)型號其低壓狀況基本無大的區(qū)別；3）由此可初步得出低壓與電池的型號關(guān)系不十分大,與所使用的隔膜存在一定的關(guān)系，目前已停止使用Celgard隔膜經(jīng)調(diào)查此幾批電池采用的是Celgard隔膜15GageR&R(萬用表機(jī)壓短路測試)Resultsfor:萬用表加機(jī)壓測試疊片短路Dateofstudy:2005.6.1Reportedby:付曉紅WithinAppraisersAssessmentAgreementAppraiser#Inspected#MatchedPercent95%CI12020100.00(86.09,100.00)22020100.00(86.09,100.00)32020100.00(86.09,100.00)#Matched:Appraiseragreeswithhim/herselfacrosstrials.Fleiss'KappaStatisticsAppraiserResponseKappaSEKappaZP(vs>0)1fail10.2236074.472140.0000pass10.2236074.472140.00002fail10.2236074.472140.0000pass10.2236074.472140.00003fail10.2236074.472140.0000pass10.2236074.472140.0000BetweenAppraisersAssessmentAgreement#Inspected#MatchedPercent95%CI2020100.00(86.09,100.00)#Matched:Allappraisers'assessmentsagreewitheachother.Fleiss'KappaStatisticsResponseKappaSEKappaZP(vs>0)fail10.057735017.32050.0000pass10.057735017.32050.0000從Kappa值來看≧0.7，故測量系統(tǒng)合符要求。AMICD測試者之間無明顯差異手壓改為機(jī)壓后，系統(tǒng)能力有了明顯的提高鑒于萬用表測試絕緣電阻的局限性，不能有效地檢測出潛在的隱患，另從電池本身的特殊原理出發(fā)及參考先進(jìn)同行業(yè)在此工序的作業(yè)方式，下一步需繼續(xù)考慮對此系統(tǒng)進(jìn)行改進(jìn)，以便更好地檢出存在潛在短路隱患的電池17AMICD根本原因分析之DOE1（分析粉塵、毛刺、短路測試方法對低電壓的影響）MainEffectsPlot(datameans)for低壓率InteractionPlot(datameans)for低壓率FullFactorialDesignFactors:3BaseDesign:3,8Runs:8Replicates:1Blocks:1Centerpts(total):0Alltermsarefreefromaliasing.RunOrder 粉塵 毛刺 短路測試 低壓率1 除粉塵 不除毛刺 手壓測試 20202 不除粉塵 不除毛刺 手壓測試 40893 除粉塵 不除毛刺 機(jī)壓測試 5004 除粉塵 除毛刺 手壓測試 10155 除粉塵 除毛刺 機(jī)壓測試 06 不除粉塵 除毛刺 手壓測試 30007 不除粉塵 不除毛刺 機(jī)壓測試 10058 不除粉塵 除毛刺 機(jī)壓測試 8001）從主效應(yīng)圖上可以看出，三因子對電芯低壓現(xiàn)象有著明顯的影響作用；2）從交互效應(yīng)圖上可以看出，粉塵與短路測試方法、毛刺與短路測試方法對電芯的低壓現(xiàn)象有明顯的交互作用，粉塵與毛刺則對電芯低壓無交互作用。最佳組合方案18AMICDFactorialFit:低壓率versus粉塵,毛刺,短路測試

EstimatedEffectsandCoefficientsfor低壓率(codedunits)TermEffectCoefSECoefTPConstant1553.638.3440.520.001粉塵-1339.7-669.938.34-17.470.003毛刺-699.7-349.938.34-9.130.012短路測試-1954.7-977.438.34-25.490.002粉塵*短路測試687.2343.638.348.960.012毛刺*短路測試347.2173.638.344.530.045S=108.444R-Sq=99.82%R-Sq(adj)=99.39%AnalysisofVariancefor低壓率(codedunits)SourceDFSeqSSAdjSSAdjMSFPMainEffects312211255122112554070418346.120.0032-WayInteractions21185790118579059289550.420.019ResidualError2235202352011760Total713420566EstimatedCoefficientsfor低壓率usingdatainuncodedunitsTermCoefConstant1553.63粉塵-669.875毛刺-349.875短路測試-977.375粉塵*短路測試343.625毛刺*短路測試173.625從殘差圖上顯示，殘差均符合要求根本原因分析之DOE1（分析粉塵、毛刺、短路測試方法對低電壓的影響）因子顯著19GageR&R(高壓測試儀疊片電芯機(jī)壓短路測試)AMICDResultsfor:高壓測試儀加機(jī)壓測試疊片短路Dateofstudy:2005.7.1Reportedby:付曉紅WithinAppraisersAssessmentAgreementAppraiser#Inspected#MatchedPercent95%CI李瑞霞1111100.00(76.16,100.00)徐小延1111100.00(76.16,100.00)黃曉娟1111100.00(76.16,100.00)#Matched:Appraiseragreeswithhim/herselfacrosstrials.Fleiss'KappaStatisticsAppraiserResponseKappaSEKappaZP(vs>0)李瑞霞fail10.3015113.316620.0005pass10.3015113.316620.0005徐小延fail10.3015113.316620.0005pass10.3015113.316620.0005黃曉娟fail10.3015113.316620.0005pass10.3015113.316620.0005BetweenAppraisersAssessmentAgreement#Inspected#MatchedPercent95%CI

1111100.00(76.16,100.00)#Matched:Allappraisers'assessmentsagreewitheachother.Fleiss'KappaStatisticsResponseKappaSEKappaZP(vs>0)fail10.077849912.84520.0000pass10.077849912.84520.0000從Kappa值來看≧0.7，故測量系統(tǒng)合符要求。測試者之間無差異21AMICD根本原因分析之T-TEST（分析短路測試儀選用與低電壓的關(guān)系)試驗說明試驗?zāi)康模罕容^兩種測試儀器(絕緣電阻高壓測試儀/萬用表)對疊片短路現(xiàn)象的判別能力（即降低電芯低壓率）試驗方法：1）取6批疊片后電芯（每批1000只）每批電芯同時采用高壓測試儀/萬用表兩種方法分別測試一次其短路狀況，將短路電芯作好相應(yīng)記錄標(biāo)識區(qū)分出；2）將短路電芯按正常電芯生產(chǎn)工藝進(jìn)行后續(xù)生產(chǎn)；3）比較后續(xù)各相關(guān)工序短路電芯的實際狀況,得出兩種測試儀的誤判率；試驗結(jié)果:項目疊片短路數(shù)預(yù)充短路數(shù)復(fù)檢低壓數(shù)實際短路比率誤判比率用高壓測試儀測試短路20812100%0用萬用表測試短路936100%1.1%用兩種儀器測試均短路936100%疊片工序短路數(shù)合計20項目疊片短路數(shù)預(yù)充短路數(shù)復(fù)檢低壓數(shù)實際短路比率誤判比率用高壓測試儀測試短路2581592%0.2%用萬用表測試短路1385100%1%用兩種儀器測試均短路1385100%疊片工序短路數(shù)合計25項目疊片短路數(shù)預(yù)充短路數(shù)復(fù)檢低壓數(shù)實際短路比率誤判比率用高壓測試儀測試短路14131100%0用萬用表測試短路880100%0.6%用兩種儀器測試均短路880100%疊片工序短路數(shù)合計14項目疊片短路數(shù)預(yù)充短路數(shù)復(fù)檢低壓數(shù)實際短路比率誤判比率用高壓測試儀測試短路1716094%0.2%用萬用表測試短路1514093%0.3%用兩種儀器測試均短路1514093%疊片工序短路數(shù)合計17項目疊片短路數(shù)預(yù)充短路數(shù)復(fù)檢低壓數(shù)實際短路比率誤判比率用高壓測試儀測試短路1816194%0.1%用萬用表測試短路981100%0.8%用兩種儀器測試均短路981100%疊片工序短路數(shù)合計18項目疊片短路數(shù)預(yù)充短路數(shù)復(fù)檢低壓數(shù)實際短路比率誤判比率用高壓測試儀測試短路12120100%0用萬用表測試短路880100%0.4%用兩種儀器測試均短路880100%疊片工序短路數(shù)合計12實際短路比率=(預(yù)充短路數(shù)+復(fù)檢低壓數(shù))/疊片短路數(shù)高壓測試儀測試誤判比率=(疊片短路數(shù)-預(yù)充短路數(shù)-復(fù)檢低壓數(shù))/每批疊片電芯總數(shù)(1000只)萬用表測試誤判比率=（高壓測試實際短路數(shù)-萬用表測試實際短路數(shù)）/每批疊片電芯總數(shù)(1000只)22AMICD結(jié)論：1）從上述實驗結(jié)果上來看：兩種測試儀的使用均存在一定的誤判風(fēng)險，高壓測試儀產(chǎn)生的誤判為“將好的判為壞的”，萬用表產(chǎn)生的誤判為“將壞的判為好的”；2）采用高壓測試儀檢測電芯短路的誤判率明顯低于萬用表的誤判率。Two-SampleT-TestandCI:高壓,萬用表Two-sampleTfor高壓vs萬用表NMeanStDevSEMean高壓60.08330.09830.040萬用表60.7000.3220.13Difference=mu(高壓)-mu(萬用表)Estimatefordifference:-0.61666795%CIfordifference:(-0.923345,-0.309988)T-Testofdifference=0(vsnot=):T-Value=-4.48P-Value=0.001DF=10BothusePooledStDev=0.2384高壓測試儀原理是利用高壓擊穿的原理，更能檢出存在短路隱患的電芯，更適合本工序的要求；（也是先進(jìn)同行業(yè)尋求采用的一種檢測方法）P值<0.05，說明采用高壓絕緣電阻測試儀檢測短路與采用萬用檢檢測短路存在明顯區(qū)別；根本原因分析之T-TEST（分析短路測試儀選用與低電壓的關(guān)系)23AMICD結(jié)論1.補(bǔ)電電壓與截止電流對壓降有顯著影響；2.補(bǔ)電電壓與截止電流對壓降無交互作用；3.補(bǔ)電電壓3.85V/截止電流0.01C在相同的存放時間內(nèi)壓降(自放電率)最小,有利于電池的存放。根本原因分析之DOE2(分析補(bǔ)電電壓/截止電流與低電壓的關(guān)系）25AMICD1)壓差均值－時間回歸分析（二次方擬合）根本原因分析之ANOVA（壓差－時間回歸分析/補(bǔ)電電壓3.85V,截止電流0.01C）PolynomialRegressionAnalysis:壓差均值versus時間Theregressionequationis壓差均值=-0.000669-0.000275時間+0.000001時間**2S=0.000309939R-Sq=98.1%R-Sq(adj)=98.0%AnalysisofVarianceSourceDFSSMSFPRegression20.00013620.0000681708.910.000Error270.00000260.0000001Total290.0001388SequentialAnalysisofVarianceSourceDFSSFPLinear10.00013511027.730.000Quadratic10.000001111.320.002殘差符合正態(tài)分布26AMICD根本原因的潛在解決方案及方案風(fēng)險分析和優(yōu)選編號根本因子潛在解決方案風(fēng)險分析優(yōu)選方案實施計劃時間負(fù)責(zé)人1不同供應(yīng)商隔膜質(zhì)量不同1）建議不采用質(zhì)量較差的隔膜(如：celgard隔膜);可直接降低電芯低壓比率，但質(zhì)量好的隔膜價格要高可能相對投入成本稍高(1)2005－8－1起2）在疊片工序采用機(jī)壓加高壓測試進(jìn)行挑選;不能確保全數(shù)挑出潛在短路的電芯，相對方案（1）而言存在漏選風(fēng)險更大，且會增大返修量21.極片粉塵過多1）采用人工刷片及滾壓極片清理粉塵毛刺;生產(chǎn)效率較低，可能不適應(yīng)大規(guī)模生產(chǎn)，且純屬手工作業(yè)方式也難保證質(zhì)量穩(wěn)定對比方案(2)、(3)結(jié)果后再行決定2005－8－17至2005－9－10肖斌余濤余成平2）采用機(jī)械設(shè)備刷片處理;極片的處理較為理想，但設(shè)備的使用壽命較短，維護(hù)較多，可能會影響大規(guī)模生產(chǎn)的反應(yīng)速度（正在試驗中）2.極片毛刺過大3）采用靜電除塵處理方式;可能對極片周邊受損附料的清理不夠理想，但設(shè)備資金投入比方案（2）稍小（正在試驗中）3短路測試儀選用不是最佳1）改原萬用表短路測試為高壓測試儀短路測試;在環(huán)境濕度較大時對電芯短路的真實狀況會產(chǎn)生較大的誤判(1)2005－8－17至2005－9－10余濤焦坤4短路測試方法不合理1）改原手壓短路測試為機(jī)壓短路測試;可直接挑出潛在短路的電芯，降低后續(xù)電芯低壓率，但疊片工序可能相對會增大返修量及隔膜的投入量(1)2005－8－17至2005－9－10肖斌李榮5化成補(bǔ)電截止電壓、截止電流1）補(bǔ)電截止電壓3.90V、截止電流0.01C;可提高電芯下線后電壓分布的一致性，及相對提高電芯的存放性能，但需相對延長化成補(bǔ)電的時間需權(quán)衡此兩種方案2005－8－17至2005－9－10程凱余濤2）補(bǔ)電截止電壓3.85V、截止電流0.01C;基本情況同方案（1），且其存放的性能比方案（1）稍好，但補(bǔ)電時間需更長29改善后改善前AMICD疊片工序夾具粉塵處理改善未清理前疊片夾具內(nèi)的粉塵SOP內(nèi)作出規(guī)定此改善主要是為了消除夾具上殘余粉塵帶入電芯內(nèi)引起電芯短路的潛在影響清理后的疊片夾具內(nèi)槽30AMICD粉塵毛刺處理改善改善前改善后改善前改善后改善前改善后極片輸出極片輸入極片表面粉塵極片周邊粉塵毛刺極片處理設(shè)備31AMICD短路測試方法改善改善后機(jī)壓+高壓絕緣電阻測試儀短路測試改善前手壓+萬用表短路測試32AMICD化成工藝制度改善舊化成工藝文件新化成工藝文件改善說明：1.對化成補(bǔ)電電壓及補(bǔ)電截止電流作了重新規(guī)定，采用小截止電流使電池電壓充補(bǔ)更飽和；2.重新規(guī)定了低壓的判定準(zhǔn)則，引入采用壓降定義低壓。33AMICD改善試運(yùn)行趨勢前后的對比生產(chǎn)類別型號生產(chǎn)數(shù)量低壓不良數(shù)低壓比率正常生產(chǎn)PL-4334503665551.501%PL-433456133181230.924%PL-5535621706221.290%PL-523450L1310856.489%PL-383350L4928641.299%PL-383350L4141431.038%PL-43345613583200.147%PL-383350L9677610.630%PL-383350L9616700.728%

試運(yùn)行生產(chǎn)PL-4334506566290.442%PL-433456207190.435%PL-5535623824110.288%PL-523450L91640.437%PL-383350L5402180.333%PL-383350L5993260.434%PL-433456180610.055%PL-383350L60530.496%PL-383350L48600.000%從試運(yùn)行對比結(jié)果顯示，通過執(zhí)行對A階段采取的改進(jìn)措施，結(jié)果是有明顯的改善34AMICD改善試運(yùn)行總結(jié)果狀況對比改善效果明顯35AMICD控制及響應(yīng)計劃序號工序名稱控制項目評價方法控制方法反應(yīng)計劃標(biāo)準(zhǔn)化（形成以下文件）備注1極片沖切極片粉塵目視記錄表生產(chǎn)重返工《刷片機(jī)操作標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)指導(dǎo)書》《PQC巡檢控制計劃》1.除督導(dǎo)項外，其余所有控制標(biāo)準(zhǔn)、樣本大小及檢測頻率參照標(biāo)準(zhǔn)化文件;2.督導(dǎo)項巡督頻率不得少于每小時一次;極片毛刺投影儀檢查表生產(chǎn)重返工/降級/報廢2疊片及短路測試疊片桌面/夾具表面粉塵目視督導(dǎo)及時清理/人員培訓(xùn)《疊片標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)指導(dǎo)書》《疊片短路測試標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)指導(dǎo)書》《疊片短路測試設(shè)備工藝參數(shù)》高壓測試儀設(shè)備參數(shù)目視/儀表點檢表PE重新設(shè)定環(huán)境