chroma6000教學(xué)講解課件

CHROMA6000

系統(tǒng)培訓(xùn)資料LITEONELEDTRONICS(DONGGUAN)CO.,LTD.

MQEDEPARTMENT

孫亞奴

主要內(nèi)容1.硬體簡介2.學(xué)習(xí)重點(diǎn)3.實(shí)例講解2023/6/4下午01:42:0321硬體簡介

CHROMA6000

硬體簡介A.系統(tǒng)控制器—PC及其周邊設(shè)備.*必須有工業(yè)用標(biāo)準(zhǔn)IEEE─488(GPIB)介面卡B.輸入電源供應(yīng)器--待測物輸入用的交流或直流電供應(yīng)器.*ACSOURCE常用6110和6120,其區(qū)別如下:

6110:1KVA150V/300V/AUTO10A/5Arms40A/20APk

6120:2KVA150V/300V/AUTO20A/10Arms

70A/35APk

輸出頻率:45~500Hz*DCSOURCE常用的有如下幾種型號,其輸出最大范圍為:.

6210-100100V1000W10A

6210-6060V1000W18A6210-40

40V1000W25A6230K-6060V3000W50A6230K-80

80V

3000W37A

CHROMA6000硬體簡介

輸出模組—S/A*C.輸出模組—S/AS/A是一智慧型高性能的電源供應(yīng)器輸出測試設(shè)備。其內(nèi)部的運(yùn)作係由CPU來操控的.其功能在后續(xù)中介紹.

S/A通常有620和650兩種,650最大電流為50A.620為20A.其電壓的選擇有10V和100兩種.1.S/A其本功能.1).量測POWER輸出DC電壓.2).具電子負(fù)載功能,具Von點(diǎn)設(shè)定,rate設(shè)定及動態(tài)測試

3).在系統(tǒng)中參與時間時測,有8個觸發(fā)信號.4).有CC和CR兩種拉載模式.5).可量測電源的電源的雜訊及Vpp.

6).自身保護(hù)功能.

OVP,OTP,OCP,OPP,REVERSE

輸出模組—S/A2.S/A620與S/A650基本技朮參數(shù).

S/A

620650Loadcurrent:1A/20A1A/50ASlewrate:0.001-0.05A/Us(1A檔)0.001-0.05A/Us(1A檔)0.002-1.0A/uS(20A檔)0.005-2.5A/Us(50A檔)MinoperatingVoltage:1.0V@1A.2/0V@2A1.0V@1A,3.0V@50AMax.voltage:100V200VDynamicperiod:4uS~10mS4uS~10mS(50Hz~125KHz)Voltagesele.:10V/100V10V/100V

輸出模組—S/A3.Von點(diǎn)的計(jì)算1).Von及rise(fall)rate的導(dǎo)入是ChromaS/A的Mile-stone.2).Von點(diǎn)是當(dāng)UUT輸出電壓達(dá)到Von電壓時才幵始拉載.通常:

輸出模組—S/A

Vonmin=1.0V+DesiredLoadIf.S*(VminOperating@If.S-1.0V)

3).通常Von電壓設(shè)定為標(biāo)準(zhǔn)輸出的70%.但Von電壓不能小于1.0V,這種情況VRM機(jī)種較多見.但需說明,當(dāng)Von設(shè)置應(yīng)盡量大于1.0V.4.Rise(fall)Rate定義.不管時在靜態(tài)還是動態(tài)測試,rate的定義必須在UUT的能力范圍內(nèi).除此之外,還必須根據(jù)所選電流量程及實(shí)際負(fù)載大小而定.

輸出模組—S/A5.DC和Vnoise濾波器.1).S/A濾波方塊圖.

輸出模組—S/ADiff.ModelInputvoltagedivider&buffer20MHz

pk-pkdetector12bitsA/DconverterVdcfilter30/300HzDCBlockRMSconverterPk-pkdectorLowpassfilterMUX14bitADCCPU+-

2).低通濾波器通常可由以下8種選擇:(實(shí)際上ATE程式中可有十幾個選擇)

DC濾波器有兩個:30Hz,300Hz.6.ABCDBits

為四組光電隔離TTL信號，係SwitcherAnalyzer用以控制其外接設(shè)備Turnon或Turnoff的信號。這些信號只有在SwitcherAnalyzer要控制外接設(shè)備時才需要定義它。初始狀態(tài)各位元為0。

輸出模組—S/A7.時序之測量

每個S/A均有6個外部的觸發(fā)信號(1~6)和兩個內(nèi)部觸發(fā)信號(7=Va,8=Vb),8個觸發(fā)信號均在S/A背面板D-TYPE25PINConnector上,我們可以通過同步線將各組S/A連接起來以達(dá)到對SPS各種時序量測的目的.我們通常只用到1,2,7,8.它們所代表意義如下:

輸出模組—S/A

1為AC信號,2為PG信號,7為DCVa(下限電壓),8為DCVb(上限電壓);另外H為幵機(jī)動作,L為關(guān)機(jī)動作.

輸出模組—S/AD.特殊功能模組—EMU1.EMU功能如下:

1).執(zhí)行短路測試并量測Ipk及Irms

2).執(zhí)行OVP/UVP測試並量測跳脫點(diǎn)及跳脫時間3).量測Iinrush、Ipk、Irms、Vrms、TruePower及PowerFactor。4).量測電源供應(yīng)器內(nèi)部接點(diǎn)的電壓(Vdc及Vrms)5).四組輸入電源選擇埠.1,2,3,4.

CHROMA6000硬體簡介-EMU

6).可程式電源輸入在任何相位角.7).可模擬輸入電源瞬間斷電(Dropout)，最大時間可到650ms。8).有6對內(nèi)建的繼電器及16位元TTL控制信號供您自行運(yùn)用。

*L1~L6;TTL(PG);2.安裝EMU注意事項(xiàng)

1).通常EMU背面板上的4個輸入端口中1,2,3為AC輸入口,4為DC輸入口.

CHROMA6000硬體簡介-EMU2).在從AC或DCSource輸出接入EMU時,必須注意極性,必須H對H,L對L,GND對GND.否則易損壞601.3).601或602前面板上L1~L6,必須對應(yīng)于Load1~Load6.

4).EMU后面板有6對Relay,可根據(jù)實(shí)際需求進(jìn)行靈活運(yùn)用.如VRM,用于調(diào)節(jié)VID.

CHROMA6000硬體簡介-EMUE.OVP/UVP電源供應(yīng)器

DCSOURCE常用6210-100,其輸出最大范圍為:100V,1000W,10A.*CHROMA6000主要由以A~E部分組成,其連接方塊圖如下:

CHROMA6000硬體簡介-DCSource

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系統(tǒng)連接方塊圖注意事項(xiàng):

1).系統(tǒng)輸入電源L,N,GND必須聖一一對應(yīng)2).ACSOURCE及DCSOURCE輸出H,L,GND必須和601或602后面端口上的H,L,GND對應(yīng).3).D-TYPE25PIN同步線必須按順序連接.否則無法Download.

4).601或602前面板上L1~L6,必須對應(yīng)于Load1~Load6.

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系統(tǒng)安裝注意事項(xiàng)

5).EMU后面板有6對Relay,可根據(jù)實(shí)際需求進(jìn)行靈活運(yùn)用.如VRM機(jī)種,用于調(diào)節(jié)VID.6).系統(tǒng)排風(fēng)扇必須保証工作正常.7).系統(tǒng)接地必須良好.8).軟體安裝只需將應(yīng)用程式COPY至PC硬盤即可.CHROMA6000

系統(tǒng)安裝注意事項(xiàng)2學(xué)習(xí)重點(diǎn)

ATE各項(xiàng)測試流程圖

CHROMA6000學(xué)習(xí)重點(diǎn)精簡測試程式編寫順序.

Setup(TURNONSEQ)HOLDUPSTATICLINEREGDYNAMICCOMBINEREGINPUT/OUTPUTOVPOLPOCP2.在ATE測試程式中，第一項(xiàng)通常為SETUP或TURNONSEQ.只有用這兩項(xiàng)才能對ATE系統(tǒng)進(jìn)行初始化.SETUP只進(jìn)行初始化,并不提供輸入電壓,而TURNONSEQ對系統(tǒng)初始化的同時還可以進(jìn)行其他項(xiàng)測試(后續(xù)詳朮)3.TURNONTESTTURNONTEST可以測量Ton,Risetime,Inrushcurrent,Vos,在編程時應(yīng)注意:1),Vos不能和Risetime一起測量.因?yàn)樵跈z查overshoot電壓時,系統(tǒng)不能讀出其具體數(shù)值,而只能和Turnon中Vb進(jìn)行比較.所以Vb必須設(shè)定為Vos的最大值.2).測量Inrushcurrent時要注意幵機(jī)井的交流電的相位角,因交流電壓值最大時,Inrushcurrent也為最大.通常為90度或270度.3).通常在Turnon之后接Holdup放電.

CHROMA6000學(xué)習(xí)重點(diǎn)4).Turnon測試中的Tds,Tdl,Tdls:

要量測上述時間,必須指定一組Ton用來計(jì)算Tds,Tdl,Tdls的參考值.其中Tdls=Tdl-Tds.

如圖中的Tds=Ton(1)-Ton(4),Tdl=Ton(3)-Ton(4)

Tdls=Ton(3)-Ton(1)

5).Powersupply時序測量全由Turnon和Holdup兩項(xiàng)程式測量,如下頁是Dell機(jī)種一典型時序圖實(shí)例:

CHROMA6000學(xué)習(xí)重點(diǎn)

CHROMA6000學(xué)習(xí)重點(diǎn)4.Dynamictest1).在Dynamic測試,一般只選取最高和最低兩個頻率,必要時可以選取一個中間頻率.同時盡量使負(fù)載由輕到重,再由重到輕的原則,在動態(tài)測試中Vpp可以不測量.2).動態(tài)測試中負(fù)載變化率通常為1A/uS或者更大(VRM要求)3).Dynamic測試中period-1與period-2設(shè)置是根據(jù)頻率而定,S/ADynamicperiod:4uS~10mS(50Hz~125KHz)4).Dynamicload波形近似于矩形波,但可以設(shè)定不同的period及rate可以使其波形近似三角波,鋸齒波,脈衝波等等.5.Input/outputtest

1).可量測Iinrms、Iinpk+、Iinpk-、Pin、Eff、Pf、Vin

、

VdcVpp、Vn、Pdc、Idc等等2).在用INPUT/OUTPUT測試ST-BY效率時,程式中除ST-BY外之Von點(diǎn),其他必須設(shè)置為0V,主輸出電壓規(guī)格設(shè)定為“*”.6.OLPtest1).在進(jìn)行OLP測試時,如果要測量Recoverytime,那么必須將UUTOFFTIME設(shè)定為0.同時Vrec設(shè)定值不可小于Volp的設(shè)定值,更不能為“*”.否則系統(tǒng)將會提示錯誤信息.2).若待測物為poweroffreset型態(tài)，則即使過載條件消失待測物的輸出仍不會自動恢復(fù)，除非將待測物的輸入電源關(guān)掉後重送，在此種狀況下系統(tǒng)會將待測物的輸入電源關(guān)閉一段時間，其長度

CHROMA6000學(xué)習(xí)重點(diǎn)

為“UUTOFFTime”，使待測物可以繼續(xù)進(jìn)行下一個程序的測試。當(dāng)Vrec=*時，系統(tǒng)視待測物為poweroffreset型態(tài)，當(dāng)Vrec有設(shè)定值時，系統(tǒng)即視待測物為auto-recovery型態(tài)。3).若待測物為auto-recovery型態(tài)，則當(dāng)過載條件消失時待測物的輸出會自動恢復(fù)。在這種狀況下，系統(tǒng)會在保持輸入電壓的情況下降低負(fù)載量到“I/RRECOVERY”值，並記錄自動恢復(fù)時間(Trec)，Trec係自移去過載條件的時點(diǎn)起算直到輸出電壓回復(fù)到“Vrec”為止之時間?！鵙rec

為電源供應(yīng)器自動恢復(fù)的臨界電壓4).當(dāng)檢測自動恢復(fù)功能時，系統(tǒng)將重置Von的控制線路以移除過載條件。當(dāng)待測物的輸出電壓恢復(fù)到Von值時，負(fù)載會再次加上，所以Von必須大於Volp。

CHROMA6000學(xué)習(xí)重點(diǎn)5).“I/RRECOVERY”不得大於“I/RSTART”。當(dāng)Vrec設(shè)定值為*時,系統(tǒng)將不會檢查自動恢復(fù)功能,系統(tǒng)將不理會“I/RRECOVERY”的設(shè)定值，但“RecoveryTime”的設(shè)定值必須為“*”。

CHROMA6000學(xué)習(xí)重點(diǎn)7.OPPtest

1).在UUTOFFTIME之後，要再加載“I/RRECOVERY”時，若待測物的輸出電壓低於Von時S/A不對待測物拉載，直到待測物的輸出電壓恢復(fù)到Von時，自動對待測物拉載其大小為“I/RRECOVERY”。.

2).用以判斷待測物是否發(fā)生過功率保護(hù)跳脫的信號接到測試檔案中“TrigPort”所指定的輸入點(diǎn)(可為L1~L6,M1~M10任一組),當(dāng)該信號上升或下降到測試檔案中“Vtrig”指定的電壓值時，待測物即被視為發(fā)生過功率保護(hù)跳脫。※測試檔案中的“TrigSlope”決定信號判斷準(zhǔn)則為上升或下降?！鶞y試檔案中的“TrigType”決定信號型態(tài)為AC或DC。

CHROMA6000學(xué)習(xí)重點(diǎn)8.OVP/UVPTEST1).在進(jìn)行OVP/UVP保護(hù)測試時,首先應(yīng)保証在輕載的條件下,如果該組輕載為0,而又對該組進(jìn)行保護(hù),則應(yīng)給該組一個小電流,最大電流不應(yīng)超過6A.因?yàn)樵赟PS實(shí)現(xiàn)保護(hù)之前,ATE提供的直流電流不易向PS內(nèi)部流,若電流過大易引起SPS損壞.2).OVP保護(hù)下限值應(yīng)設(shè)為輸出的上限,以便能夠測試出保護(hù)點(diǎn)過低.ENDVOLTAGE應(yīng)比Vovp上限規(guī)格大.3).Releasetime和Tvp不能同時設(shè)定.Tvp係自該步OVP/UVP電壓源之電壓加到UUT之時起到保護(hù)動作產(chǎn)生時之時間。4).EMU可以量測10筆電壓值(Vdc或Vrms)這10筆電壓可自L1~L6，M1~M10中任意挑選，並在測試檔案中定義。

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5).當(dāng)保護(hù)跳脫或OVP/UVP電壓已達(dá)到Vend時，會再將OVP/UVP電壓接到待測物的輸出端做其它的量測。S/A依Von的條件加載並延遲一段時間“MeasdelayafterOVP/UVPTrips”後量測待物的輸出電壓Vdc做為Vdisable。由於此刻OVP/UVP電源仍然接在待測物的輸出端上，所以在這一組進(jìn)行OVP/UVP測試待測物輸出其Vdisable為實(shí)際的保護(hù)跳脫點(diǎn)。精確地說其值為：OVP/UVP電壓設(shè)定值減去線上及Relay的電壓。待測物其他各組輸出的Vdisable則為在跳脫狀況下其輸出DC電壓值。

CHROMA6000學(xué)習(xí)重點(diǎn)6).OVP/UVP電源和待測物被測的輸出點(diǎn)斷開，若“UUTOFFTime”>0時，關(guān)閉待測物的輸入電源一段時間(“UUTOFFTime”)。7).在測試檔案中“TriggerSlope”中FALL及RISE的定義係指輸出電壓的絕對值從其正常的電位趨近Vtrig

的方向，例如“-5V”到“-2V”及“+5V”到“+2V”均定義為FALL。9.SCPTEST1).短路電流均方根值(Iscrms)之量測係在“ShortTime”結(jié)束之後，由於RMSConverter的穩(wěn)定時間為0.5秒，所以短路時最好要大於0.5秒，才可得到精確的量測值。

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2).短路電流均方根值(Iscrms)之量測係在“ShortTime”結(jié)束之後，由於RMSConverter的穩(wěn)定時間為0.5秒，所以短路時最好要大於0.5秒，才可得到精確的量測值。3).由於輸入功率的平均線路須3秒鐘，所以短路時間最好要大於3秒才可得到精確的Pin量測值，不過正負(fù)半週之輸入電流峰值(Iinpk+、Iinpk-)則只要0.1秒即可得到精確的量測值.4).

Vdisable係在“ShortTime”結(jié)束後每5ms量測DC輸出電壓一次，取8次之平均值而得。

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6000學(xué)習(xí)重點(diǎn)10.UUTofftime,delaytime,measuretime1).UUTofftime在turnon,holdup,OLP,OCP,OPP,OVP中存在.其設(shè)定長短由實(shí)際測試情而定.2).Delaytime:建議用系統(tǒng)默認(rèn)值1秒.3).Measuretime:建議用系統(tǒng)默認(rèn)值1秒.

總之,以上三種時間的設(shè)置對測試結(jié)果影響較大,要準(zhǔn)確設(shè)定以上時間,需要親自去摸索.

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ATE基本測試功能1.

Input/OutputTest:用以量測在靜態(tài)負(fù)載條件下待測物輸入端及輸出端的特性。2.

DynamicTest:用以量測在動態(tài)負(fù)載條件下待測物輸出端的特性。3.SyncDynamicTest:用以量測在同步動態(tài)負(fù)載條件下待測物輸出端的特性。4.

LoadRegulationTest:用以量測在負(fù)載改變時，對於待測物該組輸出電壓所產(chǎn)生的影響。5.CrossRegulationTest:用以量測在他組輸出電源之負(fù)載改變時，對於某組輸出電壓所產(chǎn)生的影響。6.LineRegulationTest:用以量測在改變輸入電源電壓時，對於輸出電壓所產(chǎn)生的影響。7.CombineRegulation:用以量測在負(fù)載大小及輸入電源之電壓同時改變時，對於待測物輸出電壓所產(chǎn)生的影響8.Turnon&Seq.Test:用以量測在開機(jī)瞬間待測物的各組輸出的時序關(guān)係，過衝電壓值(Overshoot)，及穩(wěn)定時間等特性。 9.Holdup&Seq.Test:用以量測在關(guān)機(jī)瞬間待測物的各組輸出電壓的時序關(guān)係，及穩(wěn)定時間等特性。10.OLPTest:用以量測在過載保護(hù)點(diǎn)瞬間待測物的輸性11.OPPTest:用以量測在過功率保護(hù)點(diǎn)瞬間待測物的輸出特性。12.HoldonAdjust:用以於測試中調(diào)整待測物的內(nèi)部電路以達(dá)到正確的電壓輸出和電流輸出。13.ExternalWaveTest: