脈沖反射法超聲檢測通用技術(shù)演示文稿

脈沖反射法超聲檢測通用技術(shù)演示文稿1本文檔共73頁；當前第1頁；編輯于星期一\0點39分（優(yōu)選）脈沖反射法超聲檢測通用技術(shù)本文檔共73頁；當前第2頁；編輯于星期一\0點39分36.4縱波直探頭檢測技術(shù)

檢測設(shè)備的調(diào)整缺陷的評定

Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第3頁；編輯于星期一\0點39分41.掃描速度的調(diào)節(jié)一、檢測設(shè)備的調(diào)節(jié)調(diào)整的目的使時基線顯示的范圍足以包含需要檢測的深度范圍；使時基線刻度與在材料中聲波傳播的距離成一定比例，以便準確測定缺陷的深度位置。調(diào)整的內(nèi)容時基比例調(diào)整：調(diào)整儀器示波屏上時基線的水平刻度值τ與實際聲程x（單程）的比例關(guān)系，即

τ:x=1:n。零位調(diào)節(jié)：掃描速度確定后，還需采用延遲旋鈕，將聲程零位設(shè)置在所選定的水平刻線上，一般放在時基線的零點。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第4頁；編輯于星期一\0點39分5例：檢測厚度為400mm的鍛件時應(yīng)如何調(diào)節(jié)掃描速度？檢測儀示波屏上的滿刻度為100格，利用ⅡW試塊的100mm可按1:4調(diào)節(jié)。調(diào)節(jié)方法：將探頭對準試塊上厚度為100mm的底面，重復(fù)調(diào)節(jié)儀器上深度微調(diào)旋鈕和延遲旋鈕，使底波B2和B4分別對準水平刻度50和100，這時掃描線水平刻度值與實際聲程的比例正好為1:4，同時實現(xiàn)了聲程零位和時基線零位的重合。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第5頁；編輯于星期一\0點39分6

工件底波調(diào)整法(適用于厚度x≥3N工件)2.檢測靈敏度的調(diào)整

靈敏度：是指在確定的聲程范圍內(nèi)發(fā)現(xiàn)規(guī)定大小缺陷的能力。調(diào)整靈敏度的目的在于發(fā)現(xiàn)規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷定量。

試塊調(diào)整法(可用于厚度x<3N工件)調(diào)整方法：Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第6頁；編輯于星期一\0點39分7

工件底波調(diào)整法(適用于厚度x≥3N工件)原理：根據(jù)工件底面回波與同深度的人工缺陷（平底孔）回波分貝差為定值的原理進行的。

Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第7頁；編輯于星期一\0點39分81)

計算：利用理論計算公式算出400mm處大平底與φ2平底孔回波分貝差為：2)調(diào)整：將探頭對準400mm大平底，調(diào)節(jié)儀器增益旋鈕使第一次底波B1達基準波高（如滿刻度的80%）；然后調(diào)節(jié)增益旋鈕使幅度提高44dB。至此φ2mm靈敏度調(diào)好，即400mm處φ2mm平底孔回波正好達基準波高。

例：用2.5P20Z測厚度x=400mm的餅形鋼制工件，鋼中cL=5900m/s,檢測靈敏度為400mm、φ2mm

平底孔。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第8頁；編輯于星期一\0點39分9

試塊調(diào)整法(可用于厚度x<3N工件)原理：根據(jù)工件的厚度和對靈敏度的要求選擇試塊，將探頭對準試塊上人工反射體，調(diào)整儀器上的有關(guān)靈敏度旋鈕，使示波屏上人工反射體的最高反射回波達到基準高度。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第9頁；編輯于星期一\0點39分10Xi'anPolytechnicUniversity

例：檢測厚度為100mm的鍛件，檢測靈敏度要求是：不允許存在φ2mm平底孔當量大小的缺陷，傳輸修正值為3dB。調(diào)整方法：選用CS-2標準試塊，該試塊中有一位于100mm深度的φ2mm平底孔。將探頭對準φ2mm平底孔，儀器保留一定的衰減余量，將抑制旋鈕調(diào)整至“0”，調(diào)增益旋鈕使φ2mm平底孔得最高回波達80%高。完成上述調(diào)整后，再用增益旋鈕將幅度顯示提高3dB，以進行傳輸修正。傳輸修正：當工件表面狀態(tài)和材質(zhì)與對比試塊存在一定差異時采取的一種補償措施。本文檔共73頁；當前第10頁；編輯于星期一\0點39分113.傳輸修正值的測定(1)

試塊厚度與工件的厚度相同時試塊上:調(diào)節(jié)儀器的時基線和增益，使熒光屏上一次底波B1達到基準高度并記錄此時衰減器讀數(shù)V1；工件上:調(diào)節(jié)衰減器旋鈕使工件的一次底波B2達到基準高度并記錄此時衰減器讀數(shù)V2；說明：當B2高于B1時，?dB為負值，表示工件的表面損失和材質(zhì)衰減小于試塊；反之，?dB為正值，表示工件的表面損失和材質(zhì)衰減大于試塊。

傳輸修正值為：?

dB

=V2-V1（增益型）Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第11頁；編輯于星期一\0點39分12(2)

試塊厚度與工件的厚度不同時按同厚度試塊測定步驟，測得?dB為值；

計算試塊與工件的聲程不同引起的底波高度的分貝差V3；說明：試塊厚度大于工件厚度時，V3為負值；試塊厚度小于工件厚度時，V3為正值。

傳輸修正值為：?dB+V3。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第12頁；編輯于星期一\0點39分134.工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測定(1)x<3N時：Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第13頁；編輯于星期一\0點39分14(2)x≥3N時Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第14頁；編輯于星期一\0點39分151.確定缺陷的位置二、缺陷的評定

缺陷平面位置的確定

缺陷埋藏深度的確定Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第15頁；編輯于星期一\0點39分16

缺陷平面位置的確定Xi'anPolytechnicUniversity示波屏試件探頭BT0τBxBxFFτF0xF=nτFxB=nτB→回波最大時探頭正下方本文檔共73頁；當前第16頁；編輯于星期一\0點39分17

缺陷埋藏深度的確定→時基比例法

→圖像比較法Xi'anPolytechnicUniversity(1)時基比例法用縱波直探頭進行直接接觸法檢測時，如果超聲檢測儀的時基線是按1:n的比例調(diào)節(jié)的，觀察到缺陷回波前沿所對的水平刻度值為τf，則缺陷至探頭的距離xf為:xf=nτf

例：用縱波直探頭檢測，時基線比例為1:2，在水平刻度50處有一缺陷回波，則缺陷到探頭的距離為:本文檔共73頁；當前第17頁；編輯于星期一\0點39分18(2)圖像比較法若工件長為L，缺陷波和底波距發(fā)射波分別為xF和xB，那么，缺陷距探測面為：Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第18頁；編輯于星期一\0點39分192.缺陷尺寸的評定

回波高度法

當量評定法

測長法Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第19頁；編輯于星期一\0點39分20(1)回波高度法Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第20頁；編輯于星期一\0點39分21(2)

當量評定法Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第21頁；編輯于星期一\0點39分22

試塊比較法是將缺陷波幅直接與對比試塊中同聲程的人工反射體回波幅度相比較，若兩者相等時以該人工反射體尺寸作為缺陷當量。

試塊比較法

若人工反射體為φ2mm平底孔時，稱缺陷當量尺寸為φ2mm平底孔當量。

若缺陷波高與人工反射體的反射波高不相等，則以人工反射體尺寸和缺陷波幅度高于或低于人工反射體回波幅度的分貝數(shù)表示，如φ2mm+3dB平底孔當量，表示缺陷幅度比φ2mm平底孔反射幅度高3dB。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第22頁；編輯于星期一\0點39分23

當量計算法是根據(jù)超聲檢測中測得的缺陷回波與基準波高（或底波）的分貝差值，利用各種人工反射體反射聲壓和大平底反射聲壓之間的理論分貝差值表示缺陷的當量尺寸的方法。

當量計算法Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第23頁；編輯于星期一\0點39分24大平底和平底孔的回波聲壓分別為：

不同距離的平底孔與大平底回波聲壓的分貝差值為：若考慮材質(zhì)衰減引起的聲壓隨距離的變化，則有：

Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第24頁；編輯于星期一\0點39分25

例1：用4P14Z檢測厚度x=400mm的鋼制工件，鋼中cL=5900m/s,材料衰減系數(shù)a=0.01dB/mm，發(fā)現(xiàn)距離檢測面250mm處有一缺陷，此缺陷回波與工件完好區(qū)底面回波的分貝差為-16dB，求此缺陷的當量尺寸。本文檔共73頁；當前第25頁；編輯于星期一\0點39分26例2：用2P14Z檢測厚度x=350mm的鋼制工件，鋼中cL=5900m/s，發(fā)現(xiàn)距離檢測面200mm處有一缺陷，此缺陷回波高比平底孔試塊150/φ2回波高度高11dB，求此缺陷的當量平底孔尺寸。本文檔共73頁；當前第26頁；編輯于星期一\0點39分27通用平底孔

AVG曲線AVG曲線法(x≥3N)Xi'anPolytechnicUniversity橫坐標表示歸一化距離A縱坐標表示相對波高V圖中最上面一根直線代表底波高度線以下每一組曲線代表缺陷回波高度圖中G表示歸一化尺寸作用：(1)

調(diào)整檢測靈敏度。

(2)確定處缺陷的當量大小。本文檔共73頁；當前第27頁；編輯于星期一\0點39分28

例1：用2.5P14Z探頭檢測厚度為420mm餅形鋼制工件，鋼中cl=5900m/s，(1)

利用底波調(diào)整φ2平底孔檢測靈敏度。(2)檢測中在210mm處發(fā)現(xiàn)有一缺陷，其回波比底波低26dB，求此處缺陷的當量大小。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第28頁；編輯于星期一\0點39分29Xi'anPolytechnicUniversitya(20,-22)d(20,-66)本文檔共73頁；當前第29頁；編輯于星期一\0點39分30Xi'anPolytechnicUniversitya(20,-22)b(20,-48)26dBc(10,-48)本文檔共73頁；當前第30頁；編輯于星期一\0點39分31(3)

測長法

原理：當聲束整個寬度全部入射到大于聲束截面的缺陷上時，缺陷的反射幅度為其最大值，而當聲束的一部分離開缺陷時，缺陷反射面積減小，回波幅度降低，完全離開時，就沒有缺陷回波了，這樣，就可以根據(jù)缺陷最大回波高度降低的情況和探頭移動的距離來確定缺陷的邊緣范圍或長度。實際檢測時，缺陷的回波高度完全消失的臨界位置是難以界定的，所以，按規(guī)定的方法測定的缺陷長度稱為缺陷的指示長度。測長法分為：Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第31頁；編輯于星期一\0點39分32

相對靈敏度法a.6dB法(半波高度法)半波高度法具體做法是：移動探頭找到缺陷的最大反射波(調(diào)節(jié)增益或衰減使不要達到100%)，然后沿缺陷方向左右移動探頭，當缺陷波高降低一半時，探頭中心線之間距離就是缺陷的指示長度。6dB法的具體做法是：移動探頭找到缺陷的最大反射波后，調(diào)節(jié)衰減器，使缺陷波高降至基準波高。然后用衰減器將儀器靈敏度提高6dB，沿缺陷方向移動探頭，當缺陷波高降至基準高度時，探頭中心線之間距離就是缺陷的指示長度。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第32頁；編輯于星期一\0點39分33b.端點6dB法(半波高度法)

當掃查過程中缺陷反射波有多個高點時，測長采用端點6dB法。端點6dB法的具體做法是：移動探頭，當發(fā)現(xiàn)缺陷后，探頭沿著缺陷方向左右移動，找到缺陷兩端的最大反射波，分別以這兩個端點反射波高為基準，繼續(xù)向左、向右移動探頭，當端點反射波高降低一半（即6dB）時，探頭中心線之間的距離即為缺陷的指示長度。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第33頁；編輯于星期一\0點39分34

絕對靈敏度法

絕對靈敏度測長法是在儀器靈敏度一定的條件下，探頭沿缺陷長度方向平行移動，當缺陷波高降到規(guī)定位置時，將此時探頭移動的距離作為缺陷的指示長度。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第34頁；編輯于星期一\0點39分35

端點峰值法

探頭在測長掃查過程中，如發(fā)現(xiàn)缺陷反射波值起伏變化，有多個高點時，則可以將缺陷兩端反射波極大值之間探頭的距離作為缺陷指示長度，這種方法稱為端點峰值法。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第35頁；編輯于星期一\0點39分36小結(jié)：縱波直探頭檢測工藝流程：1、儀器、探頭的選擇及檢測工件的準備；2、時基線的調(diào)整（掃描速度和零位調(diào)節(jié)）；3、檢測靈敏度調(diào)整（試塊法和工件底波法）；4、傳輸修正值的測定；5、工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測定；6、評定缺陷：（定位：平面位置和埋藏深度）（定量：回波高度法、當量評定法和測長法）。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第36頁；編輯于星期一\0點39分376.5橫波斜探頭檢測技術(shù)

檢測設(shè)備的調(diào)整缺陷的評定Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第37頁；編輯于星期一\0點39分3835o~60o(K=0.7~1.73)

60o~76o(K=1.73~3.73)

75o~80o(K=3.73~5.67)

1.探頭入射點和折射角的測定一、檢測設(shè)備的調(diào)節(jié)

利用ⅡW試塊或CSK-IA試塊上測定。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第38頁；編輯于星期一\0點39分392.掃描速度的調(diào)節(jié)

聲程調(diào)節(jié)法水平調(diào)節(jié)法深度調(diào)節(jié)法Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第39頁；編輯于星期一\0點39分40(1)聲程調(diào)節(jié)法

聲程調(diào)節(jié)法是示波屏上的水平刻度值與橫波聲程x成比例。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第40頁；編輯于星期一\0點39分41ⅡW試塊Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第41頁；編輯于星期一\0點39分42調(diào)整方法：將橫波探頭直接對準R50和R100圓弧面，使回波B1(R50)對準50，B2(R100)對準100，于是橫波掃描速度1:1和“0”點同時調(diào)好校準。TB1B2100050CSK-?A試塊Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第42頁；編輯于星期一\0點39分43ⅡW2試塊

半圓試塊調(diào)整方法：探頭對準R25圓弧面，調(diào)節(jié)儀器使B1、B2分別對準水平刻度25、100即可。調(diào)整方法：探頭對準R50圓弧面，調(diào)節(jié)儀器使B1、B2分別對準水平刻度0、100，然后調(diào)“脈沖移位”使B1對準50即可。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第43頁；編輯于星期一\0點39分44(2)水平調(diào)節(jié)法和深度調(diào)節(jié)法

水平調(diào)節(jié)法是示波屏上的水平刻度值與反射體的水平距離l成比例。

深度調(diào)節(jié)法是示波屏上的水平刻度值與反射體的深度d成比例。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第44頁；編輯于星期一\0點39分45

利用CSK-ⅠA試塊，利用R50和R100圓弧Xi'anPolytechnicUniversity調(diào)整方法：將探頭對準R50圓弧，調(diào)節(jié)儀器使B1、B2分別對準水平刻度35、70，則掃描速度為1:1。本文檔共73頁；當前第45頁；編輯于星期一\0點39分46

利用R50半圓試塊Xi'anPolytechnicUniversity調(diào)整方法：將探頭對準R50圓弧，調(diào)節(jié)儀器使B1、B2分別對準水平刻度0、70，然后調(diào)“脈沖移位”使B1對準35即可。本文檔共73頁；當前第46頁；編輯于星期一\0點39分47

利用CSK-ⅢA短橫孔試塊lXi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第47頁；編輯于星期一\0點39分48三.距離-波幅曲線的制作和靈敏度調(diào)整1.距離-波幅曲線

距離-波幅曲線是描述某一特定反射體回波高度隨距離變化關(guān)系的曲線。由評定線、定量線和判廢線組成，分三個區(qū)。

可在CSK-ⅡA

、CSK-ⅢA

或CSK-ⅣA

試塊上制作。

可進行靈敏度的調(diào)整和缺陷當量尺寸的評定。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第48頁；編輯于星期一\0點39分492.不同壁厚的距離-波幅曲線靈敏度選擇CSK-ⅡA試塊Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第49頁；編輯于星期一\0點39分50CSK-ⅡA試塊CSK-ⅢA試塊Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第50頁；編輯于星期一\0點39分51Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第51頁；編輯于星期一\0點39分52Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第52頁；編輯于星期一\0點39分533.距離-波幅曲線的繪制方法及其應(yīng)用

距離-dB曲線面板曲線Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第53頁；編輯于星期一\0點39分54(1)

距離-dB曲線的繪制（例：板厚T=30mm

。）

→測定探頭入射點和K值，并根據(jù)板厚調(diào)節(jié)掃描速度(1:1)。

→測定CSK-ⅢA試塊不同距離處橫孔的dB值并填入表格。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第54頁；編輯于星期一\0點39分55→

利用表中數(shù)據(jù)，以孔深為橫坐標，以dB值為縱坐標繪圖。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第55頁；編輯于星期一\0點39分56

2)調(diào)整檢測靈敏度：標準要求焊接檢測靈敏度不低于評定線。

距離-dB曲線的應(yīng)用

1)了解反射體波高與距離之間的對應(yīng)關(guān)系。

調(diào)節(jié)方法：本例中T=30mm，評定線為φ1×6-9dB，二次波檢測最大深度為60mm。由表中數(shù)據(jù)可得，掃查靈敏度為29dB，將衰減器調(diào)到29dB即可。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第56頁；編輯于星期一\0點39分573)比較缺陷大小。

比較方法：如檢測中發(fā)現(xiàn)兩缺陷，缺陷1：df1=30mm，波高為45dB；缺陷2：df2=50mm，波高為40dB。

缺陷1的當量為φ1×6+45-47=φ1×6-2dB，缺陷2的當量為φ1×6+40-41=φ1×6-1dB，由此可得缺陷1小于缺陷2。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第57頁；編輯于星期一\0點39分584)確定缺陷所處的區(qū)域。

比較方法：如檢測中發(fā)現(xiàn)兩缺陷，缺陷1：df1=20mm，波高為45dB；缺陷2：df2=60mm，波高為40dB。缺陷1的波高為45dB<47dB，在定量線以下，即在Ⅰ區(qū)。缺陷2的當量為35dB<40dB<43dB，在定量線以上判廢線以下，即在Ⅱ區(qū)。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第58頁；編輯于星期一\0點39分59(2)

面板曲線的繪制→測定探頭入射點和K值，并根據(jù)板厚調(diào)節(jié)掃描速度(1:1)。→探頭對準CSK-ⅢA試塊上深為10mm處φ1×6橫孔找到回波，調(diào)至滿幅的100%，在面板上標記波峰對應(yīng)的點①，并記下此時的dB值N?！?/p>

固定增益旋鈕和衰減器，分別檢測深度為20、30、40、50、60mm的φ1×6橫孔找到回波，在面板上標記相應(yīng)的波峰對應(yīng)的點②、③、④、⑤、⑥，然后連點成線，得到一條φ1×6

參考曲線，即面板曲線。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第59頁；編輯于星期一\0點39分60

面板曲線的應(yīng)用

1)調(diào)整靈敏度：若工件厚度在15～46mm范圍內(nèi)，評定線為φ1×6-9dB，只要在N(如30dB)的基礎(chǔ)上降低9dB，即衰減器讀數(shù)為21dB，此時靈敏度調(diào)好。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第60頁；編輯于星期一\0點39分612)確定缺陷所處區(qū)域：檢測時若缺陷回波低于參考線，則說明缺陷波低于評定線，可以不考慮。若缺陷波高于參考線，則用衰減器將缺陷波調(diào)至參考線，根據(jù)衰減的dB值求出缺陷的當量和區(qū)域。例如：+4dB，則缺陷當量為φ1×6-9+4=φ1×6-5dB，在Ⅰ區(qū)。+8dB，則缺陷當量為φ1×6-9+8=φ1×6-1dB，在Ⅱ區(qū)。+16dB，則缺陷當量為φ1×6-9+16=φ1×6+7dB，在Ⅲ區(qū)。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第61頁；編輯于星期一\0點39分62四.傳輸修正值的測定和補償1.單探頭法測定（采用和工件相同厚度的試塊）試塊上：移動探頭使試塊棱角A處的反射波B1達到最高，并調(diào)節(jié)衰減器旋鈕，使其達到基準高度，記下此時的衰減器讀數(shù)V1。工件上：移動探頭使工件A處的反射波B2達到最高。調(diào)節(jié)衰減器旋鈕，使其達到基準高度，記下此時的衰減器讀數(shù)V2。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第62頁；編輯于星期一\0點39分63計算傳輸修正值：?

dB

=V2-V1（增益型）。說明：?

dB為正值，表示工件的表面損失大于試塊，調(diào)整靈敏度時應(yīng)提高增益；?

dB為負值，表示工件的表面損失小于試塊，調(diào)整靈敏度時應(yīng)降低增益。Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第63頁；編輯于星期一\0點39分642.雙探頭法測定(1)工件與試塊的厚度相同：

依次測出在試塊和工件上底面回波達到基準波高時衰減器的讀數(shù)V1和V2。傳輸修正值：

?

dB

=V2-V1（增益型）

Xi'anPolytechnicUniversity本文檔共73頁；當前第64頁；編輯于星期一\0點39分65(2)工件厚度小于試塊厚度：工件上：將接收探頭置于1P處,記下反射波R1的波高和位置，以及衰減器的讀數(shù)V2；將接收探頭置于2P處---記下反射波R2的波高和位置；試塊上：將接收探頭置于1P處，找到反射波R，將R調(diào)到R1和R2的連線上，記下此時衰減器的讀數(shù)V1；傳輸修正值：?

dB

=V2-V1（增益型）

Xi'