2023高電壓和大電流試驗測量用儀器和軟件 第3部分：對交直流電壓和電流試驗用硬件的要求

3件的要求II目 次前言 III引言 IV范圍 1規(guī)性用件 1術(shù)和義 1字錄器 1定值 23態(tài)能 3確度 55使條件 5校和驗法 6用性 6字錄器性檢驗 6考生的求 6驗字錄器方法 66代驗法 6確度量 7入抗 7交和流量要求 7用認測系的數(shù)記儀的求 7項求 7用參測系的數(shù)記儀的求 88對個量統(tǒng)不定度響 9性記錄 9附錄A（規(guī)性高大電實室試現(xiàn)的電干擾 11一要求 11預(yù)措施 11暫感電場驗 11電注試驗 12附錄B（資性高大電實室試現(xiàn)的電干——數(shù)記儀器建議 13附錄C（資性采器幅非性確流程 15附錄D（資性示注意項 18用交和流測量數(shù)記儀的議 18待量相電電流特示例 19儀必上時確定 20各交與流的補注事項 21圖1 數(shù)碼k對的體線性s(k) 3圖2 直流件微非性d(k)和數(shù)寬度w(k) 4IIII圖A.1電場驗原圖 12圖A.2電注電纜層 12圖C.1用4位A/D轉(zhuǎn)對正波進數(shù)化 15圖C.2用4位A/D對弦波字時理的碼分布 16圖C.3理的弦號進非想量的例 16圖C.4分線產(chǎn)差異示例 17表1 使用件 6表2 數(shù)字錄器試要求 8表B.1議于電境中數(shù)記儀電干擾擾水平 13表D.1相電和電流 1911高電壓和大電流試驗測量用儀器和軟件第3部分：對交直流電壓和電流試驗用硬件的要求范圍本文件適用于交直流高電壓和大電流試驗中測量用數(shù)字記錄儀器。本文件規(guī)定了數(shù)字記錄儀器的測量特性和校準(zhǔn)要求，以滿足相關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)（如GB/T16927.1，GB/T16927.2，GB/T16927.3，GB/T16927.4，GB/T17627）規(guī)定的測量不確定度及程序要求。本文件適用于依據(jù)本文件設(shè)計和型式試驗的數(shù)字記錄儀器。本文件：——確定了數(shù)字記錄儀器在進行交流（AC）或直流（DC）電壓、電流試驗時的性能要求；——規(guī)定了數(shù)字記錄儀器需滿足的必要要求，以確保其在相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)下使用；——制定了數(shù)字記錄儀器的試驗方法和流程；——定義了具有記錄功能和獲取原始數(shù)據(jù)功能的數(shù)字記錄儀器的有關(guān)術(shù)語。注：附件D中列出了需要測量的相關(guān)交直流電壓和電流的例子。（GB/T16927.2高電壓試驗技術(shù)第2部分：測量系統(tǒng)（IEC60060-2:2010,MOD）GB/T16927.44（IEC62475:2010,MOD）GB/T17627（IEC61180:2016,MOD）GB/T27418-2017（ISO/IECGuide98-3:2008,MOD）16927.2GB/T17627GB/T16927.4GB/T27418-2017IEC60060-2IEC61180、IEC62475和ISO/IECGuide98-3:2008各國際標(biāo)準(zhǔn)化文件被引用的內(nèi)容沒有技術(shù)上的差異。下列術(shù)語和定義適用于本文件。3.1.1認可儀器 approvedinstrument滿足本文件各條款要求的測量設(shè)備。3.1.2數(shù)字錄器 digitalrecordinginstrument具有記錄輸入（信號）并進行數(shù)字輸出功能的設(shè)備。注1：本定義包括數(shù)字記錄儀、數(shù)字示波器、數(shù)字峰值電壓表和其他適用的含數(shù)字記錄功能的儀器。注2：記錄數(shù)據(jù)的波形通常顯示在屏幕上，用于作圖或打印。由于此過程進行了處理，可能會改變波形的形狀。3.1.322標(biāo)定測量范圍assignedmeasurementrange滿足本文件規(guī)定不確定度限值的輸入電壓范圍。3.1.4輸出 output數(shù)字記錄儀器在特定瞬間的顯示值或數(shù)字量。3.1.5滿刻偏轉(zhuǎn) full-scaledeflection在給定量程下使儀器產(chǎn)生最大標(biāo)稱輸出的最小輸入值。3.1.6偏置 offset數(shù)字記錄儀器零輸入時的輸出。3.1.7原始數(shù)據(jù)rawdata當(dāng)數(shù)字記錄儀器將模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字形式時經(jīng)抽樣和量化信息獲得的原始記錄。進行偏置校正或乘以某常數(shù)比例因子后仍可認為是原始數(shù)據(jù)。3.1.8試驗續(xù)間 testduration完成試驗所需的時間間隔。3.1.9讀取率 readingrate儀器顯示或存儲被測交直流電壓或電流讀數(shù)的速率。注：采樣儀器的讀數(shù)一般通過計算后給出，例如若干采樣值的平均值（DC）或方均根值（AC）。額定值3.2.1額定辨力 ratedresolutionr2的-NNA/Dr2N3.2.2采樣率 samplingrate單位時間內(nèi)的采樣個數(shù)。3.2.3記錄度 recordlength以時間單位或采樣總數(shù)表示的記錄持續(xù)長度。3.2.4預(yù)熱間 warm-uptime33從儀器首次開機到滿足使用要求的時間間隔。因數(shù)3.3.1刻度數(shù) scalefactor與經(jīng)偏置校正的輸出相乘得到被測輸入量的因數(shù)。注：刻度因數(shù)包含任何內(nèi)置或外置的衰減器的比例，其通過校準(zhǔn)確定。3.3.2靜態(tài)度數(shù) staticscalefactor確定直流電壓或直流電流輸入量的刻度因數(shù)。3.3.3幅值線性 non-linearityofamplitude數(shù)字記錄儀器的實際輸出與標(biāo)稱值之間的偏差，通過將輸入電壓或輸入電流除以刻度因數(shù)來確定。注：直流電壓或電流輸入時的靜態(tài)非線性與動態(tài)條件下的非線性不同。3.3.4峰值數(shù) peakfactor由測量的峰值除以測量的方均根值（RMS）后得到的數(shù)值。3.4.1積分線性 integralnon-linearitys(k)對應(yīng)測量點上，測量的量化特性與基于靜態(tài)刻度因數(shù)的理想量化特性之間的偏差（見圖1）。3.4.2量化性 quantizationcharacteristic表示數(shù)字記錄儀器輸出與產(chǎn)生此輸出的直流輸入電壓之間關(guān)系的特性（見圖1）。12s(k12s(k)數(shù)碼k輸入電壓/V曲線1：理想5位數(shù)字記錄儀器的量化特性曲線2：非線性的5位數(shù)字記錄儀器的量化特性（圖中選擇5位的低分辨力進行說明）圖1數(shù)碼k對應(yīng)的積分非線性s(k)443.4.3數(shù)碼 code用于標(biāo)識數(shù)字水平的整數(shù)。3.4.4數(shù)碼度 codebinwidthw(k)歸屬數(shù)碼k的輸入電壓或電流范圍（見圖2）。3.4.5平均碼度 averagecodebinwidthw0滿刻度偏轉(zhuǎn)與額定分辨力的乘積。（見圖2）注：平均數(shù)碼寬度約等于靜態(tài)刻度因數(shù)。3.4.6微分線性 differentialnon-linearityd(k)數(shù)碼k測得的數(shù)碼寬度w(k)與平均數(shù)碼寬度w0的差值除以平均數(shù)碼寬度w0（見圖2）。dkwkw0w0BwBw01w(4)2w(2)A76543210輸入電壓/V曲線1：理想的3位數(shù)字記錄儀器的量化特性。曲線2：在數(shù)碼k=2,3和4處有較大d(k)的3位數(shù)字數(shù)字記錄儀器的量化特性。直線AB：理想數(shù)字記錄儀器碼寬中點所連的直線（圖中選擇3位的低分辨力進行說明）。圖2直流條件下微分非線性d(k)和數(shù)碼寬度w(k)3.4.7上升間 risetimetR數(shù)字記錄儀器響應(yīng)階躍信號時，記錄曲線上穩(wěn)態(tài)幅值的10%和90%兩點間的時間間隔。553.4.8時基 timebase數(shù)字記錄儀器的水平刻度單位，用于測量時間間隔。3.5.1不確度 uncertainty利用可獲得的信息，表征賦予被測量量值分散性的參數(shù)。注1：不確定度是一個無符號的正數(shù)。注2：測量不確定度不應(yīng)與試驗值容差混淆。3.5.2標(biāo)準(zhǔn)確度 standarduncertainty用標(biāo)準(zhǔn)偏差表示的測量結(jié)果的不確定度。試驗3.6.1校準(zhǔn) calibration在規(guī)定條件下，通過參照標(biāo)準(zhǔn)建立示值和測量結(jié)果之間的關(guān)系的一組操作。3.6.2型式驗 typetest對一臺或多臺樣品開展的符合性試驗。注：對于測量系統(tǒng)，可理解為對組件或?qū)ο嗤O(shè)計的完整測量系統(tǒng)開展的試驗，以表征其在工作條件下的特性。3.6.3例行驗 routinetest生產(chǎn)過程中或生產(chǎn)完成后對每個產(chǎn)品進行的符合性試驗。注：可理解為在運行工況下對每個元件或整機進行的表征其性能的試驗。3.6.4性能驗 performancetest對整套測量系統(tǒng)在工作條件下檢測其性能的試驗。3.6.5性能核 performancecheck驗證最近一次性能試驗仍然有效的簡化程序。3.6.6性能錄 recordofperformance在表1所示的使用條件限值范圍內(nèi)，數(shù)字記錄儀器應(yīng)能正常工作并滿足規(guī)定的不確定度要求。66

表1使用條件使用條件范圍環(huán)境溫度5°C~40°C相對濕度（不凝露）10%~90%電源電源電壓額定電壓±10%（RMS）額定電壓±12%（AC峰值）電源頻率額定頻率±5%任何表1之外的使用條件，應(yīng)明確而清楚地記錄于性能記錄中。注：GB/T18268.1描述了用于測量、控制和實驗室用的電氣設(shè)備電磁兼容性的通用要求。適用性數(shù)字記錄儀器可滿足本文件的全部要求，或適用的部分要求。用于高電壓和/或大電流測量的數(shù)字記錄儀器應(yīng)通過與可追溯至國家標(biāo)準(zhǔn)的參考系統(tǒng)進行比較測量，以確認其準(zhǔn)確度及動態(tài)性能同時滿足要求。數(shù)字記錄儀器的性能檢驗包含對每種類型儀器的型式試驗,對每臺儀器的例行試驗，及對每臺儀器的定期校準(zhǔn)。高電壓大電流實驗室和現(xiàn)場的電磁干擾試驗，可參考附錄B。僅當(dāng)數(shù)字記錄儀器含有用作參考的測量組件時，才有必要對參考波形發(fā)生器進行校準(zhǔn)（見6.3）。其它波形發(fā)生器，若能滿足幅值、頻率穩(wěn)定性和噪聲一般要求即可。注：獲認可的波形發(fā)生器，當(dāng)其輸出幅值和頻率的穩(wěn)定性在0.1%以內(nèi)、輸出噪聲小于1%時，可認為滿足資質(zhì)要求。校驗數(shù)字記錄儀器的方法包括：a）校準(zhǔn)（確定刻度因數(shù)），見5.5；b）動態(tài)性能試驗，見5.6.2；c）d）e）5.6.5校準(zhǔn)校準(zhǔn)是確定認可的數(shù)字記錄儀器刻度因數(shù)的推薦方法，也是核查數(shù)字記錄儀器所記錄的時間參數(shù)的推薦方法。實際值應(yīng)記錄在原始記錄中。在直流電壓和直流電流情況下，校準(zhǔn)信號的極性應(yīng)與被測信號的極性保持一致。（）。所記錄的相關(guān)頻率和時間參數(shù)應(yīng)與可溯源的參考值進行評估和比較。每個試驗所用的量程都應(yīng)進行校準(zhǔn)，可建立校準(zhǔn)曲線或刻度因數(shù)表來減小非線性變換特性的影響。775.5施加階躍信號的上升時間應(yīng)小于規(guī)定限值的20%（見條文6.2.5），測量輸出信號的上升時間為響應(yīng)曲線上穩(wěn)定幅值的10%和90%兩點的時間間隔。階躍信號的幅值應(yīng)為滿刻度偏轉(zhuǎn)值的(95±5)%。在工作范圍內(nèi)，上升時間應(yīng)在不少于5個等級下測量（各等級之間宜保持恒定間隔，如1、2、5、10序列）。注：由于試驗頻率通常低于400Hz，所以可以使用可產(chǎn)生幾kHz的標(biāo)準(zhǔn)波形發(fā)生器開展本試驗（見附錄D.1）。應(yīng)施加幅值在數(shù)字記錄儀器量程內(nèi)的直流電壓。應(yīng)以規(guī)定的采樣率進行足夠的記錄，以獲得至少10個樣本。這些樣本的標(biāo)準(zhǔn)偏差被作為內(nèi)部噪聲水平。附錄A給出了干擾試驗要求。在試驗過程中，讀數(shù)率應(yīng)足以捕捉到擊穿前的電壓，并達到所需的精度。注：讀取速率不是采樣率。GB/T16927.2GB/T16927.4、GB/T17627IEC61083-41)GB/T16927.2，GB/T17627和GB/T16927.45：；1%。此不確定度應(yīng)根據(jù)GB/T27418-2017評估。注：根據(jù)GB/T16927.2，GB/T17627和GB/T16927.4，數(shù)字化儀的不確定度評估值應(yīng)作為完整測量系統(tǒng)的一個不確定度來源。為保證滿足6.1給出的限值，單個參數(shù)性能通常應(yīng)滿足6.2給出的限值要求。某些情況下，在整體不確定度不超過6.1規(guī)定的前提下，單個或多個參數(shù)可超過限值要求。在規(guī)定的時間間隔和頻率范圍內(nèi)，刻度因數(shù)在±1%內(nèi)保持穩(wěn)定，且不確定度不超過1%。1) 正在起草中.IECACD61083-4:2022.88采樣率（見附錄D.NN為??/arcos(1。R1N31.kS/（f01.kS/s（f=60Hz??SR0.3%7284142S/s（f0，17.0S/s（f0（.）（見6.1??R1/(18?是不確定度不超過1%D.3。正常使用時內(nèi)部噪聲水平應(yīng)小于指定測量范圍下限值的0.1%。干擾（按附錄A中規(guī)定的干擾試驗基本幅值的最大偏轉(zhuǎn)幅度應(yīng)小于各試驗量程滿刻度偏轉(zhuǎn)的1%。注：應(yīng)按GB/T16927.2對于完整沖擊測量系統(tǒng)的要求開展干擾性能試驗。6.1驗流程見附錄C。注：當(dāng)動態(tài)積分非線性在滿刻度偏轉(zhuǎn)的±0.5%之內(nèi)，微分非線性在±0.8%??0之內(nèi)，滿足6.1條的要求。（.。GB/T16927.2GB/T16927.295%)：：.3；0.3%（。6.2的所有單項要求均適用，無其他單項要求。試驗數(shù)字記錄儀器的試驗要求如表2所示。校準(zhǔn)中使用的所有儀器應(yīng)直接或間接溯源至國家標(biāo)準(zhǔn)，同時應(yīng)記錄校準(zhǔn)流程。表2數(shù)字記錄儀器的試驗要求試驗項目合格/不合格試驗方法試驗要求試驗分類某個輸入范圍完整記錄每個輸入范圍完整記錄型式試驗例行試驗性能試驗性能校核動態(tài)積分和微分非×6.2.8×99線性a2續(xù)）試驗項目合格/不合格試驗方法試驗要求試驗分類某個輸入范圍完整記錄每個輸入范圍完整記錄型式試驗例行試驗性能試驗性能校核刻度因數(shù)（線性度）5.56.2.2×××上升時間（帶寬）×5.6.26.2.5×內(nèi)部噪聲水平×5.6.36.2.6×干擾（EMC）×5.6.46.2.7×讀取速率a5.6.5×2×a如適用。b本文件無特殊要求。對同一型號數(shù)字記錄儀器取一臺開展型式試驗。型式試驗由數(shù)字記錄儀器的制造商委托具有資質(zhì)的試驗機構(gòu)完成。如制造商沒有提供型式試驗結(jié)果，則使用者應(yīng)安排試驗進行設(shè)備檢驗。數(shù)字記錄儀器維修或改進后也需進行例行試驗。15年。每次性能試驗的數(shù)據(jù)和結(jié)果應(yīng)保存在性能記錄中。當(dāng)數(shù)字記錄儀器的性能校核表明其刻度因數(shù)的變化超過1%時，也需對其進行性能試驗。當(dāng)整個測量系統(tǒng)進行的性能校核表明指定的刻度因數(shù)發(fā)生了明顯變化，則需要對數(shù)字記錄儀器進行性能校核。性能校核應(yīng)對試驗中數(shù)字記錄儀器的每一項設(shè)置進行。本文件規(guī)定試驗中的不確定度值,GB/T16927.2和GB/T16927.4）GB/T16927.2GB/T16927.4）性能記錄應(yīng)包含以下信息（若適用）：標(biāo)識）；1010結(jié)果–/）注：測量儀器的性能記錄可以作為測量系統(tǒng)性能記錄的一部分。1111附 錄 A（規(guī)范性）高電壓大電流實驗室和試驗現(xiàn)場的電磁干擾下述對數(shù)字記錄儀器的要求和預(yù)防措施可降低這種干擾。電磁場直接透入數(shù)字記錄儀器產(chǎn)生的干擾，可通過將數(shù)字記錄儀器放置于對相關(guān)頻段具有足夠衰（（kHzMHz）（光信號傳輸可（模擬或數(shù)字）降低干擾，這種傳輸鏈路的特性應(yīng)滿足GB/T16927.2的要求。1000A/m。A.150ns0.5MHz12122ZU2ZU0Cl1RIl圖中：I為位于線路末端的數(shù)字記錄儀器Z為特征阻抗，C=20nF；l1=5m；l2=1m；電場試驗時，U0=40kV（R=Z）磁場試驗時，U0=100kV（R=0）A.1SF6/將分別顯示較短的上升時間（幾納秒）和較高的初始振蕩頻率（幾十兆赫）。數(shù)字記錄儀器在具有良好屏蔽的區(qū)域（如屏蔽控制室內(nèi)）工作時，則無需進行本試驗?？砂凑障铝蟹椒ㄗ⑷霚y量和控制電纜屏蔽層的電流，開展校核：IU0CS100A、1MHz10A10MHz~20MHzIU0CS圖中：S=測量分流器U0=充電電壓I=C=電容器A.21313附 錄 B（資料性）高電壓大電流實驗室和試驗現(xiàn)場的電磁干擾——數(shù)字記錄儀器的建議B.1判據(jù)A：在測試過程中和測試結(jié)束后，在規(guī)定范圍內(nèi)性能正常。注：性能正常包括在指定測量不確定度限值范圍內(nèi)正常運行和通訊。判據(jù)判據(jù)表B.1建議用于高電壓環(huán)境中的數(shù)字記錄儀器電磁干擾抗擾度水平端口現(xiàn)象基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)測試值性能判據(jù)外殼靜電放電GB/T17626.2(IEC61000-4-2,IDT)6kV(接觸)8kV(空氣)A輻射、射頻和電磁場GB/T17626.3(IEC61000-4-3,IDT)20V/m(80MHzto1GHz)A暫態(tài)感應(yīng)電磁場無標(biāo)準(zhǔn)參照附錄A描述參照附錄A評估A工頻磁場GB/T17626.8(IEC61000-4-8,IDT)30A/maA交流電源傳導(dǎo)干擾(電快速脈沖群)GB/T17626.4(IEC61000-4-4,IDT)4kV(5/50ns,5kHz)bA傳導(dǎo)干擾(浪涌)GB/T17626.5(IEC61000-4-5,IDT)2kV線-線4kV線-地A傳導(dǎo)干擾射頻電磁場感應(yīng)GB/T17626.6(IEC61000-4-6,IDT)10V(150kHz~80MHz)A電壓跌落抗擾度GB/T17626.11(IEC61000-4-11,IDT)0%(1循環(huán))40%(10/12循環(huán)c70%(25/30循環(huán)cA電壓短時中斷抗擾度GB/T17626.11(IEC61000-4-11,IDT)0%(250/300循環(huán))bC直流電源5傳導(dǎo)干擾（電快速脈沖群）GB/T17626.4(IEC61000-4-4,IDT)4kV(5/50ns,5kHz)bA傳導(dǎo)干擾（浪涌）GB/T17626.5(IEC61000-4-5,IDT)kV線-線kV線-地A傳導(dǎo)干擾射頻電磁場感應(yīng)GB/T17626.6(IEC61000-4-6,IDT)10V(150kHz~80MHz)A信號/控制線傳導(dǎo)干擾（電快速脈沖群）GB/T17626.4(IEC61000-4-4,IDT)2kV(5/50ns,5kHz)bB傳導(dǎo)干擾（浪涌）GB/T17626.5(IEC61000-4-5,IDT)2kV線-地d傳導(dǎo)干擾射頻電磁場感應(yīng)GB/T17626.6(IEC61000-4-6,IDT)10V(150kHz~80MHz)eA1414表B.1建議用于高電壓環(huán)境中的數(shù)字記錄儀器電磁干擾抗擾度水平（續(xù)）端口現(xiàn)象基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)測試值性能判據(jù)功能接地傳導(dǎo)干擾（電快速脈沖群）GB/T17626.4(IEC61000-4-4,IDT)4kVAa僅適用于含有易受磁場影響器件的設(shè)備。CRT顯示器干擾允許大于1A/m。b(5/50ns,5kHz)是指上升時間為5ns，脈沖持續(xù)時間為50ns(50%)，頻率為5kHz的脈沖。c40%(10/12循環(huán))1表示在50Hz下10周期或60Hz下12周期內(nèi)電壓跌落高達施加電壓的40%，25/30循環(huán)和250/300循環(huán)表示的意思類似。d僅適用于長距離線路（3.6e僅適用于線路大于3m。f未接入直流配電網(wǎng)的設(shè)備/系統(tǒng)部分之間的直流連接可被視為輸入/輸出信號/控制端口。1515輸入電壓輸入電壓(V)附 錄 C（資料性）采樣儀器幅值非線性的確定流程（0.1%（C.1C.2）。施加的正弦交流電壓信號的頻率是否滿足要求與所使用的數(shù)字記錄儀器的采樣率有關(guān)，需要確保50kS/s45Hz50Hz。記錄定義的交流電壓的周期數(shù)（如1000個周期）。統(tǒng)計每個數(shù)碼的出現(xiàn)次數(shù)（w(k)的采樣率），并與w(k)的采樣率的理論值進行比較（參見圖C.3和C.4）。將每個數(shù)碼的采樣率除以記錄的周期數(shù)（例如1000個周期）。如果計算采樣率與理論采樣率的差值除以理論采樣率的絕對值小于0.8%，則認為數(shù)字記錄儀通過測試。微分非線性可按3.4.6節(jié)計算。k積分非線性可按微分非線性的試驗結(jié)果計算：kskdii0如上面公式所示，積分非線性可通過求微分非線性的和來得到。4位4位A/D10正弦ADC輸出86420–2–4–6–8–1002468 10 12 14 16 18 20時間(ms)C.14位A/D1616輸出數(shù)碼速率（輸出數(shù)碼速率（1024個采樣點）速率1601401201008060402000 5 10 15數(shù)碼C.24位A/D4位A/D4位A/D105正弦ADC輸出0–5–100 2468 10 12 14 16 18 20時間(ms)轉(zhuǎn)換功能50–5理想非線性–10 –8 –6 –4 –20 2輸入電壓46810輸入電壓(V)輸出數(shù)碼圖C.3對理想的正弦波信號進行非理想測量時的示例輸出數(shù)碼1717輸出數(shù)碼速率(1024輸出數(shù)碼速率(1024個采樣點)250理想200非線性150100500–10 –8–6 –4–202468數(shù)碼非線性速率和理想速率的偏差6040200–20–40–10 –8–6–4–202468數(shù)碼速率偏差(%)圖C.4積分非線性產(chǎn)生的差異的示例偏差(%)1818

附 錄 D（）電源頻率為50/60Hz或直流數(shù)字記錄儀器進行例行試驗時的特性需滿足GB/T16927.1和GB/T16927.2D數(shù)字記錄儀器用于交流或直流高電壓測量時的可能應(yīng)用場景包括：）15據(jù)的便捷方法，以證明試驗穩(wěn)定性或記錄閃絡(luò)前的臨界值。GB/T16927.1和GB/T16927.21；60。GB/T16927.1和GB/T16927.2對交流試驗，瞬時電壓跌落可以持續(xù)幾個周期，電源應(yīng)能將暫態(tài)電壓跌落限制在小于20%；對直流試驗，瞬時電壓跌落可以持續(xù)數(shù)秒，電源應(yīng)能將暫態(tài)電壓跌落限制在小于10%。為試驗確定絕緣自恢復(fù)的閃絡(luò)電壓值，需要電壓測量系統(tǒng)能夠記錄閃絡(luò)前的瞬時電壓值。除上述功能要求外，特殊短路試驗可能對數(shù)字記錄儀器提出額外的要求。背景高壓試驗期間電壓跌落或不穩(wěn)定的原因包括：輸入電源的變化：電源電壓的變化可瞬間提升或降低輸出電壓。試驗對象負載阻抗的變化：如果試驗對象變得具有一定的導(dǎo)電性，其負載的等效阻抗將發(fā)生變化。如果試驗電源不夠穩(wěn)定，則負載阻抗的變化可能引起輸出電壓的變化。（（60Hz,）額定分辨率：≥8bits(1/256)采樣率：≥1kS/s記錄長度：1分鐘測試：≥60kS；5≥300kS；60≥1MS。（）額定分辨率：＞8bits(1/256)；1919采樣率：＞1kS/s；記錄長度：1分鐘試驗：≥60kS；5≥300kS；60≥1MS。額定分辨率：≥10bits(1/1024)采樣率：參照6.2.3記錄長度：≥1MS（由采樣率和記錄時間決定）參見表D.1。D.1被測量測試曲線IEC61083-4中的規(guī)定相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)測量的典型結(jié)果特殊要求交流電壓范例:ACV-A4注：也適用于直流電流GB/T16927.1GB/T16927.3GB/T17627GB/T16927.4+Up/√2-Up/√2URMSURMS(AC)（含交流耦合THD（總諧波失真度）頻率試驗持續(xù)時間電壓變化達到10%/s（上升/下降）電壓跌落達到20%單次諧波的峰值（3、5、7、9次）無標(biāo)準(zhǔn)值要求數(shù)字記錄儀器交流擊穿電壓范例：ACVE-A1(包絡(luò))ACVE-A1ACVE-A2GB/T16927.1IEC602