DB52T 930-2014 CFF3216 型片式熔斷器

31DB52

52/T

930CFF3216

型片式熔斷器

貴州省質量技術監(jiān)督局

DB52/T

2014目 次前言

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II

范圍

..............................................................................

規(guī)范性引用文件

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術語和定義

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技術要求

..........................................................................

試驗方法

..........................................................................

檢驗規(guī)則

..........................................................................

產品命名

.........................................................................

10

包裝、標志、運輸、貯存

...........................................................

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2014前 言本標準按照GB/T

1.1-2009

IIDB52/T

2014CFF3216

型片式熔斷器

GB

191 GB

6543 GB

9364.1-1997

GB

9364.4-2006

GB/T

2423.60-2008

電工電子產品環(huán)境試驗

第2部分：試驗方法

試驗U：引出端及整體安裝件強

IEC

268-3:2007

第3部分

GB

9364.1和GB

CFF

3216型片式熔斷器的結構應符合圖1規(guī)定。

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2014L——

CFF

額定電流范圍在0.25

A～3

V。額定電流范圍在3.5

V。

額定分斷能力為50

A。

工作溫度范圍：-55

℃；貯存溫度范圍：-55

℃。

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20141200080604020-5 35-15 25 45 658510 25 150

熔斷器應按

5.5

3。

熔斷器應按5.6的規(guī)定試驗時，測得熔斷器0.25

A～4.5

A規(guī)格電流溫升不應超過85

℃，5A以上規(guī)格電流（包括5

℃。最大持續(xù)功耗

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2014

熔斷器應按5.7的規(guī)定試驗時，獲得的測量值計算出的最大持續(xù)功耗，見表4。

a)

b)

0.1

4.13 熔化。

4.15可焊性

％。φ2.54b3310DB52/T

2014φ2.54b3310

a)電阻表的精度

0.03

b)

相對濕度為45

%；

kPa～106

5.4

6。

φ

4.2a1

00

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2014

9364.1-1997中9.1條的規(guī)定方法進行。

試驗方法：在室溫下，熔斷器應通額定電流至少保持30分鐘，對熔斷器溫度進行測量。

9364.1-1997中9.5條的方法進行。

試驗方法：按GB

In、

9364.4-2006中9.3條的方法進行。

5.13

9364.1-1997中8.5條的方法進行。

9364.1-1997中6.2條的方法進行。5.15 可焊性

1組6只

2組

3只

3只3組3只3只3只DB52/T

2014

a) b) c)d)

e)f)

3組3只3只4組6只3只3只A組

抽樣方案

B組

抽樣方案

抽樣方案

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2014

出廠檢驗項目按表8

6只

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2014

a

周期檢驗應由C組檢驗組成。除非這些檢驗的結果表明不符合有關要求，已通過A組和B組檢驗的產

C組檢驗應由表10中規(guī)定的檢驗項目組成，并按每分組所示順序進行。除非訂貨方認為從現(xiàn)行生產的產品中抽取樣品更切合實際。C組檢驗應在已通過A組和B組檢驗批中抽取的樣本單位上進行?？墒褂弥圃鞆S的正常質量控制試驗、生產試驗、環(huán)境試驗等來滿足全部或部分C組檢驗；但是應完成全部規(guī)定的C組檢驗。

3只3只

3只3只3只3只3只DB52/T

2014表10

（續(xù)）表10

（續(xù)）產品命名如圖4所示。

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