（團標）光纖微彎損耗測試方法

T/CCSAXXXX—XXXX III 1 1 1 1 1 2 2 25.3通用試驗條件 2 3 3 46.3試驗程序 46.4結果報告 5 6 6 67.3試驗程序 87.4結果報告 8 9 11 13T/CCSAXXXX—XXXX本文件按照GB/T1.1—2020《標準化工作導則第1部分：標準化文件的結構和起草規(guī)則》的規(guī)定本文件在起草時參考了IEC/TR62221:2012《光纖-測試方法-微彎敏感性》。請注意本文件的某些內容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機構不承擔識別專利的責任。技有限公司、江蘇南方通信科技有限公司、富通集團有永濤、趙建東、賀作為、李春生、王小泉、吳磊、許江波、華金婷、吳海港、張立巖、T/CCSAXXXX—XXXX1團體標準”，推薦有關方面采用。有關對本標準纖；光纜生產過程工藝不合理等。在上述場T/CCSAXXXX—XXXX1光纖微彎損耗測試方法本文件適用于B類單模光纖及A1類多模光纖微彎損耗的測試。其中方法B1和B2也可用于光纖帶的微彎損耗測試，方法B1也可用于不同溫度下（包括溫度循環(huán)）GB/T5330.1-2012工業(yè)用金屬絲篩網和金屬絲編織網網孔尺寸與金屬絲直徑組合選擇指南第1GB/T9258.1-2000涂附磨具用磨料粒度分析第1部分:GB/T9258.2-2008涂附磨具用磨料粒度分析第2部分:粗磨粒P12～P220粒度組成GB/T9258.3-2017涂附磨具用磨料粒度分析第3部分:微粉P240～P2500粒度組成GB/T15972.10光纖試驗方法規(guī)范第10部分:測量方法和試驗程序總則（GB/T15972.10-2021,IEC60793-1-1:衰減（GB/T15972.40-2008,IEC60793-1-40:YD/T629.1-2022光纖傳輸衰減變化的監(jiān)測方法第1部分：傳輸功率YD/T629.2-2022光纖傳輸衰減變化的監(jiān)測方法第2部分：后向散射formeasuringmultimodea下列術語和定義適用于本文件。下列術語和3.1光纖微彎opticalfibermicrobending因為與光纖表面相接觸的物體的不規(guī)則性，或者光纖所些隨機的、曲率半徑與光纖的橫截面尺寸相比擬的微小畸變，因而產生的急劇的局部彎曲。通為光纖芯層以微米級偏離光纖軸或產生小于毫3.2光纖微彎損耗opticalfibermicrobendingloss4微彎損耗的通用特性T/CCSAXXXX—XXXX2有可能是由于在光纖光纜制造和安裝過程中的應變，以及由于溫度變化導致的光纜材料的尺寸變化而層結構和涂覆層材料的性能也可能對微彎性能造成一定的單模光纖中，微彎效應在1310nm、1550nm和1625nm波長處會有不同程度的表現，而單模光纖中的宏彎效應則在較長波長（如1550nm和1625nm）更為明顯。對于A1范圍內（例如850nm～1320nm）通常表現得幾乎相同。——方法C：平板法。其中又分為方法C2刻槽壓板法和方法C3雙槽底一步細分為B1、B2、C2和C3。本文件5.2定性說明每種測試方法，在同一實驗室、同一試驗條件下，均可評估不同光纖的微彎敏感性差異,或用于趨5.3通用試驗條件對于A1類多模光纖，應依據IEC62614考慮必要的注入條件。注入到多模光纖受試部分的模式應為不同方法要求的樣品長度不一樣。典型的試樣最短受試長度宜為表1所示。樣品長度應大于受試長22 T/CCSAXXXX—XXXX3a受試長度是指后向散射法中OTDR測試光標間距，受試長度應從產生微彎的光纖段中方法B中復繞張力需注意控制并對其進行校準。對于涂覆層標稱直徑250μm的光纖，加損耗可能在1N～3N張力范圍呈現一種合理1N。多模光纖可能需要較低的復繞張力值，彎曲不敏感光纖可能需要較高的復繞張力值,對于小尺寸光測試的結果對復繞張力非常敏感，對復繞張力大小的控制及校準是實現同一實驗室在不同時間和對于其他的機械釋放問題，例如光纖存儲的溫濕度環(huán)境和復繞/測試條件不同，對這些條件需要進行描述和記錄。在微彎測試中，溫度循環(huán)是本文件中的方法B2可以使用復繞光纖或光纖帶所用的無緩沖泡棉覆蓋光潔無污染，無肉眼可見的雜點、裂痕和刮傷。注：預處理、復繞和測量環(huán)境（溫度和相對濕度）會對結果有明顯影響。因此，應嚴格遵循對各步驟環(huán)境的要求，用砂紙或金屬網包覆圓筒（典型如石英筒）T/CCSAXXXX—XXXX4用金屬網包覆光纖或者光纖帶盤具進行光纖微彎損耗測試的固定直徑12136.3試驗程序T/CCSAXXXX—XXXX5b)復繞速度：宜為50m/min，也可使用根據固定直徑圓筒法的復繞測試長度，分別設定圓筒上合適的零在OTDR上選擇合適的開始點（A點）和結束點（B點），采用LSA（最小二乘法）方法測試單模光纖測試波長為：1310nm、1550注：也可采用傳輸功率監(jiān)測法。將待測光纖盤具放置于放線滾軸上，將光纖盤的外端光纖小心地穿過復繞機飛輪/跳線輪，到達固果的衰減系數或衰減值，最后計算每個波長三次單模光纖測試波長為：1310nm、1550如需進行環(huán)境條件的光纖微彎損耗測試，可在復繞后將復繞光纖的圓筒置于環(huán)境試驗箱進行環(huán)境根據6.3.3.2和6.3.3.4計算出復繞前后光纖微彎的附c)繞在被包覆圓筒上的受試長度（復繞長度T/CCSAXXXX—XXXX644h)試驗日期和操作人員；）；1223775869T/CCSAXXXX—XXXX7光纖通過光纖限位槽大圈環(huán)回放置，為避免產生宏彎，環(huán)回圈半徑宜不小于部與底板水平且保證塞規(guī)放置位置不變，塞規(guī)最小步長宜為0.0111437256標引序號說明：1—壓塊G；2—金屬棒；3—金屬底板；4—V形參考表4頂板光滑且水平，使用限位柱、限位孔使頂板與部應水平或低于V形槽最底端，以使金屬棒能自由下壓光纖產生微彎，棒限位槽的寬度應與金屬棒直徑加負荷以引起附加微彎損耗，也可采用一臺可控的裝載設備實現需要的其余裝置包括：光纖限位槽、光纖放置以及塞規(guī)限位柱與7.2.1.T/CCSAXXXX—XXXX8d)衰減測量按YD/T629.1-2022中傳輸b)將被測光纖兩端連接穩(wěn)定光源及光功率計；f)將帶齒頂板或平滑壓塊的限位孔對準限位柱平穩(wěn)放置，宜靜置60s后記錄此時的光變化。（該數據可用于確定試驗是否有任何永久性）～注2：幾乎所有的光纖都有涂覆層的弛豫效應，大多數取決于一次涂覆二），h)環(huán)境溫度和相對濕度。T/CCSAXXXX—XXXX9法ABCDB類及A1類B類及A1類用于不同溫度環(huán)境（溫度循用于低熱膨脹材質B類及A1類B類及A1類B類及A1類于在大范圍的施加線性壓力或負載下測量微彎B類及A1類于在大范圍的施加線性壓力或負載下測量微彎B類及A1類光纖傳輸功率監(jiān)測注1：本文件未采用IEC/TR62221:2012中的方法A、C、D。本文件中的方法B1對應I注2：根據IEC/TR62221:2012中公式（4）或（6）計算微IEC/TR62221:2012主要描述了用于測試光纖微彎敏感性的4種方法（A、B、C和D）T/CCSA