關(guān)于測(cè)井曲線的質(zhì)量控制

關(guān)于測(cè)井曲線的質(zhì)量控制1、關(guān)于測(cè)井曲線的質(zhì)量控制4單條曲線質(zhì)量要求4.1井眼物性測(cè)井4.1.1流體電阻率值應(yīng)隨井深增加而逐漸降低，一般不應(yīng)有突變現(xiàn)象（當(dāng)井下地層出水或井漏等例外）。4.1.2流體電阻率曲線讀數(shù)與泥漿罐測(cè)得的泥漿電阻率換算到同一深度下的電阻率值相差不得大于10%。4.1.3流體井溫在井口的讀值與實(shí)際溫度相差不得超過(guò)1.50℃。4.1.4重復(fù)曲線：流體電阻率為讀值的10%；流體壓力為全刻度的1.8%；井溫為全刻度的1%。4.2自然伽馬測(cè)井、高溫小井眼自然伽馬測(cè)井4.2.1曲線變化正常，能正確地反映巖性剖面變化，與已知巖性的數(shù)值符合。4.2.2重復(fù)曲線與主曲線對(duì)比形狀基本相同，相對(duì)誤差小于5%。4.2.3統(tǒng)計(jì)起伏相對(duì)誤差小于3%。4.3雙側(cè)向測(cè)井、高溫小井眼雙側(cè)向測(cè)井4.3.1上井前，檢查儀器車(chē)間刻度卡片。測(cè)前、測(cè)后刻度值相對(duì)誤差應(yīng)在5%以?xún)?nèi)。4.3.2在儀器的動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)，砂泥巖剖面地層厚度大于2m的標(biāo)志層，測(cè)井曲線在井眼規(guī)則井段應(yīng)符合以下規(guī)律：a)在泥巖層或其它非滲透層段，雙側(cè)向曲線基本重合；b)當(dāng)鉆井液濾液電阻率(Rmf)小于地層水電阻率(Rw)時(shí)，深側(cè)向測(cè)量值應(yīng)大于淺側(cè)向測(cè)量值（有侵入情況下）；c)當(dāng)鉆井液濾液電阻率(Rmf)大于地層水電阻率(Rw)時(shí)，水層的深側(cè)向測(cè)量值應(yīng)小于淺側(cè)向測(cè)量值，油層的深側(cè)向測(cè)量值應(yīng)大于或等于淺側(cè)向測(cè)量值（有侵入情況下）；d)在稠油層，無(wú)鉆井濾液侵入時(shí)，雙側(cè)向測(cè)量值應(yīng)基本重合。4.3.3儀器進(jìn)套管后，雙側(cè)向測(cè)量值應(yīng)回零。4.3.4已知巖性地層讀數(shù)與本地區(qū)經(jīng)驗(yàn)值相符合。4.3.5重復(fù)曲線與主曲線形狀一致，相對(duì)誤差小于5%。4.3.6在儀器動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)，測(cè)井曲線無(wú)飽和現(xiàn)象。4.4高溫小井眼雙感應(yīng)測(cè)井4.4.1在儀器的動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)，對(duì)砂泥巖剖面地層，在井眼規(guī)則井段，測(cè)量值符合以下規(guī)律：a)在泥巖層或非滲透層段，雙感應(yīng)-短電位曲線基本重合；b)當(dāng)Rmf<rw時(shí)，油層、水層的雙感應(yīng)-短電位均呈低侵特征（有侵入情況下）；<p="">c)當(dāng)Rmf>Rw時(shí)，水層的雙感應(yīng)-短電位呈高侵特征，油層的雙感應(yīng)-短電位呈低侵或無(wú)侵特征（有侵入情況下）。4.4.2除高、低電阻率薄互層或受井眼及井下金屬物影響引起異常外，曲線應(yīng)平滑無(wú)跳動(dòng)，在儀器動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)，不得出現(xiàn)飽和現(xiàn)象。4.4.3已知巖性地層讀數(shù)與本地區(qū)經(jīng)驗(yàn)值相符合。4.4.4在1～100ohm.m范圍內(nèi)，重復(fù)曲線形狀一致，相對(duì)誤差應(yīng)在5%以?xún)?nèi)。在0.2～1ohm.m范圍內(nèi)，重復(fù)曲線相對(duì)誤差應(yīng)在10%以?xún)?nèi)。4.5高分辨率感應(yīng)測(cè)井4.5.1進(jìn)行車(chē)間刻度周期為測(cè)15口井或三個(gè)月。4.5.2在井眼規(guī)則處，在泥巖層或非滲透層段，高分辨率感應(yīng)-數(shù)字聚焦測(cè)井三電阻率曲線應(yīng)基本重合。在滲透層段(有侵入情況下)，測(cè)井?dāng)?shù)值符合以下規(guī)律：a)當(dāng)Rmf<rw時(shí)，水層的深探測(cè)電阻率大于中探測(cè)電阻率，中探測(cè)電阻率大于淺探測(cè)電阻率；<p="">b)當(dāng)Rmf>Rw時(shí)，侵入關(guān)系則與a）相反；c)在油層段，淺探測(cè)電阻率小于中探測(cè)電阻率，中探測(cè)電阻率小于深探測(cè)電阻率。4.5.3重復(fù)曲線與主曲線形狀一致，在儀器的動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)，測(cè)量值相對(duì)誤差小于5%。4.6自然電位測(cè)井4.6.1自然電位基線穩(wěn)定，每100m偏移不超過(guò)10mV，曲線無(wú)干擾和其它異常現(xiàn)象，磁化干擾幅度不大于2mV。4.6.2重復(fù)曲線形狀一致，幅度相對(duì)誤差小于5%。4.7微球形聚焦測(cè)井、微電極測(cè)井4.7.1上井前，檢查車(chē)間刻度卡片。測(cè)前、測(cè)后檢定值與標(biāo)準(zhǔn)刻度值相對(duì)誤差應(yīng)在5%以?xún)?nèi)。4.7.2在井眼規(guī)則井段，測(cè)量值符合以下規(guī)律：a)泥巖層微球形聚焦測(cè)井曲線與雙側(cè)向測(cè)井曲線應(yīng)基本重合，微電位與微梯度曲線應(yīng)基本重合；b)其它非滲透層段，微球形聚焦測(cè)井曲線形狀與雙側(cè)向或雙感應(yīng)測(cè)井相似，測(cè)量值相近，垂直分辨率應(yīng)明顯高于雙側(cè)向測(cè)井；c)在滲透層段應(yīng)基本反映沖洗帶電阻率的變化。在淡水鉆井液條件下，滲透層段微電位與微梯度曲線應(yīng)有明顯正幅度差，厚度大于0.3m厚的夾層應(yīng)顯示清楚。4.7.3在儀器動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)，測(cè)井曲線無(wú)飽和現(xiàn)象。4.7.4重復(fù)曲線在井壁規(guī)則的滲透層段形狀與主曲線應(yīng)相似，測(cè)量值相對(duì)誤差應(yīng)在10%以?xún)?nèi)。4.7.5儀器進(jìn)套管后,測(cè)量值應(yīng)回零。4.8全波列聲波測(cè)井、高溫小井眼全波列聲波測(cè)井4.8.1測(cè)井前后應(yīng)分別在無(wú)水泥粘附的套管中測(cè)量至少15m時(shí)差曲線，測(cè)量值為57±2μs/ft4.8.2聲波時(shí)差曲線與體積密度、補(bǔ)償中子測(cè)井有相關(guān)性，在滲透層段所計(jì)算的地層孔隙度與體積密度、補(bǔ)償中子計(jì)算的地層孔隙度基本一致。4.8.3聲波時(shí)差重復(fù)曲線或重復(fù)接圖曲線形狀相同，在井眼規(guī)則處重復(fù)誤差在±2μs/ft以?xún)?nèi)。4.8.4聲波時(shí)差曲線應(yīng)符合地區(qū)規(guī)律，其測(cè)量值不得低于巖石的骨架值，且不得大于流體的時(shí)差值。若在滲透層發(fā)現(xiàn)測(cè)量值偏大或周波跳躍，應(yīng)測(cè)重復(fù)曲線予以證實(shí)。4.8.5波列記錄齊全可辨認(rèn)，曲線幅度變化正常，峰值無(wú)平頂。4.8.6變密度顯示對(duì)比度清晰、適中、明暗變化正常。4.9譜密度測(cè)井、高溫小井眼譜密度測(cè)井4.9.1檢查儀器車(chē)間刻度值。4.9.2測(cè)井前、后檢查儀器檢定值，刻度誤差容限見(jiàn)表1。4.9.3特殊巖性數(shù)值吻合。與其它孔隙度曲線變化相對(duì)應(yīng)，密度孔隙度數(shù)值與中子、聲波孔隙度相比較符合一般規(guī)律。4.9.4鉆井液中重晶石含量小于7%時(shí)，光電吸收截面指數(shù)可用于巖性劃分。4.9.5除鉆井液中加重晶石或地層為煤層、黃鐵礦層外，密度補(bǔ)償值應(yīng)為零或小的正值。4.9.6在井眼擴(kuò)徑大處△ρ＞0；在井眼規(guī)則處（泥漿不含重晶石）△ρ接近零。4.9.7重復(fù)曲線、重復(fù)測(cè)井接圖與主曲線對(duì)比形狀基本相同。在井眼規(guī)則處重復(fù)性良好，重復(fù)誤差絕對(duì)值小于0.03g/cm3，光電吸收截面指數(shù)誤差絕對(duì)值小于0.46b/eV。4.10雙源距中子測(cè)井、高溫小井眼雙源距中子測(cè)井4.10.1按刻度規(guī)范定期檢查儀器車(chē)間刻度值及基本檢定值?？潭日`差容限見(jiàn)表2。4.10.2所測(cè)地層孔隙度與其它孔隙度測(cè)井計(jì)算的地層孔隙度值有相關(guān)性。4.10.3在致密的碳酸鹽巖地層，測(cè)井值應(yīng)與巖石骨架值相吻合。4.10.4重復(fù)曲線、重復(fù)測(cè)井接圖與主曲線對(duì)比形狀基本相同。井眼規(guī)則處，當(dāng)測(cè)量孔隙度大于7P.U時(shí)，重復(fù)誤差容限為測(cè)量值的7%；當(dāng)測(cè)量孔隙度不大于7P.U時(shí)，重復(fù)誤差容限為±0.5P.U。4.11補(bǔ)償自然伽馬能譜測(cè)井4.11.1能譜所測(cè)自然伽馬曲線與其它自然伽馬曲線基本一致。4.11.2總自然伽馬的重復(fù)性、統(tǒng)計(jì)起伏誤差值與其它自然伽馬相同。釷和鈾的重復(fù)誤差在±1.5×10-6以?xún)?nèi)，鉀的重復(fù)誤差在10%以?xún)?nèi)。4.11.3釷、鈾、鉀數(shù)值符合地區(qū)一般規(guī)律。4.12高溫小井眼套管接箍定位測(cè)井4.12.1磁性定位曲線必須連續(xù)記錄，曲線變化顯示清楚，干擾信號(hào)幅度小于接箍信號(hào)幅度的1/3。4.12.2接箍信號(hào)峰幅度清晰可辯，且不能出現(xiàn)畸形峰。4.12.3目的層段不得缺失接箍信號(hào)，非目的層段不得連續(xù)缺失兩個(gè)以上接箍信號(hào)。4.13高溫小井眼井徑測(cè)井4.13.1測(cè)井徑曲線不允許停車(chē)對(duì)套管，特殊情況應(yīng)說(shuō)明其原因。進(jìn)入套管后的測(cè)量長(zhǎng)度必須超過(guò)10m，且井徑曲線平直穩(wěn)定，測(cè)量值與套管標(biāo)稱(chēng)值誤差應(yīng)在±1.5cm以?xún)?nèi)。4.13.2滲透層井徑數(shù)值一般應(yīng)接近或略小于鉆頭直徑值。4.13.3井徑曲線值符合儀器測(cè)量范圍，伸開(kāi)、合攏時(shí)的最大、最小值對(duì)應(yīng)實(shí)際值的誤差應(yīng)在10%以?xún)?nèi)。4.13.4同次測(cè)井井徑曲線形狀應(yīng)相似，測(cè)量值相對(duì)誤差應(yīng)在10%以?xún)?nèi)。4.14電成像測(cè)井4.14.1測(cè)井前檢查井斜角、方位角及相對(duì)方位角變化數(shù)值是否靈敏。4.14.2測(cè)井前檢查六臂傾角井徑刻度值，測(cè)后用套管值檢查井徑讀數(shù)。4.14.3測(cè)井前檢查垂直懸掛在井架上的儀器偏斜、旋轉(zhuǎn)記錄。4.14.4測(cè)井時(shí)極板壓力適當(dāng)，微電阻率曲線峰值明顯。4.14.5微電阻率曲線變化正常，有相關(guān)性，不得出現(xiàn)臺(tái)階和負(fù)值。4.14.6井斜角、井斜方位無(wú)負(fù)值，曲線變化正常。4.14.7在12m井段內(nèi)，1號(hào)極板方位角變化不得大于360o。4.14.8三井徑曲線變化正常，在套管內(nèi)三條井徑曲線應(yīng)基本重合。4.14.9測(cè)井曲線重復(fù)允許誤差要求：井斜方位±10o，井斜角±0.4o，井徑±0.1in。當(dāng)井斜角小于0.5o時(shí)，井斜方位重復(fù)允許誤差可不要求。4.15環(huán)井周聲波成像測(cè)井4.15.1測(cè)前檢查垂直懸掛在井架上的儀器偏斜、旋轉(zhuǎn)值。4.15.2振幅、傳播時(shí)間成像清晰，能正確反映井眼表面的實(shí)際特征。4.15.3振幅成像圖與傳播時(shí)間成像圖應(yīng)有一致性。4.15.4聲波成像測(cè)井圖深度比例通常使用1：20。4.15.5使用環(huán)井周聲波測(cè)井資料時(shí)，要盡力排除非地層因素的影響。4.15.6井斜角、井斜方位的重復(fù)允許誤差要求參照4.14.9的規(guī)定執(zhí)行。4.16核磁共振成像測(cè)井4.16.1測(cè)量模式在原圖上標(biāo)注清楚。4.16.2同次測(cè)井曲線補(bǔ)接時(shí)，在補(bǔ)接處必須重復(fù)測(cè)量25m以上。4.16.3測(cè)量原圖上，包括GR、PHIT（總孔隙度）、MPHI（有效孔隙度）、MBVI（毛管束縛流體體積）、PERM（滲透率）、ECHO-AMP（回波幅度）、TP-SPECTRA（T2分布譜）、TENSION（電纜張力）等曲線及GAIN（增益）、CHI（回波串?dāng)M合度）、SPEED（測(cè)速）等質(zhì)量控制曲線。4.16.4在正式測(cè)量之前，在測(cè)量井段頂部選擇典型的滲透層測(cè)量25m以上重復(fù)曲線。當(dāng)?shù)貙涌紫抖却笥诨虻扔?5%時(shí)，孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量值的相對(duì)誤差小于10%；當(dāng)?shù)貙涌紫抖刃∮?5%時(shí)，孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量的誤差為1.5孔隙度單位。4.16.5回波串的擬合度（CHI）曲線應(yīng)平滑，數(shù)值小于2。4.16.6增益（GAIN）曲線應(yīng)平滑且無(wú)噪聲干擾。增益應(yīng)隨泥漿電阻率減小而增大，隨井徑的增大而增大。?????4.16.7測(cè)量曲線應(yīng)與地層規(guī)律相吻合，有關(guān)孔隙度的響應(yīng)信息如下：a)有效孔隙度（MPHI）小于總孔隙度（PHIT），只有在單一巖性的地層中有效孔隙度等于總孔隙度；b)單一巖性水層中，有效孔