(高清版)GBT 20833.1-2021 旋轉(zhuǎn)電機 繞組絕緣 第1部分：離線局部放電測量

旋轉(zhuǎn)電機繞組絕緣Off-linepartialdischargemeasurementsont國家標準化管理委員會國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布國家標準化管理委員會IGB/T20833.1—2021/IEC6 Ⅲ V 12規(guī)范性引用文件 13術(shù)語和定義 2 3 6 87試驗回路 8測量標準化 9試驗規(guī)程 23附錄A(資料性附錄)試驗頻率的參數(shù)對試驗過程的影響 25附錄B(資料性附錄)確定局部放電幅值的其他方法 26附錄C(資料性附錄)其他離線局部放電檢測和離線定位的方法 29附錄D(資料性附錄)外部噪聲、干擾和靈敏度 附錄E(資料性附錄)噪聲抑制方法 附錄F(資料性附錄)局部放電數(shù)據(jù)和相位可辨識的局部放電圖的評價 附錄G(資料性附錄)完整繞組試驗電路 附錄H(資料性附錄)寬帶和窄帶測量系統(tǒng) 7圖2局部放電量與測量電壓的函數(shù)關(guān)系Q=f(U/Umax) 8 9圖4符合IEC60270的基本試驗回路 圖5完整繞組局部放電測量的試驗回路 圖6S1.1試驗回路的標準化 圖8局部放電源的辨識和定位示例 圖B.2A/D轉(zhuǎn)換精度的影響及Q.的計算實例 ⅡGB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1:2017圖D.1多個電流分量對試品再充電 圖E.1無相位窗遮蔽 圖E.2有相位窗遮蔽 圖E.3通過測量裝置的脈沖電流 圖E.5抑制交叉噪聲示例 圖F.1局部放電圖示例 圖G.1星形和三角形連接的說明圖，參見7.3 42圖H.1寬帶和窄帶局部放電系統(tǒng)的典型脈沖響應(yīng) 表1開路星形點連接圖S1 表3開路星形點連接圖E1 表4閉路星形點連接圖E2 表5在高壓測量的開路星點連接I1 表6在星點測量的開路星點連接I2 25表F.1旋轉(zhuǎn)電機中主要局部放電源相關(guān)的危險性 40Ⅲ 本部分代替GB/T20833.1—2016《旋轉(zhuǎn)電機旋轉(zhuǎn)電機定子繞組絕緣第1部分：離線局部放電高電壓試驗技術(shù)第2部分：測量系統(tǒng)(IEC60060-2:2010,MOD);旋轉(zhuǎn)電機絕緣結(jié)構(gòu)功能性評定成型繞組試驗規(guī)程電壓耐久性 ——GB/T20833.2—2016旋轉(zhuǎn)電機旋轉(zhuǎn)電機定子繞組絕緣第2部分：在線局部放電測量(IEC/TS60034-27-2:2012,IDT);——GB/T20833.4—2021旋轉(zhuǎn)電機繞組絕緣第4部分：絕緣電阻和極化指數(shù)測量(IEC60034-27-4:2018,IDT)。VGB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1分僅限于離線測量技術(shù)?？紤]到該方法對于PD測試領(lǐng)域中的非專業(yè)人士的可用性，有必要對其充分受測量頻率帶寬或降噪算法的影響，各類測量系統(tǒng)將PD信號從噪音中分離所采用的軟硬件是有差異的。局部放電測量方法中將已測到的PD信號再轉(zhuǎn)化為等效電荷的環(huán)節(jié)所采用的標準化測量校準設(shè)備溫濕度和試樣的裝配對PD結(jié)果影響較大。對于定子繞組而言，局部放電脈沖在傳播過程中的衰1IEC60034-18-32旋轉(zhuǎn)電機第18-32部分：絕緣結(jié)構(gòu)功能性評定成型繞組試驗規(guī)程電壓耐久性評定(Rotatingelectricalmachines—ParTestproceduresforform-w結(jié)構(gòu)(Ⅱ型)鑒定試驗[Rotatingelectricalmachines—Part18-42:ParIECTS60034-27-2旋轉(zhuǎn)電機第27-2部分：旋轉(zhuǎn)電機定子繞組絕緣在線局部放電測量(RotatingelectricalmachininginsulationofrotatingelectricaIEC60034-27-4旋轉(zhuǎn)電機第27-4部分：旋轉(zhuǎn)電機繞組絕緣的絕緣電阻和極化指數(shù)測量2GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1:2017(Rotatingelectricalmachines—Part27-4:Measurementofinsulationresistanceandpolarizationindexofwindinginsulationofrotatingelectricalmachines)IEC60060-1高電壓試驗技術(shù)第1部分：一般定義和試驗要求(High-voltagetesttechniques—IEC60060-2高電壓試驗技術(shù)第2部分：測量系統(tǒng)(High-voltagetesttechniques—Part2:IEC60270:2000高電壓試驗技術(shù)局部放電測量(High-voltagetesttechniques—Partialdis-端部防暈層stresscontrolco在高壓定子線棒和線圈中，從槽部防暈層延伸出的主絕緣表面上的漆或帶，槽部防暈層conductiveslotcoating3脈沖幅值分布pulsemagnitudedistribution在預(yù)先設(shè)定的測量時間內(nèi)，一系列脈沖幅值等間距窗口內(nèi)的脈沖數(shù)目。在預(yù)先設(shè)定的測量時間內(nèi)，一系列脈沖相位等間距窗口內(nèi)的脈沖數(shù)目。局部放電幅值與交流周期相位的脈沖矩陣圖，表征在預(yù)先設(shè)定的測量時間內(nèi)的局部放電現(xiàn)象。通常是有源或者無源的四端網(wǎng)絡(luò)，把輸入電流轉(zhuǎn)換成輸出的電壓信號。局部放電耦合單元PDcouplingunit一個低感高壓耦合電容和一個低壓耦合裝置串聯(lián)而成。與每秒10個脈沖的局部放電脈沖重復(fù)率相關(guān)的最大幅值，它可以直接從脈沖幅值分布中推斷出來。根據(jù)IEC60270,由測量設(shè)備記錄的具有脈沖序列響應(yīng)的加權(quán)幅值。噪聲noise不是脈沖且不是由定子繞組產(chǎn)生的信號。干擾disturbance不是局部放電但可能具有類似局部放電特性的脈沖信號。4電機中局部放電性質(zhì)4.1局部放電的基本原理通常，局部放電(PD)發(fā)生在絕緣材料介質(zhì)性能不均勻的位置，在這些位置，局部電場強度會增強，由于局部電場強度過大，將導(dǎo)致局部擊穿。該局部擊穿不會導(dǎo)致整個絕緣結(jié)構(gòu)的擊穿。通常局部放電4GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1:20定子繞組絕緣結(jié)構(gòu)(如IEC60034-18-42中定義的Ⅱ型電機)在運行中會有局部放電現(xiàn)象。因為含5GB/T20833.1—2021/IEC600的電場梯度。這將導(dǎo)致其表面放電的持續(xù)發(fā)展從而逐步侵蝕絕緣和表面材料。雖然由于表面的影響，起初局部放電電流被認為是具有幾納秒上升時間的瞬間脈沖。對于高頻譜的短時局部放電脈沖，6GB/T20833.1—2021/IEC600IEC60270保持一致。其他離線局部放電檢測和定位的方法參見附錄C。源自于繞組中更遠的局部放電也有很好的靈敏度。然而，低頻率范圍會受到噪聲和干擾的——特高頻測量。只能獲得全部局部放電能量非常小的部分，因此僅對非常接低壓耦合裝置串聯(lián)構(gòu)成。當測量單個繞組時，耦合裝置也可以與試品串聯(lián)(如圖4b)],低壓耦合裝置圖1顯示了理想化局部放電脈沖的頻率響應(yīng)與不同局部放電耦合單元之間的傳輸函數(shù)，耦合單元有一個高壓電容器，低壓側(cè)有電阻性測量阻抗Zm=R。圖1中標出的局部放電脈沖和耦合單元頻譜的重疊部分，表示5ns的RC時間常數(shù)能測到的信號能量。實7GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1說明：當局部放電脈沖通過繞組傳播，特別是在較器和檢測電路的響應(yīng)。因為局部放電為隨機現(xiàn)象，該標量值隨時間波動。IEC影響測量儀器的濾波帶寬的描述參見附錄H及IEC60270。8GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1:20事實上對絕緣結(jié)構(gòu)進行評估，宜對第5章描述的測量裝置記錄的局部放電數(shù)據(jù)進行適當?shù)奶幚怼?—局部放電幅值；局部放電量，即最大的重復(fù)出現(xiàn)的量值，能用電壓(mV)或者視在電荷(pC)表示，并能按照要將電壓預(yù)先規(guī)定至參考值，例如最大試驗電壓Umx,以便于比較。局部放電量對應(yīng)的軸可能是線性9放電發(fā)生相位φGB/T20833.1—2021/IEC600局部放電測量的試驗回路基本要求是為試品局部放電的檢測提供合適的條件。試驗回路主要 100pC的校準脈沖等級?？紤]到測量儀器的誤差，允許極限值大于校準脈沖的2倍。干擾測量系統(tǒng)的測試完整繞組時，測試電路在運行電壓下產(chǎn)生的噪聲等級不應(yīng)超過Q表示的最大局部放電幅值的50%。度的信息可參見附錄D和E?；芈?見圖4)。在圖4a)的回路中，低壓耦合裝置在耦合電容的接地側(cè)。這種布置的優(yōu)點是適合一端接地的測試在圖4b)的電路中，低壓耦合裝置放置在測試對象的接地側(cè)。因此，測試對象的低壓側(cè)應(yīng)與地隔GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-11圖4符合IEC60270的基本試驗回路獲得高壓繞組局部放電測量的真實信息取決于星形點的緊密連接和測量裝置所選擇連接圖。高壓電源和局部放電耦合單元宜分別連接至繞組兩端，以便利用相繞組的阻尼效應(yīng)優(yōu)點來抑制來自電源傳導(dǎo)的干擾。局部放電耦合單元應(yīng)盡可能接近繞組端，對于7.3.2、7.3.3和7.3.4所述的測量，定子鐵心應(yīng)正常接地。圖5給出了對U相進行局部放電測量的試驗回路，U1、V1、W1為繞組高壓端，U2、V2、W2為繞組的星形側(cè)。GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1:2017圖5完整繞組局部放電測量的試驗回路7.3.2標準測量開路星形點繞組的局部放電測量宜使用表1中給出連接圖，閉路可接入星形點和不可接入星形點宜使用表2給出連接圖。為了檢查制造后產(chǎn)品質(zhì)量，以便對局部放電結(jié)果進行比較和趨勢分析，新的和老化的繞組宜進行表1和表2中的測量。表1開路星形點連接圖S1ID編號高壓表2閉路星形點連接圖S2ID編號高壓可接入星形點不可接入星形點對于開路星形點繞組，對比S1.1～S1.3與S1.4的測量結(jié)果，可以監(jiān)測和區(qū)分出繞組兩相之間特別的局部放電源，例如，由于制造缺陷或者運行期間導(dǎo)致老化的情況(見9.2)。根據(jù)供電電源的容量和繞組的電容量，對完整繞組加壓可能比較困難甚至是不可行的。這時，表1中對開路星形點完整繞組的對地測量S1.4可以忽略，但在新繞組的情況下可以進行，例如小型電機，可GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1:20除表1和表2中給出的標準的方法外，還能選擇質(zhì)作更詳細的研究，表3和表4列出了這些測量方法。如果標準測量方法表明局部放電源要進一步研ID編號高壓ID編號高壓可接入星形點不可接入星形點測量方法作為表1和表2標準測量方法的補充，得到定子繞組系統(tǒng)內(nèi)主要局部放電源特定位置的更詳在排除電源傳導(dǎo)干擾的情況下，測量S1.1到S1.4和S2.1時，繞組端部，即相端要和中性側(cè)接線盒是必要的。例如對帶有小型接線盒的低壓電機進行測量，以及當PD測量設(shè)備為電源的主要部整繞組PD測試，類似于表1和表2中的連接，表5～表7給出了連接方式。GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1:2017ID編號高壓ID編號高壓ID編號高壓是通過在與完整試驗回路連接的電機端注入確定的參沖發(fā)生器應(yīng)符合IEC60270的規(guī)定?！姍C端子的標準化不能充分地表示在定子繞組內(nèi)未知位置實際發(fā)生的PD脈沖。因此，對完為確保測量局部放電幅值的良好精度，應(yīng)使用預(yù)期相關(guān)幅值范圍內(nèi)的某一值進行標準化。根據(jù)IEC60270,單個繞組部件的局部放電值宜用視在電荷q(pC)表示。局部放電脈沖。然而應(yīng)注意，用pC或者mV不能為不同電機或者所用的不同局部放電探測器提供直在開始局部放電測量前，原則上要對7.3中的每個測量回路進行標準化。如果局部放電試驗按順GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1對于新的單根線棒和線圈施加高壓(>Un)進行預(yù)處理可縮短預(yù)熱時間。通過此項措施，局部放在階梯升壓的情況下(見圖7a)],在每步應(yīng)至少停留10s以記錄每步電壓下包括局部放電圖在內(nèi)-—U?=UN/√3,或者絕緣結(jié)構(gòu)的運行電壓(線對地);——U?=1.2UN/√3,或者120%的絕緣結(jié)構(gòu)的運行電壓(線對地);GB/T20833.1—2021/IEC600問題、變壓器表面的臟污和變壓器絕緣可能的老化或者其他問題等都可能影響到局部放電一步電壓或者勻速升壓期間，應(yīng)記錄和處理第6章所描述的局部放電數(shù)據(jù)以提供合適的局部放電數(shù)據(jù)表達方式。根據(jù)第6章，為了獲得Q=f(U)曲線、局部放電起始電壓(PDIV)和局部放電熄滅電壓(PDEV),宜按圖7所示，先升高而隨后降低試驗電壓來進行測量。在電壓升高和降低期間宜采用相同如果在施加電壓期間局部放電值以電子方式記錄而且以測量文件存儲，就可得到第6章所描述的度越短。這可能會在槽部防暈層和端部防暈層的重疊部分造成局部放電。例如在較低的頻率(VLF)局部放電起始電壓(PDIV)、局部放電熄滅電壓(PDEV)以及最大重復(fù)出現(xiàn)的局電量的檢測和分析，可以為描述典型局部放電源的特征提供識別是一種更有效的識別方法。附錄F提供了圖像識別和基于PD的評估示例的更多詳情。絕緣隱患的Qm。這與本部分引言所述的原因有關(guān)，而且事實上局部放電常常是失效過程的表征而不別PD信號：——使用相同的測量方法和具有相同技術(shù)參數(shù)的測量設(shè)備，具有相同設(shè)計的幾個定子間的Qm單個繞組部件的局部放電起始電壓(PDIV)和局部放電熄滅電壓(PDEV)在最大規(guī)定的噪聲背景局部放電檢測儀得到的數(shù)據(jù)。在不同試驗期間，應(yīng)盡可能使試驗電壓變化不超過±2.5%,試品溫度變化不超過±10℃。GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1:2017數(shù)據(jù)進一步分析以確定局部放電增強的可能原因。根據(jù)10.3的相位離散局部放電模式分析法(見圖3)2在相近的溫度和濕度下，試驗電壓相同所測得數(shù)據(jù)進行比較。試驗還應(yīng)在相同的局部放電圖3的PRPD圖說明了一種常見離線局部放電測量方法。由于損害的程度以及絕緣失效的風(fēng)險當使用PRPD模式時，能將各種局部放電源彼此分開，以評估其相GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1:20放電數(shù)據(jù)、模式(根據(jù)第7章)否數(shù)據(jù)、模式(根據(jù)第7章)是附錄F):——使用相同的測量方法和具有相同技術(shù)參數(shù)的測量設(shè)備，同一定子在一段時——用相同的測量方法和具有相同技術(shù)參數(shù)的測量設(shè)備，對同一個定子的不同局部放電源典型特征和其對絕緣失效風(fēng)險指示之間的特定關(guān)系通常是外，對設(shè)計結(jié)果和絕緣結(jié)構(gòu)類似電機的局部放電結(jié)果也可與數(shù)據(jù)庫直接比較，以得到進一步有用的●制造商；●儀器設(shè)定；●測量結(jié)果；GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1:205最小測量時間S運行中的頻率外，其他頻率下的測試結(jié)果可能不能反映其運行過程中的特PD可視化方法都是基于相位參考(如過零點),也不宜測量時間過長。頻率抖動或過零點的故障檢測使PRPD圖像更模糊。當從測量的字符串中生成特性值(如電荷值Q),測量頻率或周期對結(jié)果有較大影響。以Qm為例，它被定義為工頻下每秒重復(fù)發(fā)生10次及以上PD的量值，因此在一定周期內(nèi)放電將以較長或較短的時GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1:2017根據(jù)3.14,Qm定義為與PD脈沖重復(fù)率每秒10次(pps)有關(guān)的幅值，可以從脈沖幅值分布中直接相位/(°)0GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1:20其他設(shè)置，如觸發(fā)等級和截止時間，可能對Qm有明顯影響。對于較小的振幅范圍，可能無法獲得10pps計數(shù)率。B.2累積重復(fù)PD幅值Q12位系統(tǒng)的Q值可能比6位系統(tǒng)略低。為了說明這一點，將圖B.1a)(用8位分辨率A/D轉(zhuǎn)換器測量)中的PD圖轉(zhuǎn)換為5位分辨率，如圖B.2a)所示。盡管數(shù)據(jù)源是相同的，但兩者之間的差異約為40%。另一種具有代表性計算電荷值的方法是計算給定脈沖幅值分布[2]的累積頻率。在1s的時間內(nèi)出現(xiàn)10個最高脈沖的閾值表示累積重復(fù)PD值大小Q,[圖B.2b]]。GB/T20833.1—2021/IEC60034-注1:圖B.2a)中的脈沖幅值分布是根據(jù)圖B.1測量得到的。將相同的數(shù)據(jù)集從128個單極(8位AD雙極變換器)68圖B.2A/D轉(zhuǎn)換精度的影響及Q,的計算實例的選擇對Q,的影響較小。對于Qm,Q.定義為絕對值。為了表示給定極性的值，添加極性符號的后綴，如Qr+和Q-。對于相同的脈沖幅值分布，Qr+或Q,-可能與Q,不同。GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1:20下列方法是不可比較和不可量化的。參考文獻中1給出了更詳細的概述：一種方法。(可調(diào)節(jié))高壓適用于單個繞組元件或電機的所有相表面局部放電不僅會在光學(xué)成像方法可檢測到的頻率范圍器探測到，而且在白天也能探測到。尤其是考慮到安全問題時，該方法優(yōu)于上述的可視化d)超聲波探測GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1:20噪聲還是外界干擾的噪聲。來自恒定波信號或者脈沖干是不現(xiàn)實的。在現(xiàn)場或工廠進行離線試驗一般使用測量裝置，下列內(nèi)容GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-圖D.1(續(xù))D.3噪聲和信噪比電子系統(tǒng)中的全部噪聲可分為兩種截然不同的類型：基礎(chǔ)噪聲和附加噪聲?；A(chǔ)噪聲是由回路中離散電荷運動引起的，無法完全消除。附加噪聲是由儀器設(shè)備的缺陷或者非理想的元器件特征引起的，原則上可以減少至可忽略的水平。這兩種類型的噪聲，基本上都與頻率無關(guān)。由于附加噪聲主要受儀器設(shè)計的影響，測量人員無法改變和抑制它，因此不再進行討論?；A(chǔ)噪聲主要是熱噪聲(Johnson噪聲),它由離散電荷的熱運動產(chǎn)生。電荷攜帶者的熱波動在電阻兩端引起電壓降，表現(xiàn)為穿過這些元器件的外部噪聲。顯然，噪聲水平隨溫度升高(熱運動越快)和電阻增大(電壓降越大)而增大。所有遵從IEC60270的局部放電測量系統(tǒng)都按照準積分濾波器的原理工作，測量裝置的帶寬對信號和噪聲具有相同的特性：帶寬越寬，檢測到的信號能量越多。因此這種積分器的輸出信號將隨著帶寬GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1:2017D.4干擾于離線測量而言，這些外界信號中的部分信號比在線測量弱。如何減少GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1:2017相位穩(wěn)定的干擾可以通過衰減進行消除(圖E.1和圖E.2)。這可通過預(yù)制相位窗內(nèi)的測量通道電GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1:20Cs——試樣電容Zm,Zm2——耦合裝置(測量阻抗);ip(t)——試品局部放電產(chǎn)生的局部放電電流；個測量阻抗的電壓降具有相反的極性(見圖E.3)。有兩種可選的方法將測量裝置連接至低壓耦-—第一種方法是用雙通道的測量裝置，每個通道對應(yīng)一個耦合裝置，單獨測量電壓降。然后用極——第二種方法是在測量阻抗的上部相連之間連接測量裝置。假定測量阻抗相裝置中的信號處理算法得以實現(xiàn)。與窄帶局部放電測量系統(tǒng)的頻帶限制(見E.1)相比，數(shù)字濾波器的 在圖E.4和圖E.5中，給出了依據(jù)等價時間長度T和帶寬W進行脈沖分類的兩個例子。這些參數(shù)刀刀>>465.9600.0800.01000.01200.01400.0162k>圖E.4噪聲抑制的示例>>>相位/(0)圖E.5抑制交叉噪聲示例GB/T20833.1—2021/IEC600 GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1:20此處的局部放電圖(圖F.1)是根據(jù)圖4a)(低壓耦合裝置在耦合電容器的對地側(cè))進行測量的。GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1:2017內(nèi)部孔隙低內(nèi)部放電是由嵌入主絕緣內(nèi)的空氣或者氣體形成的小孔隙引起這些小孔隙是在制造工藝過程中形成的，并不代表老化因素。在正常環(huán)境下，內(nèi)內(nèi)部分層高內(nèi)部分成局部放電是由嵌入主絕緣內(nèi)的空氣或者氣體形成的狹長的孔隙(沿線棒縱向)引起的。這些孔隙一般是由過熱或者極端機械力引起的，這兩種會導(dǎo)絕緣導(dǎo)體和高導(dǎo)體和絕緣材料間的分層局部放電是嵌入主絕緣和電場分級材料間和空氣或者氣體形成的狹長的小孔隙(沿線棒縱向)引起這些小孔隙一般是由過熱或者極端機械力引起的，這兩種會高槽放電是由電場防暈層和定子槽壁間的接觸不良或者脫落引電只出現(xiàn)在電機運行期間。電磁力和振動導(dǎo)致接觸性電弧，就是檢測到的槽局部放電。只有在電場防暈層嚴重老化的情況下，離線測量才能繞組端部間隙與正常區(qū)域。通常由導(dǎo)電的污染物(碳、油、磨損物等)引起，或者由端部電場破壞引起。由于放電只出現(xiàn)在絕緣的表面，對絕緣不會產(chǎn)生嚴重的老化。然外來導(dǎo)電物放電正常域。它們通常由大面積的導(dǎo)電污染物(碳、油、磨損物等)引起分級材料的區(qū)域引起。由于放電只出現(xiàn)在絕緣表面，對GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1:2017在進行PD源識別時，基本的幅值評估是最有用的。例如，表面PD可電位差的不同，振動的線圈/線棒與鐵心接觸部位會產(chǎn)生電弧。當感應(yīng)電壓和電流均超過電弧起始值GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1:20在7.3中給出了高壓電源及局部放電耦合單元如何連接完整定子繞組。本附錄給出了連接結(jié)——假設(shè)本部分所涉及的大多數(shù)電機都是星形連接，7.3中的表格和圖示都基于此連接類型。在——如與7.3中的結(jié)構(gòu)不一致，可以在繞組的任意一側(cè)接地。例如7.3中的V1W1也可以寫成GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-ID編號根據(jù)7.3b)ID編號根據(jù)7.3ID編號根據(jù)7.3mmID編號根據(jù)7.3注2:此連接方法的目的是利用沿繞組的阻尼來抑制來自電源噪聲。通過短接三角形連接的所有端部讓噪聲抑制圖G.1(續(xù))GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1:2017ID編號根據(jù)7.3ID編號根據(jù)7.3GB/T20833.1—2021/IEC60034-27-1:2017ID編號根據(jù)7.3ID編號根據(jù)7.3CC圖G.1(續(xù))j)圖G.1(續(xù))1)低脈沖重復(fù)率；2)上升率；b)窄帶系統(tǒng)：2)上升率；3)高速率導(dǎo)致的脈沖疊加。信號/V信號/V標準脈沖器(偏移=1V)濾波脈沖(倍數(shù)=500)標準脈沖器(偏移=1V)濾波脈沖(倍數(shù)=500)p0.5鉭-1.0-20-10標準脈沖器(偏移=1V)濾波脈沖(倍數(shù)=500)標準脈沖器(偏移=1V)標準脈沖器(偏移=1V)濾波脈沖(倍數(shù)=500)迎 a)寬帶系統(tǒng)：-3db,△f=2Hz(二階濾波)標準脈沖器(偏移=1V)一濾波脈沖(倍數(shù)=500)標準脈沖器(偏移=1V)濾波脈沖(倍數(shù)=500)b)窄帶系統(tǒng)：-3db,△f=9H