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文檔簡介
代替GB/T14916—2006國家標準化管理委員會國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布國家標準化管理委員會I Ⅲ 1 1 2 3 35.1通用要求 3 3 5 5 5 58.1彎曲韌性(僅適用于ID-1卡) 5 5 5 5 58.6耐久性 58.7剝離強度 68.8粘連或并塊 6 6 7 7 78.13污染和卡部件的相互影響 78.14動態(tài)彎曲應力(僅適用于ID-1卡) 7 79.1概述 79.2X射線 8 89.4工作溫度 89.5機械強度 8 8Ⅱ9.7集成電路及磁條的電磁干擾 89.8耐化學性 8 99.10耐溫性和耐濕性 9 910卡接口設備 9 910.2ESD魯棒性 9 4圖2ID-1卡上非規(guī)定的阻光區(qū)域 6 Ⅲe)增加了動態(tài)彎曲應力(見8.14);——3.16對應ISO/IEC7810:2019中的3.14;——3.17對應ISO/IEC7810:2019中的3.16;——3.18對應ISO/IEC7810:2019中的3.17;a)將ISO/IEC7810:2019第1章范圍第二句中“四種卡”改為“六種卡”,因本文件增V本文件由全國信息技術(shù)標準化技術(shù)委員會(SAC/TC 1994年首次發(fā)布為GB/T14916—1994,2006年第一次修訂1ISO/IEC10373-1和ISO/IEC24789-2規(guī)定了用于檢查卡是否符合本文件規(guī)定的參數(shù)的測試GB/T15120.1識別卡記錄技術(shù)第1部分:凸印(GB/T15120.1—2013,ISOIEC7811-1:GB/T15120.9識別卡記錄技術(shù)第9部分:觸覺標識符標記(GB/T15120.9—2019,ISO/IEC7811-9:2015,MGB/T16649.2識別卡帶觸點的集成電路卡第2部分:觸點的尺寸和位置(GB/T16649.2—2006,ISO/IEC7816-2:1999,IDGB/T17626.2電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(GB/T17626.2—2018,ISO/IEC7816-1識別卡集成電路卡第1部分:帶觸點的卡物理特性(Identificationcards—Integratedcircuitcards—Part1:CardsISO/IEC10373-1識別卡測試方法第1部分:一般特性(Identificationcards—TestISO/IEC14443-1卡及身份識別安全設備無觸點的接近式對象第1部分:物理特性(ISO/ISO/IEC15693-1卡及身份識別安全設備無觸點鄰近式對象第1部分:物理特性(Cardsand2ISO/IEC24789-2識別卡卡服務生命周期第2部分:評價方法(Identificationcards—Cardservicelife—Part2:Metho5℃~30℃的溫度和10%~90%的濕度條件下暴露在日光下的時間不超過48h,也未遭受過熱力沖擊3集成電路卡integratedcircuitcard觸點contact4符合性識別卡如果符合本文件中規(guī)定的所有要求,則它就是遵循本文件的。另有規(guī)定除外。發(fā)生不符合5卡的尺寸在默認測試環(huán)境(溫度23℃±3℃,相對濕度40%~60%)下,卡應遵循5.2規(guī)定的尺寸和公差。除圓角部分外,卡邊緣上所有的點均應落在兩個同心的大致重合的按圖1定義的矩形之間。圖1應有一個如圖1所示的傾斜角(矩形右下角),宜注意避免卡的圓角和直邊不重合。這里規(guī)定的卡的厚4類別abcd未使用的卡注3:3FF、4FF卡的尺寸參考ETSITS102221圖1卡規(guī)格尺寸5卡應由滿足本文件要求的任何材料制成。在本文件中對可使用的卡鑲ID-1卡的彎曲韌性應是在正常使用(彎曲但不折)條件下,能被記錄或打印設備移位但不損害卡功能的變形。采用ISO/IEC10373-1描述的測試裝置測試卡時產(chǎn)生的形變最大應為35mm,最小應為無論是使用還是丟棄,卡都不應產(chǎn)生釋放量超出可接受范圍內(nèi)的管制金在ISO/IEC10373-1測試方法中規(guī)定的溶液中浸泡1min,在模擬人體排汗酸、堿度的溶液中浸泡在溫度(-35℃~50℃)和相對濕度(5%~95%)中暴露后,卡應按預期運行,卡結(jié)構(gòu)可靠性應符合第5章和8.10中規(guī)定的尺寸和翹曲要求(2FF、3FF、4FF卡除外)。在其他條款、標準或提供商與卡卡對周圍環(huán)境光的最小魯棒性可在其他條款、標準或提供商與卡購買者的雙方協(xié)議中進行規(guī)定。6提醒發(fā)卡方注意卡的藝術(shù)設計直接影響到分層結(jié)構(gòu)的黏合強度。某些印b)褪色或變色;c)表面光潔度的變化;8.9阻光度(僅適用于ID-1卡)的范圍內(nèi)大于1.3倍的光傳輸密度。圖2中所示的區(qū)域C和區(qū)域D可以是透光的,無需滿足規(guī)定的光7uvwx21(最小值)33(最大值)44(最大值)20(最小值)圖2ID-1卡上非規(guī)定的阻光區(qū)域(續(xù))8.10全卡翹曲(僅適用于ID-1卡)8.11抗熱度(僅適用于ID-按照ISO/IEC10373-1的規(guī)定,在溫度為50℃±1℃、相對濕度小于60%的條件下暴露4h卡材料和附加到卡上的任何材料不應污染卡處理和讀寫卡的設備??ú牧喜粦谡J褂眠^在卡結(jié)構(gòu)中所采用材料的導電和絕緣特性,以及涂層都會影響卡的電氣特性(例如靜電特性)。這9.1概述本章特性僅適用于包含集成電路的卡。本章要求基于ISO/IEC7816-1,ISO/IEC14443-1和89.2X射線9按照ISO/IEC10373-1中描述的方法,總共進行1000次扭曲循環(huán)測試后,卡應繼續(xù)按預期運(資料性)單位為毫米TL標引序號說明:L—卡左參考邊界。[1]GB/T15120.1—2013識別卡記錄技術(shù)第1部分:凸印[2]'GB/T15120.9—2019
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