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文檔簡介
1、關鍵詞:TYPE C數(shù)據(jù)線摘 要:本文介紹了數(shù)據(jù)線的規(guī)格,性能及測試標準.縮略語:1范圍標準適用于 TYPE A TO C數(shù)據(jù)線需求規(guī)格書,未盡規(guī)格描述以TYPE C協(xié)會標準為準.2編寫依據(jù)序號No.文件編號Doc No.文件名稱 Doc Title1GJB1217電連接器試驗方法2MIL-STD-202GTest method sta ndard electr onic and electrical comp onent parts3GB/T 3048電線電纜電性能試驗方法4GB4098射頻電纜試驗方法5EIA-364-101Atte nu ati on Test Procedure for
2、 Electrical Conn ectors, Sockets, Cable Assemblies or In terc onnection Systems6EIA-364-106Sta ndi ng Wave Ratio (SWR) Test Procedure for ElectricalConn ectors7EIA-364-108Impeda nee. Reflect ion Coefficie nt, Retur n Loss, and VSWR Measured in the Time and Freque ncy Doma in Test Procedure for Elect
3、rical Conn ectors, Cable Assemblies or In terc onnection Systems8工作電容試驗-電橋法9EIA-364-103Propagatio n Delay Test Procedure for Electrical Conn ectors,Sockets, Cable Assemblies or In terc onnection Systems10IEC 68-2-1根本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A :嚴寒11GB/T電工電子產(chǎn)品根本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法12IEC 68-2-2根本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A :干熱13GB/T電工電子產(chǎn)品根本
4、環(huán)境試驗規(guī)程試驗B :高溫試驗方法14IEC 68-2-10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2局部:試驗方法試驗J和導那么:長霉0020 的15GB/T電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2局部:試驗方法 試驗J和導那么:長霉16ASTM G 21Stan dard Practice for Determi ning Resista nee of Syn theticPolymeric Materials to Fungi17IEC 61587-1Mecha nical structures for electro nic equipme nt Tests for IEC60917 and IEC 60297 Par
5、t 1 Climatic mecha nical tests and safetyaspects for cab in ets racks subracks and chassis18GR 487Gen eric Requireme nts for Electro nic Equipme nt Cabin ets19IEC 68-2-30根本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db及導那么:交變濕熱12 + 12h循環(huán)序號No.文件編號Doc No.文件名稱 Doc Title20GB/T電工電子產(chǎn)品根本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db :交變濕熱試驗方法21IEC 68-2-52電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2局部:試驗 試驗Kb
6、 :鹽霧,交變氯化鈉溶液22GB/T電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2局部:試驗 試驗Kb :鹽霧,交變氯化鈉溶液23IEC 529Degrees of protect ion provided by en closure(IP code)24GB 4208外殼防護等級IP代碼25EIA-364-38BCable pull-out test procedure for electrical conn ectors26EIA-364-41CCable flex ing test procedure for electrical conn ectors27IEC 60950Safety of in form
7、ati on tech no logy equipme nt28EN 60950Safety of in formati on tech no logy equipme nt29UL 60950Safety of in formati on tech no logy equipme nt30GB 4943信息技術設備的平安31IEC60332Tests on electric cabies under fire conditions32GB/T18380電纜在火焰條件下的燃燒試驗33UL1581Refere nee sta ndard for electical wires,cables,a
8、nd flexible cords34GR 1217Gen eric requireme nts for separable electrical conn ectors used in telecom muni catio ns hardware35GR 950Generic Requireme nts for Optical Network Un it (ONU) Closures36USB Type-C Cable and Conn ector Specificati on3數(shù)據(jù)線正常工作和存儲條件3.1數(shù)據(jù)線應能在以下條件下正常工作:工作環(huán)境溫度:-20 C+55 C;僅作單體驗證目的
9、,與整機匹配時以整機試驗環(huán)境為準;相對濕度:5%95% ;大氣壓力:86 kPa106kPa;數(shù)據(jù)線的存儲溫度:-40 C+85 C;4數(shù)據(jù)線主要參數(shù)4.1數(shù)據(jù)線連線規(guī)格詳細尺寸以及工藝要求以3D圖檔為準1、type C金屬插頭,要求必須是整體拉伸成型,不能是折彎成型,不接受接縫;2、 金屬插頭局部,要求做不銹鋼原色,外表噴砂處理:50u150u MATT NICKEL PLATINGOVER ALL3、保證至少3A通流水平整條線纜產(chǎn)品詳細規(guī)格 BOM清單,包括端子圖紙2D &可拆解版本的3D要有確認才能認可認證時必須提供以上文件.4.2線材主體信息:4.2.1 外觀5V/3A A p
10、lug TO C plug, cover式,白色半霧面,素材細咬花處理,MT110064.2.2主體結(jié)構工程規(guī)格說明長度16mm不含金屬插頭局部顏色白色半霧面材質(zhì)Overmold& Cable &Housing &其他輔料NON-PVC無鹵滿足ROSH,且無如下有害物質(zhì)添加:溴系阻燃劑 Brominated Flame Retardants 氯系阻燃劑 Chlorinated Flame Retardants 聚氯乙烯 Polyvinyl Chloride (PVC) 鄰苯二甲酸酯Phthalates 三氧化銻 Antimony Trioxide 鈹及其化合物 Bery
11、llium (Be) and its compounds接口USB 卩 B receptacletoTYPE C plug滿足5V 3A其他應符合節(jié)測試標準Voltage Rating:30VAC/DC導體材質(zhì)規(guī)格如下:材質(zhì):鍍錫銅Signal NameWire Gauge (AWG)VBUS /GND端到端阻抗不大于80m Q絕緣材質(zhì)NON-PVC,須滿足章節(jié)測試性能要求4.2.3關鍵尺寸4.2.3.1 B plug參考協(xié)會標準4.2.3.2 TYPE C plug1. 紅圈標示尺寸為重點尺寸,其余尺寸依據(jù)協(xié)會標準要求2. 各組件BOM LIST原材料信息需明確到具體牌號3. 應滿足TYPE
12、 C規(guī)格4.2.3.3 鍍層厚度測試區(qū)域規(guī)定關于鍍層測試區(qū)域和方法:TYPE C/A : TYPE C/A產(chǎn)生接觸的關鍵區(qū)域為 PIN針頭部觸點,因此鍍層工藝為考慮本錢一 般只覆蓋PIN針觸點位置,其他區(qū)域為flash Au,所以鍍層的量測范圍定義在 PIN針觸點弧頂?shù)淖罡?處鍍層厚度為在觸點弧 頂最高點的范圍內(nèi)進 行測量,同一觸點在 范圍內(nèi)測量三次取平 均值424線序Table 3-20 USB Type-C to USB AMWiring USB Type-C PlugUSB AMPinSignal NamePinSignal NameA1, B1, A12, B12GND4GNDA4,
13、B4, A9, B9VBUS1VBUSA5CCA6Dpi3D+A7Dni2D?ShellShieldShellShieldNotes:1. Pin A5 (CC) of the USB Type-C plug shall be connected to Vbus2. Contacts B6 and B7 should not be present in the USB Type-C plug.3. All Vbus pins shall be connected together within the USB Type-C plug. Bypass capacitors are not req
14、uired for the V bus pins at this cable.4. All Ground return pins shall be connected together within the USB Type-C plug.5. All USB Type-C plug pins that are not listed in this table shall be open (not connected).Table 4-13 DFP CC Termin ati on (Rp) Requireme nts DFP Advertiseme ntCurre nt Source to-
15、VResistor pull-up to-VResistor pull-up toV 士 5%Default USB Power80A ± 20%56 k Q 士 20%te 1)36 k Q 士 20%A 5 V180 卩 A ± 8%22 k Q 士 5%12 k Q 士 5%A 5 V330 卩 A ± 8%10 k Q 士 5%k Q 士 5%Notes:1. For Rp when implemented in the USB Type-C plug on a USB Type-C to USB Standard-A Cable Assembly, a
16、USBType-C to USB Standard-A Cable Assembly, a USB Type-C to USB Micro-B Receptacle Adapter Assembly or a USBType-C captive cable connected to a USB host, a value of56 k Q ± sh%ll be used, in order to provide tolerance toIR drop on VBUS and GND in the cable assembly.5技術要求5.1 線材外觀要求5.1.1 線材外觀要求如下
17、:外觀金屬插頭/pin腳檢查1、參照樣品和PDM圖紙檢驗,線纜兩端插頭的結(jié)構外型型號 要求與樣品一致;2、插頭不允許氧化/生銹、殘缺、變形;3、用干布無塵布能擦除的臟污,允許;用干布無塵布不 能擦除的臟污,不允許;【注:金屬插頭臟污不良超出 1% 不 良數(shù)/樣本數(shù)時,提交不合格電子流確認】4、插頭上不允許有油漬;5、劃痕L < 2mmW< 0.1mm,用手觸摸無深度感,允收一條;6、USB A公插頭內(nèi)不允許有溢膠的現(xiàn)象;7、 USB A公插頭內(nèi)的連接器 PIN腳不允許氧化/生銹、翹高、變形、PIN腳內(nèi)陷/斷裂不良;8、金屬插頭USBA公以及TYPE C公與注塑局部匹配正常, 不允許
18、歪斜,夾角 90.土標簽檢查1、參照樣品和 PDM圖紙檢驗,標簽上的印刷圖案和字體要求一 致;2、標簽不允許破損、漏貼;注塑部位1、注塑部位USB A公外膜、DC插頭外膜、磁環(huán)外膜不允許 缺膠、破損;2、合模線毛邊H <;3、 水口位毛邊在不刺手的前提下,H < 1mm可接收;4、壓痕L< 5mm, W<, USB A公外膜每面允收一條, DC外膜允 收一條;5、 點狀壓痕D w, USB A公外膜每面允收一條, DC外膜允收一 條;線材外觀1、線材不允許有破損、漏銅;2、線材上不允許有臟污;3、點狀壓痕D w, DS > 25mm允收6個;4、線狀壓痕L w 5
19、mm W w 1mm DS> 25mm允收3條;扎帶下的壓 痕允許;5、有感刮傷:L w 5mmW w 1mm DS> 25mm允收2條;無感刮 傷:L w 30mm W w 1mm DS> 30mm 允收 3 條;未盡事宜參考?5.2 線材性能要求Test con diti onTemperature: 15C to 35°CAir pressure : 86 to106 kPaRelative humidity : 25% to 85%NOTest descripti onTest procedurePerforma neeRelated sta ndard1插
20、拔耐久測試數(shù)據(jù)線插頭無破損,配件插頭尺 寸在規(guī)格內(nèi),接觸良好,電氣性能正 常.測試前,測試后插拔力應滿足要求, 樣品外觀結(jié)構、功能及電氣性能應正 常,允許端子接觸點外表有正常磨 損,但不允許有物理損壞 測試速度為分鐘以插入力和拔出力測試 標準為依據(jù),測試TYPEC 端子插拔次數(shù)10000次(正反方向各 5000次, 每2500次換一個方向) 做元25次插拔之后,插 拔力變化不能超過 33%A公插拔1500次測試結(jié)束后端子外觀無 異常、插拔力需要滿足 要求EIA364-092插入力EIA364-131. 插拔力測試儀器2. 測試速度為分鐘3. 單位為N插拔耐久測試前后:Type C:插入力520
21、N ;USB AM: 35N(MAX)EIA364-133拔出力EIA364-131. 插拔力測試儀器2. 測試速度為分鐘3. 單位為N插拔耐久測試前后:Type C:拔出力820NUSB AM: 10N(Mi n)EIA364-134滾筒測試跌落高度1米,跌落次數(shù)150次,每 50檢查一次,跌落速度參考值10-12 次/分次(以跌落在滾筒鐵板中央位置為準)測試后,樣品外觀、機 械結(jié)構應正常,功能和 電氣性能正應常的5端子強度測試F2(+/-Y) =50N,做到75N觀察損壞情況F3,F4 (+/-X) =50NF5(+Z) =100NF1和F2方向的測試均米用新樣品測 試,F3-F5方向視情
22、況進行互用 施力點為接口到 SR處15mm (從外 殼平面量起15mm ;如SR缺乏上下左右4個方向力量 要求大于,插入方向要 求大于10Kg,連接器不 允許有失效,接口允許 有可恢復的變形,數(shù)據(jù) 線電氣性能正常;結(jié)構 無松脫,無斷裂15mm,以SR的末端為施力位置, 如SR末端剛性缺乏以施加力,那么以 剛性位置的末端為施力位置測試速度:5mm/mi n6殼體抗拉脫器件選型標準:公頭鐵殼上掛重 10kgf,持續(xù)時間1分鐘進料檢驗標準:公頭鐵殼上掛重6kgf,持續(xù)時間1分鐘兩端殼體都需要測試抗 拉脫力,測試后兩端殼 體不應有脫落現(xiàn)象7端子強度耐久測試測試力:F仁F2=2kgf測試次數(shù):2000次
23、/方向;施力點為接口到SR處15m從靠近 金屬頭尾部量起 15mm如SR缺乏 15mm以SR的末端為施力位置,如 SR末端剛性缺乏以施加力,那么以剛 性位置的末端為施力位置;測試速度:10-15次/min數(shù)據(jù)線外觀結(jié)構、功能 及電氣性能應正常,端 子不應有損壞或嚴重變 形8端子鍍層膜厚膜厚測試儀.Type C端/ uB母座. 取少樣品數(shù)量:每個端子 3pcsType C /B plug Plating gold Au 不小于30 ,Plating Ni不小于809成品電阻測試1、C TO A測試2、屏蔽層測試殼對殼3、壽命前后均要滿足阻抗要求4、滿足協(xié)會標準要求25 C時實驗室測試標準:Vbu
24、s: Q最大GND Q最大線材規(guī)格1M,電源22AWG10溫升測試TYPECVbus/GND通電 5A4 對 pin,USB AM單 VBUS/GN通電 3ATYPE C/USB AM非電源pin腳通流; 利用shieldVBUS/GND初始接觸阻抗 30mQ ,其他pin初始接觸阻抗 40mQ Max最大,所有Pin環(huán) 境測試后LCCF最大增量為10 mQ連接器13耐壓測試兩兩pin之間打含外殼認證測試:100VAC/60S/產(chǎn)線測試:100VAC/14絕緣電阻兩兩pin之間打含外殼認證測試:300VDC 60s100MQ產(chǎn)線測試:300VDC/10M?15高溫存儲轉(zhuǎn)接頭:70 ±
25、 2 C ,24H完成后返回常溫停留24小時以上,進行測試連接器:105土 2C ,120H完成后返回常溫停留24小時以上,進行測試部品外觀無損壞; 線纜電氣性能正常16低溫存儲-40 ± 2C ,120H完成后返回常溫停留24小時以上,進行測試樣品外觀無損壞; 線纜電氣性能正常17溫度沖擊米用兩箱法,低溫-40 C,高溫70 C, 上下溫各停留不少于 20分鐘,最大 轉(zhuǎn)換時間為20秒,10個循環(huán).測試后,樣品外觀、機 械結(jié)構應正常,功能和 電氣性能應正常18鹽霧測試5%NaCI,35 C ,連續(xù)噴霧48小時針 對pin針,uB鐵殼局部應可承受至 少24H連續(xù)噴霧,噴霧時接口需斜 向
26、下放置,保證鹽霧能進入,但冋時 不能在接口中形成積水.然后移出進 行2小時晾干.試驗后,樣品外觀應無 明顯銹蝕、變色、及鍍 層剝落等現(xiàn)象.VBUS/GND初始接觸阻抗30mQ ,其他pin初始 接觸阻抗40mQ Max最 大,所有Pin環(huán)境測試后LCCF最大增量為10 m Q僅針對連接器EIA 36419咼溫咼濕試驗溫度70 ± 2C ,濕度85 ±3%RH進行168小時樣品外觀無損壞;主要考察膠料和線料20交變濕熱2555C,相對濕度95± 3%,168小時測試后,樣品外觀、機 械結(jié)構應正常,功能和 電氣性能應正常主要考察端子21混合氣體腐蝕測試測試時間:7天,
27、產(chǎn)品狀態(tài):5天非配插,5天配插, 溫濕度:70%RH 30 C ,氣體種類:Cl2 : 10+/-3 ppb, NO2: 200+/-50 ppb, H2S: 10+/-5 ppb, SO2: 100+/-20 ppb試驗后,樣品外觀應無 明顯腐蝕、變色、及鍍 層剝落等現(xiàn)象,功能應 正常.VBUS/GND初始接觸阻抗30mQ ,其他pin初始 接觸阻抗40mQ Max最 大,所有Pin環(huán)境測試后 LCCF最大增量為10 m Q僅針對連接器連接器22耐化學溶劑測 試將家用化學物品1.護手霜;2.防曬 乳液;3口紅;4.化裝粉底;5驅(qū)蟲 凍膠;6.食用油,所用化學用品型號 或配方為我司終端現(xiàn)有用品
28、 涂在線 纜、SR、殼體上.放置72小時后用 水清洗掉家用化學品再放置兩個小 時后檢查2將以下溶劑1汽油;2. 酒精;3.人工汗液;%食鹽水,所用 化學用品型號或配方為我司終端現(xiàn) 有用品涂在線纜、SR、殼體上.放置72小時汽油放置24小時后 用水清洗掉溶劑再放置兩個小時后 檢查線纜、SR殼體不會有 明顯腐蝕、開裂23耐UV輻射測試耐UV輻照進行1個循環(huán)為24小時的測 試,具體為在干熱 40 C下, 太陽輻射強度為 1120W/ m2, 保持20小時,再關閉太陽輻 射源4小時,試驗持續(xù)循環(huán) 96小時24EMC參考終端產(chǎn)品 USB數(shù)據(jù)線充電線可 靠性測試標準EMC class A 標準CE/FCC
29、25Differe ntialImpeda neeThis test en sures that the D+/D?lines of the cable assembly have the proper impeda nee.For the en tire cable assembly.75 ohms min and 105 ohms max.400 ps rise time(20%-80%).EIA364-10826Propagati onDelayThe purpose of the test is to verifytheen d-to-e ndpropagation of the D+
30、/D? lines of the cable assembly.20 ns max.400 ps rise time(20%-80%).EIA364-10327In tra-pairSkewThis test ensures that the signal on both the D+ and D? lines ofcable assembly arriveat thereceiver at the same time.100 ps max.400 ps rise time(20%-80%).EIA 364-103D+/D?PairAtte nuati onThis test en sures the D+/D? pairof a cable assembly is able t
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