GB2423標(biāo)準(zhǔn)系列大全(環(huán)境試驗要求)

1、GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A :低溫3180KBHG/T 2423-2008工業(yè)對苯二甲酸二辛酯（單行本完整清晰掃描版 ）367KBGB/T 2423.39-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗 Ee :彈跳440KBGB/T 2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法 試驗Ed自由跌落 257KBGB/T 2423.32-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ta潤濕稱量法可焊性（橫版掃描色淡不太清晰）-990KBGB 2423.25-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z-AM低溫-低氣壓綜合

2、試驗.pdf1445KBGBT 2423.24-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法 試驗Sa 模擬地面上的太陽輻射.pdf 176KBGB 2423.11-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗Fd寬頻帶隨機振動 -般要求（單行本完整清晰掃描版）.pdf 3007KBGBT 2423.57-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗Ei沖擊沖擊響應(yīng)譜合成.pdf 24000KBGB/T 2423.102-2008電子電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）低氣壓振動（正弦）綜合 998KBGB/T 2423.101-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)

3、境試驗第2部分：試驗方法 試驗：傾斜和搖擺329KBGB/T 2423.58-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2-80部分試驗方法試驗Fi振動混合模式 3461KBGB/T 2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db交變濕熱（12h+ 12h 循環(huán)）4604KBGB/T 2423.43-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法振動、沖擊和類似動力學(xué)試驗樣品的安裝3736KBGB/T 2423.17-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ka:鹽霧（單行本完整清晰掃描版）836KBGB/T 2423.15-2008 速度2833KB電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第

4、2部分試驗方法試驗Ga和導(dǎo)則穩(wěn)態(tài)加GB/T 2423.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fc :振動（正弦）8313KBQB/T 2423-1998聚氯乙烯（PVC）電氣絕緣壓敏膠粘帶157KBGB/T 2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Cb設(shè)備用恒定濕熱207KBGB/T 2423.52-2003電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗77 :結(jié)構(gòu)強度與撞擊 223KBGB/T 2423.34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/AD :溫度/濕度組合循環(huán)試驗 347KBGB/T 2423.53-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試

5、驗第2部分試驗方法試驗Xb由手的摩擦造成標(biāo)記和印刷文字的磨損185KBGB/T 2423.38-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗R:水試驗方法和導(dǎo)則827KBGB/T 2423.36-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 非散熱試驗樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗GB/T 2423.35-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗Z/BFc :散熱和264KB第2部分：試驗方法 試驗Z/Afc :散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗283KB電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗GB/T 2423標(biāo)準(zhǔn)之1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗GB/T 2423.33-2005 試驗337KB第2

6、部分試驗方法試驗Kca高濃度二氧化硫GB/T 2423.28-2005GB/T 2423.27-2005低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗151KB第2部分：第2部分:試驗方法試驗方法試驗T :錫焊584KB試驗Z/AMD : 低溫/GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗n :溫度變化465KBGB/T 2423.18-2000 鈉溶液）341KBGB/T 2423.6-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗 試驗Kb :鹽霧，交變（氯化第2部分：試驗方法試驗Eb和導(dǎo)則:碰撞493KBGB/T 2423

7、.5-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法 試驗Ea和導(dǎo)則:沖擊943KBGB/T 2423.4-1993GB/T 2423.30-1999 洗劑中浸漬 1159KB電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗第2部分：219KBDb :交變濕熱試驗方法試驗方法試驗xa和導(dǎo)則：在清GB/T 2423.16-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗j和導(dǎo)則：長霉1132KBGB/T 2423.56-2006（數(shù)字控制）和導(dǎo)則電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗791KB第2部分:試驗方法試驗Fh :寬帶隨機振動GB/T 2423.55-2006GB/T 2423.55-2006電工

8、電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗2部分試驗方法試驗 第2部分：試驗方法Eh錘擊試驗 568KB試驗Eh :錘擊試驗700KBGB/T 2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗L:沙塵試驗方法4563KBGB/T 2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab :恒定濕熱試驗401KBGB/T 2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第SJ 2423-83船用導(dǎo)航雷達設(shè)備用圖形符號GB/T 2423.10-19952部分試驗方法試驗2 部 939KBB 高溫 1078KB771KBJB/T 2423-1999HG/T 2423-1993GB/T 2423.2-2001電力半導(dǎo)體器件型號編制方法 對苯二甲酸二辛酯162KB電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗280KB部分：試驗方法試驗B:高溫1638KBGB/T 2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗部分：試驗方法試驗A:低溫1065KBGB/T 2423.46-1997GB/T 2423.3-1993GB/T 2423.30-1999 中浸漬319KBGB/T 2423.29-1999 件強度605KBGB/T 2423.37-1989GB 2423.9-89 試驗電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法試驗Ef撞擊擺錘433KB 電工電