低溫X光單晶繞射儀使用管理辦法

1、低溫X光單晶繞射儀使用管理辦法k 、 宗日：本低溫X光單晶繞射儀(以下簡稱本儀器)管理辦法之訂定主要在使本儀 器能發(fā)揮最大使用效益。二、服務(wù)對(duì)象：1. 本儀器之服務(wù)對(duì)象以本校師生、或校外教學(xué)及研究單位之研究人員為主。2. 本儀器之使用需先向負(fù)責(zé)管理單位提出申請(qǐng)，並填具低溫X光單晶繞射儀使用申請(qǐng)表。三、儀器設(shè)備：1. 廠牌及型別：Oxford Diffraction Gemini S。2. 主要附件：X光單晶繞射儀(Gemini S)。冷卻循環(huán)系統(tǒng)(KMW3000C)。* 液態(tài)氮低溫系統(tǒng)(Oxford Instruments ES-75)。四、服務(wù)項(xiàng)目：1. 晶體常數(shù)測(cè)定(Index)。2. 繞

2、射數(shù)據(jù)收集(Data Collection)3. 結(jié)構(gòu)解析(Structure Solving)。五、使用預(yù)約：1. 實(shí)驗(yàn)樣品可以郵寄方式或本人親自送達(dá)實(shí)驗(yàn)室，並在之前先以電話告知2. 開放時(shí)間週一至週五：每日上午九時(shí)至十二時(shí)及下午二時(shí)至五時(shí) 各二個(gè)時(shí)段。六、儀器使用之規(guī)定：1. 本儀器以處理一般晶體樣品為主，若晶體樣品具放射性或其他危險(xiǎn)性，須先 與儀器咨詢教授討論。2. 本儀器之操作使用，請(qǐng)依標(biāo)準(zhǔn)流程操作。3. 儀器發(fā)生異常時(shí)，請(qǐng)儘速告知本室技術(shù)人員，切勿自行拆裝儀器或修改參 數(shù)，並請(qǐng)將儀器異常情形，詳細(xì)記錄於使用記錄簿。4. 儀器使用完後，請(qǐng)保持儀器之清潔和清理操作臺(tái)面，並於記錄簿上記錄使

3、用 情形。5. 若純因個(gè)人因素所造成之儀器損壞，則須由個(gè)人負(fù)擔(dān)維修相關(guān)費(fèi)用。6. 沒有參加訓(xùn)練課程或本室技術(shù)人員認(rèn)可者不得自行上機(jī) ，須委由本室技術(shù)人 員，或其他具操作資格者上機(jī)。七、收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)：為確保本儀器之正常運(yùn)作，與提供使用者最佳服務(wù)品質(zhì)，使用本儀器之個(gè)人或單 位，均必須分擔(dān)本儀器所需之各項(xiàng)費(fèi)用。收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)：服務(wù)項(xiàng)目服務(wù)內(nèi)容收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)晶格常數(shù)測(cè)定樣品處理（般）樣品處理（特殊）In dex（每小時(shí)）400元/樣品1,000元/樣品200元/小時(shí)繞射常數(shù)測(cè)疋測(cè)定繞射常數(shù)（每小時(shí)）300元/小時(shí)結(jié)構(gòu)解析以實(shí)際進(jìn)行精算之原子數(shù)目為計(jì)費(fèi)單 位，特殊困難或耗時(shí)之結(jié)構(gòu)解析另計(jì)160元/原子XP繪圖XP繪圖（小時(shí)）600元/小時(shí)低溫檢測(cè)在低溫（通常為100K）下，以氮?dú)饨?低晶體環(huán)境溫度20元/小時(shí)收費(fèi)方式：使用者於使用儀器後，向管理員領(lǐng)取通知單，至本校出納組 （十