第四單元超聲波探傷

1、超聲波探傷超聲波探傷主要用于檢測(cè)主要用于檢測(cè)特點(diǎn)特點(diǎn)縱波縱波橫波橫波超聲波探頭超聲波探頭 超聲波探傷設(shè)備一般由超聲波探傷儀、探頭和超聲波探傷儀、探頭和試塊試塊組成。壓電超聲換能器電-聲能量相互轉(zhuǎn)換的能量轉(zhuǎn)換器件常用的探頭直探頭直探頭組成3）保護(hù)膜使壓電元件免于和工件直接接觸受磨損、碰壞。分類(lèi)：軟膜、硬膜4）殼體由金屬或塑料制成作用：壓電元件的接收極2斜探頭斜探頭 利用透聲斜楔塊使聲束傾斜于工件表面射入工件的探頭稱為斜探頭。 它可發(fā)射和接收橫波。組成：探頭芯、斜楔塊和殼體等 斜楔塊由有機(jī)玻璃制成，與工件組成固定傾斜的異質(zhì)界面，使探頭芯中壓電元件發(fā)射的縱波通過(guò)波型轉(zhuǎn)換，以折射波的形式在工件中傳播。

2、K=tg=1.0、1.5、2.0、2.5、3.0。3水浸聚焦探頭 它是一種由超聲探頭和聲透鏡組合而成的探頭。4雙晶探頭 雙晶探頭又稱分割式TR探頭，主要用探測(cè)近表面缺陷和薄工件的測(cè)厚。斜探頭聲束入射工作的方向和聲波傳播途徑3聲軸偏離角 探頭主聲速軸線與晶片中心法線之間的夾角稱為聲速軸線偏向角。 其反應(yīng)主聲束中心線與晶片中心法線的重合程度。聲軸偏離角影響缺陷定位和指示長(zhǎng)度測(cè)量精度及對(duì)缺陷方向性誤判，從而影響探傷結(jié)果。 三、探頭型號(hào) 探頭型號(hào)由五部分組成，用一組數(shù)字和字母表示，其排列順序如下：（1）基本頻率 單位為MHz。（2）晶片材料 常用的晶片材料（壓電材料）及其代號(hào)見(jiàn)表4-3所示。（3）晶片

3、尺寸 圓形晶片為晶片直徑；方形晶片為晶片長(zhǎng)度寬度；分割探頭晶片為分割前的尺寸。 超聲波探傷儀是探傷的主體設(shè)備。主要功能主要功能：產(chǎn)生超聲頻率電振蕩，并以此來(lái)激勵(lì)探頭發(fā)射超聲波。同時(shí)，它又將探頭接收到的回波電信號(hào)予以放大、處理，并通過(guò)一定方式顯示出來(lái)。 一、超聲波探傷儀的分類(lèi)1按超聲波的連續(xù)性分類(lèi)： 脈沖波、連續(xù)波、調(diào)頻波探傷儀 2 按缺陷顯示方式分： A型顯示（缺陷波幅顯示） B型顯示（缺陷俯視圖像顯示） C型顯示（缺陷側(cè)視圖像顯示） D型顯示（缺陷三維圖像顯示）超聲波探傷儀3按超聲波的通道數(shù)目分： 單通道、多通道超聲波探傷儀兩種。 前者是由一個(gè)或一對(duì)探頭單獨(dú)工作；后者是由多個(gè)或多對(duì)探頭交替工作，而每一通道相當(dāng)于一臺(tái)單通道探傷儀，適用于自動(dòng)化探傷。同步電路同步電路觸發(fā)脈沖觸發(fā)脈沖掃描掃描電路和發(fā)射電路電路和發(fā)射電路掃描電路掃描電路發(fā)射電路發(fā)射電路高頻窄脈沖超聲波導(dǎo)入工件反射回波電信號(hào)垂直偏轉(zhuǎn)探傷儀和探頭組合后的超聲系統(tǒng)的性能：1）靈敏度余量 組合靈敏度2）分辨力 超聲波探傷系統(tǒng)能夠區(qū)分兩個(gè)相鄰而不連續(xù)的缺陷的能力。 直接接觸法垂直入射法垂直入射法斜角探傷法斜角探傷法縱波法。縱波法。（圖（圖4-144-14）橫波橫波（圖（圖4-