無損檢測(cè)通用工藝規(guī)程

1、無損檢測(cè)通用工藝規(guī)程編制:審核:批準(zhǔn):編制說明本規(guī)程依據(jù)JB/T4730.1-4730.5-2005承壓設(shè)備無損檢測(cè)進(jìn)行編寫，并符合GB150壓力容器及固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程熱水鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程蒸汽鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程的要求。本規(guī)程由質(zhì)檢部提出，探傷室負(fù)責(zé)起草，由公司技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn)執(zhí)行，它是本公司無損檢測(cè)工作的執(zhí)行法規(guī)，本公司所有的無損檢測(cè)任務(wù)必須以本規(guī)程為依據(jù)，對(duì)于非本公司設(shè)備不具備法定意義。其檢測(cè)專用工藝及產(chǎn)品檢測(cè)工藝卡是對(duì)本規(guī)程的具體補(bǔ)充，作為本公司檢測(cè)工作的具體指導(dǎo)。第一章總則1 .主題內(nèi)容及引用標(biāo)準(zhǔn)1.1 本規(guī)程規(guī)定了無損檢測(cè)人員應(yīng)具備的資格，本公司所采用的四種無損檢測(cè)方

2、法射線檢測(cè)、超聲檢測(cè)、磁粉檢測(cè)和滲透檢測(cè)，檢測(cè)設(shè)備,檢測(cè)工藝，檢測(cè)時(shí)機(jī)，驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)及檔案的管理等。本規(guī)程適用于本公司I、R類壓力容器及蒸汽鍋爐、熱水鍋爐、鍋爐安裝及壓力管道的無損檢測(cè)。1.2 本規(guī)程依據(jù)：JB/T4730.1-4730.5-2005承壓設(shè)備無損檢測(cè)和本公司實(shí)際生產(chǎn)情況進(jìn)行編寫0引用標(biāo)準(zhǔn)：(1) GB150壓力容器(2) 熱水鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程(3) 壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程(4) 蒸汽鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程(5) GB5616無損探傷應(yīng)用導(dǎo)則(6) GB/T12604(1-6)無損檢測(cè)術(shù)語(7) GB4792射線防護(hù)基本標(biāo)準(zhǔn)(8) 特種設(shè)備無損檢測(cè)人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則2 .檢測(cè)

3、人員2.1 檢測(cè)人員必須按特種設(shè)備無損檢測(cè)人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則取得資格證書，從事與其資格證書相適應(yīng)的工作。2.22.3 檢測(cè)人員的身體素質(zhì)，視力須滿足JB/T4730.1-2005的要求并定期進(jìn)行身體檢查，并建立個(gè)人健康檔案。2.4 從事無損檢測(cè)工作的人員，必須堅(jiān)持職業(yè)道德，抵制降低產(chǎn)品質(zhì)量的行為，嚴(yán)把質(zhì)量關(guān)。檢測(cè)責(zé)任師有責(zé)任保證標(biāo)準(zhǔn)、法規(guī)，工藝的正確實(shí)施，并有權(quán)拒絕不符合標(biāo)準(zhǔn)，法規(guī)要求的任何檢測(cè)工作。3 .檢測(cè)方法：3.1 各種檢測(cè)方法都各有特點(diǎn)，在選用檢測(cè)方法時(shí)應(yīng)根據(jù)圖紙及技術(shù)文件的要求進(jìn)行，并應(yīng)符合GB150及固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程熱水鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程蒸汽鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)

4、程的要求。如果選擇兩種或多種檢測(cè)方法進(jìn)行補(bǔ)充檢測(cè)時(shí)，則每種方法的檢測(cè)結(jié)果都應(yīng)合格，才能算合格，否則應(yīng)進(jìn)行返修處理。3.2 壓力容器壁厚小于等于38mm時(shí)，其對(duì)接接頭應(yīng)采用射線檢測(cè)；由于結(jié)構(gòu)等原因，不能采用射線檢測(cè)時(shí)，允許采用可記錄的超聲檢測(cè)。3.3 壓力容器壁厚大于38mm（或小于等于38mm,但大于20mm且使用材料搞拉強(qiáng)度規(guī)定值下限大于等于540Mpa）時(shí)，其對(duì)接接頭如采用射線檢測(cè)，則每條焊縫還應(yīng)附加局部超聲檢測(cè)；如采用超聲檢測(cè)，則每條焊縫還應(yīng)附加局部射線檢測(cè)。無法進(jìn)行射線檢測(cè)或超聲檢測(cè)時(shí)，應(yīng)采用其他檢測(cè)方法進(jìn)行附加局部無損檢測(cè)。附加局部檢測(cè)應(yīng)包括所有的焊縫交叉部位，附加局部檢測(cè)的比例為本

5、規(guī)程原無損檢測(cè)比例的20%。3.4 對(duì)有無損檢測(cè)要求的角接接頭、T形接頭，不能進(jìn)行射線或超聲檢測(cè)時(shí)，應(yīng)做100%表面檢測(cè)。3.5 鐵磁性材料容器的表面檢測(cè)應(yīng)優(yōu)先選用磁粉檢測(cè)。4 .檢測(cè)時(shí)機(jī)的選擇：4.1 對(duì)于不同焊接材料的焊接，由于其可焊性的差異，焊接接頭結(jié)構(gòu)的不同，存在的淬硬性也就不同，因此對(duì)于不同焊接材料的焊接接頭應(yīng)選擇不同的檢測(cè)時(shí)機(jī)，以確保檢測(cè)的可靠性。4.2 對(duì)焊接接頭的檢測(cè)應(yīng)在焊后進(jìn)行。對(duì)有延遲裂紋傾向的材料，至少應(yīng)在焊后24小時(shí)后進(jìn)行檢測(cè)。4.3 對(duì)于檢驗(yàn)熱處理工藝性能時(shí)應(yīng)安排在熱處理后進(jìn)行。4.4 對(duì)于封頭的檢測(cè)應(yīng)在沖壓成型后進(jìn)行，否則無效。5 .檢測(cè)表面的驗(yàn)收5.1 凡是進(jìn)行無

6、損檢測(cè)的工件，必須經(jīng)外觀檢查合格后方能進(jìn)行無損檢測(cè)。5.2 進(jìn)行檢測(cè)的工件表面，除應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)要求以外，其表面不得存在：裂紋、氣孔、弧坑、咬邊和肉眼可見的夾渣等缺陷，焊接接頭兩側(cè)的飛濺和熔渣，必須清除。5.3 對(duì)于進(jìn)行超聲波或表面探傷檢查的部件除滿足上條規(guī)定以外，所有影響檢測(cè)的銹蝕、防護(hù)層和污物都應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)要求。5.4 對(duì)于上述要求不合格的須加以修整，合格后才能進(jìn)行檢測(cè)，否則，探傷人員有權(quán)拒絕檢測(cè)工作。6 .檢測(cè)檔案管理與規(guī)章制度6.1 堅(jiān)持嚴(yán)謹(jǐn)?shù)墓ぷ鲬B(tài)度，認(rèn)真學(xué)習(xí)技術(shù)，沒有資格的人員不能獨(dú)立進(jìn)行檢測(cè)工作。6.2 認(rèn)真填寫記錄報(bào)告，嚴(yán)格執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，不得弄虛作假。6.3

7、做好檔案的保存工作，并根據(jù)要求所有的檢測(cè)檔案報(bào)告及檢測(cè)底片保存不少于七年。7 .安全防護(hù)管理7.1 無損檢測(cè)工作由于其一般工作于現(xiàn)場(chǎng)，具檢測(cè)過程中與電接觸，其射線檢測(cè)具有一定的輻射危害，滲透檢測(cè)所使用藥品為可燃性和具有毒性介質(zhì)的存在，因此必須注意安全防護(hù)管理。7.2 對(duì)于射線檢測(cè)，具工作場(chǎng)地，及防護(hù)措施符合GB4792的規(guī)定。7.3 對(duì)于操作過程必須嚴(yán)格認(rèn)真執(zhí)行操作規(guī)程及廠內(nèi)輻射安全的管理規(guī)定。射線檢測(cè)設(shè)備操作規(guī)程見附錄第三章無損檢測(cè)質(zhì)控程序2. 1本程序由無損探傷室負(fù)責(zé)實(shí)施及控制，并與其他部門配合執(zhí)行。2.2 根據(jù)本公司具體情況制定，目的在于有效的服務(wù)于生產(chǎn)，并有助于質(zhì)保體系運(yùn)轉(zhuǎn)，對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量

8、進(jìn)行有效監(jiān)控，并通過對(duì)無損檢測(cè)程序進(jìn)行質(zhì)量控制，為焊接工藝的制訂與校對(duì)，產(chǎn)品焊接結(jié)構(gòu)的內(nèi)在質(zhì)量狀況提供準(zhǔn)確依據(jù)。2.3 無損檢測(cè)責(zé)任師負(fù)責(zé)組織檢測(cè)人員對(duì)材料及焊接接頭的檢驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行評(píng)審，并負(fù)責(zé)對(duì)檢測(cè)人員的技術(shù)培訓(xùn)。2.3.1 相關(guān)部門負(fù)責(zé)按檢測(cè)評(píng)審結(jié)果對(duì)檢測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行處置。2.4 工作過程2.4.1 無損檢測(cè)系統(tǒng)控制一覽表（表1）控制環(huán)節(jié)控制點(diǎn)名稱控制類別負(fù)責(zé)人接受任務(wù)接收委托審閱點(diǎn)無損檢測(cè)專業(yè)負(fù)責(zé)人探傷前準(zhǔn)備人員資格審查檢查點(diǎn)檢查員儀器校驗(yàn)審閱點(diǎn)無損檢測(cè)專業(yè)負(fù)責(zé)人探傷工藝編制審閱點(diǎn)無損檢測(cè)專業(yè)負(fù)責(zé)人探傷實(shí)施施探表面復(fù)查檢查點(diǎn)無損檢測(cè)專業(yè)負(fù)責(zé)人復(fù)驗(yàn)擴(kuò)探審閱點(diǎn)無損檢測(cè)責(zé)任工程師報(bào)告簽發(fā)報(bào)告簽發(fā)停點(diǎn)

9、無損檢測(cè)責(zé)任工程師2.4.2無損檢測(cè)質(zhì)量控制圖（圖1）尢損探傷質(zhì)控系統(tǒng)接受委托無損探傷焊縫返修JL驗(yàn)擴(kuò)探I施探表面復(fù)查圖例編制探傷人孤訓(xùn)均直反畬報(bào)告簽發(fā)報(bào)告簽發(fā)杰儀*驗(yàn)二,丁r1控制環(huán)節(jié)L一一停點(diǎn)檢查點(diǎn)審閱點(diǎn)探傷責(zé)任工程師探傷專業(yè)負(fù)責(zé)人檢查員2.4.3 質(zhì)檢部根據(jù)生產(chǎn)任務(wù)情況，技術(shù)圖樣要求、產(chǎn)品及材料工件的原始參數(shù)、填寫無損檢測(cè)委托單轉(zhuǎn)到本程序。2.4.3.1 本程序負(fù)責(zé)人在接受任務(wù)委托后，負(fù)責(zé)組織檢測(cè)人員著手任務(wù)的研究及準(zhǔn)備工作。2.4.3.2 質(zhì)檢部負(fù)責(zé)組織檢驗(yàn)員對(duì)材料及焊接產(chǎn)品的外觀質(zhì)量驗(yàn)收確認(rèn)合格后，出具無損檢測(cè)委托單轉(zhuǎn)到本程序。2.4.4 檢測(cè)準(zhǔn)備2.4.4.1 無損檢測(cè)責(zé)任師負(fù)責(zé)組

10、織無損檢測(cè)工藝的制訂，審核并保證其正確實(shí)施。2.4.4.2 檢測(cè)工藝的編制人員必須是由國(guó)家認(rèn)證合格的并具備相應(yīng)H級(jí)或以上資格的人員，其通用工藝規(guī)程必須經(jīng)廠級(jí)技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn)才能實(shí)施執(zhí)行。2.4.4.3 建立無損檢測(cè)人員的培訓(xùn)、資格檔案和檢測(cè)設(shè)備的購置、維護(hù)檔案記錄，并定期進(jìn)行儀器的校準(zhǔn)檢修。2.4.5 檢測(cè)表面的復(fù)查2.4.5.1 本程序接到無損檢測(cè)委托單后，由本程序負(fù)責(zé)人或其指定的檢測(cè)人員進(jìn)行表面復(fù)查。2.4.5.2 檢測(cè)表面的質(zhì)量必須符合有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)、文件及檢測(cè)技術(shù)條件的要求，且不影響對(duì)檢測(cè)結(jié)果的評(píng)定，否則檢測(cè)人員拒收并通知有關(guān)部門。2.4.6 檢測(cè)的實(shí)施2.4.6.1 全過程應(yīng)執(zhí)行檢測(cè)工藝并認(rèn)

11、真填寫檢測(cè)原始紀(jì)錄，繪制檢測(cè)位置簡(jiǎn)圖。2.4.6.2 注意過程中的安全防護(hù)操作，防止射線輻射對(duì)人體的危害，注意檢測(cè)器材的安全保管，防止使用過程的污染及防火。2.4.7 檢測(cè)結(jié)果的評(píng)審2.4.7.1 無損檢測(cè)責(zé)任師組織具有相應(yīng)n級(jí)及以上資格的檢測(cè)人員對(duì)檢驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行評(píng)審。2.4.7.2 進(jìn)行評(píng)審的檢測(cè)結(jié)果必須是符合JB/T4730.1-4730.5-2005標(biāo)準(zhǔn)或其他相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。2.4.7.3 對(duì)評(píng)審結(jié)果不符合標(biāo)準(zhǔn)要求的，進(jìn)行產(chǎn)品的擴(kuò)充檢測(cè)后，填寫焊接不合格檢測(cè)處置單和檢測(cè)缺陷傳遞單，傳遞到質(zhì)檢部，由質(zhì)檢部與生產(chǎn)車間協(xié)商進(jìn)行返修處置，并做好檢測(cè)評(píng)審紀(jì)錄。2.4.8 擴(kuò)檢與復(fù)檢2.4.8.1 對(duì)局

12、部射線檢測(cè)或超聲檢測(cè)的焊接接頭，若在檢測(cè)部位出現(xiàn)超標(biāo)缺陷時(shí)。則應(yīng)實(shí)行不少于該條焊接接頭長(zhǎng)度10%的，且不小于250mm的補(bǔ)充局部檢測(cè)；如仍不合格，則應(yīng)對(duì)該條焊接接頭全部檢測(cè)。2.4.8.2 對(duì)返修部位的復(fù)檢根據(jù)附錄E執(zhí)行。2.4.9 檢測(cè)報(bào)告的填寫、審核與簽發(fā)2.4.9.1 經(jīng)檢測(cè)評(píng)審合格后，并開具無損檢測(cè)合格通知單，通知車間進(jìn)行下序工作。并進(jìn)行檢測(cè)報(bào)告的填寫,報(bào)告人員根據(jù)評(píng)審紀(jì)錄和檢測(cè)紀(jì)錄認(rèn)真填寫。2.4.9.2 填寫好的報(bào)告經(jīng)審核人審核簽字后。最后由無損檢測(cè)責(zé)任師進(jìn)行核定簽字。2.4.9.3 在報(bào)告的審核及核定過程中如發(fā)現(xiàn)問題，則重新進(jìn)行檢測(cè)結(jié)果的評(píng)審復(fù)驗(yàn)。2.4.9.4 核定合格后的報(bào)告

13、，一式三份，一份留存入檔，兩份由質(zhì)檢部存入產(chǎn)品檔案及提交用戶。2.4.10 檢測(cè)檔案內(nèi)容：a:無損檢測(cè)委托單b:焊接不合格檢測(cè)處置單c:無損檢測(cè)合格通知單d:無損檢測(cè)報(bào)告e:無損檢測(cè)工藝卡f:底片第二章射線檢測(cè)工藝規(guī)程1 .主題內(nèi)容及工藝范圍1.1 本工藝具體規(guī)定了射線檢測(cè)對(duì)象、方法、人員資格、設(shè)備、檢測(cè)技術(shù)及驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的基本要求。1.2 本工藝根據(jù)JB/T4730.2-2005的要求及我公司具體情況制訂，適合用于2-50mm的鋼制壓力設(shè)備A、B類對(duì)焊接縫及鋼管的對(duì)接焊縫射線檢測(cè)，并符合固規(guī)及GB150蒸規(guī)熱規(guī)的要求。1.2.1 本工藝實(shí)施過程中在滿足標(biāo)準(zhǔn)的前提下，必須遵照產(chǎn)品設(shè)計(jì)圖樣的技術(shù)要求

14、規(guī)定。1.2.2 對(duì)特殊檢測(cè)工件以及本工藝范圍外的檢測(cè)，必須制訂相應(yīng)的工藝措施，在保證檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性的前提下進(jìn)行。1.2.3 射線檢測(cè)專用工藝及具體產(chǎn)品工藝卡為本工藝具體補(bǔ)充，其規(guī)定更明確，作為檢測(cè)實(shí)施過程中的具體指導(dǎo)。2 .人員要求2.1 檢測(cè)人員必須經(jīng)技術(shù)培訓(xùn)，應(yīng)按照特種設(shè)備無損檢測(cè)人員考核監(jiān)督管理規(guī)則進(jìn)行考核，取得資格證書，方能承擔(dān)與資格證書技術(shù)等級(jí)相適應(yīng)的無損檢測(cè)工作。2.2 射線檢測(cè)人員未經(jīng)矯正或經(jīng)矯正的視力應(yīng)不低于1.0,從事評(píng)片的人員每年檢查一次視力。3 .安全防護(hù)3.1 在檢測(cè)的實(shí)施工作中，應(yīng)遵循時(shí)間、距離及屏蔽的三大防護(hù)方法，全過程控制射線防護(hù)的安全，并符合GB18871、

15、GB1635和GB18465的規(guī)定。3.2 現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行X射線檢測(cè)時(shí)，應(yīng)按GB16357的規(guī)定劃定控制區(qū)和管理區(qū)，設(shè)置警告標(biāo)志，檢測(cè)人員應(yīng)佩帶個(gè)人計(jì)量?jī)x。4 .檢測(cè)設(shè)備、器材和材料4.1 本公司現(xiàn)有設(shè)備見表1名稱型號(hào)生產(chǎn)1家出廠日期觀片燈XK-300A丹東新科電器有限公司2007.12黑度計(jì)XK-800B丹東新科電器有限公司2010.12射線探傷機(jī)XXHZ2505河北旭光科技有限公司2009.05射線探傷機(jī)XXH3505丹東新科電器有限公司2011.114.1.1 設(shè)備的選用：根據(jù)工件材料密度、形狀、厚度尺寸選擇。為保障設(shè)備的使用壽命，必須嚴(yán)格執(zhí)行操作規(guī)程，選擇的透照規(guī)范盡量在選擇使用的X光機(jī)額定

16、電壓的80%內(nèi)。4.2 膠片：根據(jù)JB/T4730.2-2005要求，一般選用T3型膠片，我公司基本選用柯達(dá)膠片，也可選用相同類型膠片。4.2.1 無論選用任何類型膠片，但其暗室處理的配方必須與所用膠片配套。4.3 增感屏：采用鉛箔增感屏，前后均為0.03mm。74.3.1 膠片和增感屏在透照過程中應(yīng)始終貼緊。4.3.2 增感屏的表面應(yīng)保持光滑清潔，無污染損傷，變形。4.4 觀片燈4.4.1 觀片燈的主要性能應(yīng)符合JB/T7903的有關(guān)規(guī)定。4.4.2 觀片燈的最大亮度應(yīng)能滿足評(píng)片的要求。4.5 黑度計(jì)（光學(xué)密度計(jì)）4.5.1 黑度計(jì)可測(cè)的最大黑度應(yīng)不小于4.5,測(cè)量值的誤差應(yīng)不超過+0.05

17、。4.5.2 黑度計(jì)至少每6個(gè)月校驗(yàn)一次。校驗(yàn)方法可參照J(rèn)B/T4730.2-2005附錄B的規(guī)定進(jìn)行，黑度片應(yīng)每隔兩年校驗(yàn)一次。4.6 像質(zhì)計(jì)4.6.1 底片影像質(zhì)量采用線型像質(zhì)計(jì)測(cè)定。線型像質(zhì)計(jì)的型號(hào)和規(guī)格應(yīng)符合JB/T7902的規(guī)定，JB/T7902中未包含的絲徑、線號(hào)等內(nèi)容，應(yīng)符合HB7684的有關(guān)規(guī)定。4.6.2 像質(zhì)計(jì)的材料、材料代號(hào)和不同材料的像質(zhì)計(jì)適用的工件材料范圍應(yīng)符合JB/T4730.2-2005表2的規(guī)定。5 .檢測(cè)表面制備5.5.1檢測(cè)表面制備見總則第5條的規(guī)定6 .檢測(cè)時(shí)機(jī)6.1 檢測(cè)時(shí)機(jī)見見總則第4條的規(guī)定7 .檢測(cè)工藝和檢測(cè)技術(shù)7.1 透照布置7.1.1 透照方式

18、應(yīng)根據(jù)工件特點(diǎn)和技術(shù)條件的要求選擇適宜的透照方式。在可以實(shí)施的情況下應(yīng)選用單壁透照方式，在單壁透照不能實(shí)施時(shí)才允許采用雙壁透照方式。典型的透照方式見下圖1圖17.1.2 透照方向透照時(shí)射線束中心應(yīng)垂直指向透照區(qū)中心，需要時(shí)也可選用有利于發(fā)現(xiàn)缺陷的方向透照。7.1.3 一次透照長(zhǎng)度應(yīng)以透照厚度比K進(jìn)行控制。不同級(jí)別射線檢測(cè)技術(shù)和不同類型對(duì)接焊接接頭的透照厚度比應(yīng)符合表1的規(guī)定射線檢測(cè)技術(shù)級(jí)別A級(jí)、AB級(jí)B級(jí)縱向焊接接頭K1.03K1.01壞向焊接接頭K1.1nK1.011）對(duì)100mmD00400的環(huán)向?qū)咏宇^（包括曲率相同的曲面焊接接頭）,A級(jí)、AB級(jí)允許采用K1.207.1.4小徑管環(huán)向?qū)?/p>

19、焊接接頭的透照布置小徑管采用雙壁雙影透照布置，當(dāng)同時(shí)滿足下列兩條件時(shí)應(yīng)采用傾斜透照方式橢圓成像a） T（壁厚）8mmb） g（焊縫寬度）0.12時(shí)相隔120或60透照3次。垂直透照重疊成像時(shí)，一般應(yīng)相隔120或60透照3次。由于結(jié)構(gòu)原因不能進(jìn)行多次透照時(shí)，可采用橢圓成像或重疊成像方式透照一次。鑒于透照一次不能實(shí)現(xiàn)焊縫全長(zhǎng)的100%檢測(cè)，此時(shí)應(yīng)采取有效措施擴(kuò)大缺陷可檢出范圍，并保證底片評(píng)定范圍內(nèi)黑度和靈敏度滿足要求。7.2 射線能量7.2.1 X射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓。在采用較高管電壓時(shí)，應(yīng)保證適當(dāng)?shù)钠毓饬?。?duì)截面厚度變化大的承壓設(shè)備，在保證靈敏度要求的前提下，允許采用超過規(guī)定的X射線管

20、電壓。但管電壓增量不應(yīng)超過50KV。7.3 射線源至工件表面的最小距離7.3.1 由于本公司產(chǎn)品射線檢測(cè)技術(shù)等級(jí)為AB級(jí)，所選用的射線源至工件表面的距離AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)：？10d2b2/37.3.2 采用源在內(nèi)中心透照方式周向曝光時(shí)，只要得到的底片質(zhì)量符合7.11.2和7.11.3的要求,值可以減小，但減小值不應(yīng)超過規(guī)定值的50%.7.3.3 采用源在內(nèi)單壁透照方式時(shí)，只要得到的底片質(zhì)量符合7.11.2和7.11.3的要求，？值可以減小,但減小值不應(yīng)超過規(guī)定值的20%.7.4 曝光量7.4.1 X射線照相，當(dāng)焦距為700mm時(shí)，曝光量的推薦值為15mA2min:當(dāng)焦距改變時(shí)可按平方反比定律對(duì)

21、曝光量的推薦值進(jìn)行換算.7.5 曝光曲線7.5.1 對(duì)每臺(tái)在用射線設(shè)備均應(yīng)作出經(jīng)常檢測(cè)材料的曝光曲線，依據(jù)曝光曲線確定曝光參數(shù).97.5.2 制作曝光曲線所采用的膠片.增感屏.焦距.射線能量等條件以及底片應(yīng)達(dá)到的靈敏度.黑度等參數(shù)均應(yīng)符合本部分的規(guī)定.7.5.3 對(duì)使用中的曝光曲線，每年至少應(yīng)校驗(yàn)一次.射線設(shè)備更換重要部分或經(jīng)較大修理后應(yīng)及時(shí)對(duì)曝光曲線進(jìn)行校驗(yàn)或重新制作.7.6 無用射線和散射線屏蔽7.6.1 本公司采用金屬增感屏.鉛板等適當(dāng)措施，屏蔽散射線和無用射線，限制照射場(chǎng)范圍.7.6.2 對(duì)初次制定白檢測(cè)工藝，或使用中檢測(cè)工藝的條件.環(huán)境發(fā)生改變時(shí)，應(yīng)進(jìn)行背散射防護(hù)檢查.檢查背散射防護(hù)

22、的方法是：在暗盒背面貼附B鉛字標(biāo)記，一般鉛字的高度為13mm、厚度為1.6mm,按檢測(cè)工藝的規(guī)定進(jìn)行透照和暗室處理.若在底片上出現(xiàn)黑度低于周圍背景黑度的“B字影像，則說明背散射防護(hù)不夠，應(yīng)增大背散射防護(hù)鉛板的厚度.若底片上不出現(xiàn)“好影像或出現(xiàn)黑度高于周圍背景黑度的“好影像，則說明背散射防護(hù)符合要求.7.7 像質(zhì)計(jì)的使用7.7.1 像質(zhì)計(jì)一般應(yīng)放置在工件源側(cè)表面焊接接頭的一端（在被檢區(qū)長(zhǎng)度1/4左右位置）,金屬絲應(yīng)橫跨焊縫，細(xì)絲置于外側(cè).當(dāng)一張膠片上同時(shí)透照多條焊接接頭時(shí)，像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在透照區(qū)最邊緣的焊縫處.7.7.2 像質(zhì)計(jì)放置原則a）單壁透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)放置在源側(cè).雙壁單影透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)放置在

23、膠片側(cè).雙壁雙影透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)可放置在源側(cè)，也可放置在膠片側(cè).b）單壁透照中，如果像質(zhì)計(jì)無法放置在源側(cè)，允許放置在膠片側(cè)，c）單壁透照中像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時(shí)，應(yīng)進(jìn)行對(duì)比試驗(yàn)，對(duì)比試驗(yàn)方法時(shí)在射源側(cè)和膠片側(cè)各放一個(gè)像質(zhì)計(jì)，用與工件相同的條件透照，測(cè)定出像質(zhì)計(jì)放置在源側(cè)和膠片側(cè)的靈敏度差異,以此修正應(yīng)識(shí)別像質(zhì)計(jì)絲號(hào)，以保證實(shí)際透照的底片靈敏度符合要求.d）當(dāng)像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時(shí)，應(yīng)在像質(zhì)計(jì)上適當(dāng)位置放置鉛字“F”作為標(biāo)記，“F”標(biāo)記的影像應(yīng)與像質(zhì)計(jì)的標(biāo)記同時(shí)出現(xiàn)在底片上，且應(yīng)在檢測(cè)報(bào)告中注明.7.7.3 原則上每張底片上都應(yīng)有像質(zhì)計(jì)的影像.當(dāng)一次曝光完成多張膠片照相時(shí)，使用的像質(zhì)計(jì)數(shù)量允許減少但應(yīng)

24、符合以下要求：a）環(huán)形對(duì)接焊接接頭采用源置于中心周向曝光時(shí)，至少在圓周上等間隔地放置3個(gè)像質(zhì)計(jì).b）一次曝光連續(xù)排列的多張膠片時(shí)，至少在第一張.中間一張和最后一張膠片處各放置一個(gè)像質(zhì)計(jì).1.1.4 小徑管可選用通用線型像質(zhì)計(jì)或附錄F（規(guī)范性附錄）規(guī)定的專用（等經(jīng)金屬絲）像質(zhì)計(jì)，金屬絲應(yīng)橫跨焊縫放置。1.1.5 如底片黑度均勻部位（一般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū)）能夠清晰地看到長(zhǎng)度不小于10mm的連續(xù)金屬絲影像時(shí)，則認(rèn)為該絲是可識(shí)別的。專用像質(zhì)計(jì)至少應(yīng)能識(shí)別兩根金屬絲。1.8 標(biāo)記101.8.1 透照部位的標(biāo)記由識(shí)別標(biāo)記和定位標(biāo)記組成。標(biāo)記一般由適當(dāng)尺寸的鉛（或其他適宜的重金屬）制數(shù)字.拼音字母和符

25、合等構(gòu)成。1.8.2 識(shí)別標(biāo)記一般包括：產(chǎn)品編號(hào).對(duì)接焊接接頭編號(hào).部位編號(hào)和透照日期。返修后的透照還應(yīng)有返修標(biāo)記，擴(kuò)大檢測(cè)比例的透照應(yīng)有擴(kuò)大檢測(cè)標(biāo)記。具體標(biāo)識(shí)方法見附錄Co1.8.3 定位標(biāo)記一般包括中心標(biāo)記和搭接標(biāo)記。中心標(biāo)記指示透照部位區(qū)段的中心位置和分段編號(hào)的方向，一般用十字箭頭表示。搭接標(biāo)記是連續(xù)檢測(cè)時(shí)的透照分段標(biāo)記，可用符合“T或其他能顯示搭接情況的方法表示。1.8.4 標(biāo)記一般應(yīng)放置在距焊縫邊緣至少5mm以外的部位，所有標(biāo)記的影像不應(yīng)重疊，且不應(yīng)干擾有效評(píng)定范圍內(nèi)的影像。1.9 膠片處理1.9.1 本公司采用手工沖洗方式處理。1.9.2 膠片處理一般應(yīng)按使用說明書的規(guī)定進(jìn)行。1.

26、10 評(píng)片要求1.10.1 評(píng)片一般應(yīng)在專用的評(píng)片室內(nèi)進(jìn)行。評(píng)片室應(yīng)整潔、安靜、溫度適宜，光線應(yīng)暗且柔和。1.10.2 評(píng)片人員在評(píng)片前應(yīng)經(jīng)歷一定的暗適應(yīng)時(shí)間.從陽光下進(jìn)入評(píng)片的暗適應(yīng)時(shí)一般為5min10min;從一般的室內(nèi)進(jìn)入評(píng)片的暗適應(yīng)時(shí)間應(yīng)不少于30s。1.10.3 評(píng)片時(shí)，底片評(píng)定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)符合下列規(guī)定：a）當(dāng)?shù)灼u(píng)定范圍內(nèi)的黑度D02.5時(shí)，透過底片評(píng)定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于30cd/m2.2b）當(dāng)?shù)灼u(píng)定范圍內(nèi)的黑度D2.5時(shí)，透過底片評(píng)定范圍內(nèi)的鳧度應(yīng)不低于10cd/m。1.10.4 底片評(píng)定范圍的寬度一般為焊縫本身及焊縫兩側(cè)5mm寬的區(qū)域。1.11 底片質(zhì)量1.11.1 底片

27、上，定位和識(shí)別標(biāo)記影像應(yīng)顯示完整、位置正確。1.11.2 底片評(píng)定范圍內(nèi)的黑度D應(yīng)符合下列規(guī)定：AB級(jí)：2.0&D4.0;用X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時(shí)，AB級(jí)最低黑度允許降至1.5;1.11.3 底片的像質(zhì)計(jì)靈敏度單壁透照、像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)時(shí)應(yīng)符合JB/T4730.2-2005表5的規(guī)定；雙壁雙影透照、像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)時(shí)應(yīng)符合表6的規(guī)定；雙壁單影或雙壁雙影透照、像質(zhì)計(jì)置于膠片側(cè)時(shí)應(yīng)符合JB/T4730.2-2005表7的規(guī)定。1.11.4 底片評(píng)定范圍內(nèi)不應(yīng)存在干擾缺陷影象識(shí)別的水跡、劃痕、斑紋等偽缺陷影像。8 .鋼制承壓設(shè)備熔化焊對(duì)接焊接接頭射線檢測(cè)質(zhì)量分級(jí)8.1 范圍：本條適

28、用于厚度為2mm-50mm的碳素鋼、低合金鋼、奧氏體不銹鋼制承壓設(shè)備熔化焊對(duì)接焊接接頭射線檢測(cè)質(zhì)量分級(jí)。8.2 缺陷類型11對(duì)接焊接接頭中的缺陷按性質(zhì)可分為裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷和圓形缺陷共五類。8.3 質(zhì)量分級(jí)依據(jù)根據(jù)對(duì)接接頭中存在的缺陷性質(zhì)、數(shù)量和密集程度可分為I、H、m、IV級(jí)。8.4 質(zhì)量分級(jí)的規(guī)定鋼制承壓設(shè)備熔化焊對(duì)接焊接接頭射線檢測(cè)質(zhì)量分級(jí)應(yīng)見底片評(píng)片工藝（附錄D）9 .檢測(cè)報(bào)告9.1 檢測(cè)過程中應(yīng)做好原始記錄，包括日期、編號(hào)、檢測(cè)位置、工件名稱、規(guī)格尺寸、透照方式及參數(shù)并繪出位置簡(jiǎn)圖。9.2 底片評(píng)定合格后，出具檢測(cè)報(bào)告，檢測(cè)報(bào)告和底片至少要保存七年。第四章超聲檢測(cè)工藝規(guī)

29、程1 .主題內(nèi)容與適用范圍1.1 本規(guī)程規(guī)定了超聲檢測(cè)人員資格、儀器、探頭、試塊、檢測(cè)范圍、方法和質(zhì)量分級(jí)等。1.2 本規(guī)程采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀對(duì)金屬材料制承壓設(shè)備用原材料.零部件和焊接接頭進(jìn)行檢測(cè)。2 .引用標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)程2.1 固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程2.2 GB150-2011壓力容器2.3 JB/T4730.1-4730.3-2005承壓設(shè)備無損檢測(cè)2.4 JB/T7913-1995超聲波檢測(cè)用鋼制對(duì)比試塊的制作與校驗(yàn)方法2.5 JB/T9214-1999A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能，測(cè)試方法2.6 JB/T10061-1999A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件2

30、.7 JB/T10062-1999超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法2.8 JB/T10063-1999超聲探傷用1號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件3 .檢測(cè)人員應(yīng)符合本規(guī)程中總則的有關(guān)規(guī)定4 .檢測(cè)設(shè)備本公司現(xiàn)使用的是汕頭超聲儀器廠生產(chǎn)的CTS-2020一臺(tái)設(shè)備。4.1 探傷儀采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀。其工作頻率范圍為0.5MHZ-10MHZ,儀器至少在熒光屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀應(yīng)具備有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進(jìn)級(jí)每檔不大于2dB,任意相鄰12dB誤差在土1dB以內(nèi)，最大累計(jì)誤差不超過1dB。水平線性誤差不大于1%,垂直線性誤差不大于5%其余指標(biāo)應(yīng)符合JB/T10061的規(guī)定。4.

31、2 探頭12(1)晶片有效面積除另有規(guī)定外一般不應(yīng)超過500mm2,且任意一邊不大25mm.(2)單斜探頭聲束軸線水平偏離不應(yīng)大于2。，主聲束垂直主方向不應(yīng)有明顯的雙峰。4.3 超聲探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能4.3.1 在達(dá)到所探工件的最大檢測(cè)聲程時(shí),其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB。4.3.2 儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于10%。4.3.3 儀器和直探頭組合的始脈沖寬度(在基準(zhǔn)靈敏度下)：對(duì)于頻率為5MHZ的探頭，寬度不大于10mm；對(duì)于頻率為2.5MHZ的探頭，寬度不大于15mm。4.3.4 直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)大于或等于30dB,斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)大于或等于6dB04.3.5

32、 儀器和探頭的系統(tǒng)性能應(yīng)按JB/T9214和JB/T10062的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試。4.4 試塊4.4.1 標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用與被檢工件相同或近似聲學(xué)性能的材料制成，該材料用直探頭檢測(cè)時(shí)，不得有大于62mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。4.4.2 標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸精度應(yīng)符合JB/T4730.3-2005的要求，且其他制造要求應(yīng)符合JB/T10063和JB/T7913的規(guī)定。4.4.3 現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)時(shí)，允許采用其它形式的等校對(duì)比試塊，其反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合JB/T4730.3-2005的規(guī)定。5 .檢測(cè)的一般方法5.1 檢測(cè)準(zhǔn)備5.1.1 承壓設(shè)備超聲檢測(cè)的檢測(cè)時(shí)機(jī)及抽檢率的選擇等應(yīng)按相關(guān)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文

33、件的規(guī)定5.1.2 2所確定檢測(cè)面應(yīng)保證檢查到工件被檢部分的整個(gè)體積。對(duì)于鋼板和鍛件應(yīng)檢查道整個(gè)工件；而對(duì)熔接焊則應(yīng)檢查到整條焊縫。5.1.3 檢查面應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格，所有影響超聲檢測(cè)的銹蝕、飛濺和污物者應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測(cè)要求。5.2 檢測(cè)覆蓋率檢測(cè)時(shí)，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%。5.3 探頭的移動(dòng)速度探頭的掃查速度不應(yīng)超過去150mm/S。當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí)，不受此限。5.4 掃查靈敏度掃查靈敏度至少比基準(zhǔn)靈敏度高6dB05.5 耦合劑采用機(jī)油、漿糊和水等透聲性好，且不損傷檢測(cè)表面的耦合劑。6 .校準(zhǔn)校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使探頭主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反

34、射體的軸線，以獲取穩(wěn)定和最大的反射信號(hào)。136.1 儀器校準(zhǔn)在儀器開始使用前，應(yīng)對(duì)儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行測(cè)定，在使用過程中，每隔三個(gè)月至少應(yīng)對(duì)儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測(cè)定，測(cè)定方法按JB/T10061的規(guī)定。6.2 探頭校準(zhǔn)新探頭使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測(cè)定。測(cè)定方法按JB/T10062的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行，并滿足其要求。6.3 儀器和探頭系統(tǒng)的測(cè)定和復(fù)核6.3.1 檢測(cè)前儀器和探頭系統(tǒng)的測(cè)定a）使用儀器-斜探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定前沿距離、K值、主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。b）使用儀器-直探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定始脈沖寬度、靈

35、敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。6.3.2 檢測(cè)過程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核遇到下列情況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：a）校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)；b）檢測(cè)人員懷疑掃描量程和掃查靈敏度有變化時(shí)；c）連續(xù)工作4h以上時(shí)；d）工作結(jié)束時(shí)。6.3.3 檢測(cè)結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核a）應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過掃描線讀數(shù)的10%,則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢。b）應(yīng)對(duì)掃描靈敏度進(jìn)行復(fù)核。校核點(diǎn)不應(yīng)小于3點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)下降2dB,則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢；如上升2dB,則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行

36、重新評(píng)定。7 .承壓設(shè)備用鋼板超聲檢測(cè)7.1 本條適用于板厚6mm-250mm的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)。奧氏體鋼板、鍥及鍥合金板以及雙向不銹鋼板的超聲檢測(cè)也可參照本條執(zhí)行。7.2 探頭選用探頭選用應(yīng)按表1的規(guī)定執(zhí)行。表1探頭選用14板厚mm采用探頭公稱頻率MHz晶片尺寸620雙晶直探頭5晶片回積不小于150mm2040單晶直探頭514mm20mm40250單晶直探頭2.520mm25mm7.3 標(biāo)準(zhǔn)試塊7.3.1 用雙晶直探頭檢測(cè)壁厚小于或等于20mm的鋼板時(shí)，采用JB/T473023-2005圖1所示的CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊。7.3.2 用單直探頭檢測(cè)板厚大于20mm的

37、鋼板時(shí)，采用表2及JB/T4730.3-2005圖2CBH標(biāo)準(zhǔn)試塊的規(guī)定，試塊厚度應(yīng)與被檢鋼板厚度相近。7.4 檢測(cè)靈敏度7.4.1 板厚小于或等于20mm時(shí)，用CBI試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50%,再提高10dB作為檢測(cè)靈敏度。7.4.2 板厚大于20mm時(shí)，應(yīng)將CBII試塊5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為檢測(cè)靈敏度。表2CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊試塊編號(hào)被檢鋼板厚度檢測(cè)面到平底孔的距離s試塊厚度TCBII-120401520CBII-240603040CBII-3601005065CBII-410016090110CBII-5160200140170CBII-62

38、002501902207.4.3 板厚不小于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，也可取鋼板無缺陷完好部位的第一次底波來校準(zhǔn)靈敏度，其結(jié)果應(yīng)與7.4.2的要求相一致.7.5 檢測(cè)方法7.5.1 檢測(cè)面可選鋼板的任一軋制表面進(jìn)行檢測(cè)，若檢測(cè)人員認(rèn)為需要或設(shè)計(jì)上要求時(shí)，也可選鋼15板的上下兩軋制平面分別進(jìn)行檢測(cè)7.5.2 掃查方式圖1圖1探頭掃查示意圖a探頭沿垂直鋼板壓延方向，間距為100mm的平行線進(jìn)行掃查.在鋼板坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm內(nèi)應(yīng)作100%掃查，掃查示意圖如圖1.b根據(jù)合同.技術(shù)協(xié)議或圖樣的要求，也可進(jìn)行其它形式的掃查.7.6 缺陷的測(cè)定與記錄7.6.1 在檢測(cè)過程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一者即作為缺陷

39、：a缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度的50%，即F150%者.b當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高未達(dá)到滿刻度，此時(shí)，缺陷第一次反射波（F1）波高與底面第一次反射波（B1）波高之比大于或等于50%，即（B1）100%，而F1/B1I50%者.c當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高低于滿刻度的50%，即（B1）50%者.7.6.2 缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度的測(cè)定方法a檢出缺陷后，應(yīng)在它的周圍繼續(xù)檢測(cè)，以確定缺陷的范圍.b用雙晶直探頭確定缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，并使缺陷波下降到檢測(cè)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷的第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為

40、50%.此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn).兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn).c用單直探頭確定缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭，使缺陷波第一次反射波高下降到檢測(cè)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為50%.此時(shí)，探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn).兩種方法測(cè)得的結(jié)果比較嚴(yán)重者為準(zhǔn).d確定7.6.1c條缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭，使底面第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的50%.此時(shí)，探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn).e當(dāng)采用第二次缺陷波和第二次底波來評(píng)定缺陷時(shí)

41、才僉測(cè)靈敏度以相應(yīng)底第二次反射波來校準(zhǔn).7.7 缺陷的評(píng)定方法7.7.1 缺陷指示長(zhǎng)度的評(píng)定規(guī)則單個(gè)缺陷按其指示的最大長(zhǎng)度為該缺陷的指示長(zhǎng)度.若單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度小于40mm16時(shí)，可不做記錄。7.7.2 單個(gè)缺陷面積的評(píng)定規(guī)則a一個(gè)缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積.指示面積不計(jì)的單個(gè)缺陷見表3b多個(gè)缺陷按其相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰校缺陷的指示長(zhǎng)度（取其校大值）時(shí),其各塊缺陷面積之和作為單個(gè)缺陷指示面積.7.7.3 缺陷面積占有率的評(píng)定規(guī)則在任一1m31m檢測(cè)面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比來確定.如鋼板面積小于1m31mm,可按比例折算.7.8 鋼板缺陷等級(jí)評(píng)定7.8.1

42、鋼板缺陷等級(jí)劃分見表37.8.2 在坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（板厚大于100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)，缺陷的指示長(zhǎng)度大于或等于50mm時(shí)，則應(yīng)判廢，不作評(píng)級(jí).7.8.3 在檢測(cè)過程中，檢測(cè)人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn).裂紋等危害性缺席那存在時(shí)，則應(yīng)判廢，不作評(píng)級(jí).8 .承壓設(shè)備鍛件超聲檢測(cè)8.1 檢測(cè)范圍和一般要求本條適用于承壓設(shè)備用碳素鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測(cè)和缺陷等級(jí)評(píng)定.本條不適用于奧氏體鋼等粗晶材料的超聲檢測(cè)，也不適用于內(nèi)外半徑之比小于80%的環(huán)形和筒型鍛件的周向橫波檢測(cè).表3鋼板質(zhì)量分級(jí)等級(jí)單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度單個(gè)缺陷指cm2在佗-1m31m檢測(cè)面積內(nèi)存在的缺陷面積百分比%以下單個(gè)缺陷指

43、小面積不計(jì)cm2I802539nV100505v15mv120V100010V25wv150V100010V25V置過IV級(jí)者8.2 試塊應(yīng)符合4.4條的規(guī)定8.2.1 縱波直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用CSI,其形狀和尺寸按表4和JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)圖4的規(guī)定。表4CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸mm17試塊序號(hào)CSI-1CSI-2CSI-3CSI-4L50100150200D506080808.2.2 縱波雙晶直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊a工件檢測(cè)距離小于45mm時(shí)，應(yīng)采用CSII標(biāo)準(zhǔn)試塊。bCSII標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸按表5和JB/4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。8.2.3 檢測(cè)面是曲面時(shí)，應(yīng)采用CSIH試塊

44、來測(cè)定由于曲率不同引起的聲能損失，其形狀和尺寸按JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)圖6所示。8.3 檢測(cè)時(shí)機(jī)原則上應(yīng)安排在熱處理后，槽、孔、臺(tái)階加工前進(jìn)行，檢測(cè)面的表面粗糙讀Raw6.3pm.8.4 檢測(cè)方法鍛件一般應(yīng)進(jìn)行縱波檢測(cè)，筒形鍛件還應(yīng)進(jìn)行橫波檢測(cè)，但掃查部位和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)由供需雙方商定。8.4.1 橫波檢測(cè)鋼鍛件橫波檢測(cè)應(yīng)按JB/T4730.3-2005附錄C的要求進(jìn)行。表5CSII標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸試塊序號(hào)孔徑檢測(cè)距離L123456789CSH-14251015202530354045CSH-233CSH-344CSH-4（）68.4.2縱波檢測(cè)a）原則上應(yīng)從兩個(gè)相互垂直的方向進(jìn)行檢測(cè)，盡

45、可能地檢測(cè)到鍛件地全體積。主要檢測(cè)方向如JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)圖7所示，其它形狀的鍛件也可參照?qǐng)?zhí)行。b）鍛件厚度超過400mm時(shí),應(yīng)從相對(duì)兩端面進(jìn)行100%的掃查.8.5 靈敏度地確定8.5.1 縱波直探頭檢測(cè)靈敏度地確定當(dāng)被檢部位的厚度大于或等于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度，且探測(cè)面與底面平行時(shí)，原則上可采用底波計(jì)算法確定基準(zhǔn)靈敏度，對(duì)由于幾何形狀所限，不能獲得底波或壁厚小于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，可直接采用CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊來確定基準(zhǔn)靈敏度。8.5.2 縱波雙晶直探頭檢測(cè)靈敏度的確定18使用CSH,試塊，依次測(cè)試一組不同檢測(cè)距離的63mm平底孔（至少三個(gè)）。調(diào)節(jié)衰減器，作出雙晶直探頭的距離一波

46、幅曲線，并以此作為基準(zhǔn)靈敏度。8.5.3 掃查靈敏度一般不得低于最大檢測(cè)距離處的62mm平底孔當(dāng)量直徑。8.6 工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測(cè)定8.6.1 在工件無缺陷完好區(qū)域，選取三處檢測(cè)面與底面平行且有代表性部位，調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度（Bl或Bn）為滿刻度的50%,記錄此時(shí)衰減器的讀數(shù)，再調(diào)衰減器，使第二次底面回波幅度（B2或Bm）為滿刻度的50%,兩次衰減器讀數(shù)之差即為（B1.B2）或（Bn.Bm）的dB差值（不考慮底面反射損失。8.6.2 衰減系數(shù)（T3N/T,m=2n=按式（1）計(jì)算：a=（Bn-Bm）-6/2（m-n）T,式中：a-衰減系數(shù)，dB/m（單程）（Bn-Bm）-兩次衰減器

47、的讀數(shù)之差，dB:T工件檢測(cè)厚度，mmN一單直探頭近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度,mmM,n底波反射次數(shù).8.6.3 衰減系數(shù)（T3N）按式（2）計(jì)算a=（Bi-B2）-6/2T,（2）式中：（B1-B2）兩次衰減器的讀數(shù)之差，dB:其余符號(hào)意義同式（1）。8.6.4 工件上三處衰減系數(shù)的平均值即為該工件的衰減系數(shù)。8.7 缺陷當(dāng)量的確定8.7.1 被檢缺陷空的深度大于或等于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，采用AVG曲線及計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量。對(duì)于3倍近場(chǎng)區(qū)內(nèi)的缺陷，可采用單直探頭或雙晶直探頭的距離一波幅曲線來確定缺陷當(dāng)量。也可采用其它等效方法來確定。8.7.2 計(jì)算缺陷當(dāng)量時(shí)，當(dāng)材質(zhì)衰減系數(shù)超過4dB/m,應(yīng)考慮修正。8.8

48、 缺陷記錄8.8.1 記錄當(dāng)量直徑超過小4mm的單個(gè)缺陷的波幅和位置。8.8.2 密集區(qū)缺陷：記錄密集區(qū)缺陷中最大當(dāng)量缺陷的位置和分布。餅形鍛件應(yīng)記錄大于或等于64mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)，其它鍛件應(yīng)記錄大于或等于63mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)，缺陷密集區(qū)面積以50mm350mm的方塊作為最小量度單位，其邊界可由6dB法決定,應(yīng)按表7要求記錄底波降低量。8.9 缺陷等級(jí)評(píng)定8.9.1 單個(gè)缺陷的等級(jí)評(píng)定見表68.9.2 底波降低量的等級(jí)評(píng)定見表78.9.3 密集區(qū)缺陷等級(jí)評(píng)定見表8198.9.4 表6、表7和表8的等級(jí)應(yīng)作為獨(dú)立的等級(jí)分別使用8.9.5 如果工件的材質(zhì)衰減對(duì)檢測(cè)效果有較大的影響，

49、應(yīng)重新進(jìn)行熱處理8.9.6 如果被檢測(cè)人員判定為危害性缺陷時(shí)，鍛件的質(zhì)量等級(jí)為V級(jí).8.9.7 鍛件修補(bǔ)后，應(yīng)按本標(biāo)準(zhǔn)的要求進(jìn)行檢測(cè)評(píng)定。9 .鋼制承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)9.1 檢測(cè)范圍和一般要求本條適用于母材厚度為8-400mm全熔化焊對(duì)接焊接接頭的超聲檢測(cè)，承壓設(shè)備有關(guān)的支撐件和結(jié)構(gòu)件以及螺旋焊接接頭的超聲檢測(cè)也可按本條的規(guī)定進(jìn)行。本條不適用于鑄鋼及奧氏體鋼對(duì)接焊接接頭，外徑小于159mm的鋼管環(huán)向?qū)雍附咏宇^，內(nèi)徑小于或等于200mm的管座角焊縫，也不適用于外徑小于250mm或內(nèi)外徑之比小于80%的縱向?qū)雍附咏宇^的超聲檢測(cè)。表6單個(gè)缺陷的等級(jí)評(píng)定mm等級(jí)InmWV缺陷當(dāng)

50、量直徑W44()4+(08dB)(|)4+(812dB)(|)4+(1216dB)()4+16dB表7由缺陷引起底波降低量的等級(jí)評(píng)定dB等級(jí)InmWV底波降低量BG/BF8141420202626注：本表僅使用與聲程大于一倍近場(chǎng)區(qū)的缺陷表8密集區(qū)缺陷的等級(jí)評(píng)定等級(jí)InmWV密集區(qū)缺陷占檢測(cè)總面積的百分比%00-55-1010-20209.2 試塊9.2.1 試塊制作應(yīng)符合4.1.4.4條的規(guī)定9.2.2 采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為CSK-IA.CSK-IHA.其形狀和尺寸應(yīng)分別符合JB/T4730.3-2005標(biāo)圖14和圖16的規(guī)定.9.2.3 CSK-IA.和CSK-IHA試塊適用壁厚范圍為6-120

51、mm焊接接頭，在滿足靈敏度要求時(shí)，也可采用其它形式的等效試塊.9.2.4 檢測(cè)曲面工件時(shí)，如檢測(cè)面曲率半徑R小于等于W2/4時(shí)（W為探頭接觸面寬度，環(huán)縫檢測(cè)時(shí)為探頭寬度，縱縫檢測(cè)時(shí)為探頭長(zhǎng)度），應(yīng)采用與檢測(cè)面曲率相同的對(duì)比試塊，反射孔的位置可20參照標(biāo)準(zhǔn)試塊確定.試塊寬度b一般應(yīng)滿足：b2XS/D0,(3)式中：b試塊寬度，mm;入超聲波波長(zhǎng)，mm;S聲程,mm;Do聲源有效直徑，mm;9.3 檢測(cè)準(zhǔn)備9.3.1 檢測(cè)面a)檢測(cè)區(qū)域的寬度應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30%的一段區(qū)域，這個(gè)區(qū)域最小為5mm,最大為10mm.b)探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺.鐵屑.油垢及其它雜質(zhì).檢測(cè)表

52、面應(yīng)平整光滑，便于探頭的自由掃查,其表面粗糙度Raw6.3pmr股應(yīng)進(jìn)行打磨.(1)采用一次反射法檢測(cè)時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)不小于1.25P:式中：P=2KT,(4)或P=2TtanB,(5)P-跨距,mmT-母材厚度,mmK-探頭K值B探頭折射角()(2)采用直射法檢測(cè)時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)不小于0.75P.c)去除余高的焊縫，應(yīng)將余高打磨到與相鄰母材平齊，保留余高的焊縫，如果焊縫表面有咬邊.較大的隆起和凹陷等也應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)男弈?，并作圓滑過渡，以免影響檢驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定.9.3.2 探頭K值斜探頭的K值選取可參照表9的規(guī)定，條件允許時(shí)，應(yīng)盡量采用較大K值探頭.表9推薦應(yīng)用的斜探頭K值板厚T,mmK值6253

53、.02.0(722602)25462.51.5(682562)461202.51.0(602452)1204002.01.0(602452)9.3.3 母材的檢驗(yàn)對(duì)于C級(jí)檢測(cè)，斜探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域，應(yīng)先用直探頭檢測(cè)，以便檢測(cè)是否有影響斜探檢測(cè)結(jié)果的分層或其它種類缺陷存在，該項(xiàng)檢測(cè)僅作記錄，不屬于對(duì)母材的驗(yàn)收檢測(cè).母材檢測(cè)的規(guī)程要點(diǎn)如下：a)檢測(cè)方法:接觸式脈沖反射法，采用頻率2-5MHz的直探頭，晶片直徑10-25mm:b)檢測(cè)靈敏度：將無缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿刻度的100%:21c）凡缺陷信號(hào)幅度超過熒光屏滿刻度20%的部位，應(yīng)再工件表面作出標(biāo)記，并予以記錄.9.4 距離一波幅曲線的繪制9.4.1 距離一波幅曲線按所用探頭和儀器在試塊實(shí)測(cè)的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線族由評(píng)定線.定量線和判廢線組成評(píng)定線與定量線之間（包括評(píng)定線）為I區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）為R區(qū),判廢線及其以上區(qū)為田區(qū).如圖2所示.如果距離一波幅曲線繪制在熒光屏上，則在檢測(cè)范圍內(nèi)不低于熒光屏滿刻度的20%.9.4.2 距離一波幅曲線的靈敏度選擇a）壁厚為8-120mm的焊接接頭，其距離一波幅曲線靈敏度按表10規(guī)定.b）檢測(cè)橫向缺陷時(shí)，應(yīng)將各線靈敏度均提高6dB.c）檢測(cè)面曲率半徑R小于