SPCのCPK實戰(zhàn)篇ppt課件

1、SPC及CPK實 戰(zhàn) 篇1.1六西格碼在控制中的應用廣義的六西格碼是一個完善的管理工具是品質(zhì)管理系統(tǒng)的一種說法單純的六西格碼控制應用是一種質(zhì)量控制的目標請看以下說法正確與否 我公司已經(jīng)實施了六西格碼管理 我公司達到了六西格碼的要求 通過六西格碼管理公司品質(zhì)上了一個臺階一六西格碼2.2六西格碼與不良率: Kr 百分比(%) 百萬分缺點數(shù) 1r 2r 3r 4r 5r 6r 68.26 95.45 99.73 99.9937 99.999943 99.9999998 317400 45500 2700 63 0.57 0.002(規(guī)格中心不偏移)常態(tài)分配規(guī)格下限規(guī)格上限-6r-5r-4r-3r-2

2、r-1r+6r+1r+2r+3r+4r+5rX423. Kr 合格百分比(%) 百萬分缺點數(shù) 1r 2r 3r 4r 5r 6r 30.23 69.13 93.32 99.3790 99.97670 99.999660 697700 308700 66810 6210 233 3.4規(guī)格中心值往左、右移動1.5r常態(tài)分配規(guī)格下限規(guī)格上限-6r-5r-4r-3r-2r-1r+6r+1r+2r+3r+4r+5rX1.5r1.5r434.3控制方式與6控制方式的比較：5.? ? ?兩個影響量 1的變化 2的變化 2 1e-2 22F(x)=(x-)6.二SPC與CPK1區(qū)別與聯(lián)系CPK斷定短期的制程

3、才干可以用來解析目前的制程才干或用來檢驗制程才干能否在控制狀況下SPK長期的制程才干主要用在制程控制上。兩者配合運用應該做到短期=長期7.2影響量-標準差Sigma8.實例(Sigma較大離散性問題).3影響量-中心偏移量10.CPK實例分析(離散性較小中心偏移量影響)11.4CPK 改善的方向及目標12.5控制圖的判別在計量值服從常態(tài)分布的生產(chǎn)特性下最常用的控制圖是Xbar-R控制圖。常用的控制圖a、X bar R控制圖 計量值、正態(tài)分布b、不合格品百分率p控制圖 計件值、二項分布c、不合格品數(shù)np控制圖 (計件值、二項分布)d、缺陷率u控制圖 (計點值、泊松分布e、缺陷數(shù)c控制圖 (計點值

4、、泊松分布f、DPMO控制圖 (計點值、泊松分布13.1414.214.414.614.81515.215.415.615.8折線圖 1!5.1穩(wěn)定原那么-異常處理原那么一:不可超出控制界限14.14.214.414.614.81515.215.415.6折線圖 15.1穩(wěn)定原那么-預防處理原那么二:不可呈現(xiàn)規(guī)律變動延續(xù)7點上升或下降呈現(xiàn)規(guī)律性動搖,具有顯著的動搖周期15.14.214.414.614.81515.215.415.6東部5.1穩(wěn)定原那么-預防處理原那么二:不可呈現(xiàn)規(guī)律變動延續(xù)7點在控制界限一側延續(xù)11點中,有10點在控制界限一側(延續(xù))16.5.1穩(wěn)定原那么-預防處理原那么三:

5、不可過于集中分布顯著多于2/3的點集中在CL附近:即90%的數(shù)據(jù)在1 線以內(nèi)顯著少于40%的數(shù)據(jù)落在1 線以內(nèi)數(shù)據(jù)集中分布在2 到控制線之間(超越2/3)3點中,有兩點接近一側之控制界限7點中,有3點以上接近控制界限原那么四:符合過程才干要求17.5.2長期控制符合以下條件,可將控制圖用于長期控制:過程穩(wěn)定符合過程才干的要求再搜集15組數(shù)據(jù),無異常情形利用曾經(jīng)算出之控制界限進展控制按要求搜集數(shù)據(jù),并進展控制分析/控制在以下情況下,重新計算控制界限:初次過程才干研討,異常消除時對4M1E進展艱苦改良時產(chǎn)品修正時經(jīng)過長期運轉后18.現(xiàn)象可能原因處理分布不穩(wěn)定計算錯誤數(shù)據(jù)未層別查清原因,重新計算存在

6、特殊原因查清原因,予以消除過程能力不足過于分散平均值偏移采用管理性/技術性措施,進行改進5.3異常處理可以采取的措施有效后, 規(guī)范化處置19.三制程控制實例1CPK解析目的 通過集中量測解析目前的制程才干得出制程管控要求對制程管控要求進行分析解析出合理的制程管控上下限。實例分析以解析錫膏厚度的管控上下限為例集中量測25組錫膏厚度數(shù)據(jù)每組由5個量測點的數(shù)據(jù)計算CPK值斷定能否合理計算上下控制線。20.1.1集中量測25組錫膏厚度數(shù)據(jù)21.1.2計算CPK值Sigma= (Xi-Xbar)2/(n-1) 其中 i=1 to n =0.00312CP=T/(6*Simga)=(0.16-0.12)/

7、(6*0.00312)=2.75K=|Xbar-SL|/T/2=|0.832-0.140|/0.02=0.0084CPK=CP(1-K)=2.75(1-0.0084)=2.1188斷定CPK為2.11881.67屬于制程才干充分的狀態(tài)下22.1.3計算控制上下限上控制界限:UCL= Xbar +3*Sigma=0.832+3*0.00312=0.149192下控制界限:LCL= Xbar - 3*Sigma =0.832-3*0.00312=0.13047223.1.4控制圖24.1.5解析控制上下限上控制界限:UCL= 0.149192實際控制上限= 0.150 在實際解析中假設測量的點比較

8、分散可以適當放寬解析上限再定期檢討縮緊控制上限到理論值。下控制界限:LCL= 0.130472實際控制下限= 0.130在實際解析中假設測量的點比較分散可以適當放寬解析下限再定期檢討縮緊控制下限到理論值。25.2SPC控制 將CPK解析的控制上下限作為SPC的控制上下線 定時對生產(chǎn)制程進行量測這個時間可以是每天或每班 檢查每次的量測結果能否在管控范圍內(nèi) 量測點超出管控線需求立刻檢討制程尋找出緣由 定期(每月或每周)對近期的控制圖進行分析檢查能否有不收控制的趨勢(如周期變動連續(xù)7點連續(xù)11點等)。26.2.1SPC控制圖27.2.2控制圖的難點 CPK解析時存在中心偏移量較大的情況 CPK解析時

9、數(shù)據(jù)離散性較大Sigma較大 SPC控制時控制上下限太嚴導致經(jīng)常跑出控制線 量測點都在控制界限內(nèi)能否代表制程良好28.3SPC & CPK控制的步驟四個步驟3.1 CPK改進3.2 CPK解析3.3SPC控制及改進3.4PDCA29.3.1CPK改進-中心偏移量SLCLCP=2.75K=0.5084CPK=1.0530.3.1CPK解析-消除中心偏移量CL SLCP=2.75K=0.0084CPK=2.118831.3.1CPK解析-消除中心偏移量圖SL32.3.2CPK解析-穩(wěn)定性離散性原則CPK解析時Sigma較大 CP 2 CPK 1.67具體解析過程可以用Xbar-R 控制分析法難33

10、.3.2CPK解析-Xbar-R 分析步驟 1計算XbarRXbar.barRbar 2計算R的管控線并判斷 3剔除異常的點(超出規(guī)格的)查找異常的緣由 4重復123步驟直到全部在管控范圍內(nèi) 5計算Xbar的管控線并判斷 6剔除異常的點(超出規(guī)格的)查找異常的緣由 7重復1到6步驟直到全部在管控范圍內(nèi) 8落實查找出來的改善措施 9再次復驗。34.1計算XbarRXbar.barRbarR.UCL=D4*R.bar =2.12*0.0127=0.02694R.LCL=D3*R.bar =0*0.013=035.2計算R的管控線此時的X.bar圖異常點36.3重新計算-剔除R圖中的不合格點(第2點

11、)剔除后X.bar.bar及R.bar值均發(fā)生變化。R圖符合要求。37.4計算Xbar的管控線UCL= Xbar.bar+A2*Rbar=0.14043+0.577*0.012=0.147354LCL= Xbar.bar -A2*Rbar =0.14043-0.577*0.012=0.13350638.5剔除異常的點(超出規(guī)格的)查找異常的緣由異常點異常點39.6重新計算-剔除第512點Xbar.barRbar都需求重新計算檢查R圖符合要求40.6重新計算-檢查X.bar能否符合控制要求41.7落實改善措施及延長控制線 將第2點和第512點出現(xiàn)異常的緣由進行分析一定要追蹤落實改善 用以下公式得到控制用控制線UCL= Xbar +3*SigmaLCL= Xbar - 3*Sigma 42.3.