SPC統(tǒng)計(jì)過程控制-9

1、統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control1主要內(nèi)容第一部分: SPC統(tǒng)計(jì)過程控制概述第二部分: SPC統(tǒng)計(jì)過程控制原理第三部分: SPC控制圖第四部分: 計(jì)量型控制圖制作步驟及判定原則第五部分: 計(jì)數(shù)型控制圖制作步驟及判定原則第一部分: SPC統(tǒng)計(jì)過程控制概述3目 錄1. 控制圖的歷史2. SPC應(yīng)用范圍3. SPC&SQC理解4. 過程理解5. SPC常用術(shù)語1. 控制圖的歷史控制圖是1924年由美國品管大師W.A. Shewhart博士發(fā)明。因其用法簡單且效果顯著，人人能用，到處可用，遂成為實(shí)施質(zhì)量管理時(shí)不可缺少的主要工具，當(dāng)時(shí)稱為(Statistical Qu

2、ality Control)。1. 控制圖的歷史休哈特在20世紀(jì)20年代提出了過程控制理論以及監(jiān)視和控制過程的工具-控制圖；世界上第一張控制圖是休哈特在1924年5月16日提出的不合格品率(p)控制圖；休哈特主要貢獻(xiàn)在于：1) 應(yīng)用過程控制理論能夠在生產(chǎn)線上保證預(yù)防原則的實(shí)現(xiàn)。2) 在產(chǎn)品制造過程中，產(chǎn)品質(zhì)量特性值總是波動(dòng)的1. 控制圖的歷史英國在1932年，邀請(qǐng)W.A. Shewhart博士到倫敦，主講統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理，從而提高了英國人將統(tǒng)計(jì)方法應(yīng)用到工業(yè)方面之氣氛。日本在1950年由W.E. Deming博士引到日本同年日本規(guī)格協(xié)會(huì)成立了質(zhì)量管理委員會(huì)，制定了相關(guān)的JIS標(biāo)準(zhǔn)1924年發(fā)明W.

3、A. Shewhart1931發(fā)表1931年Shewhart發(fā)表了“Economic Control of Quality of Manufacture Product”工業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量的經(jīng)濟(jì)控制19411942制定成美國標(biāo)準(zhǔn)Z1-1-1941 Guide for Quality ControlZ1-2-1941 Control Chart Method foranalyzing DataZ1-3-1942 Control Chart Method forControl Quality During Production1.控制圖發(fā)展的歷史進(jìn)程SPC統(tǒng)計(jì)過程控制1924年W.A. Shewhart

4、提出SPD統(tǒng)計(jì)過程診斷侯鐵林1947年提出多元T控制圖張公緒1982年提出兩種質(zhì)量多元逐步診斷理論等SPA統(tǒng)計(jì)過程調(diào)整90年代起由SPD發(fā)展為SPA，國外稱之為ASPC（算法的統(tǒng)計(jì)過程控制）仍在發(fā)展過程之中1. 控制圖的發(fā)展1. 控制圖應(yīng)用范例1984年日本名古屋工業(yè)大學(xué)調(diào)查了115家日本各行各業(yè)的中小型工廠，結(jié)果發(fā)現(xiàn)平均每家工廠采用137張控制圖；美國柯達(dá)彩色膠卷公司有5000多名職工，一共應(yīng)用了35000張控制圖，平均每名職工做七張控制圖目的：尋找有效的方法來提供產(chǎn)品和服務(wù)，并不斷在價(jià)值上得以改進(jìn)；目標(biāo)：是達(dá)到顧客滿意（包括內(nèi)部和外部顧客）；對(duì)象：從事統(tǒng)計(jì)方法應(yīng)用的管理人員；范圍：基本統(tǒng)計(jì)

5、方法包括與統(tǒng)計(jì)過程控制及過程能力分析有關(guān)的方法，但不是全部2. SPC應(yīng)用范圍a) 收集數(shù)據(jù)并用統(tǒng)計(jì)方法解釋不是最終目標(biāo)，最終目標(biāo)是對(duì)實(shí)現(xiàn)過程的不斷理解；b) 研究變差和應(yīng)用統(tǒng)計(jì)知識(shí)改進(jìn)性能的基本概念適用于任何領(lǐng)域；c) 結(jié)合實(shí)際過程控制理解； d) 只是應(yīng)用統(tǒng)計(jì)方法的開始；e) 假設(shè)的前提：測量系統(tǒng)處于受控狀態(tài)并對(duì)數(shù)據(jù)的總變差沒有大的影響2. SPC應(yīng)用范圍3. SPC&SQCPROCESS原料測量結(jié)果針對(duì)產(chǎn)品所做的仍只是在做SQC針對(duì)過程的重要控制參數(shù)所做的才是SPCReal Time Response有反饋的過程控制系統(tǒng)模型過程的呼聲統(tǒng)計(jì)方法我們工作的方式/資源的融合產(chǎn)品或服務(wù)顧客識(shí)別不

6、斷變化的需求和期望顧客的呼聲輸入輸出過程/系統(tǒng)人設(shè)備材料方法環(huán)境4. 過程的理解5. SPC常用術(shù)語解釋平均值（X）一組測量值的均值極差（Range）一個(gè)子組、樣本或總體中最大與最小值之差（Sigma）用于代表標(biāo)準(zhǔn)差的希臘字母標(biāo)準(zhǔn)差(Standard Deviation)過程輸出的分布寬度或從過程中統(tǒng)計(jì)抽樣值（例如：子組均值）的分布寬度的量度，用希臘字母或字母s（用于樣本標(biāo)準(zhǔn)差）表示。分布寬度（Spread）一個(gè)分布中從最小值到最大值之間的間距中位數(shù) x將一組測量值從小到大排列后，中間的值即為中位數(shù)。如果數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)為偶數(shù)，一般將中間兩個(gè)數(shù)的平均值作為中位數(shù)。單值（Individual）一個(gè)單個(gè)

7、的單位產(chǎn)品或一個(gè)特性的一次測量，通常用符號(hào) X 表示。中心線（Central Line）控制圖上的一條線，代表所給數(shù)據(jù)平均值。過程均值（Process Average）一個(gè)特定過程特性的測量值分布的位置即為過程均值，通常用 X 來表示。鏈（Run）控制圖上一系列連續(xù)上升或下降，或在中心線之上或之下的點(diǎn)。它是分析是否存在造成變差的特殊原因的依據(jù)。變差（Variation）過程的單個(gè)輸出之間不可避免的差別；變差的原因可分為兩類：普通原因和特殊原因。特殊原因（Special Cause）一種間斷性的，不可預(yù)計(jì)的，不穩(wěn)定的變差根源。有時(shí)被稱為可查明原因，它存在的信號(hào)是：存在超過控制限的點(diǎn)或存在在控制限

8、之內(nèi)的鏈或其它非隨機(jī)性的圖形。5. SPC常用術(shù)語解釋普通原因（Common Cause）造成變差的一個(gè)原因，它影響被研究過程輸出的所有單值；在控制圖分析中，它表現(xiàn)為隨機(jī)過程變差的一部分。過程能力(Process Capability)是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值和規(guī)格界限的距離，用Z來表示。移動(dòng)極差（Moving Range)兩個(gè)或多個(gè)連續(xù)樣本值中最大值和最小值之差。計(jì)量型數(shù)據(jù)（Variables Data）定量的數(shù)據(jù)，可用量測值分析。計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)（Attributes Data）可以用來記錄和分析的定性數(shù)據(jù)。5. SPC常用術(shù)語解釋第二部分: SPC統(tǒng)計(jì)過程控制原理18目 錄1. S

9、PC解決問題思路2. 預(yù)防與檢驗(yàn)3. 波動(dòng)的概念理解4. 普通原因和特殊原因5. 局部措施和系統(tǒng)措施6. 統(tǒng)計(jì)過程控制思想7. 正態(tài)分布簡介8. 統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)9. 過程控制和過程能力1. SPC解決問題思路通過以往的數(shù)據(jù)了解正常的變異范圍設(shè)定成制造控制界限繪點(diǎn)判定是否超出界限糾正可能的異常持續(xù)改進(jìn)，縮小控制界限2. 預(yù)防與檢驗(yàn)PROCESS原料人機(jī)法環(huán)測量測量結(jié)果好不好不要等產(chǎn)品做出來后再去看它好不好而是在制造的時(shí)候就要把它制造好測量2. 對(duì)過程控制理解預(yù)防與檢驗(yàn)檢驗(yàn)容忍浪費(fèi)預(yù)防避免浪費(fèi)SPC和產(chǎn)品檢驗(yàn)有何區(qū)別、聯(lián)系:規(guī)范上限：USL控制上限：UCL控制下限：LCL規(guī)范下限：LSLSPC：事前

10、預(yù)防 檢驗(yàn)：事后反應(yīng)規(guī)范上限：USL：UPER SPECIFICATION LIMMITED控制上限：UCL：UPER CONTROL LIMMITED控制下限：LCL： LOWER CONTROL LIMMITED規(guī)范下限：LSL： LOWER SPECIFICATION LIMMITED3. 波動(dòng)的概念波動(dòng)：是指在現(xiàn)實(shí)生活中沒有兩件東西是完全一樣的生產(chǎn)實(shí)踐證明：無論用多么精密的設(shè)備和工具，多么高超的操作技術(shù)，甚至由同一操作工，在同一設(shè)備上，用相同的工具，用相同材料的生產(chǎn)同種產(chǎn)品，其加工后的質(zhì)量特性（如：重量、尺寸等）總是有差異，這種差異稱為波動(dòng)公差制度實(shí)際上就是對(duì)這個(gè)事實(shí)的客觀承認(rèn)消除波動(dòng)

11、不是SPC的目的，但通過SPC可以對(duì)波動(dòng)進(jìn)行預(yù)測和控制3. 制造過程組成和波動(dòng)原因波動(dòng)原因人機(jī)器材料方法測量環(huán)境3. 波動(dòng)的種類正常波動(dòng)：是由普通(偶然)原因造成的。如操作方法的微小變動(dòng)，機(jī)床的微小振動(dòng)，刀具的正常磨損，夾具的微小松動(dòng)，材質(zhì)上的微量差異等。正常波動(dòng)引起工序質(zhì)量微小變化，難以查明或難以消除。它不能被操作工人控制，只能由技術(shù)、管理人員控制在公差范圍內(nèi)異常波動(dòng)：是由特殊(異常)原因造成的。如原材料不合格，設(shè)備出現(xiàn)故障，工夾具不良，操作者不熟練等。異常波動(dòng)造成的波動(dòng)較大，容易發(fā)現(xiàn)，應(yīng)該由操作人員發(fā)現(xiàn)并糾正4. 普通原因和特殊原因普通原因：指的是造成隨著時(shí)間推移具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布過

12、程中的許多變差的原因，我們稱之為：“處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)”、“受統(tǒng)計(jì)控制”，或有時(shí)簡稱“受控”，普通原因表現(xiàn)為一個(gè)穩(wěn)定系統(tǒng)的偶然原因。只有變差的普通原因存在且不改變時(shí)，過程的輸出才可以預(yù)測特殊原因：指的是造成不是始終作用于過程的變差的原因，即當(dāng)它們出現(xiàn)時(shí)將造成(整個(gè))過程的分布改變。除非所有的特殊原因都被查找出來并且采取了措施，否則它們將繼續(xù)用不可預(yù)測的方式來影響過程的輸出。如果系統(tǒng)內(nèi)存在變差的特殊原因，隨時(shí)間的推移，過程的輸出將不穩(wěn)定4. 普通原因和特殊原因每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同但它們形成一個(gè)模型,若穩(wěn)定,可以描述為一個(gè)分布分布可以通過以下因素來加以區(qū)分范圍范圍范圍范圍范圍范圍范圍范圍范圍范

13、圍或這些因素的組合位置分布寬度形狀4. 普通原因和特殊原因目標(biāo)值線預(yù)測時(shí)間范圍范圍時(shí)間目標(biāo)值線如果僅存在變差的普通原因，隨著時(shí)間的推移，過程的輸出形成一個(gè)穩(wěn)定的分布并可預(yù)測如果存在變差的特殊原因，隨著時(shí)間的推移，過程的輸出不穩(wěn)定4. 普通原因舉例合格原料的微小變化機(jī)械的微小震動(dòng)刀具的正常磨損氣候、環(huán)境的微小變化等4. 特殊原因舉例使用不合格原料設(shè)備調(diào)整不當(dāng)新手作業(yè)違背操作規(guī)程刀具過量磨損等4. 普通原因、特殊原因示意圖普通原因的波動(dòng)范圍特殊原因?qū)е碌牟▌?dòng)范圍特殊原因?qū)е碌牟▌?dòng)范圍UCLLCLCL5. 局部措施通常用來消除變差的特殊原因通常由與過程直接相關(guān)的人員實(shí)施大約可糾正15%的過程問題5.

14、 系統(tǒng)措施通常用來消除變差的普通原因幾乎總是要求管理措施，以便糾正大約可糾正85%的過程問題5. 局部措施、系統(tǒng)措施示意圖解決普通原因的系統(tǒng)措施解決特殊原因的局部措施解決特殊原因的局部措施UCLLCL假定過程是處于受控狀態(tài)，一旦顯示偏離這一狀態(tài)，極大可能是過程失控，需要及時(shí)調(diào)整產(chǎn)品質(zhì)量波動(dòng)原因是由普通原因和特殊原因引起的，產(chǎn)品質(zhì)量總是變化的受控狀態(tài)：指僅由普通原因引起的質(zhì)量波動(dòng)，受控狀態(tài)的產(chǎn)品質(zhì)量也應(yīng)該是波動(dòng)的SPC應(yīng)用概率論基本原理：1) 小概率事件在一次試驗(yàn)當(dāng)中是不可能發(fā)生的(指發(fā)生機(jī)會(huì)非常小的事件)；2) 過程分布是呈現(xiàn)正態(tài)分布6. 統(tǒng)計(jì)過程控制思想 直方圖中對(duì)稱型的形狀是“中間高，兩邊

15、低，左右基本對(duì)稱”。若樣本容量不斷增加，并且使分組增多、分組的區(qū)間不斷細(xì)分，則直方圖的對(duì)稱性越來越接近如下圖所表示的曲線：-+abxf(x)此曲線是正態(tài)密度函數(shù)曲線P(aXb)f(x)dx7. 正態(tài)分布簡介群體平均值=標(biāo)準(zhǔn)差=+k -k 抽樣7. 正態(tài)分布簡介7. 正態(tài)分布簡介k在內(nèi)的概率在外的概率0.6750.00%50.00%168.26%31.74%1.9695.00%5.00%295.45%4.55%2.5899.00%1.00%399.73%0.27%68.26%95.45%99.73%+1+2+3-1-2-37. 正態(tài)分布簡介x為總體的取值是總體的平均值，是位置參數(shù)，是改變正態(tài)分布

16、曲線的位置，不改變形狀；是總體標(biāo)準(zhǔn)差，表示數(shù)據(jù)分散程度的統(tǒng)計(jì)量，是形狀參數(shù)，不改變正態(tài)曲線的位置，改變其形狀大（矮胖）小（高瘦）；實(shí)際運(yùn)用中用s（樣本標(biāo)準(zhǔn)差）、 用x（樣本均值）代替，即s、 x 。7. 正態(tài)分布簡介正態(tài)分布曲線性質(zhì)：a.曲線關(guān)于x= 對(duì)稱；b.在x= 處曲線處于最高點(diǎn)，當(dāng)x向左、向右遠(yuǎn)離時(shí)曲線不斷降低；c.曲線形狀由和唯一確定，或簡記：N()。d.當(dāng) =0，=1時(shí)正態(tài)分布稱為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布簡記為N(0，1)。7. 正態(tài)分布簡介P(3X 3) P(3 )/ (X )/ (3 )/ )P(3 (X )/ 3)2*(1-0.00135)-1=0.9973=99.73%-3+3LCLU

17、CLCL3原理7. 正態(tài)分布簡介-3+3LCLUCLCL產(chǎn)品質(zhì)量特性值落在(-3 ，+3)范圍內(nèi)概率為99.73%，落在該區(qū)域范圍之外的概率是0.27%。休哈特根據(jù)這一點(diǎn)發(fā)明了控制圖8. 統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)8. 統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài) 統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)是由過程中只有普通原因產(chǎn)生的變差引起，控制狀態(tài)是生產(chǎn)所追求的目標(biāo)，因?yàn)樵诳刂茽顟B(tài)下具有：對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量有完全把握生產(chǎn)是最經(jīng)濟(jì)的，在控制狀態(tài)下所產(chǎn)生的不合格品最少，生產(chǎn)最經(jīng)濟(jì)在控制狀態(tài)下，過程的變差的最小8. 防止兩類錯(cuò)誤所有的統(tǒng)計(jì)方法都是會(huì)產(chǎn)生錯(cuò)誤，因?yàn)槲覀冎豢刂?9.73%，要防止兩種錯(cuò)誤： 虛發(fā)警報(bào) 漏發(fā)警報(bào)8. 控制界限和規(guī)格界限規(guī)格界限：是用以說明質(zhì)量特性的最大

18、許可值，來保證各個(gè)單位產(chǎn)品的正確性能控制界限：應(yīng)用于一群單位產(chǎn)品集體的量度，這種量度是從一群中各個(gè)單位產(chǎn)品所得的觀測值所計(jì)算出來者9. 過程控制和過程能力控制滿足要求受控不受控可接受1類3類不可接受2類4類簡言之，首先應(yīng)通過檢查并消除變差的特殊原因使過程處于受統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，那么其性能是可預(yù)測的，就可評(píng)定滿足顧客期望的能力9. 過程控制和過程能力9. 持續(xù)改進(jìn)PLANDOSTUDYACTPLANDOSTUDYACTPLANDOSTUDYACT1. 分析過程本過程應(yīng)做些什么會(huì)出現(xiàn)什么錯(cuò)誤達(dá)到統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)確定能力2. 維護(hù)過程監(jiān)控過程性能查找變差的特殊原因并采取措施3. 改進(jìn)過程改變過程從而更好理解

19、普通原因變差減少普通原因變差9. 過程改進(jìn)循環(huán)第三部分: SPC控制圖52目 錄1. 控制圖定義2. 控制圖應(yīng)用的原理3. 控制圖的目的4. 控制圖益處5. 控制圖分類6. 控制圖的選擇控制圖示例:上控制界限(UCL)中心線(CL)下控制界限(LCL) 控制圖是用于分析和控制過程質(zhì)量的一種方法?？刂茍D是一種帶有控制界限的反映過程質(zhì)量的記錄圖形，圖的縱軸代表產(chǎn)品質(zhì)量特性值(或由質(zhì)量特性值獲得的某種統(tǒng)計(jì)量)；橫軸代表按時(shí)間順序(自左至右)抽取的各個(gè)樣本號(hào)；圖內(nèi)有中心線(記為CL)、上控制界限(記為UCL)和下控制界限(記為LCL)三條線(見下圖)。1. 控制圖定義2. 控制圖原理說明工序處于穩(wěn)定狀

20、態(tài)下，其計(jì)量值的分布大致符合正態(tài)分布。由正態(tài)分布的性質(zhì)可知：質(zhì)量數(shù)據(jù)出現(xiàn)在平均值的正負(fù)三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)偏差(X3)之外的概率僅為0.27%。這是一個(gè)很小的概率，根據(jù)概率論 “視小概率事件為實(shí)際上不可能” 的原理，可以認(rèn)為：出現(xiàn)在X3區(qū)間外的事件是異常波動(dòng)，它的發(fā)生是由于異常原因使其總體的分布偏離了正常位置控制限的寬度就是根據(jù)這一原理定為3 68.26%95.45%99.73%+1+2+3-1-2-32. 控制圖原理說明2. 控制圖過程控制的工具上控制限中 心 線下控制限1.收集：收集數(shù)據(jù)并畫在圖上2.控制：根據(jù)過程數(shù)據(jù)計(jì)算試驗(yàn)控制限；識(shí)別變差的特殊原因并采取措施3.分析及改進(jìn)：確定普通原因變差的大小并

21、采取減小它的措施重復(fù)這三個(gè)階段從而不斷改進(jìn) 過程步驟3. 控制圖的目的控制圖和一般的統(tǒng)計(jì)圖不同，因其不僅能將數(shù)值以曲線表示出來，以觀其變異之趨勢，且能顯示變異系屬于機(jī)遇性或非機(jī)遇性，以指示某種現(xiàn)象是否正常，而采取適當(dāng)之措施。利用控制限區(qū)隔是否為非機(jī)遇性4. 控制圖的益處供正在進(jìn)行過程控制的操作者使用有于過程在質(zhì)量上和成本上能持續(xù)地，可預(yù)測地保持下去使過程達(dá)到：更高的質(zhì)量更低的單件成本更高的有效能力為討論過程的性能提供共同的語言區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南4. 關(guān)于數(shù)據(jù)的分類質(zhì)量數(shù)據(jù)的特點(diǎn)是數(shù)據(jù)總是波動(dòng)的，質(zhì)量數(shù)據(jù)的變差是具有統(tǒng)計(jì)規(guī)律性的，是建立在大量重復(fù)

22、試驗(yàn)基礎(chǔ)上。數(shù)據(jù)計(jì)量型數(shù)值計(jì)數(shù)型數(shù)值計(jì)件值計(jì)點(diǎn)值 計(jì)量型控制圖平均數(shù)與極差控制圖( Chart)平均數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)差控制圖( Chart)中位數(shù)與極差控制圖( Chart)個(gè)別值與移動(dòng)極差控制圖( chart)計(jì)數(shù)值控制圖不良率控制圖(P chart)不良數(shù)控制圖(Pn chart,又稱np chart或d chart)缺點(diǎn)數(shù)控制圖(C chart)單位缺點(diǎn)數(shù)控制圖(U chart)4. 控制圖種類(以數(shù)據(jù)性質(zhì)分)4. 控制圖應(yīng)用的統(tǒng)計(jì)分布計(jì)量型Xbar-RXbar-sX中位數(shù)-RX-Rm正態(tài)分布計(jì)數(shù)型Pnp二項(xiàng)分布Cu泊松分布4. 控制圖種類(依用途來分)分析用控制圖：根據(jù)樣本數(shù)據(jù)計(jì)算出控制圖的中

23、心線和上、下控制界限，畫出控制圖，以便分析和判斷過程是否處于于穩(wěn)定狀態(tài)。如果分析結(jié)果顯示過程有異常波動(dòng)時(shí)，首先找出原因，采取措施，然后重新抽取樣本、測定數(shù)據(jù)、重新計(jì)算控制圖界限進(jìn)行分析控制用控制圖：經(jīng)過上述分析證實(shí)過程穩(wěn)定并能滿足質(zhì)量要求，此時(shí)的控制圖可以用于現(xiàn)場對(duì)日常的過程質(zhì)量進(jìn)行控制4. 控制圖種類(依用途來分)分析用控制圖決定方針用制程解析用制程能力研究用制程管制準(zhǔn)備用解析用穩(wěn)定控制用控制用控制圖追查不正常原因迅速消除此項(xiàng)原因并且研究采取防止此項(xiàng)原因重復(fù)發(fā)生的措施4. 兩種控制圖應(yīng)用示意說明初期的二十五點(diǎn)計(jì)算時(shí)有些超出控制界限，此時(shí)須尋找原因。連續(xù)二十五點(diǎn)在控制界限內(nèi)，表示制程基本上已穩(wěn)

24、定，控制界限可以延用有點(diǎn)超出控制界限，表示此時(shí)狀態(tài)已被改變，此時(shí)要追查原因，必要時(shí)必須重新收集數(shù)據(jù)，重新考慮穩(wěn)定狀態(tài)解析用穩(wěn)定控制用再調(diào)整“n”=1025控制圖的選定資料性質(zhì)不良數(shù)或缺陷數(shù)單位大小是否一定“n”是否一定樣本大小n2CL的性質(zhì)“n”是否較大“u”圖“c”圖“np”圖“p”圖X-Rm圖X-R圖X-R圖X-s圖計(jì)數(shù)值計(jì)量值“n”=1n1中位數(shù)平均值“n”=25缺陷數(shù)不良數(shù)不一定一定一定不一定5. 控制圖的選擇CASE STUDY第四部分:計(jì)量型控制圖制作步驟及判定原則68目 錄1. 引言2. 均值和極差圖(X-R圖)3. 均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖(X-s)4. 中位數(shù)和極差圖(X-R)5. 單

25、值和移動(dòng)極差圖(X-MR)與過程有關(guān)的說明結(jié)果舉例控制圖舉例軸的外徑（英寸）從基準(zhǔn)面到孔的距離（mm）電阻（）軌道車通過時(shí)間（h）工程更改處理時(shí)間（h）用于均值測量的X圖用于極差測量的R圖人員設(shè)備環(huán)境材料方法測量結(jié)果計(jì)量單位(mm，kg等)原點(diǎn)（0mm，F(xiàn)等）1234567計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖應(yīng)用前提不準(zhǔn)確準(zhǔn)確不精密精密測量方法必須保證始終產(chǎn)生準(zhǔn)確和精密的結(jié)果大多過程和其輸出具有可測量的特性；量化的值比簡單的是否陳述包含的信息更多；對(duì)較少的件數(shù)檢查，可獲得更多的有關(guān)過程的信息；因只需檢查少量的產(chǎn)品，可縮短零件生產(chǎn)和采取糾正措施之間的時(shí)間間隔；可分析一個(gè)過程的性能和可量化所用的改進(jìn)，為尋求持續(xù)改進(jìn)提

26、供信息。計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖益處建立控制圖的四步驟A收集數(shù)據(jù)B計(jì)算控制限C過程控制解釋D過程能力解釋建立X-R圖的步驟A階段收集數(shù)據(jù)A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組大小子組頻率子組數(shù)大小A2建立控制圖及記錄原始記錄A3計(jì)算每個(gè)子組的均值X和極差RA4選擇控制圖的刻度A5將均值和極差畫到控制圖上取樣的方式取樣必須達(dá)到組內(nèi)變異小，組間變異大樣本數(shù)、頻率、組數(shù)的說明每個(gè)子組平均值和極差計(jì)算11009899100982989998101973999710010098410010010199995101999910099平均99.698.699.410098.2極差33322平均值和極差平均值的計(jì)算R值的計(jì)

27、算計(jì)算控制限B1計(jì)算平均極差及過程平均值B2計(jì)算控制限B3在控制圖上作出平均值和 極差控制限的控制線建立X-R圖的步驟B 上述公式中A2,D3,D4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。其系數(shù)值見下表 ：n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D30.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.340.340.31 注： 對(duì)于樣本容量小于7的情況，LCLR可能技術(shù)上為一個(gè)負(fù)值。在這種情況下沒有下控制限，這意味著對(duì)于一個(gè)樣本數(shù)為6的子組，6個(gè)“同樣的”測量結(jié)果是可能成立的。 X-R圖計(jì)算公式系數(shù)過程控制解釋

28、C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)C2識(shí)別并標(biāo)注特殊原因(極差圖)C3重新計(jì)算控制界限(極差圖)C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)超出控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形超出控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形C5識(shí)別并標(biāo)注特殊原因(均值圖)C6重新計(jì)算控制界限(均值圖)C7為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限建立X-R圖的步驟C控制圖的判讀超出控制界限的點(diǎn)：出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何一個(gè)控制界限是該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要證據(jù)UCLCLLCL異常異?？刂茍D的判讀鏈：有下列現(xiàn)象之一即表明過程已改變連續(xù)7點(diǎn)位于平均值的一側(cè)連續(xù)7點(diǎn)上升(后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn))或下降。UCLCLLCL控制圖的判讀明顯的非隨機(jī)圖形：應(yīng)依正態(tài)分布來判定圖形，正常應(yīng)是有2/

29、3的點(diǎn)落于中間1/3的區(qū)域。UCLCLLCL控制圖的觀察分析作控制圖的目的是為了使生產(chǎn)過程或工作過程處于“控制狀態(tài)”. 控制狀態(tài)即穩(wěn)定狀態(tài), 指生產(chǎn)過程或工作過程僅受偶然因素的影響, 產(chǎn)品質(zhì)量特性的分布基本上不隨時(shí)間而變化的狀態(tài). 反之, 則為非控制狀態(tài)或異常狀態(tài).控制狀態(tài)的標(biāo)準(zhǔn)可歸納為二條:第一條, 控制圖上點(diǎn)不超過控制界限;第二條, 控制圖上點(diǎn)的排列分布沒有缺陷.控制圖的觀察分析進(jìn)行控制所遵循的依據(jù):連續(xù)25點(diǎn)以上處于控制界限內(nèi);連續(xù)35點(diǎn)中, 僅有1點(diǎn)超出控制界限;連續(xù)100點(diǎn)中, 不多于2點(diǎn)超出控制界限.五種缺陷鏈: 點(diǎn)連續(xù)出現(xiàn)在中心線 CL 一側(cè)的現(xiàn)象稱為鏈, 鏈的長度用鏈內(nèi)所含點(diǎn)數(shù)

30、多少來判別.當(dāng)出現(xiàn)5點(diǎn)鏈時(shí), 應(yīng)注意發(fā)展情況, 檢查操作方法有無異常;當(dāng)出現(xiàn)6點(diǎn)鏈時(shí), 應(yīng)開始調(diào)查原因;當(dāng)出現(xiàn)7點(diǎn)鏈時(shí), 判定為有異常, 應(yīng)采取措施.控制圖的觀察分析從概率的計(jì)算中, 得出結(jié)論:點(diǎn)出在中心線一側(cè)的概率A1=1/2點(diǎn)連續(xù)出現(xiàn)在中心線一側(cè)的概率A1=(1/2)7 = 1/128 (0.7%)即在128次中才發(fā)生一次, 如果是在穩(wěn)定生產(chǎn)中處于控制狀態(tài)下, 這種可能性是極小的. 因此, 可以認(rèn)為這時(shí)生產(chǎn)狀態(tài)出現(xiàn)異常.偏離: 較多的點(diǎn)間斷地出現(xiàn)在中心線的一側(cè)時(shí)偏離. 如有以下情況則可判斷為異常狀態(tài).連續(xù)的11點(diǎn)中至少有10點(diǎn)出現(xiàn)在一側(cè)時(shí);連續(xù)的14點(diǎn)中至少有12點(diǎn)出現(xiàn)在一側(cè)時(shí);連續(xù)的17

31、點(diǎn)中至少有14點(diǎn)出現(xiàn)在一側(cè)時(shí);連續(xù)的20點(diǎn)中至少有16點(diǎn)出現(xiàn)在一側(cè)時(shí)?？刂茍D的觀察分析傾向: 若干點(diǎn)連續(xù)上升或下降的情況稱為傾向, 其判別準(zhǔn)則如下:當(dāng)出現(xiàn)連續(xù)5點(diǎn)不斷上升或下降趨向時(shí), 要注意該工序的操作方法;當(dāng)出現(xiàn)連續(xù)6點(diǎn)不斷上升或下降的趨向時(shí), 要開始調(diào)查原因;當(dāng)出現(xiàn)連續(xù)7點(diǎn)不斷上升或下降的趨向時(shí), 應(yīng)判斷為異常, 需采取措施.周期: 點(diǎn)的上升或下降出現(xiàn)明顯的一定的間隔時(shí)稱為周期.周期包括呈階梯形周期變動(dòng)、波狀周期變動(dòng)、大小波動(dòng)等情況.控制圖的觀察分析接近: 圖上的點(diǎn)接近中心線或上下控制界限的現(xiàn)象稱為接近. 接近控制界限時(shí), 在中心線與控制界限間作三等分線, 如果在外側(cè)的1/3帶狀區(qū)間內(nèi)存

32、在下述情況可判定為異常:連續(xù)3點(diǎn)中有2點(diǎn)(該兩點(diǎn)可不連續(xù))在外側(cè)的1/3帶狀區(qū)間內(nèi);連續(xù)7點(diǎn)中有3點(diǎn)(該3點(diǎn)可不連續(xù))在外側(cè)的1/3帶狀區(qū)間內(nèi);連續(xù)10點(diǎn)中有4點(diǎn)(該4點(diǎn)可不連續(xù))在外側(cè)的1/3帶狀區(qū)間內(nèi).當(dāng)首批數(shù)據(jù)都在試驗(yàn)控制限之內(nèi)（即控制限確定后），延長控制限，將其作為將來的一段時(shí)期的控制限。當(dāng)子組容量變化時(shí)（例如：減少樣本容量，增加抽樣頻率），應(yīng)調(diào)整中心限和控制限 。方法如下： 估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差（用 表示），用現(xiàn)有的子組容量計(jì)算： = R/d2 式中R為子組極差均值， d2 為隨樣本容量變化的常數(shù)，如下表按照新的子組容量查表得到系數(shù)d2 、D3、D4 和 A2，計(jì)算新的極差和控制限。 為

33、繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限為繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差和計(jì)算新的控制限 n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.08過程能力解釋D1計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差D2計(jì)算過程能力D3評(píng)價(jià)過程能力D4提高過程能力D5對(duì)修改的過程繪制控制圖并分析建立X-R圖的步驟D前提假設(shè)：過程處于統(tǒng)計(jì)穩(wěn)定狀態(tài)；過程的各測量值服從正態(tài)分布；工程及其它規(guī)范準(zhǔn)確地代表顧客的需求；設(shè)計(jì)目標(biāo)值位于規(guī)范的中心；測量變差相對(duì)較小前提說明：總存在抽樣變差；沒有“完全”受統(tǒng)計(jì)控制過程；實(shí)際分布不是完美的正態(tài)分布過程能力解釋前提計(jì)算過程能力對(duì)于X-R圖，過程能力是通過計(jì)算Cpk，用

34、 Cpk大小來確定過程能力，當(dāng)所有點(diǎn)都受控后才計(jì)算該值。對(duì)于過程能力的初步估計(jì)值，應(yīng)使用歷史數(shù)據(jù)，但應(yīng)剔除與特殊原因有關(guān)的數(shù)據(jù)點(diǎn)。當(dāng)正式研究過程能力時(shí)，應(yīng)使用新的數(shù)據(jù)，最好是25個(gè)或更多時(shí)期子組，且所有的點(diǎn)都受統(tǒng)計(jì)控制。制程能力指數(shù)Ca制程能力指數(shù)Cp雙邊規(guī)格只有上規(guī)格時(shí)只有下規(guī)格時(shí)制程能力指數(shù)Cpk當(dāng) Cpk1 說明制程能力差，不可接受；1Cpk1.33,說明制程能力可以，但需改善；1.33Cpk1.67,說明制程能力正常；1.67 Cpk，說明制程能力良好。評(píng)價(jià)過程能力改善過程能力過程一旦表現(xiàn)出處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，該過程所保持的控制水平即反應(yīng)了該系統(tǒng)的變差原因過程能力。在操作上診斷特殊原因(

35、控制)變差問題的分析方法不適于診斷影響系統(tǒng)的普通原因變差。必須對(duì)系統(tǒng)本身直接采取管理措施，否則過程能力不可能得到改進(jìn)。有必要使用長期的解決問題的方法來糾正造成長期不合格的原因?？梢允褂弥T如排列圖分析法及因果分析圖等解決問題技術(shù)。盡可能地追溯變差的可疑原因，并借助統(tǒng)計(jì)技術(shù)方法進(jìn)行分析將有利于問題的解決改善過程能力過程穩(wěn)定，控制范圍維持在一定的水平當(dāng)中降低變差采取管理上的措施降低偶因，如此才能縮小控制界限，降低變差縮小控制限繪制并分析修改后的過程控制圖當(dāng)對(duì)過程采取了系統(tǒng)的措施后，其效果應(yīng)在控制圖上明顯地反應(yīng)出來； 控制圖成為驗(yàn)證措施有效性的一種途徑。對(duì)過程進(jìn)行改變時(shí)，應(yīng)小心地監(jiān)視控制。這個(gè)變化時(shí)期

36、對(duì)系統(tǒng)操作會(huì)是破壞性，可能造成新的控制問題，掩蓋系統(tǒng)變化后的真實(shí)效果。在過程改變期間出現(xiàn)的特殊原因變差被識(shí)別并糾正后，過程將按一個(gè)新的過程均值處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)。這個(gè)新的均值反映了受控制狀態(tài)下的性能。可作為現(xiàn)行控制的基礎(chǔ)。但是還應(yīng)對(duì)繼續(xù)系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)查和改進(jìn)。制程績效指標(biāo)的計(jì)算，其估計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)差為總的標(biāo)準(zhǔn)差，包含了組內(nèi)變異以及組間變異?？傋儺?組內(nèi)變異+組間變異。過程績效指數(shù)PpkCpk和Ppk差異Cpk：只考慮了組內(nèi)變異，而沒有考慮組間變異，所以一定是適用于制程穩(wěn)定時(shí)，其組間變異很小可以忽略時(shí)，不然會(huì)高估了制程能力；另句話也可以說明如果努力將組間變異降低時(shí)所能達(dá)到的程度。Ppk：考慮了總變異(組內(nèi)和

37、組間)，所以是比較真實(shí)的情形，所以一般想要了解真正的制程情形應(yīng)使用Ppk。群體平均值=標(biāo)準(zhǔn)差=對(duì)的估計(jì)群體標(biāo)準(zhǔn)差的估計(jì)A收集數(shù)據(jù)：在計(jì)算各個(gè)子組的平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差其公式分別如下：B計(jì)算控制限 上述公式中A3,B3,B4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。其系數(shù)值見下表 ：n2345678910B43.272.572.282.2091.971.881.821.761.72B30.030.120.190.240.28A32.661.951.631.431.291.181.101.030.98 注： 對(duì)于樣本容量小于6時(shí)，LCLS可能技術(shù)上為一個(gè)負(fù)值。在這種情況下沒有標(biāo)準(zhǔn)差的下控制限。 X-s圖計(jì)算公式系數(shù)

38、C過程控制解釋(同X-R圖解釋)D過程能力解釋 n2345678910c40.7980.8860.9210.9400.9520.9590.9650.9690.973A收集數(shù)據(jù)一般情況下，中位數(shù)圖用在樣本容量小于10的情況，樣本容量為奇數(shù)時(shí)更為方便。如果子組樣本容量為偶數(shù)，中位數(shù)是中間兩個(gè)數(shù)的均值。B計(jì)算控制限C過程控制解釋(同X-R圖解釋)估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差：單值控制在檢查過程變化時(shí)不如X-R圖敏感。如果過程的分布不是對(duì)稱的，則在解釋單值控制圖時(shí)要非常小心。單值控制圖不能區(qū)分過程零件間重復(fù)性，最好能使用X-R。由于每一子組僅有一個(gè)單值，所以平均值和標(biāo)準(zhǔn)差會(huì)有較大的變性，直到子組數(shù)達(dá)到100個(gè)以上

39、。A收集數(shù)據(jù)收集各組數(shù)據(jù)計(jì)算單值間的移動(dòng)極差。通常最好是記錄每對(duì)連續(xù)讀數(shù)間的差值(例如第一和第二個(gè)讀數(shù)點(diǎn)的差，第二和第三讀數(shù)間的差等)。移動(dòng)極差的個(gè)數(shù)會(huì)比單值讀數(shù)少一個(gè)(25個(gè)讀值可得24個(gè)移動(dòng)極差)，在很少的情況下，可在較大的移動(dòng)組(例如3或4個(gè))或固定的子組(例如所有的讀數(shù)均在一個(gè)班上讀取)的基礎(chǔ)上計(jì)算極差。B計(jì)算控制限注：正常情況下，樣本n=2此時(shí)E2=2.66 D4=3.27 D3=0 E2、D4、D3是用來計(jì)算移動(dòng)極差分組C過程控制解釋審查移動(dòng)極差圖中超出控制限的點(diǎn)，這是存在特殊原因的信號(hào)。記住連續(xù)的移動(dòng)極差間是有聯(lián)系的，因?yàn)樗鼈冎辽儆幸稽c(diǎn)是共同的。由于這個(gè)原因，在解釋趨勢時(shí)要特別注

40、意。可用單值圖分析超出控制限的點(diǎn)，在控制限內(nèi)點(diǎn)的分布，以趨勢或圖形。但是這需要注意，如果過程分布不是對(duì)稱，用前面所述的用于X圖的規(guī)則來解釋時(shí)，可能會(huì)給出實(shí)際上不存在的特殊原因的信號(hào)估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差：式中，R為移動(dòng)極差的均值，d2是用于對(duì)移動(dòng)極差分組的隨樣本容量n而變化的常數(shù)。計(jì)量型控制圖常用系數(shù)表n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D30.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.340.340.31B43.272.572.282.2091.971.881.821.761.72B30.030

41、.120.190.240.28A32.661.951.631.431.291.181.101.030.98m3A21.881.190.800.690.550.510.430.410.36E22.661.771.461.291.181.111.051.020.98d21.131.692.062.332.532.702.852.973.08c40.7980.8860.9210.9400.9520.9590.9650.9690.973第五部分:計(jì)數(shù)型控制圖制作步驟及判定原則119目 錄1. 引言2. 不合格率p圖3. 不合格品數(shù)np圖4. 不合格數(shù)c圖5. 單位產(chǎn)品不合格數(shù)u圖與過程有關(guān)說明人員設(shè)備

42、環(huán)境材料方法輸出分為：合格：“接受”不合格：“拒收”結(jié)果舉例控制圖車輛不泄漏/泄漏給銷售商發(fā)的貨正確/不正確風(fēng)窗上玻璃上的氣泡發(fā)票上的錯(cuò)誤不合格率p圖不合格品數(shù)np圖每檢驗(yàn)批的不合格品c圖每檢驗(yàn)批的不合格品數(shù)u圖計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖應(yīng)用前提前提是必須明確規(guī)定合格準(zhǔn)則，并確定這些準(zhǔn)則是否滿足程序隨時(shí)間產(chǎn)生一致的結(jié)果。驗(yàn)收規(guī)范舉例評(píng)述表面應(yīng)沒有斑點(diǎn)在彩色紋理、光澤度和缺陷數(shù)幾方面，表面應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)為防止剝落而敷到鏡子背面的任何材料不應(yīng)引起鏡子背襯有可見的斑點(diǎn)。是什么斑點(diǎn)？檢驗(yàn)員是否同意？如何測量？符合哪種程度？如何測量？對(duì)誰可見？在什么條件下？計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖益處計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)存在于任何技術(shù)或行政管理過程中

43、；一般情況下計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)已存在，可快捷將數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化成控制圖；收集計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)通常不需要專業(yè)化收集技術(shù)；應(yīng)用計(jì)數(shù)型控制圖通常能對(duì)需要詳細(xì)檢查特定過程提供方向。P控制圖的制做流程A收集數(shù)據(jù)B計(jì)算控制限C過程控制解釋D過程能力解釋建立p圖的步驟A階段收集數(shù)據(jù)A1選擇子組的容量、頻率及數(shù)量子組容量分組頻率子組數(shù)量A2計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度A4將不合格品率描繪在控制圖A1子組容量、頻率、數(shù)量子組容量：用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖一般要求較大的子組容量(例如50200)以便檢驗(yàn)出性能的變化，一般希望每組內(nèi)能包括幾個(gè)不合格品，但樣本數(shù)如果太大也會(huì)有不利之處。分組頻率：應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組

44、的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。時(shí)間隔短則反饋快，但也許與大的子組容量的要求矛盾子組數(shù)量：要大于等于25組以上，才能判定其穩(wěn)定性。A2計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)不合格品率記錄每個(gè)子組內(nèi)的下列值被檢項(xiàng)目的數(shù)量n發(fā)現(xiàn)的不合格項(xiàng)目的數(shù)量np通過這些數(shù)據(jù)計(jì)算不合格品率A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度描繪數(shù)據(jù)點(diǎn)用的圖應(yīng)將不合格品率作為縱坐標(biāo)，子組識(shí)別作為橫坐標(biāo)?？v坐標(biāo)刻度應(yīng)從0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的1.5到2倍。劃圖區(qū)域A4將不合格品率描繪在控制圖上描繪每個(gè)子組的p值，將這些點(diǎn)聯(lián)成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。當(dāng)點(diǎn)描完后，粗覽一遍看看它們是否合理，如果任意一點(diǎn)比別的高出或低出許多，檢查計(jì)算是否正確。記

45、錄過程的變化或者可能影響過程的異常狀況，當(dāng)這些情況被發(fā)現(xiàn)時(shí)，將它們記錄在控制圖的“備注”部份。計(jì)算控制限B1計(jì)算過程平均不合格品率B2計(jì)算上、下控制限B3畫線并標(biāo)注建立p控制圖的步驟B計(jì)算平均不合格率及控制限過程控制用控制圖解釋C1分析數(shù)據(jù)點(diǎn)，找出不穩(wěn)定證據(jù)C2尋找并糾正特殊原因C3重新計(jì)算控制界限超出控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形建立p圖的步驟C過程能力解釋D1計(jì)算過程能力D2評(píng)價(jià)過程能力D3改進(jìn)過程能力D4繪制并分析修改后的過程控制圖建立p的步驟D計(jì)算過程能力對(duì)于p圖，過程能力是通過過程平均不合率來表示，當(dāng)所有點(diǎn)都受控后才計(jì)算該值。如需要，還可以用符合規(guī)范的比例(1-p)來表示。對(duì)于過程能力

46、的初步估計(jì)值，應(yīng)使用歷史數(shù)據(jù)，但應(yīng)剔除與特殊原因有關(guān)的數(shù)據(jù)點(diǎn)。當(dāng)正式研究過程能力時(shí)，應(yīng)使用新的數(shù)據(jù)，最好是25個(gè)或更多時(shí)期子組，且所有的點(diǎn)都受統(tǒng)計(jì)控制。這些連續(xù)的受控的時(shí)期子組的p值是該過程當(dāng)前能的更好的估計(jì)值。改善過程能力過程一旦表現(xiàn)出處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，該過程所保持的不合格平均水平即反應(yīng)了該系統(tǒng)的變差原因過程能力。在操作上診斷特殊原因(控制)變差問題的分析方法不適于診斷影響系統(tǒng)的普通原因變差。必須對(duì)系統(tǒng)本身直接采取管理措施，否則過程能力不可能得到改進(jìn)。有必要使用長期的解決問題的方法來糾正造成長期不合格的原因?？梢允褂弥T如排列圖分析法及因果分析圖等解決問題技術(shù)。但是如果僅使用計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)將很難理

47、解問題所在，通常盡可能地追溯變差的可疑原因，并借助計(jì)量型數(shù)據(jù)進(jìn)行分將有利于問題的解決改善過程能力過程穩(wěn)定，不良率維持在一定的水平當(dāng)中降低不良率采取管理上的措施降低偶因，如此才能縮小控制界限，降低不良率縮小控制限繪制并分析修改后過程控制圖當(dāng)對(duì)過程采取了系統(tǒng)的措施后，其效果應(yīng)在控制圖上明顯地反應(yīng)出來； 控制圖成為驗(yàn)證措施有效性的一種途徑。對(duì)過程進(jìn)行改變時(shí)，應(yīng)小心地監(jiān)視控制。這個(gè)變化時(shí)期對(duì)系統(tǒng)操作會(huì)是破壞性，可能造成新的控制問題，掩蓋系統(tǒng)變化后的真實(shí)效果。在過程改變期間出現(xiàn)的特殊原因變差被識(shí)別并糾正后，過程將按一個(gè)新的過程均值處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)。這個(gè)新的均值反映了受控制狀態(tài)下的性能。可作為現(xiàn)行控制的基

48、礎(chǔ)。但是還應(yīng)對(duì)繼續(xù)系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)查和改進(jìn)。不合格品數(shù)np圖“np”圖是用來度量一個(gè)檢驗(yàn)中的不合格品的數(shù)量，與p圖不同，np圖表示不合格品實(shí)際數(shù)量而不是與樣本的比率。p圖和np圖適用的基本情況相同，當(dāng)滿足下列情況可選用np圖不合格品的實(shí)際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報(bào)告。各階段子組的樣本容量相同?！皀p”圖的詳細(xì)說明與p圖很相似，不同之處如下：A收集數(shù)據(jù)受檢驗(yàn)樣本的容量必須相等。分組的周期應(yīng)按照生產(chǎn)間隔和反饋系統(tǒng)而定。樣本容量應(yīng)足夠大使每個(gè)子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個(gè)不合格品，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量。記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的不合格品數(shù)(np)。B計(jì)算控制限過程控制解釋、過程能力解釋C過程控制解釋：同“p”圖

49、的解釋。D過程能力解釋：過程能力如下：缺陷數(shù)c圖“c”圖內(nèi)來測量一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的缺陷的數(shù)量，c圖要求樣本的容量或受檢材料的數(shù)量恒定，它主要用以下兩類檢驗(yàn)：不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上(例如每匹維尼龍上的瑕疪，玻璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點(diǎn))，以及可以用不合格的平均比率表示的地方(如每100平方米維尼龍上暇疵)。在單個(gè)的產(chǎn)品檢驗(yàn)中可能發(fā)現(xiàn)許多不同潛在原因造成的不合格(例如：在一個(gè)修理部記錄，每輛車或組件可能存在一個(gè)或多個(gè)不同的不合格)。主要不同之處如下：A收集數(shù)據(jù)檢驗(yàn)樣本的容量(零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長度等)要求相等，這樣描繪的c值將反映質(zhì)量性能的變化(缺陷的發(fā)生率)而不是外觀的變化(樣本

50、容量n)，在數(shù)據(jù)表中記錄樣本容量；記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的缺陷數(shù)(c)B計(jì)算控制限過程控制解釋、過程能力解釋C 過程控制解釋同p圖解釋D 過程能力解釋過程能力為c平均值，即固定容量n的樣本的缺陷數(shù)平均值。單位產(chǎn)品缺陷數(shù)u圖“u”圖用來測量具有容量不同的樣本(受檢材料的量不同)的子組內(nèi)每檢驗(yàn)單位產(chǎn)品之內(nèi)的缺陷數(shù)量。除了缺陷量是按每單位產(chǎn)品為基本量表示以外，它是與c圖相似的。“u”圖和“c”圖適用于相同的數(shù)據(jù)狀況，但如果樣本含有多于一個(gè)“單位產(chǎn)品”的量，為使報(bào)告值更有意義時(shí)，可以使用“u”圖，并且在不同時(shí)期內(nèi)樣本容量不同時(shí)必須使用“u”圖?！皍”圖的繪制和“p”圖相似，不同之處如下：A收集數(shù)據(jù)各子組

51、樣本的容量彼此不必都相同，建議盡可能使它樣本容量保持在其平均值的正負(fù)25%以內(nèi)可以簡化控制限的計(jì)算。記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的單位產(chǎn)品缺陷數(shù)u=c/n式中c為發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量，n為子組中樣本容量(檢驗(yàn)報(bào)告單位的數(shù)量)，c和n都應(yīng)記錄在數(shù)據(jù)表中。B計(jì)算控制限過程控制、過程能力解釋C 過程控制解釋同p圖解釋D 過程能力解釋過程能力為u平均，即每報(bào)告單位缺陷數(shù)的平均值。 常見問題解答:1：什么是SPC？A：通過使用控制圖對(duì)可能造成產(chǎn)品不合格的工序因素：4M1E：人、機(jī)、料、法、環(huán)進(jìn)行分析、采取措施使4M1E處于受控狀態(tài)及滿足工序質(zhì)量能力要求，預(yù)防不合格的發(fā)生。B：SPC：STATISTIC PROCESS CONTROL 統(tǒng)計(jì)過程控制2：SPC研究對(duì)象是什么？ A：4M1E：人、機(jī)、料、法、環(huán)而不是產(chǎn)品。3：為什么要做SPC？預(yù)防不合格的發(fā)生，而不是不合格的檢驗(yàn)。4：是否所有產(chǎn)品特性和/或過程特性都要做SPC？不是！A：僅是質(zhì)量控制點(diǎn)工序重要產(chǎn)品特性和/或過程特性。B：產(chǎn)品特殊特性：尺寸。C：易出質(zhì)量問題的產(chǎn)品特性。5：何時(shí)做SPC？A：小批量生產(chǎn)時(shí)；B：批量生產(chǎn)時(shí)；C：樣件階段不