BST電氣測試要求

1、.BST 電子設計規(guī)范 JS-97-08：.；電氣測試要求目錄10 引言20 檢測特性30 檢測要求40 測試方案/報告格式 A 設計可靠性測試闡明 A1熱沖擊 A2振動 A3跌落 A4碰撞 A5溫度/濕度 A6鹽霧 A7電源通/斷 A8瞬時浪涌 A9電氣快速瞬變/脈沖串A10灰塵污染A11高度加速壽命實驗HALT 10 引言本文件是關于電氣和電子產品可靠性測試的公司規(guī)范?？煽啃詼y試是產品驗收過程的一個方面。其他方面不在這里討論。11 目的本規(guī)范規(guī)定為確定產品和過程可靠性而要求的測試。20 檢測特性21 目的進展可靠性的測試，利用外界和運轉中的受力，找出設計與制造方面的薄弱環(huán)節(jié)。此外，證明該產

2、品符合的某些設計要求如規(guī)范和平安可以同時完成。除滿足最低接納規(guī)范外，最好能超越要求進展測試直到發(fā)生缺點，從而確定合格與不合格之間的邊境條件。30 檢測要求本節(jié)規(guī)定環(huán)境和進展測試的要求，測試程序，樣品大小，功能測試及診斷。此外，還定義處理測試缺點的要求。一切貝思特公司的電氣產品必需遵守一切要求。331設計可靠性測試DRT這些測試必需在產品開發(fā)期間進展，某些測試在一個產品運用后再設計之后應反復進展。測試闡明印刷電路板樣品數(shù)量注4A1熱沖擊2A2振動1A3跌落1A4碰撞2或多于2A5溫度/濕度PCB/模件：4個A6鹽霧1A7電源能/斷1A8瞬間沖擊1A9電氣快速瞬變/脈沖串1A1.0 熱沖擊 本實驗

3、的目的是確定一個產品能否包括潛在的制造的組裝缺陷，如裂痕和薄弱焊點。A1.1 實驗條件 實驗條件不運用做為設計要求闡明應力只加于PCB印刷電路板上。需求兩個樣品能夠被破壞熱沖擊周期數(shù)目為個。產品不施加電源，在應力操作時間中，不進展功能測試。艙室低溫為TL= -20C艙室高溫為TH=+60C極端溫度下的操作時間(t1)該當足夠使實驗下的樣品在極端溫度下處于穩(wěn)定形狀。這將由實驗決議或設定為分鐘。兩個極端之間的轉換時間不大于秒。A1.2 驗收規(guī)范闡明應力作用后不允許有缺點或誤差。缺點包括不能滿足任何全功能檢測規(guī)范，誤差包括虛焊和焊錫與器件插腳之間的間隙。A1.3 測試程序闡明根據規(guī)定的條件，施加熱沖

4、擊(環(huán)境)。應力作用后進展全功能實驗。危險點處的PCB橫截面，在放大倍的顯微鏡下察看斷面部位，尋覓虛焊和或焊錫和器件插腳間的間隙危險點包括具有許多插腳的接頭和大的器件這些點應該在產品可靠性測試方案中明確闡明A2.0 振動 本實驗隨機振動部分的目的是驗證在振動應力作用下和作用后產品的性能。這些應力作用在將產品運至任務現(xiàn)場，也能夠在正常的運用操作中產生。 A2.1檢測條件 檢測條件不應作為設計要求。擺動式正弦振動正弦振動有以下條件：闡明一切產品處于受力形狀。振動頻率范圍為赫茲。振動幅度將為：o.35mm 印刷電路板擺動次數(shù)實驗時間小時每一個產品取向都處于振動形狀振動實驗過程中，接通電源，進展有限功

5、能測試。A2.2 驗收規(guī)范有限功能實驗和目測將證明在擺動正弦振動實驗中和隨機振動實驗后沒有出現(xiàn)缺點：A2.3 實驗程序闡明1在進展有限功能實驗時，施加正弦振動。2振動情況進展后，進展有限功能檢測和目測。A3.0 跌落實驗 本實驗的目的是實驗在產品組裝，運輸和安裝中因大意而引起的跌落之后產品的性能。A3.1 實驗條件 測試條件可以作為設計要求。A3.1.1 控制跌落 # 闡明1本測試部分只適用于PCB和模件，沒有包裝到位2測試中一切正常的機械封裝，電纜，蓋子等都應該到位3測試中樣品不加電4一切的產品邊緣都應有一個跌落實驗5跌落高度為100mm6跌落在混凝土或金屬外表上 A3.1.2 運輸包裝箱跌

6、落# 闡明1本部分實驗是樣品處于正常運輸包裝中進展的。因此，不加電壓。一切產品將被測試。2跌落部位：頂面和底面，一切包裝角部和邊緣，包裝分量小于或等于20Kg3跌落部位：包裝底面，底面角部和邊線，包裝分量大于20Kg4跌落于混凝土或金屬外表5跌落高度視產品/包裝質量而定，參見圖A3-1圖A3-1 跌落高度產品/包裝質量跌落高度mm113200A32驗收規(guī)范一個有限功能測試和目測應證明沒有缺點發(fā)生。A40碰撞本實驗的目的是驗證碰撞某些產品不會發(fā)生平安事故。A41實驗條件本實驗的目的不應做為設計要求。#闡明1僅僅是用于普通載客的產品才做這個實驗2樣品經預選處置，不帶電儲存，在環(huán)境艙室溫度0中施加輸

7、入/輸出信號3小時。3該碰撞將耗費6/75焦耳1.3m跌落高度或13.5焦耳2.6m跌落高度的能量碰撞物是一個金屬球，碰撞部位直徑501mm，總質量：0.53kg物體從1.3m高度跌落到產品上，產品具有一個25.8103mm2或小于25.8103mm2的外表積，或從2.6m高度跌落到具有一個大于25.8103mm2的一個外表的產品上。注：物體類型，參數(shù)和跌落高度的其他組合可被用于獲得一樣的碰撞能量。4碰撞實驗中，樣品不加電源5每一個樣品應碰撞3次。并應碰撞樣品的不同部位6碰撞后，假設能夠，應進展一個有限功能測試A42驗收規(guī)范該產品能夠被破壞，但碰撞將不會產生平安事故或違反規(guī)定。A50 溫度/濕

8、度本實驗的目的是驗證在溫度循環(huán)變化和高濕度環(huán)境中和以后,該產品可以有效運轉。這些應力加速在正?，F(xiàn)場操作中可以預期的缺點過程。A51實驗條件實驗條件不應作為設計要求例如減少額定值。這些條件不能準確模擬預期的環(huán)境條件。#闡明1對于一切產品施加應力：對于PCB/模件類產品，電子器件已從機械封裝上拆下來以保證內部環(huán)境應力能均勻地施加。 分系統(tǒng)級產品在正常封裝內部測試，一切門都封鎖，蓋子到位。2高溫極限規(guī)定如下：PCB/模件：TH=603實驗進展24個周期，見以下圖4在溫度/濕度實驗期間有限功能實驗應對一切樣本繼續(xù)進展。然后進展全功能測試5對于輸入/輸出口施加額定負載或周期負載。輸入功率口施加額定電源。

9、6樣品在一樣的環(huán)境艙內保管30分鐘，環(huán)境艙內相對濕度75%，溫度25，然后置于正常的實驗室條件下。7全功能測試方案必需提供多個樣品A52驗收規(guī)范在實驗中進展的有限功能測試和在實驗后進展的全功能測試應該證明沒有缺點發(fā)生。A60鹽霧本實驗目的是驗證產品暴露在鹽霧環(huán)境后的性能A61實驗條件#闡明1假設能夠，將一切級別的產品，裝配下來的樣品置于鹽霧環(huán)境中，并應包括安裝能夠在其環(huán)境空間安裝的地方。例如，印刷電路板PCB能夠從模件和分系統(tǒng)裝配下來。2鹽溶液應為5%分量的氯化鈉溶于蒸餾水中的溶液。PH值為6.850.35。3實驗前不需求預選處置4有三種鹽霧實驗時間，每種兩小時，環(huán)境溫度2510。5在每種實驗

10、后，產品應儲存在一樣的環(huán)境中40/93%相對濕度21小時6最后的儲存期后，進展一個有限功能測試。7在有限功能實驗完成后才干清潔產品8鹽霧實驗前，一切接頭插腳和接線孔都予以屏蔽A62驗收規(guī)范一個有限功能實驗和目測應證明在實驗過程中和實驗后沒有發(fā)生缺點。應進展一個內部的外觀檢查以檢驗滲入的鹽能夠導致的缺點。A70電源接通/斷開本實驗的目的是驗證主電源交流或直流反復接通/斷開開關動作后產品的性能。A71測試條件測試條件不應該作為設計要求#闡明1一切產品都必需做這個實驗2拾次接通/斷開過程組合一個完好的實驗。任何通斷循環(huán)之間不應有延遲景象3如能夠，在實驗中進展有限功能測試。實驗后進展有限功能測試4在輸

11、入/輸出口參與額定負載和周期負載5在輸入電源口參與額定電壓A72驗收規(guī)范#闡明1實驗后產品應任務2實驗中維護安裝如保險絲和回路斷路器不能開路3實驗中不要錯誤地從儲存安裝消除數(shù)據或將數(shù)據寫入存儲安裝A73測試程序執(zhí)行以上所述電源接通/斷開循環(huán)，選擇的有限功能測試必需完全符合驗收規(guī)范。A80 瞬間浪涌本實驗的目的是驗證在對大樓交流電源AC干線和產品信號/控制輸入/輸出口施加非直接的高能脈沖時產品的操作。這種脈沖沖擊典型地由照明，負載轉換和功率因數(shù)補償引起。A81檢測條件檢測條件可以做為設計要求#闡明1AC主干線口必需銜接一切的測試樣品和AC干線之間的接口設備例如變壓器和電源等輸入/輸出口信號/控制

12、線，運用中長度10m，對于輸入/輸出口的類似類型，那么只對一個口或一部分口施加應力2對于AC主干線地LG口，沖擊開路電壓峰值應為1KV， 3對于各干線線LL口，沖擊開路電壓峰值應為500V4對于各輸入/輸出口信號/控制沖擊峰值開路電壓應為1000VLG，和500VLL。5浪涌源阻抗為：2：AC干線LL口和信號/控制輸入/輸出口12：AC干線LG口6產品電源和輸入/輸出信號是能任務的，因此能進展有限功能的測試A82驗收規(guī)范一個有限功能測試應證明以下各項：峰值電壓V規(guī)范1KV允許出現(xiàn)缺點和損壞，但不能發(fā)生平安事故。A83檢測程序#闡明1交流干線LL和LG口每個電壓值, 相位值極性分別兩次沖擊2兩次

13、沖擊之間的時間最少1分鐘*，應能保證可進展有限功能測試A9.0 電氣快速瞬變/脈沖串 EFT/B 本實驗的目的是驗證在中等能量轉變瞬間產品性能。A9.1 測試條件 測試條件可被用做設計要求。#在一切交流干線和信號/控制輸入/輸出口上所引起的EFT脈沖。只需在運用中導線長度3m. 有必要使一切在AC干線和測試樣品之間的正常設備(例如，變電壓，電源等)在實驗時聯(lián)接起來。2EFT/B 脈沖將有以下特點：反復頻率=5和15KHz上升時間5ns沖擊繼續(xù)時間：50ns脈沖串繼續(xù)時間：50ms脈沖串周期：300ms與AC電源電壓頻率不同步各脈沖的等式為1.27Vp(1-e-t/t1)e-t/t2Vp=峰值開

14、路電壓圖AB-1中定義的運用電壓exp：e為底t1=3.5ns t2=55.6ns3脈沖沖擊實驗中和后進展有限功能測試.A9.2 驗收規(guī)范一個有限功能測試應證明以下各項:信號/控制 輸入/輸出口峰值電壓 規(guī)范500V不允許缺點出現(xiàn)500V1KV實驗時允許出缺點，但該產品在應力外來干擾消逝時應能自動繼續(xù)任務。沒有缺點和平安事故。能滿足適當?shù)漠a品平安要求。AC干線峰值電壓KV規(guī)范1.5允許出現(xiàn)缺點和損壞，但不能發(fā)生平安事故。A9.3 測試程序# 闡明1給各口施加特別脈沖。繼續(xù)時間是進展有限功能測試必需的時間，但是每步最少1分鐘。進展實驗直至發(fā)生缺點或到達了測試要求的極限.A10.0 灰塵污染 這項

15、實驗的目的，是確定在現(xiàn)場安裝的，在某些倉庫內的和工廠裝配區(qū)中的產品對灰塵的不敏感度。A10.1 實驗條件 實驗條件不得用作設計要求。#說 明1 將灰塵施放在PCB和微型組件類的產品上。假設需求向腔室內施放灰塵，可把產品裝配。2灰塵的類型是“粗糙狀的洋灰塵土(如SEA J726)。也可用其它適宜的類型的灰塵。3灰塵的數(shù)量是每立方米腔容6kg。4腔內溫度是不受控制的。5腔內濕度是不受控制的。6在灰塵暴露期間，產品不帶電或監(jiān)控。7灰塵暴露周期見圖A10-1所示。8全部銜接器插頭和外殼布線孔都應覆蓋住。9產品要裝在要求的現(xiàn)場方位的灰塵腔室內。圖A10-1 灰塵暴露周期A10.2 驗收規(guī)范 有限功能性實

16、驗要檢查出在灰塵暴露后，產品不出現(xiàn)缺點。A10.3 實驗程序 實驗程序根據 Ref、32。#說 明1 按上述規(guī)定的周期，進展灰塵實驗。2有限功能性實驗進展之后才干清潔樣機。等產品從灰塵腔室內移出后的15分鐘之內，進展有限功能性實驗。A10.4 要求的實驗方案資料#說 明1 闡明產品能否需求裝配。2灰塵的類型假設與A19.1節(jié)中所規(guī)定的規(guī)范類型不同。3規(guī)定有限功能性實驗或者檢查哪一種產品性能。A11.0 高度加速壽命實驗HALT 高度加速壽命實驗HALT是在設計或重新設計電子產品和電氣產品期間，所采用的一種加速應力實驗AST。產品和制造工藝兩方面都可以采用HALT表示其特性。 這個HALT方法是利用一種“實驗至失敗的概念來促使和檢測缺乏之處。其目的是使產品和工藝設計更加耐用。A11.1 實驗條件 實驗條件不得用作設計要求。#說 明1 對PCB和微型組件類的產品施加應力。假設需求，可以從分系統(tǒng)類產品中撤除PCB和微型組件。從外殼上撤除電子器件，以便應力可以均勻的的作用在電子安裝上。2HALT包括以下作用的應力： “冷和“熱溫度階段應力包括冷啟動/運轉。 快速溫度循環(huán)。 6個自在度6DOF振動分級應力。 組合溫度循環(huán)和6DOF振動。3