RJ45集成磁性連接器的耐壓特性說明及其測試原則

1、文檔來源為 :從網(wǎng)絡(luò)收集整理.word 版本可編輯 .歡迎下載支持.簡介1.1 （適用范圍）本文件適用于RJ45集成磁性組件連接器(簡稱ICM)。例如：單口，單排多口，雙層多口，USB/RJ45 ， POE 系列的 RJ45 電子連接器。1.2 （目的）本文件描述了ICM 產(chǎn)品耐壓的測試原理、基本原則和判定標(biāo)準(zhǔn)，以便設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和檢驗(yàn)三方統(tǒng)一思想，消除誤解，達(dá)成共識(shí)，從而進(jìn)一步規(guī)范耐壓測試的標(biāo)準(zhǔn)和檢驗(yàn)方法。（對(duì)于各測試儀器的操作方法，夾治具的連接和使用方法以及產(chǎn)線測試作業(yè)方法，請(qǐng)見相應(yīng)的文件）2.進(jìn)行耐壓測試的原因：耐壓測試就是檢測產(chǎn)品絕緣結(jié)構(gòu)是否能夠承受電力系統(tǒng)的內(nèi)部過電壓，正常情況下 ,電力

2、系統(tǒng)中的電壓波形是正弦波.電力系統(tǒng)在運(yùn)行中由于雷擊，操作，故障或電氣設(shè)備的參數(shù)配合不當(dāng)?shù)仍?，引起系統(tǒng)中某些部分的電壓突然升高，大大超過其額定電壓，這就是過電壓。過電壓按其發(fā)生的原因可分為兩大類，一類是由于直接雷擊或雷電感應(yīng)而引起的過電壓，稱為外部過電壓。雷電沖擊電流和沖擊電壓的幅值都很大，而且持續(xù)時(shí)間很短，破壞性極大。另一類是因?yàn)殡娏ο到y(tǒng)內(nèi)部的能量轉(zhuǎn)換或參數(shù)變化引起的，例如切合空載線路，切斷空載變壓器，系統(tǒng)內(nèi)發(fā)生單相弧光接地等，稱為內(nèi)部過電壓。內(nèi)部過電壓是確定電力系統(tǒng)中各種電氣設(shè)備正常絕緣水平的主要依據(jù)。也就是說，產(chǎn)品的絕緣結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)不但要考慮額定電壓而且要考慮產(chǎn)品使用環(huán)境的內(nèi)部過電壓，一般

3、來講，耐壓測試主要目的是檢查絕緣耐受工作電壓或過電壓的能力，進(jìn)而檢驗(yàn)產(chǎn)品設(shè)備的絕緣性能是否符合安全標(biāo)準(zhǔn)，是檢驗(yàn)設(shè)備電氣安全性能的重要指標(biāo)之一。3.RJ45 集成磁性連接器的耐壓測試標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)格符合IEEE802.3標(biāo)準(zhǔn)所定，如下所示：Electrical isolationThe MAU must provide isolation between the AUI cable and the coaxial trunk cable. This isolation shall withstand at least one of the following electrical strength t

4、ests:A sequence of ten 2400V impulses of alternating polarity, applied at intervals of not lessthan 1 s. The shape of the impulses shall be 1.2/50 s(1.2 s virtual front time, 50time of half value), as defined in IEC 60060.resistanceafterthe lestshall beat least2 M ,measuredat 500Vdc.In addition,the

5、isolationimpedance between the DTE and the coaxial cable shield shall be less than 15 between 3MHz and30MHz.4.耐壓測試原理及方框圖4. 1 耐壓測試原理：把一個(gè)高于正常工作的電壓加在被測設(shè)備的絕緣體上， 并持續(xù)一段規(guī)定的時(shí)間， 如果其間的絕緣性足夠好，加在上面的電壓就只會(huì)產(chǎn)生很小的漏電流。如果一個(gè)被測設(shè)備絕緣體在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)，其漏電電流保持在規(guī)定的范圍內(nèi)，就可以確定這個(gè)被測設(shè)備可以在正常的運(yùn)行條件下安全運(yùn)行。進(jìn)行耐壓測試時(shí)（如下圖所示） ，技術(shù)規(guī)格不同的被測試品，測量標(biāo)準(zhǔn)也就不同。對(duì)一

6、般被測設(shè)備，耐壓測試是測量火線與機(jī)殼之間的漏電流值。4.2測試系統(tǒng)有三大模塊：程控電源模塊、信號(hào)采集調(diào)理模塊和計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)通用耐壓測試程序介紹 5.1 測試程序1文檔來源為 :從網(wǎng)絡(luò)收集整理.word 版本可編輯 .歡迎下載支持.耐壓測試（以華儀EXTECH7142為例：）程序設(shè)置及儀器操作方法詳見華儀EXTECH7142操作指南5.1.2選擇 AC 或 DC 耐壓測試。交流 1500V 或直流 2250V.最高測試電流限定值=每個(gè) port 交流5.1.5最低測試電流限定值=交流 0.05mA,設(shè)置上升時(shí)間。上升時(shí)間= 交流 0.1s,或直流 5s.5.1.6設(shè)置保持時(shí)間 .5.1.7保持

7、時(shí)間 = 交流和直流 60s 。設(shè)置電弧偵測功能。= 5電弧偵測靈敏度等級(jí)5.1.8關(guān)閉電弧偵測功能設(shè)置連續(xù)測試。5.1.9打開連接用校準(zhǔn)盒校驗(yàn)?zāi)蛪簷C(jī)5.1.9.1連接方式Hi-pot tester( 耐壓機(jī) )HV Terminal( 高壓端子 )Return Terminal( 低壓返回端子 )CONT.CHECK( 連續(xù)測試端子 )1mA,或所有 port 直流 1mA.或直流 0mA.Calibration Box(校準(zhǔn)盒 )1.5KVac /2.25KVdcGroundAC/DC Continuity測試夾具僅供參考5.1.9.2校驗(yàn)?zāi)蛪簷C(jī)，所有測試應(yīng)當(dāng)提示不良。當(dāng)轉(zhuǎn)到 AC/DC

8、fail測試檔時(shí)，耐壓機(jī)器立即提示不良當(dāng)轉(zhuǎn)到 AC/DC pass 測試檔時(shí)，耐壓機(jī)待電壓爬升至 1.02mA，2.18KVDC, 或 10.56mA，1.5KVAC 時(shí) , 提示不良。(Remove the HighVoltage Test lead fromthe Hi-pot Test Failurebox and retest. TheLowlevel Failure will come on AC or DC)5.1.10 耐壓測試方法及連接首先，使用 RJ45插頭組（其終端被短接在一起）將產(chǎn)品的每個(gè)Port 連接起來，然后再把它連接到耐壓機(jī)的紅色高壓測試表筆。另一方面，把耐壓機(jī)的黑

9、色低壓（零電位）測試表筆連接到產(chǎn)品外殼的一端，黑色連續(xù)掃描測試表筆連接到產(chǎn)品外殼的另一端。高壓測試典型的連接線路耐壓機(jī)（ Hi-pot tester ）高壓端 （ Hi-pot ）低壓端 （ GND ）執(zhí)行耐壓測試并確認(rèn)是合格還是不良。合格 下列條件出現(xiàn)表示合格：綠燈亮，而且沒有爆破聲。不良 下列任何一個(gè)條件出現(xiàn)就表示不良：a）紅色不良指示燈亮起，b) 耐壓測試機(jī)提示電壓崩潰， c）產(chǎn)品有爆破聲， d) 蜂鳴器隨即發(fā)出響聲 .ShortedShorted5.2 備注pin1-10RJ1-RJ8在這里，所有的測試是使用RJ45 插頭組（其終端被短接在一起） 將產(chǎn)品的每個(gè)Port 連接起來。因此應(yīng)

10、當(dāng)注意： RJ45 插頭磨損，接觸不可靠而引起電弧。2文檔來源為 :從網(wǎng)絡(luò)收集整理.word 版本可編輯 .歡迎下載支持.如果客戶指定了耐壓測試設(shè)備的，嚴(yán)格按客戶要求操作。而針對(duì)所有POE 的產(chǎn)品，原則上都用 AR5560DT （樣品測試）或 AR7550DT （批量生產(chǎn)）或相近精度的儀器。ICM 產(chǎn)品耐壓測試的基本原則：產(chǎn)品類型測試工位ProductStationTypePOE半成品(PCBA, Module)成品(Finished Goods)NON-POE半成品不帶高壓(PCBA,去藕電容Module)的產(chǎn)品成品(Part w/o(FinishedHV cap)Goods)帶高壓去半成品

11、(PCBA,藕電容的Module)產(chǎn)品成品(Part with(FinishedHV cap)Goods)耐壓測試條件Hi-pot Test Condition1500Vac, 50/60Hz, 1mA cutoff current per high voltage cap, ramp 0.1s, dwell 1s, arc off.1500Vac, 50/60Hz, 1mA cutoff current per high voltage cap, ramp 0.1s, dwell 60s, arc off.1500Vac, 50/60HZ, 0.5mA cutoff current, ram

12、p 0.1s, dwell 1s, arc off.1500Vac, 50/60HZ, 0.5mA cutoff current per port, ramp 0.1s, dwell 60s, arc off.2250Vdc, 50uA cutoff current, ramp 5s, dwell 2s, arc off.2250Vdc, 1mA cutoff current per product ramp 5s, dwell 60s, arc off.連接方法ConnectionHi-V : Lo-V =RJ contact pins including power pins : Chip

13、 side pins including HV CapHi-V : Lo-V =RJ contact pins including power pins : Chip side pins including HV Cap and shieldHi-V : Lo-V =RJ contact pins : Chip side pinsHi-V : Lo-V =RJ contact pins : Chip side pins including the shieldHi-V :Lo-V =RJ contact pins : Chip side pins including HV Cap Hi-V :

14、 Lo-V =RJ contact pins : Chip side pins including HV Cap and shield6.1 一般情況下，工程樣板必須經(jīng)過QA 根據(jù) CD 圖的 Hi-pot要求（即 60S ）測試后方能出貨。6.2 對(duì)于量產(chǎn)產(chǎn)品（即出貨量必須已達(dá)100K ports的產(chǎn)品），基于量產(chǎn)的合格率狀況，ME 或 QA 可以另行發(fā)文更改測試保持時(shí)間和測試項(xiàng)目，但不能與下列要求相抵觸或超出下列要求。對(duì)于需 DC Hi-pot(2250Vdc 60s（有其他耐壓值要求的根據(jù)客戶要求）)測試的量產(chǎn)產(chǎn)品， 以 port為單位，當(dāng)Hi-pot 測試不良率4000PPM 時(shí)，且保

15、證能將其中80% 以上的 Hi-pot 不良品挑選出來 , 根據(jù)生產(chǎn)線實(shí)際Hi-pot 測試時(shí)間的合格率數(shù)據(jù)，我們可以選擇一個(gè)合適的耐壓測試保持時(shí)間作為測試規(guī)格，但最終測試保持時(shí)間不能少于2s；對(duì)于有特殊要求做AC Hi-pot(1500Vac 60s)測試的量產(chǎn)產(chǎn)品，Hi-pot 測試如滿足以上條件同樣可以更改測試保持時(shí)間，但最終不能少于2s ；對(duì)需同時(shí)做AC 和 DC Hi-pot 測試的量產(chǎn)產(chǎn)品， Hi-pot 測試如滿足以上條件, 可以選擇其中一種比較嚴(yán)格的Hi-pot測試方式（ AC 或 DC ）來更改測試保持時(shí)間，但最終不能少于2s；如一個(gè)新產(chǎn)品與一個(gè)成熟產(chǎn)品的Module 完全相

16、同，且這個(gè)成熟產(chǎn)品的耐壓測試要求已經(jīng)根據(jù)以上條件更改了耐壓測試保持時(shí)間，那么這個(gè)新產(chǎn)品可以直接引用更改后的規(guī)格作為測試要求。6.3特殊要求的產(chǎn)品：客戶有特殊要求的，比如1、指定了耐壓上升時(shí)間；2、指定了漏電流的數(shù)值等；都需要嚴(yán)格按照客戶指定要求操作，不依據(jù)第 6 條ICM 產(chǎn)品的耐壓測試的基本原則所列條件。但耐壓測試保持時(shí)間可依照6.2 所列的各條件做適當(dāng)?shù)卣{(diào)整。以上所有的產(chǎn)品(POE 、NoN-POE without Hi voltage decoupling cap、NoN-POE with Hi voltagedecoupling cap 、Dell Parts) ，更改后的測試條件 /

17、要求是必須滿足的最基本的要求（除非該文件改版做了更新），它以不降低產(chǎn)品的 HI-POT 承受能力，減少不安全產(chǎn)品交付給客戶的風(fēng)險(xiǎn)為宗旨。對(duì)一個(gè)產(chǎn)品來說， 無論是交流還是直流的耐壓測試都是一個(gè)破壞性實(shí)驗(yàn)，所以在設(shè)計(jì)和大量生產(chǎn)時(shí)我們都要特別小心。3文檔來源為 :從網(wǎng)絡(luò)收集整理.word 版本可編輯 .歡迎下載支持.7 相關(guān)問題解釋：7.1 耐壓測試說明交流耐壓測試測試中止（ Abort ）假如交流耐壓測試正在運(yùn)行之中,而按“ RESET ”開關(guān)或使用遙控裝置中斷測試，LCD 顯示器會(huì)顯示ACWAbort, 如下圖 .緩升測試（ RamD UP ）如交流耐壓測試設(shè)定有緩升(Ramp Up) 測試程序

18、，在本分析儀讀到第一筆測試結(jié)果之前，測試的結(jié)果會(huì)不斷的被更新，LCD 顯示器會(huì)顯示ACW RampUp,如右圖。緩降測試 (Ramp DN)如果交流耐壓測試設(shè)定有緩降（Ramp DN) 測試程序 ,在本分析儀讀到第一筆測試結(jié)果之前，液晶顯示器會(huì)顯示 DCW Ramp DN, 如右圖。測試時(shí)間（ DweIl)在交流耐壓測試運(yùn)行時(shí)，測試的接果會(huì)不斷的被更新 ,在本分析儀讀到第一筆測試結(jié)果之前，LCD 顯示器會(huì)顯示ACW DwelI, 如右圖。漏電電流上限(Max Lmt)如被測物在做交流耐壓測試時(shí)的漏電電流量超過上限設(shè)定值, 會(huì)被程式判定為漏電電流上限造成的測試失敗 , LCD顯示器會(huì)顯示 Max

19、 - FaIL, 如下圖 .短路（ short )如被測物在做交流耐壓測試時(shí),漏電電流量速超過本分析儀可以量測的范圍之外，再加上本分析儀特殊的短路判定電路動(dòng)作,會(huì)被程式判定為短路造成的測試失敗，LCD 顯示器會(huì)顯示ACW short ，如下圖。耐壓崩潰（ Breakdown ）如被測物在做交流耐壓測試時(shí)的漏電電流量速超過本分析儀可以量測的范圍，并且電弧的電流量也速超過本分析儀所能夠量測的正常數(shù)值之外,會(huì)被程式判定為耐壓崩潰造成的測試失敗,LCD顯示器會(huì)顯示ACWBreakdown ，如下圖。漏電電流下限（ Min Lmt ）如被測物在做交流耐壓測試時(shí)的漏電電流量低于下限設(shè)定值, 會(huì)被程式判定為

20、漏電電流下限造成的測試失敗，4文檔來源為 :從網(wǎng)絡(luò)收集整理.word 版本可編輯 .歡迎下載支持.LCD 顯示器會(huì)顯示MinFail ，如下圖。電弧測試失?。ˋrc Fail)如被測物在做交流耐壓測試時(shí)的漏電電流量在設(shè)定的漏電電流上限值以內(nèi)，但是電弧的電流量超過電弧電流的設(shè)定值，造成的測試失敗，會(huì)被程式判定為被測物的電弧造成的測試失敗，LCD 顯示器會(huì)顯示Arc FaiI ,如下圖。測試通過（ Pass）假如被測物在做交流耐壓測試時(shí)的整個(gè)過程都沒有任何異常的現(xiàn)象發(fā)生時(shí)，被設(shè)定為通過測試，LCD 顯示器會(huì)顯示 Pass，如下圖。直流耐壓測試：測試中止（ Abort)如直流耐壓測試正在運(yùn)行之中，而

21、按 RESET 開關(guān)或使用遙控裝置中斷測試時(shí)，LCD 顯示器會(huì)顯示DCW Abort,如下圖。緩升測試（ Ramp UP ）如果直流耐壓測試設(shè)定有緩升（Ramp Up) 測試程序，在本分析儀讀到第一筆測試結(jié)果之前，LCD 顯示器會(huì)顯示DCW Ramp Up ，如右圖緩降測試（ Ramp DN ）如果直流耐壓測試設(shè)定有緩降（Ramp DN) 測試程序，在本分析儀讀到第一筆測試結(jié)果之前，LCD 顯示器會(huì)顯示DCW Ramp DN ，如右圖。測試時(shí)間（ Dwell)在直流耐壓測試運(yùn)行時(shí)，,測試的結(jié)果會(huì)不斷的被更新，在本分析儀讀到第一筆測試結(jié)果之前，LCD 顯示器會(huì)顯示DCW Dwell ，如右圖。漏

22、電電流上限(Max Lmt)如被測物在做直流耐壓測試時(shí)的漏電電流量超過上限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為漏電電流上限造成的測試失敗，LCD 顯示器會(huì)顯示Max Fail ，如下圖短路 (Short)如被測物在做直流耐壓測試時(shí)，漏電電流量速超過本分析儀可以量測的范圍之外，再加上本分析儀特殊的短路判定電路動(dòng)作,會(huì)被程式判定為短路造成的測試失敗，LCD 顯示器會(huì)顯示DCW short ，如下圖。耐壓崩潰（ Breakdown ）5文檔來源為 :從網(wǎng)絡(luò)收集整理.word 版本可編輯 .歡迎下載支持.如被測物在做直流耐壓測試時(shí)的漏電電流量速超過本分析儀可以量測的范圍,并且電弧的電流量速也超過本分析儀所能夠量測的

23、正常數(shù)值之外，會(huì)被程序判定為耐壓崩潰造成的測試失敗，LCD顯示器會(huì)顯示DCWBreakdown, 如下圖。漏電電流下限(Mm Lmt)如被測物在做直流耐壓測試時(shí)的漏電電流量低于下限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為漏電電流下限造成的測試失敗，LCD 顯示器會(huì)顯示MinFail ，如下圖。電弧測試失?。ˋrc Fail)如被測物在做直流耐壓測試時(shí)的漏電電流量在設(shè)定的漏電電流上限值以內(nèi)，但是電弧的電流量超過電弧電流的設(shè)定值 ,造成的測試失敗,會(huì)被程式判定為被測物的電弧造成的測試失敗，LCD顯示器會(huì)顯示ArcFail, 如下圖。測試通過（ Pass）假如被測物在做直流耐壓測試時(shí)的整個(gè)過程都沒有任何異常的現(xiàn)象發(fā)生時(shí),被認(rèn)定為通過測試， LCD 顯示器會(huì)顯示 DCW Pa ss, 如下圖。7.2在 AC 耐壓測試時(shí)，為何需要real current的判斷？電流在輸出時(shí)，若受到較大容抗時(shí)，反應(yīng)電流(reactive) 會(huì)較大，而使得真實(shí)測試電流相對(duì)變小。若無法準(zhǔn)確測量輸出電流給加以補(bǔ)償，會(huì)造成測試上的盲點(diǎn)。7.3在 DC 耐壓