GB/T 5095.5-1997電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測量方法第5部分：撞擊試驗(yàn)(自由元件)、靜負(fù)荷試驗(yàn)(固定元件)、壽命試驗(yàn)和過負(fù)荷試驗(yàn)

ICS31.220L23中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T5095.5一1997idtIEC512-5:1992電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測量方法第5部分:撞擊試驗(yàn)(自由元件）、靜負(fù)荷試驗(yàn)(固定元件)壽命試驗(yàn)和過負(fù)荷試驗(yàn)ElectromechanicalcomponentsforelectronicequipmentBasictestingproceduresandmeasuringmethodsPart5：1mpacttests（freecomponents）.staticloadtests（fixedcomponents）,endurancetestsandoverloadtests1997-12-26發(fā)布1998-10-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T5095.5-1997前本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC512-5:1992《電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測量方法第5部分：撞擊試驗(yàn)(自由元件)、靜負(fù)荷試驗(yàn)(固定元件）、壽命試驗(yàn)和過負(fù)荷試驗(yàn)》,是對(duì)GB5095.5—86進(jìn)行的第-歡修訂。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國電子工業(yè)部提出本標(biāo)準(zhǔn)由全國電子設(shè)備用機(jī)電元件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)由電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所負(fù)責(zé)起草本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：余玉芳、汪其龍、張菊華、王玉堂。

GB/T5095.5-1997IEC前育1）IEC(國際電工委員會(huì))在技術(shù)問題上的正式?jīng)Q議或協(xié)議，是由對(duì)這些間題特別關(guān)切的國家委員會(huì)參加的技術(shù)委員會(huì)制定的，對(duì)所莎及的間題盡可能地代表了國際上的一致意見。2）這些決議或協(xié)議以標(biāo)準(zhǔn)，技術(shù)報(bào)告或?qū)t的形式發(fā)布，以推薦的形式供國際上使用,并在此意義上，為各國家委員會(huì)認(rèn)可。3）為了促進(jìn)國際上的統(tǒng)一，各IEC國家委員會(huì)有責(zé)任使其國家和地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)盡可能采用IEC標(biāo)準(zhǔn)IEC標(biāo)準(zhǔn)與相應(yīng)國家或地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)之間的任何差異應(yīng)在國家或地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)中指明。國際標(biāo)準(zhǔn)IEC512-4由IEC/TC48(電子設(shè)備用機(jī)電元件和機(jī)械結(jié)構(gòu))制定的。本標(biāo)準(zhǔn)第二版取代了1977年出版的第一版及其第一次補(bǔ)充IEC512-5A(1980年)及其修訂1(1987年)以及第二次補(bǔ)充IEC512-5B(1981年)。本標(biāo)準(zhǔn)與第1部分：總則(IEC512-1:1984)一同使用、整套標(biāo)準(zhǔn)包括的其他試驗(yàn)項(xiàng)目在IEC512-1的附錄A中給出了總的計(jì)劃。這些試驗(yàn)項(xiàng)目在制定后就發(fā)布。本標(biāo)準(zhǔn)預(yù)定取代IEC130-1《頻率低于3MHz連接器第1部分：一般要求和試驗(yàn)方法》中相應(yīng)的試驗(yàn)項(xiàng)目。本標(biāo)準(zhǔn)文本以第一版IEC512-5(1977年）第一次補(bǔ)充IEC512-5A(1980年)及其修訂1(1987年)、第二次補(bǔ)充IEC512-5B(1981年)和下列文件為依據(jù);DIS表決報(bào)告48（C0）30248（C0)30848（C031448（C0）324表決批準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)的詳細(xì)資料可在上表列出的表決報(bào)告中查閱，

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測量方法第5部分：撞擊試驗(yàn)(自由元件）靜負(fù)荷試驗(yàn)（固定元件）壽命試驗(yàn)和過負(fù)荷試驗(yàn)CBTElectromechanicalcomponentsforelectronicequipment代替GB5095.5-86BasictestingproceduresandmeasuringmcthodsPart5：mpacttests（freecomponents）staticIoadtests（fixedcomponents）.endurancetestsandoverloadtests第0篇總0.1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)方法，在TC48范圍內(nèi)·的電子設(shè)備用機(jī)電元件的詳細(xì)規(guī)范要求時(shí)，應(yīng)給以采用。類似元件的詳細(xì)規(guī)范要求時(shí)，也可以采用。0.2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí)，所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。GB/T5095.1—1997電子設(shè)備用機(jī)電元件t基本試驗(yàn)規(guī)程及測最方法第1部分：總則(idtIEC5122:1984）IEC65:1985電網(wǎng)電源供電的家用和類似一般用途的電子及有關(guān)設(shè)備的安全要求IEC68-2-13:1983環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分：試驗(yàn)一試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)IEC130-1:1988頻率低于3MHz連接器—第1部分：一般要求和測量方法*TC48的范圍：制定用于通信設(shè)備和采用類似技術(shù)的電子裝置的具有機(jī)電連接和開關(guān)功能的相關(guān)元件的