標(biāo)準解讀
《GB/T 6062-2002 產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu) 輪廓法 接觸(觸針)式儀器的標(biāo)稱特性》相較于《GB 6062-1985》,在內(nèi)容上進行了多方面的更新與完善。首先,在標(biāo)準名稱上,《GB/T 6062-2002》增加了“產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)”這一表述,體現(xiàn)了其作為更廣泛技術(shù)體系一部分的地位變化,同時也反映了該領(lǐng)域國際標(biāo)準化趨勢的影響。
其次,《GB/T 6062-2002》對術(shù)語和定義部分進行了修訂,引入了一些新的概念,并對原有定義進行了澄清或調(diào)整,以更好地符合實際應(yīng)用需求及國際通用做法。例如,“標(biāo)稱值”、“最大允許誤差”等關(guān)鍵術(shù)語得到了更加明確的規(guī)定。
再者,新版標(biāo)準對于接觸式測量儀器的具體要求也有所擴展。它不僅限定了不同條件下使用這些設(shè)備時應(yīng)達到的技術(shù)指標(biāo),還增加了關(guān)于校準程序、環(huán)境條件控制等方面的內(nèi)容。此外,《GB/T 6062-2002》中加入了更多關(guān)于如何進行正確操作以及維護保養(yǎng)的信息,幫助用戶提高測量精度并延長儀器使用壽命。
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GB/T 6062-2002產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廓法接觸(觸針)式儀器的標(biāo)稱特性-免費下載試讀頁文檔簡介
TC8.17.040.20J04中華人民共和國國家標(biāo)準GB/T.6062-2002eqvISO3274:1996產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廊法接觸(觸針)式儀器的標(biāo)稱特性Geometricalproductspecifications(GPS)-SurfacetextureProfilemethodNominalcharacteristicsofcontactCstylusinstruments2002-01-10發(fā)布2002-07-01實施中華:人民共清正發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局
GB/T6062-2002本標(biāo)準是根據(jù)國際標(biāo)準ISO3274:1996《產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范表面結(jié)構(gòu)輪廊法接觸(觸針)式儀器的標(biāo)稱特性》對GB/T6062—1985《輪廊法觸針式儀器表面粗糙度測量儀輪席記錄儀及中線制輪席計》進行修訂的·在技術(shù)內(nèi)容上與ISO3274等效,編寫規(guī)則上與之等同。該標(biāo)準的修訂與ISO/TC213產(chǎn)品幾何技術(shù)(GPS)標(biāo)準總體規(guī)劃協(xié)調(diào)一致·適用于表面結(jié)構(gòu)實際輪廊的評定.并針對新一代觸針式儀器,擴大了使用面,滿足了國內(nèi)生產(chǎn)和進口儀器的驗收,適應(yīng)國際貿(mào)易、技術(shù)和經(jīng)濟交流以及采用國際標(biāo)準飛速發(fā)展的需要。本標(biāo)準主要規(guī)定了與儀器標(biāo)準有關(guān)的定義:如輪廊、觸針式儀器、觸針式儀器的結(jié)構(gòu)、儀器的計量特性等有關(guān)定義。規(guī)定了有關(guān)儀器特性的標(biāo)稱值:如針尖半徑及角度、靜態(tài)測量力、輪席濾波器截止波長入、觸針半徑及粗糙度截止波長率等重要技術(shù)內(nèi)容。本標(biāo)準增加了三個附錄,附錄A《符合GB/T6062—1985的儀器》、附錄B《本標(biāo)準改進的背景》和附錄C《在產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范體系中的關(guān)系》。這對正確理解和貫徹使用以及新舊標(biāo)準的過渡起著重要的作用。本標(biāo)準與GB/T6062—1985的重要不同是在傳輸特性和導(dǎo)頭的使用這兩個方面作了重大變化,并與國際上取得了一致。本標(biāo)準與ISO3274:1996的區(qū)別是標(biāo)準中只引用了相關(guān)的標(biāo)準,但并不影響標(biāo)準的使用本標(biāo)準規(guī)定了輪廊及用于測量表面粗糙度和波度的接觸(觸針)式儀器的定義·本標(biāo)準適用于實際輪廊的評定。本標(biāo)準特別說明了影響輪廊評定的儀器特性.并提出了接觸式儀器(輪席計和輪席記錄儀)的基本技術(shù)規(guī)范。本標(biāo)準自實施之日起,代替GB/T6062—1985.本標(biāo)準的附錄A、附錄B和附錄C是提示的附錄,本標(biāo)準由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出。本標(biāo)準由全國產(chǎn)品尺寸和幾何技術(shù)規(guī)范標(biāo)準化技術(shù)委員會歸口本標(biāo)準起草單位;機械科學(xué)研究院、時代集團公司、中國計量科學(xué)研究院、哈爾濱理工大學(xué)本標(biāo)準主要起草人:王欣玲、王忠濱、高思田、趙有祥、陳捷,
GB/T6062—2002ISO前言ISO(國際標(biāo)準化組織)是一個世界范圍的國家標(biāo)準化組織(ISO成員)的聯(lián)合會,國際標(biāo)準的制定工作通常由IS0各技術(shù)委員會進行。每個成員組織,對某一主題的技術(shù)委員會感興趣,就有權(quán)參加該委員會工作,其他與ISO協(xié)作的政府間或非政府間的國際組織也可以參加工作。ISO與IEC(國際電工委員會)在所有有關(guān)電工技術(shù)標(biāo)準化的內(nèi)容上進行密切合作。由技術(shù)委員會提出的國際標(biāo)準草案,散發(fā)給各成員組織,由各成員組織投票表決.至少需要75%的贊成票才能作為國際標(biāo)準公布。國際標(biāo)準ISO3274是由ISO/TC57《表面特征及其計量學(xué)》及其分委員會SC1《幾何參數(shù)面粗糙度和波度的測量儀器和方法》.ISO/TC3《極限和配合》和ISO/TC10《技術(shù)制圖、產(chǎn)品定義和相關(guān)文件》及其分委員會SC5《尺寸和公差》技術(shù)委員會共同制定的。1SO3274的這個第二版取消和替代了第一版(ISO3274:1975)及已被修訂過的ISO1880:1979.它特別考慮了接觸(觸針)式儀器的標(biāo)稱特性及其技術(shù)發(fā)展?,F(xiàn)代儀器使用符合ISO11562規(guī)定的相位修正濾波器本標(biāo)準附錄A、B和C是提示性附錄。
中華人民共和國國家標(biāo)準產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廊法GB/T6062-2002cqvISO3274:1996接觸(觸針)式儀器的標(biāo)稱特性代替GB/T6062-1985Geometricalproductspecifications(GPS)Surfacetexture-ProfilemethodNominalcharacteristicsofcontact(stylus)instruments1范圍本標(biāo)準規(guī)定了輪廊的定義及用于測量表面粗糙度和波紋度的接觸(觸針)式儀器的一般結(jié)構(gòu)本標(biāo)準還規(guī)定了影響輪席評定的儀器特性.并提供了接觸(觸針)式儀器(輪廊計和輪廊記錄儀)的基本技術(shù)規(guī)范。本標(biāo)準適用于對實際輪廊評定的觸針儀器,使現(xiàn)行的國家標(biāo)準能夠用于實際輪廊的評定1由儀器制造商提供的關(guān)于接觸(觸針)式儀器特性的技術(shù)數(shù)據(jù)正在制定中·并將在今后標(biāo)定方法的標(biāo)準中被引用2關(guān)于波紋度截止長度入、針尖半徑和波紋度截止長度率之間的關(guān)系正在制定中,將作為一個修正加進本標(biāo)準2引用標(biāo)準下列標(biāo)準所包含的條文,通過在本標(biāo)準中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準的條文。本標(biāo)準出版時.所示版本均為有效。所有標(biāo)準都會被修訂.使用本標(biāo)準的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準最新版本的可能性。GB/T3505—2000產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范表面結(jié)構(gòu)輪廊法表面結(jié)構(gòu)的術(shù)語、定義和參數(shù)(eqvISO4287:1997);產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范GB/T10610-1998表面結(jié)構(gòu)輪廊法評定表面結(jié)構(gòu)的規(guī)則和方法(eqv1SO4288:1997)3定義本標(biāo)準采用以下定義。3.1輪廊profiles3.1.1軌跡輪廊tracedprofile測量表面時.觸針在被測表面的橫切面內(nèi)針尖中心點的軌跡.這個觸針具有理想的幾何形狀(帶有球形尖端的圓錐體)標(biāo)稱尺寸和標(biāo)稱測力。注:本標(biāo)準中所有其他輪腳都從該輪席導(dǎo)出。3.1.2基準輪鹿r
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