GB/T 7704-2017無損檢測X射線應(yīng)力測定方法

ICS19100

J04.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T7704—2017

代替

GB/T7704—2008

無損檢測X射線應(yīng)力測定方法

Non-destructivetesting—PracticeforresidualstressmeasurementbyX-ray

2017-10-14發(fā)布2018-04-01實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T7704—2017

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和符號

3………………1

應(yīng)力測定原理

4……………3

測定方法

5…………………7

儀器

6………………………16

試樣

7………………………17

測定程序

8…………………20

報告

9………………………26

測定結(jié)果評估

10…………………………26

附錄資料性附錄衍射峰半高寬

A()……………………28

附錄資料性附錄穿透深度修正

B()……………………29

附錄規(guī)范性附錄應(yīng)力參考樣品及設(shè)備檢定

C()………30

附錄資料性附錄等強度梁法實驗測定射線彈性常數(shù)和應(yīng)力常數(shù)K

D()X………33

附錄規(guī)范性附錄射線應(yīng)力數(shù)據(jù)處理方法

E()X………35

附錄資料性附錄實驗法測定射線彈性常數(shù)

F()XXECs…………39

附錄規(guī)范性附錄主應(yīng)力和主應(yīng)力方向的計算

G()……………………41

Ⅰ

GB/T7704—2017

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)代替無損檢測射線應(yīng)力測定方法

GB/T7704—2008《X》。

本標(biāo)準(zhǔn)與相比主要變化如下

GB/T7704—2008:

增加了衍射峰衍射角半高寬殘余應(yīng)力等術(shù)語的定義增加了定義和符號表見第章

———、、、,(3);

增加了三維應(yīng)力分析見第章

———(4);

增加了雙線陣探測器側(cè)傾法見第

———(5);

增加了各種測定方法的原理圖見第章

———(5);

增加了儀器的配置及其技術(shù)要求見第章

———(6);

增加了材料及其材料特性見第章

———(7);

增加了測定結(jié)果評估見第章

———(10);

增加了附錄衍射峰半高寬

———A;

增加了附錄穿透深度修正

———B;

增加了附錄應(yīng)力參考樣品及設(shè)備檢定

———C;

增加了附錄等強度梁法實驗測定射線彈性常數(shù)和應(yīng)力常數(shù)K

———DX;

增加了附錄射線應(yīng)力數(shù)據(jù)處理方法

———EX;

增加了附錄實驗法測定射線彈性常數(shù)

———FX;

增加了附錄主應(yīng)力和主應(yīng)力方向的計算

———G;

刪除了原附錄射線應(yīng)力測定常用方法年版

———AX(2008);

刪除了原附錄確定衍射峰位置的方法見年版

———B(2008);

刪除了原附錄隨機因素造成的誤差計算方法見年版

———C(2008);

修改了試樣的處理見第章年版的第章

———(7;20086);

修改了測定程序見第章年版的第章

———(8;20086)。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國無損檢測標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口

(SAC/TC56)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位上海材料研究所河北邯鄲愛斯特應(yīng)力技術(shù)有限公司愛派克測試技術(shù)上海有

:、、()

限公司中國科學(xué)院力學(xué)研究所中國工程物理研究院材料研究所

、、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人巴發(fā)海呂克茂潘海濱李正陽王濱竇作勇柴澤薛宇李凱

:、、、、、、、、。

本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T7704—1987、GB/T7704—2008。

Ⅲ

GB/T7704—2017

無損檢測X射線應(yīng)力測定方法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了射線應(yīng)力測定原理術(shù)語符號測定方法設(shè)備試樣測定程序報告和測定結(jié)果

X、、、、、、、

評估

。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于具有足夠結(jié)晶度在特定波長的射線照射下能得到連續(xù)德拜環(huán)的晶粒細(xì)小無織

,X、

構(gòu)的各向同性的多晶體材料

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

射線測定儀技術(shù)條件

JB/T9394X

3術(shù)語和定義符號

、

31術(shù)語和定義

.

下列術(shù)語和定義適用于本文件

。

311

..

殘余應(yīng)力residualstress

在沒有外力或外力矩作用的條件下構(gòu)件或材料內(nèi)部存在并且自身保持平衡的宏觀應(yīng)力

。

312

..

衍射峰diffractionpeak

在滿足布拉格定律的條件下射線衍射強度沿反射角的分布曲線

X。

注反