標(biāo)準(zhǔn)解讀

《JJF 1120-2004 熱電離同位素質(zhì)譜計(jì)校準(zhǔn)規(guī)范》是中國(guó)國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范之一,旨在為熱電離同位素質(zhì)譜計(jì)(TIMS)提供統(tǒng)一的校準(zhǔn)方法和技術(shù)要求。該標(biāo)準(zhǔn)適用于新制造、使用中或修理后的熱電離同位素質(zhì)譜計(jì)的校準(zhǔn)工作。其主要內(nèi)容包括但不限于以下幾個(gè)方面:

  • 范圍:明確指出本規(guī)范適用的對(duì)象是熱電離同位素質(zhì)譜計(jì),并指定了該設(shè)備用于測(cè)定元素及其同位素比值時(shí)所需的性能指標(biāo)。

  • 引用文件:列出了制定此校準(zhǔn)規(guī)范時(shí)參考的相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),確保了與現(xiàn)有質(zhì)量管理體系的一致性和兼容性。

  • 術(shù)語(yǔ)定義:對(duì)熱電離同位素質(zhì)譜分析過程中涉及到的專業(yè)詞匯進(jìn)行了界定,如“分辨率”、“靈敏度”等關(guān)鍵參數(shù),以便于理解后續(xù)內(nèi)容。

  • 技術(shù)要求:詳細(xì)規(guī)定了熱電離同位素質(zhì)譜計(jì)應(yīng)達(dá)到的技術(shù)指標(biāo),比如線性誤差、重復(fù)性精度以及穩(wěn)定性要求等。這些要求有助于保證儀器測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

  • 校準(zhǔn)條件:描述了進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)所需滿足的環(huán)境條件(如溫度、濕度)、電源要求以及其他可能影響校準(zhǔn)結(jié)果的因素控制措施。

  • 校準(zhǔn)項(xiàng)目及方法:提供了具體的校準(zhǔn)步驟,包括但不限于儀器預(yù)熱時(shí)間、樣品準(zhǔn)備過程、數(shù)據(jù)采集方式等。同時(shí),還介紹了如何通過標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)來驗(yàn)證儀器性能的方法。

  • 校準(zhǔn)結(jié)果表達(dá):說明了如何記錄并報(bào)告校準(zhǔn)結(jié)果,包括使用何種格式呈現(xiàn)數(shù)據(jù)、如何評(píng)估不確定度等內(nèi)容。

  • 復(fù)校間隔:根據(jù)設(shè)備類型及使用頻率等因素建議了合理的重新校準(zhǔn)周期,以確保長(zhǎng)期使用的準(zhǔn)確性。


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....

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  • 2004-06-04 頒布
  • 2004-09-01 實(shí)施
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文檔簡(jiǎn)介

中華人民共和國(guó)國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范

JJF1120—2004

熱電離同位素質(zhì)譜計(jì)校準(zhǔn)規(guī)范

CalibrationSpecificationforThermalIonizationIsotopeMassSpectrometers

2004-06-04發(fā)布2004-09-01實(shí)施

國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

JJF1120—2004

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熱電離同位素質(zhì)譜計(jì)校準(zhǔn)規(guī)范??????????????

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IonizationIsotopeMassSpectrometers

本規(guī)范經(jīng)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局于年月日批準(zhǔn)并自

20040604,

年月日起施行

20040901。

歸口單位:全國(guó)物理化學(xué)計(jì)量技術(shù)委員會(huì)

起草單位:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研究中心

本規(guī)范由歸口單位負(fù)責(zé)解釋

JJF1120—2004

本規(guī)范起草人:

趙墨田國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研究中心

()

王軍國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研究中心

()

逯海國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研究中心

()

JJF1120—2004

目錄

范圍……………………

1(1)

引用文獻(xiàn)………………

2(1)

術(shù)語(yǔ)和計(jì)量單位………………………

3(1)

同位素豐度…………

3.1(1)

同位素豐度比………………………

3.2(1)

質(zhì)量范圍……………

3.3(1)

分辨率………………

3.4(1)

峰形系數(shù)……………

3.5(1)

系統(tǒng)穩(wěn)定性…………

3.6(1)

靈敏度離子產(chǎn)率………………

3.7()(1)

豐度靈敏度…………

3.8(2)

測(cè)量重復(fù)性…………

3.9(2)

分餾效應(yīng)…………

3.10(2)

質(zhì)量歧視…………

3.11(2)

記憶效應(yīng)…………

3.12(2)

概述……………………

4(2)

計(jì)量特性………………

5(2)

校準(zhǔn)條件………………

6(3)

實(shí)驗(yàn)室環(huán)境…………

6.1(3)

校準(zhǔn)設(shè)備……………

6.2(3)

同位素標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)……………………

6.3(3)

校準(zhǔn)對(duì)象的檢查和調(diào)整……………

6.4(3)

校準(zhǔn)項(xiàng)目和校準(zhǔn)方法…………………

7(4)

分辨率校準(zhǔn)…………

7.1(4)

靈敏度校準(zhǔn)…………

7.2(5)

豐度靈敏度校準(zhǔn)……………………

7.3(5)

峰形系數(shù)校準(zhǔn)………………………

7.4(5)

系統(tǒng)穩(wěn)定度校準(zhǔn)……………………

7.5(6)

內(nèi)重復(fù)性校準(zhǔn)………………………

7.6(6)

外重復(fù)性校準(zhǔn)………………………

7.7(7)

校準(zhǔn)結(jié)果的表達(dá)………………………

8(8)

復(fù)校時(shí)間間隔…………

9(8)

附錄校準(zhǔn)記錄格式…………………

A(9)

附錄熱電離同位素質(zhì)譜計(jì)校準(zhǔn)證書格式…………

B(11)

JJF1120—2004

熱電離同位素質(zhì)譜計(jì)校準(zhǔn)規(guī)范

1范圍

本規(guī)范適用于各種不同類型的熱電離同位素質(zhì)譜計(jì)以下簡(jiǎn)稱質(zhì)譜計(jì)的校準(zhǔn)

()。

2引用文獻(xiàn)

通用計(jì)量術(shù)語(yǔ)及定義

JJF1001—1998

測(cè)量不確定度評(píng)定與表示

JJF1059—1999

檢驗(yàn)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求

GB/T15481—2000

使用本規(guī)范時(shí)應(yīng)注意使用上述引用文獻(xiàn)的現(xiàn)行有效版本

,。

3術(shù)語(yǔ)和計(jì)量單位

同位素豐度

3.1

某元素所具有的各種同位素在該元素中所占有的原子份額同位素豐度表示方法

。

有原子分?jǐn)?shù)某種穩(wěn)定性同位素所具有的摩爾原子數(shù)與該元素總的摩爾原子數(shù)之

:(1):

比原子百分以百分?jǐn)?shù)表示的原子分?jǐn)?shù)

;(2):。

同位素豐度比

3.2

某元素的一種同位素豐度與該元素的另一種同位素豐度的比值

。

質(zhì)量范圍

3.3

質(zhì)量范圍表示質(zhì)譜計(jì)所能測(cè)量樣品的質(zhì)量由最小到最大的區(qū)間單位為原子質(zhì)量單

,

u。

分辨率

3.4

分辨率表征質(zhì)譜計(jì)鑒別兩個(gè)相鄰質(zhì)量離子束的能力定義為在質(zhì)譜計(jì)的質(zhì)量范圍內(nèi)

,

某一特定質(zhì)量M位置與MM位置的兩個(gè)離子束分開的程度并以MM表達(dá)質(zhì)譜

+Δ,/Δ

計(jì)的分辨率無量綱

。。

峰形系數(shù)

3.5

峰形系數(shù)表征離子束成像特征它與質(zhì)譜計(jì)的入口和出口狹縫離子光學(xué)系統(tǒng)場(chǎng)形

,,

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