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文檔簡(jiǎn)介
微細(xì)加工光刻膠第1頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月第2頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月
1、靈敏度靈敏度的定義單位面積上入射的使光刻膠全部發(fā)生反應(yīng)的最小光能量或最小電荷量(對(duì)電子束膠),稱(chēng)為光刻膠的靈敏度,記為S,也就是前面提到過(guò)的
D100。S越小,則靈敏度越高。
通常負(fù)膠的靈敏度高于正膠。靈敏度太低會(huì)影響生產(chǎn)效率,所以通常希望光刻膠有較高的靈敏度。但靈敏度太高會(huì)影響分辨率。
8.2光刻膠的特性第3頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月靈敏度曲線(對(duì)比度曲線)1.00.50D0入射劑量(C/cm2)未反應(yīng)的歸一化膜厚D100第4頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月
2、分辨率下面討論分辨率與靈敏度的關(guān)系。當(dāng)入射電子數(shù)為
N時(shí),由于隨機(jī)漲落,實(shí)際入射的電子數(shù)在范圍內(nèi)。為保證出現(xiàn)最低劑量時(shí)不少于規(guī)定劑量的90%,也即。由此可得。因此對(duì)于小尺寸曝光區(qū),必須滿(mǎn)足光刻工藝中影響分辨率的因素有:光源、曝光方式
和
光刻膠本身(包括靈敏度、對(duì)比度、顆粒的大小、顯影時(shí)的溶脹、電子散射等)。通常正膠的分辨率要高于負(fù)膠。第5頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月式中,Wmin
為最小尺寸,即分辨率。可見(jiàn),若靈敏度越高(即
S
越?。瑒t
Wmin
就越大,分辨率就越差。
例如,負(fù)性電子束光刻膠
COP
的
S=0.3×10-6C/cm2,則其
Wmin=0.073
m。若其靈敏度提高到
S=0.03×10-6C/cm2,則其
Wmin
將增大到
0.23
m。第6頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月
3、對(duì)比度對(duì)比度是上圖中對(duì)數(shù)坐標(biāo)下曲線的斜率,表示光刻膠區(qū)分掩模上亮區(qū)和暗區(qū)的能力的大小,即對(duì)劑量變化的敏感程度。D0D100對(duì)比度的定義為DcrD100D0第7頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月靈敏度曲線越陡,D0與D100的間距就越小,則光刻膠的對(duì)比度就越大,這樣有助于得到清晰的圖形輪廓和高的分辨率。一般光刻膠的對(duì)比度在
0.9
~
2.0
之間。對(duì)于亞微米圖形,要求對(duì)比度大于1。
通常正膠的對(duì)比度要高于負(fù)膠。D0D100第8頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月光進(jìn)入光刻膠后,其強(qiáng)度按下式衰減式中,α為光刻膠的光吸收系數(shù)。設(shè)
TR
為光刻膠的厚度,則可定義光刻膠的
光吸收率
為可以證明,對(duì)比度與光吸收系數(shù)α及光刻膠厚度
TR
之間有如下關(guān)系減小光吸收系數(shù)與膠膜厚度有利于提高對(duì)比度。
第9頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月一個(gè)與對(duì)比度有關(guān)的光刻膠性能指標(biāo)是
臨界調(diào)制傳輸函數(shù)
CMTF
,它代表在光刻膠上獲得能被分辨的圖形所必須的最小調(diào)制傳輸函數(shù),其定義為利用對(duì)比度的公式,可得CMTF
的典型值為
0.4。如果光學(xué)系統(tǒng)的
MTF
小于
CMTF,則其圖像就不能被分辨;如果光學(xué)系統(tǒng)的
MTF
大于
CMTF,就有可能被分辨。8.3臨界調(diào)制傳輸函數(shù)
第10頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月8.4光刻膠材料1、負(fù)性紫外光光刻膠主要有聚肉桂酸系(聚酯膠)和環(huán)化橡膠系兩大類(lèi),前者以柯達(dá)公司的
KPR
系列為代表,后者以
OMR
系列為代表。2、正性紫外光光刻膠主要以重氮醌為感光化合物,以酚醛樹(shù)脂為基體材料。最常用的有
AZ–1350
系列。正膠的主要優(yōu)點(diǎn)是分辨率高,缺點(diǎn)是靈敏度、耐刻蝕性和附著性等較差。光刻膠通常有三種成分:感光化合物、基體材料
和
溶劑。在感光化合物中有時(shí)還包括增感劑。第11頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月3、負(fù)性電子束光刻膠為含有環(huán)氧基、乙烯基或環(huán)硫化物的聚合物。最常用的是COP
膠,典型特性:靈敏度0.3~0.4C/cm2(加速電壓
10KV時(shí))、分辨率
1.0
m、對(duì)比度0.95。限制分辨率的主要因素是光刻膠在顯影時(shí)的溶脹。4、正性電子束光刻膠主要為甲基丙烯甲酯、烯砜和重氮類(lèi)這三種聚合物。最常用的是
PMMA
膠,典型特性:靈敏度
40~80
C/cm2(加速電壓20
KV時(shí))、分辨率0.1
m、對(duì)比度2~3。PMMA膠的主要優(yōu)點(diǎn)是分辨率高。主要缺點(diǎn)是靈敏度低,此外在高溫下易流動(dòng),耐干法刻蝕性差。第12頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月
8.5正膠的典型反應(yīng)
一、光化學(xué)反應(yīng)化學(xué)反應(yīng)速度k可表示為感光物質(zhì)的電子在未曝光時(shí)處于基態(tài)
S0,基態(tài)的反應(yīng)激活能
EA
大,因此反應(yīng)慢。曝光后,感光物質(zhì)的電子處于激發(fā)態(tài)
S1、S2、S3等,
激發(fā)態(tài)的
EA
小,因此反應(yīng)變快。式中,A、R
為常數(shù),T為絕對(duì)溫度,EA
為化學(xué)反應(yīng)激活能,隨電子狀態(tài)的不同而不同。EA
越小,則在同樣的溫度下反應(yīng)速度越快。第13頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月
二、勢(shì)能曲線可以借助于感光物質(zhì)的勢(shì)能曲線來(lái)討論光化學(xué)反應(yīng)。下圖是重氮基萘的
RN-N2
切斷反應(yīng)的勢(shì)能曲線。S0S1S2S3T188Kcal72KcalEA(S1)
=16KcalEA(S0)
=38KcalRN
與
N2的間距勢(shì)能第14頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月感光分子吸收λ=365
nm
的光能(
72
Kcal
)后
,電子從基態(tài)
S0躍遷到第一激發(fā)態(tài)
S1
,激活能由
EA(S0)
=
38
Kcal降為EA(S1)
=
16
Kcal,反應(yīng)速度加快。感光分子吸收λ=300
nm
的光能(88Kcal)后,電子躍遷到第二激發(fā)態(tài)S2
,此態(tài)的谷底勢(shì)能恰好與S1態(tài)當(dāng)
RN
-
N2
分解時(shí)的勢(shì)能相當(dāng),且
S2
與
S1
態(tài)的曲線在圖左側(cè)有相交之處,因此電子可從
S2
態(tài)躍遷到
S1
態(tài)并立即反應(yīng)。所以用λ=300
nm
的光曝光比用λ=365
nm
的反應(yīng)速度快。第15頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月在重氮基萘中還存在著三重態(tài)T1。由T1態(tài)的曲線可見(jiàn),RN-N2
的距離越遠(yuǎn),分子的勢(shì)能越低,所以處于
T1
態(tài)的分子將立即發(fā)生反應(yīng)而不需激活能。由于
T1
態(tài)曲線與所有單重激發(fā)態(tài)的曲線在谷底附近相交,所以進(jìn)入單重激發(fā)態(tài)的電子還可以通過(guò)向
T1
態(tài)躍遷而使感光物分子立即發(fā)生化學(xué)反應(yīng),從而使反應(yīng)速度大大加快。這種作用稱(chēng)為“三重態(tài)增感”。T1
三、增感劑及其作用第16頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月8.6光刻膠的涂敷和顯影本節(jié)簡(jiǎn)要介紹光刻工藝中除曝光與刻蝕以外的工序。1、脫水烘烤目的是去除硅片表面吸附的水分。也可利用前面的氧化或擴(kuò)散工藝來(lái)實(shí)現(xiàn)。2、增粘處理在烘烤后的硅片表面涂一層六甲基二硅亞胺(HMDS),目的是增加硅片表面與光刻膠的粘附性??刹捎谜羝坎挤ǎ部刹捎眯糠ā5?7頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月3、涂膠一般采用旋涂法。涂膠的關(guān)鍵是控制膠膜的厚度與膜厚的均勻性。膠膜的厚度決定于光刻膠的粘度和旋轉(zhuǎn)速度。3)甩掉多余的膠4)溶劑揮發(fā)1)滴膠2)加速旋轉(zhuǎn)第18頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月4、前烘(軟烘)目的是增強(qiáng)光刻膠與硅片的粘附性,去除光刻膠中的大部分溶劑,促進(jìn)光刻膠的均勻性和穩(wěn)定性。5、曝光6、曝光后的烘焙對(duì)紫外線曝光可不進(jìn)行,但對(duì)深紫外線曝光則必須進(jìn)行。第19頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月7
、顯影將曝光后的硅片用顯影液浸泡或噴霧處理。對(duì)負(fù)膠,顯影液將溶解掉未曝光區(qū)的膠膜;對(duì)正膠,顯影液將溶解曝光區(qū)的膠膜。幾乎所有的正膠都使用堿性顯影液,如
KOH
水溶液。顯影過(guò)程中光刻膠膜會(huì)發(fā)生膨脹。正膠的膨脹可以忽略,而負(fù)膠的膨脹則可能使圖形尺寸發(fā)生變化。顯影過(guò)程對(duì)溫度非常敏感。顯影過(guò)程有可能影響光刻膠的對(duì)比度,從而影響光刻膠的剖面形狀。顯影后必須進(jìn)行嚴(yán)格的檢查,如有缺陷則必須返工。第20頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月自動(dòng)顯影檢查設(shè)備第21頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月10、去膠9、刻蝕8、后烘(硬烘、堅(jiān)膜)目的是使膠膜硬化,提高其在后續(xù)工序中的耐腐蝕性。第22頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月8.7二級(jí)曝光效應(yīng)1、在選擇光刻膠時(shí),必須考慮它的吸收譜,以及在特定波長(zhǎng)下的光學(xué)吸收系數(shù)α。2、還要考慮基體材料對(duì)光的吸收。例如酚醛樹(shù)脂就對(duì)深紫外光有很強(qiáng)的吸收。被基體材料吸收的光到達(dá)不了感光化合物,從而影響光刻膠的靈敏度??芍?dāng)α太大時(shí),則只有光刻膠的頂部能被有效曝光;當(dāng)α太小時(shí),則由于吸收太少而需要長(zhǎng)時(shí)間的曝光。由下式第23頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月3、當(dāng)硅片表面凹凸不平時(shí),遇到的第一個(gè)問(wèn)題是硅片表面傾斜的臺(tái)階側(cè)面會(huì)將光反射到不希望曝光的區(qū)域。第二個(gè)問(wèn)題是使膠膜的厚度發(fā)生變化:在硅片表面凹下處膠膜較厚,導(dǎo)致曝光不足;在硅片表面凸起處膠膜較薄,導(dǎo)致曝光過(guò)度。膠膜厚度的不同還會(huì)影響對(duì)比度。解決這個(gè)問(wèn)題的辦法是表面平坦化。第24頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月8.8雙層光刻膠技術(shù)隨著線條寬度的不斷縮小,為了防止膠上圖形出現(xiàn)太大的深寬比,提高對(duì)比度,應(yīng)該采用很薄的光刻膠。但薄膠會(huì)遇到耐腐蝕性的問(wèn)題。由此開(kāi)發(fā)出了
雙層光刻膠技術(shù),這也是所謂
超分辨率技術(shù)
的組成部分。第25頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月頂層膠:含硅,厚約
0.25
m底層膠:也稱(chēng)為干顯影膠,厚約
0.5
m對(duì)頂層膠曝光顯影對(duì)底層膠作含氧的
RIE
刻蝕據(jù)報(bào)導(dǎo),采用
193
nm
波長(zhǎng)光源,在底層膠上獲得了0.15
m~0.12
m寬的線條。用
CF4RIE
法刻蝕掉
0.23
m厚的多晶硅后,還有約50%
的底層膠保留下來(lái)。第26頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月8.9小結(jié)
本章首先介紹了光刻膠的類(lèi)型與特性,重點(diǎn)討論了光刻膠的靈敏度、分辨率、對(duì)比度及其相互關(guān)系。通過(guò)正膠的典型反應(yīng)和勢(shì)能曲線,說(shuō)明了光刻膠的光化學(xué)反應(yīng)過(guò)程和增感作用。介紹了涉及光刻膠的工藝步驟。最后介紹了雙層光刻膠技術(shù)。第27頁(yè),課件共28頁(yè),創(chuàng)作于2023年2月習(xí)題1、某種光刻膠的
D0=40mJ/cm2
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