《斷口形貌特征》

〔二〕斷口形貌特征1整理課件〔二〕斷裂機(jī)制和斷口形貌特征1〕按斷裂性質(zhì)分類(lèi)塑性斷裂塑性--脆性斷裂脆性斷裂纖維狀斷口〔與正應(yīng)力方向垂直〕剪切斷口〔、剪切唇〕〔無(wú)宏觀變形〕〔解理斷口、疲勞斷口〕穿晶斷口沿晶斷口2〕按斷裂機(jī)理分類(lèi)：解理斷裂、韌窩斷裂、準(zhǔn)解理斷裂、疲勞斷裂、環(huán)境斷裂、蠕變斷裂、滑移別離、穿晶斷裂等。一〕斷裂分類(lèi)2整理課件二〕宏觀斷口特征1〕斷口三要素纖維狀區(qū)、放射狀區(qū)、剪切唇。

根據(jù)的分布類(lèi)型、面積大小及形狀等可以推測(cè)應(yīng)力大小、應(yīng)力狀態(tài)、溫度、材質(zhì)情況；可判斷裂源和擴(kuò)展方向。

三要素的大小分布和材質(zhì)、形狀、溫度及受力狀態(tài)有關(guān)。有時(shí)并不同時(shí)出現(xiàn)。3整理課件4整理課件2〕不同斷裂機(jī)制斷口的宏觀特征1.韌窩斷裂

韌窩斷裂斷口的宏觀特征是具有纖維狀和剪切唇標(biāo)記。纖維狀呈現(xiàn)凹凸不平的宏觀外貌。剪切唇形貌區(qū)域呈現(xiàn)傾斜斷面，往往在斷口邊緣出現(xiàn)。材料由于劇烈的局部塑性變形引起的斷裂稱(chēng)韌窩斷裂或韌性斷裂。5整理課件2.解理斷裂

解理斷裂斷口的突出宏觀特征是具有小刻面和放射狀條紋。解理斷口的結(jié)晶面呈無(wú)規(guī)那么取向，有閃閃發(fā)光特征。稱(chēng)發(fā)光的小平面為小刻面。解理斷口的另一特征是具有人字狀條紋或放射狀條紋。容易判斷裂源和擴(kuò)展方向。晶體材料受拉應(yīng)力使晶體沿一定的結(jié)晶學(xué)平面發(fā)生別離的過(guò)程稱(chēng)解理斷裂，斷口稱(chēng)解理斷口。6整理課件3.滑移別離滑移別離斷口就是剪切斷口，與剪切唇相同。斷口傾斜，呈角。7整理課件4.疲勞斷裂疲勞斷口一般可劃分三個(gè)不同區(qū)域：平滑區(qū)和“年輪〞條紋區(qū)和瞬斷區(qū)。8整理課件5.蠕變斷裂蠕變斷口的宏觀形貌呈“冰糖〞狀特征。9整理課件三〕顯微斷口分析技術(shù)1〕光學(xué)顯微鏡斷口分析技術(shù)用光學(xué)顯微鏡對(duì)斷口進(jìn)行觀察和分析。其固有缺點(diǎn)為放大倍率低〔×100--×500〕，焦點(diǎn)深度淺。只限于平坦的斷口。主要用于觀察材料的組織及裂紋的形態(tài)等。主要光學(xué)儀器為金相顯微鏡和立體顯微鏡。10整理課件2〕電子顯微鏡斷口分析技術(shù)1.透射電鏡技術(shù)通常斷口凹凸不平，通過(guò)復(fù)型，利用電子束從樣品中透射的電子成象，透射電鏡可以得到高分辨率的電子圖象，研究斷口的形貌特征。常用倍率為×2000--×30000〕。2.掃描電鏡技術(shù)掃描電鏡利用電子束在樣品外表上掃描，引起二次電子發(fā)射，經(jīng)放大成象。掃描電鏡不必復(fù)型，可直接觀察較大的樣品。能清晰顯示出樣品的凹凸形貌特征。在同一位置可用不同倍率連續(xù)放大觀察〔數(shù)十至上萬(wàn)倍〕。取樣不方便時(shí)，也可采用復(fù)型技術(shù)。各種觀察手段結(jié)合可以得到較好的結(jié)果。11整理課件〔金〕200:1〔掃〕500:1〔透〕10000:1〔掃〕2000: