(高清版)GBT 5095.2304-2021 電子設(shè)備用機電元件 基本試驗規(guī)程及測量方法 第23-4部分：屏蔽和濾波試驗 試驗23d：時域內(nèi)傳輸線的反射

GB/T5095.2304—2021/IEC基本試驗規(guī)程及測量方法試驗23d:時域內(nèi)傳輸線的反射Testsandmeasurements—Part23-4:Screeningandfilteringtests—國家標準化管理委員會國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布國家標準化管理委員會IGB/T5095.2304—2021/IEC60512-23-4:2001 Ⅲ 1 13試驗樣品 1 1 14.2試驗方法B用試驗板 1 1 26.1試驗方法A和B 2 3附錄A(規(guī)范性附錄)用于試驗方法B的試驗板說明 4附錄B(資料性附錄)TDR實用指南 7ⅢGB/T5095.2304—2021/IEC60512-23-4:2001GB/T5095《電子設(shè)備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法》按試驗方法分為若干部分?！?3-3部分：屏蔽和濾波試驗試驗23c:連接器和附件的屏蔽效果線注入法；——第23-4部分：屏蔽和濾波試驗試驗——第23-7部分：屏蔽和濾波試驗試驗23g:連接器的有效轉(zhuǎn)移阻抗。本部分為GB/T5095的第23-4部分。本部分使用翻譯法等同采用IEC60512-23-4:2001《電子設(shè)備用連接器試驗和測量第23-4部——標準名稱由《電子設(shè)備用連接器試驗和測量第23-4部分：屏蔽和濾波試驗試驗23d:時域內(nèi)傳輸線的反射》修改為《電子設(shè)備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第23-4部分：1GB/T5095.2304—2021/IEC60512-23-4:2001試驗23d:時域內(nèi)傳輸線的反射試驗方法A采用精密同軸電纜和半硬同軸電纜與受試連接器和試驗設(shè)備連接。該試驗方法適用試驗樣品應(yīng)由裝有多個接觸件的連接器插合對和/或電纜組件組成。接觸件可與相應(yīng)試驗電纜上4.1試驗方法A用試驗裝置4.2試驗方法B用試驗板5試驗程序(方法A和B)2GB/T5095.2304—20215.3在一個或多個規(guī)定的上升時間發(fā)射信號。圖1所示為一典型波形。5.4連接器反射波幅(在反射系數(shù)p的范圍內(nèi)測量而不是電壓):5.4.1測量與受試連接器對應(yīng)反射波形的最大正和負偏差(相對于零反射基線)。5.4.2計算測得的帶有試驗裝置試驗系統(tǒng)階躍波幅的百分比。A,——連接器反射波幅；Am.——測量的連接器反射波幅；Am——測量的帶有裝置設(shè)備的階躍波幅。5.5如采用多個信號上升時間，重復(fù)步驟5.3和5.4。有關(guān)改變信號上升時間的方法/選擇指南，參見BAA——時域反射計輸出電壓階躍；C——電纜至試驗板1連接處；D——試驗板1線路；E——受試連接器：F——試驗板2線路；圖1典型時域反射計波形顯示的連接器反射6試驗的記錄文件當要求報告該試驗的結(jié)果時，需要說明下列各項內(nèi)容：a)采用設(shè)備的說明，包括設(shè)備主機和插件的制造廠及型號。b)改變信號上升時間所采用的方法(參見B.3)。c)信號接地引出頭型式。d)說明相鄰信號線或線路圖形的引出頭是否開口式(浮動)、終端電阻(如端接的50Q、75Ω或其3GB/T5095.2304—2021/IEC60512-23-4:2001e)用于將試驗設(shè)備與試驗板或電纜相連接的任何特殊同軸轉(zhuǎn)接器、探頭或衰減器的1)試驗設(shè)備階躍信號的上升時間和幅度，包括試驗裝置的影響；2)對試驗的每個試驗點和連接器信號線而言，反射波形的最大(正或零)和最小(負或零)偏差由受試連接器決定。測量這些值所依據(jù)的零反射基線參見B.2。按測量的帶有試驗裝%%%%%%6.2試驗方法B的附加項目c)用于同軸連接器和受試連接器的印制電路板機械軌道的細節(jié)。包括試驗中涉及的所有試驗信4GB/T5095.2304—2021/IEC60512-23-4:2001對于板與板連接器，這種傳輸線是由兩塊具有受控特性阻抗線路結(jié)構(gòu)的印制電路板構(gòu)成的(見圖A.1)。插配的受試連接器應(yīng)按與其預(yù)定用途相似的方式安裝在試驗板1和試驗板2之間。時域反射計裝置采用同軸試驗電纜與試驗板1相連，電纜的特性阻抗應(yīng)與時域反射計的標稱阻抗(通常為50Ω或75Ω)相匹配。在試驗板2上試驗信號線的遠端應(yīng)端接一阻性終端(見A.3)。這些板應(yīng)備有質(zhì)量合適A.2.2微帶線結(jié)構(gòu)意為一靠近信號線路的信號接地導電面作為受控阻抗線路的高頻接地回路導體。微帶線結(jié)構(gòu)可為表面式微帶線或線路上包有介質(zhì)覆蓋層的埋入式微帶線(見圖A.2b)和圖A.2c)]。A.3.1選擇的該阻性終端的阻值應(yīng)與試驗板3(或試驗電纜2,按適用)的阻抗匹配。也可采用一個合適的同軸終端負載(連接器)或一個誤差不大于2%標準阻值的分立電阻器。如采用軸向引線電阻，引當試驗板的阻抗與試驗設(shè)備的阻抗不能精確第二區(qū)段如圖A.3所示。時域反射計/脈沖發(fā)生器和試驗裝置這個組合的有效階躍信號上升時間和幅度等于在該校準線路遠端5GB/T5095.2304—2021/IEC60512-23-4:2001不能精確匹配時，下降變化從零反射電平至短路或一1p電平包括額外的正或負階躍部分。推薦的測量有效試驗系統(tǒng)波幅和下降時間如圖A.4所示。Q同軸電纜試驗板1試驗板2圖A.1典型的連接器反射試驗裝置 銅 圖A.2線路結(jié)構(gòu)類型6GB/T5095.2304—2021圖A.3采用傳輸型校準線路測量的階躍信號波幅和上升時間的部分時域傳輸波形波幅圖A.4采用短路校準線路測量的階躍信號波幅和下降時間的部分TDR波形7GB/T5095.2304—2021/IEC60512-23-4(資料性附錄)B.1試驗設(shè)備可采用時域反射計(TDR)作為試驗信號源，同時作為測量該信號從受試連接器產(chǎn)生的電反射的裝置。同樣，也可采用脈沖發(fā)生器作為試驗信號源，并用一示波器作為測量電反射的裝置。記錄由受試連接器產(chǎn)生的反射電壓波形的最大和最小波幅，同時對試驗條件和裝置進行說明。連接器的反射波幅很大程度上取決于試驗信號的上升時間和幅度。因此，在測量試驗系統(tǒng)的有效上升時間和階躍幅度時，一定將試驗設(shè)備和試驗裝置的影響包括在內(nèi)。此外，改變試驗系統(tǒng)的有效上升時間與連接器預(yù)定用途的有效上升時間相匹配也是一種有用的方式。B.2零反射基線最大和最小連接器反射波幅直接取決于該零反射(p=0)基線的電平。用于測量連接器反射波幅(十和一)的零波幅基線應(yīng)作為波形曲線平坦區(qū)段內(nèi)的平均電平，該區(qū)段對應(yīng)于試驗板1上引出頭至受試連接器的印制線路，或是引出頭至相應(yīng)的用于試驗電纜與板或電纜與電纜連接器的試驗電纜的印制線路。該區(qū)段如圖B.1中波形曲線A段所示(圖1中所示為波形曲線DCA——B說明：圖B.1零反射基線和最大及最小連接器反射波幅的典型波形圖示B.3選擇改變信號上升時間試驗的說明除不改變該設(shè)備的上升時間外，用來獲得上升時