標準解讀

《GB/T 11682-1989 低本底α測量儀》是中國一項關于低本底α粒子測量儀器的技術標準。該標準詳細規(guī)定了低本底α測量儀的術語定義、分類、技術要求、試驗方法、檢驗規(guī)則以及標志、包裝、運輸和儲存要求，旨在確保此類設備的性能穩(wěn)定、測量結果準確可靠，并促進其在環(huán)境監(jiān)測、輻射防護、核科學及同位素研究等領域的應用。

標準內容概覽：

  1. 范圍：明確了本標準適用于測量α射線能量大于4MeV，探測效率不低于0.1cpm/(mBq)的低本底α放射性物質的儀器。不適用于瞬時α輻射測量或能量低于4MeV α粒子的測量。

  2. 術語定義：對“低本底”、“探測效率”等關鍵術語進行了明確界定，為標準的理解和實施提供基礎。

  3. 分類：根據(jù)測量原理、結構特點等將低本底α測量儀進行分類，便于用戶根據(jù)實際需求選擇合適的儀器類型。

  4. 技術要求：

    • 性能指標：規(guī)定了儀器的基本性能參數(shù)，如能量分辨率、探測效率、本底計數(shù)率等應達到的標準。
    • 結構與材料：要求儀器設計合理，使用低放射性材料制造，以減少本底干擾。
    • 穩(wěn)定性與可靠性：儀器需具有良好的長期穩(wěn)定性和重復性，能在規(guī)定條件下穩(wěn)定工作。

  5. 試驗方法：詳細說明了如何對儀器進行性能測試，包括能量校準、探測效率測定、本底計數(shù)率測試等，確保測試過程標準化、可重復。

  6. 檢驗規(guī)則：制定了產(chǎn)品出廠前的檢驗流程和合格判定標準，以及用戶接收時的驗收準則。

  7. 標志、包裝、運輸和儲存：要求產(chǎn)品外包裝需清晰標注產(chǎn)品信息、生產(chǎn)日期、執(zhí)行標準等，同時對運輸和儲存條件提出具體要求，以保護儀器不受損壞。


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  • 被代替
  • 已被新標準代替，建議下載現(xiàn)行標準GB/T 11682-2008
  • 1989-10-14 頒布
  • 1990-05-01 實施
?正版授權
GB 11682-1989 低本底α測量儀_第1頁
GB 11682-1989 低本底α測量儀_第2頁
GB 11682-1989 低本底α測量儀_第3頁
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文檔簡介

UDC681.2：621.039F85中華人民共和國國家標準GB11682-89低本底“測量儀Lowbackgroundalphameasuringinstrument1989-10-14發(fā)布1990-05-01實施國家技術監(jiān)督局發(fā)布中華人民共和國國國家標準低本底“測量儀GB11682-89中國標準出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復興門外三里河北街16號郵政編碼：100045htp:/電話：63787337、637874471990年11月第一版20X4年11月電子版制作書號：1550661-7539版權專有侵權必究舉報電話：（010）68533533中華人民共和國國家標準GB1168289本測0Lowbackgroundalphamcasuringinstrument主題內容與適用范圍本標準規(guī)定了低本底“測世儀應具有的輻射特性、電特性、環(huán)境特性以及對這些特性的檢驗方法。本標準適用于在室內測量弱。放射性活度或表面發(fā)射率的儀器，也適用于多用途儀器中的測量弱放射性的部分本標準不適用于測量能譜類型的儀器2引用標準38996GB核核電子儀器用樣品盤尺寸GB10257核儀器與核輻射探測器質量檢驗規(guī)則3術語3.1輻射及測量儀3.1.1儀器本底instrumentalbackeround儀器在正常工作條件下，樣品盤中無放射源時，儀器的指示值3.1.2空白樣品blanksample由無外加放射性而與樣品相同物質，按正常程序制作的待測平面樣品。3.1.3空白樣品本底backeroundofblanksample儀器在正常工作條件下,測量空白樣品的指示值。3.1.4低本底測址儀1owbackgroundalphameasuringinstrument測量弱“放射性活度或表面發(fā)射率的儀器，3.1.5放射性活度radioactivity一定數(shù)最的某種放射性核素在單位時間內發(fā)生自發(fā)核變化的個(次)數(shù)。放射性活度的單位，在法定計量單位中，稱為貝可【勒爾】符號為Bq3.1.6表面發(fā)射率surfaccemissionrate對于一個給定的放射源，在單位時間內由該源表面發(fā)射出的給定類型的粒子數(shù)目。3.1.7儀器探測效率detectioncfficiencyorinstrument在一定探測條件下.測到的粒子數(shù)與在同一時間間隔內放射源表面發(fā)射出的該種粒子總數(shù)的比值3.1.8兒何因子gcometryfactors決定探測效率之諸因素之一。它可由探測器靈敏面與放射源之間的幾何關系計算出來。也可認為是一定幾何條件下的探測效率極限值。3.1.9效率比efficiencyratio儀器探測效率測定值與幾何因子之比，也就是除幾何因子以外其他決定探測效率諸因素之積。3.1

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