RF測試過程與方法

1、RF測試過程與方法學(xué)生：龔明晶圓級RF參數(shù)測試是用頻率6 GHz的“大鐵盒子”自動(dòng)測試設(shè)備（ATE）,可以采 用MTK提供的ATE工具進(jìn)行自動(dòng)測試，也可以用手動(dòng)測試。手動(dòng)測試過程如下（測試儀器為 8960）GSM測試項(xiàng)目發(fā)射機(jī)功率時(shí)域發(fā)射功率圖相位誤差與頻率誤差輸出RF頻譜快速BERBERIQ調(diào)整發(fā)射機(jī)功率1、與手機(jī)建立呼叫2、按下 Measurement Selection 鍵3、選擇Transmit Power測試項(xiàng)目4、按下 Transmit Power Setup （F1）鍵5、設(shè)置測試參數(shù) 包括:Measurement Timeout = 5.0 S說明：上圖顯示了一個(gè)典型的測試結(jié)果

2、按下Call Setup鍵，查看SACCH報(bào)告窗口，將其中手機(jī)報(bào)告給基站的 發(fā)射功率與實(shí)際測試到的發(fā)射 功率相比較?時(shí)域發(fā)射功率圖1、與手機(jī)建立呼叫CortliHiUOL-152、按下 Measurement Selection 鍵3、選擇 Power vs Time 測試項(xiàng)目4、按下 Power vs Time Setup (F1)鍵5、按下 Measurement Setup 鍵6、設(shè)置測試參數(shù)包括： Measurement Timeout = 10 S7、按下 Measurement Offsets (F2) 鍵注意：統(tǒng)計(jì)分析時(shí)允許最多設(shè)置12個(gè)具有特定 Offset的Time Mark

3、er8、輸入 Offset值注意：Offset是相對與一個(gè)普通突發(fā)脈沖用第 0比特的位移， 比特之前的測試點(diǎn)的測試結(jié)果，可FlaskTBnsrUt PouhtPass14.60 ten如果想要得到第0 以輸入一個(gè)負(fù)值9、按下 Close Menu(F6)鍵上圖顯示了一個(gè)突發(fā)脈沖用是否在 Mask范圍之內(nèi)，結(jié)果為Pass或Fail,還顯示了寬帶載波傳輸功率10、按下 Return to PvT Control (F6)鍵11、按下 Change View 鍵12、按下Numeric 1(F2)鍵查看 Offset 1-6的測試結(jié)果，按下Numeric 2(F3)鍵查看 Offset 7-12的測

4、試結(jié)果Jla.M jUpper Limit nnrgin 口 .89 加(ID3.&LslJa/r JiTf w# )廣TT11rrrjr上-“.lLouer Limit nargin0, 81 deC 3.D6 皿ContlruDUs也TFpM上圖顯示了一個(gè)典型的 Offset 1-6的測試結(jié)果13、按下Graph (F4)鍵查看上行突發(fā)脈沖用的完整圖形Offsel Cus)Lewi (dOc)DHwtLevfl-2K.UUU.UU-U.g-IS. DO-BS 51121.20-1J.UU-1/6XJ1.2UPoner vs Tine： stru sensNumeric Esreen

5、 1Pouer vs TiineFassiNTtucr: 13.73 izbrrCui iCJj 七圖中左下角有一個(gè)全局 Pass/Fail的標(biāo)志? Pass用綠色顯示，表示測試結(jié)果通過了所有的Mask要求? Fail用紅色顯示，表示測試結(jié)果存在某部分未達(dá)到要求分別按下F1(Full)、F2 (Rising edge)、F3 (Falling edge) 、F4 (Useful)鍵，可以放大并查看圖中特定的位置，止匕外，可以按下F5(Graph Control)鍵設(shè)置 Marker 或改變坐標(biāo)軸范圍?相位誤差與頻率誤差1、與手機(jī)建立呼叫2、按下 Measurement Selection 鍵3

6、、選擇 Phase & Frequency Error 測試項(xiàng)目4、按下 Phase & Freq. (F1)鍵5、設(shè)置測試參數(shù)包括:Measurement Timeout = 10 S6、按下 Change View (F2)鍵7、按下 Graph (F2)鍵進(jìn)入峰值相位誤g圖上圖顯小了 一個(gè)典型的相位與頻5、*"率塊差的測試結(jié)果 上圖提供了兩種Pass/Fail的結(jié)果左下角提供了一個(gè)全局性的Pass/Fail標(biāo)志Pass用綠色顯示，表示峰值相位誤差、RMS (均方根)相位誤差、平均頻率誤差均通過Fail用紅色顯示，表示測試結(jié)果存在某部分未達(dá)到要求全局性標(biāo)志的右邊顯

7、示了三個(gè)測試項(xiàng)目單獨(dú)的測試結(jié)果，綠色表示通過，紅 色表示未通過8、按下 Graph Control (F5)鍵，然后按下 Marker Position (F2)鍵，設(shè)置 Marker 的位置9、按下Axis Control (F1)鍵改變坐標(biāo)軸的值，可以放大并查看圖中某特定部分的詳細(xì)信息 上圖是放大了的相位與頻率誤差圖，橫坐標(biāo)軸設(shè)置為從 100比特 到120比特， 縱坐標(biāo)軸的參考點(diǎn)設(shè)置為5度，間隔為1度Marker的位置設(shè)置設(shè)置為112比 特，Marker位置的相位頻率誤差信息顯示在圖的頂部。If iff AvjR為HJ3J"?輸出RF頻譜1、與手機(jī)建立呼叫2、按下 Measure

8、ment Selection 鍵3、選擇 Output RF Spectrum 測試項(xiàng)目4、按下 ORFS Setup (F1)鍵5、按下 Measurement Setup (F1)鍵6、設(shè)置測試參數(shù) 包括：Measurement Timeout = 20 S7、按下 Modulation Setup (F2)鍵，進(jìn)行 ORFS due to Modulation 的頻率 Offset設(shè)置8、按下 Switching Setup (F2)鍵，進(jìn)行 ORFS due to Switching 的頻率 Offset 設(shè)置9、按下 Close Menu (F6)鍵10、按下 Return to O

9、RFS Control(F6)鍵11、按下 Change View (F6)鍵12、按下 Modulation Numeric 1(F1)鍵注意上圖中的結(jié)果是以dB表示的，這些結(jié)果都是相對于圖中下部顯示的30kHzBW Power而計(jì)算出的。13、按下 Switching Numeric (F4)鍵DFTS： Mcdulation Seraen 1JBF5： suitcmns screartiochilalioin PH。SiirtLhiligi PH聒Level MU)Offset (kHGLevel Ut)-laoao吊海5一有 u CO-3739inojinT耶25nm-3737-auf

10、ljjo-32,M2-MM)加=5161MZUOJOO71序，JU ULJ7。耳3ix roucr:18，dunM unz tu imoH-s ./a d»nCQnti.-lL.DUSrknkilctMi Rum兩勇Of依對CHte>1 Wl trftiJnifhMttk wfil trtto)TW加VM為M2QQ0I)5皿如n口清,蘇isnnjinn司JUD-eoujio-1WO-UO-SS42MM 用 QirmIX比皿嗎L* AW弓口 m匚匚Tit j riRu-i14、按下 Graph (F5)鍵，然后按下 Modulation (F1)鍵查看以 Bar Graph方 式

11、顯示的 ORFS due to ModulationORFS： HDdUL3tlon Brach上圖中的結(jié)果是以Bar Graph方式表示的，每一個(gè) 黃色的Bar表示在不同的 頻率Offset上測試的結(jié)果，中心頻率用白色的垂直直線表示。圖中藍(lán)色的線表示相對限制范圍，綠色的線表示絕對限制范圍。15 按下 Switching (F2)鍵查看以 Bar Graph 方式顯示 ORFS due toSwitchingAforJterj.'cr77rh f W and上圖中的結(jié)果是以Bar Graph方式表示的，每一個(gè)藍(lán)色的Bar表示在不同的頻 率Offset上測試的結(jié)果，中心頻率用白色的垂直直

12、線表示。16、按下Modulation and Switching (F3)鍵可以同時(shí)顯示兩 種圖形17、使用 Measurement Setup 菜單，將 Limit Source 設(shè)置為 Manual ,這時(shí) 可以按下 Modulation Limits (F4)、Switching Limits (F5)對測試限制范圍進(jìn) 行設(shè)置。?快速BER注意：進(jìn)行此項(xiàng)測試時(shí)，手機(jī)中必須插入測試SIM卡1、與手機(jī)建立呼叫2、按下 Measurement Selection 鍵3、選擇 Fast Bit Error測試項(xiàng)目4、按下 Fast Bit Error Setup (F1)鍵5、設(shè)置測試參數(shù) 包

13、括：Measurement Timeout = 13.0 S/“口,飛才，卜3。t thv wit pmi </"仃，bit w'f r"，r“ir/0.09Ll Puiwr -m on/LCOJOirm FrrnD noiauir l( nnR* Qleii：C-iQG g -JLOL d&T'Dell BnnriEJruijdiJriSl tkdri如上圖所示，按下Cell Power (F7)鍵，緩慢降低功率，可以從圖中看出CellPower 對 Fast Bit Error Rate 的影 響。? BER注意：進(jìn)行此項(xiàng)測試時(shí)，手機(jī)中必須

14、插入測試SIM卡川th* 秒廿千1、與手機(jī)建立呼叫2、按下 Measurement Selection 鍵3、選擇Bit Error測試項(xiàng)目4、按下 Bit Error Setup (F1)鍵5、設(shè)置測試參數(shù) 包括：Measurement Timeout = 13.0 Slit EfrtTli Tit him* Drirp: ihlMl4MIWMII lihl： UMUtol l'>t U.fl.Hb f-im io -an? sh*)如上圖所示，按下 Cell Power (F7)鍵，緩慢降低功率，可以從圖中看出CellPower 對 Bit Error Rate 的影響。?

15、IQ調(diào)整注意：進(jìn)行此項(xiàng)測試時(shí)，手機(jī)必須設(shè)置為測試狀態(tài)且傳送的數(shù)據(jù)為全0“、全1"1、與手機(jī)建立呼叫2、按下 Measurement Selection 鍵3、選擇IQ Tuning測試項(xiàng)目4、按下右邊的 More鍵，切換到 Call Params (3 of 4)菜單5、按下 Receiver Control (F7) 鍵，設(shè)置為 Manual 模式6、按下 IQ Tuning Setup (F1)鍵7、設(shè)置測試參數(shù) 包括:Multi-Measurement Count = 50 Trigger Source = Immediate8、開機(jī)并設(shè)置為發(fā)送一個(gè)全0”序列IQTuningOffset (kHz)Level HB)Offset (kHz)Level MB)-270.B33-B3.13B7.70Bo.oa-203.125-87.00135 Ail 7-SI.03T35.U17-82.35203.125-86.2i-67.708-85.78270.833-