高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)如何對(duì)電子元器件進(jìn)行試驗(yàn)_第1頁(yè)
高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)如何對(duì)電子元器件進(jìn)行試驗(yàn)_第2頁(yè)
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1、個(gè)人資料整理,僅供個(gè)人學(xué)習(xí)使用1 1 / / 3 3高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)如何對(duì)電子元器件進(jìn)行試驗(yàn)高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、 化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGABGA PCBPCB 基扳、電子芯片 ICIC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的ICIC 到重機(jī)械的組件,都會(huì)用到,是各領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品測(cè)試的必不可少的一項(xiàng)測(cè)試箱。高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)的兩大特點(diǎn)1 1、產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝先進(jìn)、選材考究,具有簡(jiǎn)單便利的操作性能和可靠的設(shè)備性能

2、。設(shè)備分為高溫箱 ,低溫箱,測(cè)試箱三部分,采獨(dú)特之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果, 試驗(yàn)時(shí)待測(cè)物完全靜止,應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷,熱溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測(cè)試目的2 2、 采用采用最先進(jìn)的計(jì)測(cè)裝置 ,控制器采用大型彩色液晶人機(jī)觸控對(duì)話式LCDLCD 人機(jī)接口控制器,操作簡(jiǎn)單,學(xué)習(xí)容易,穩(wěn)定可靠,中,英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。具 9696 個(gè)試驗(yàn)規(guī)范獨(dú)立設(shè)定,沖擊時(shí)間 999999 小時(shí) 5959 分鐘,循環(huán)周期 19991999 次可設(shè)定,可 實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn),最大程度上實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化, 減輕操作人員工作量, 可在任意時(shí)間自動(dòng)啟動(dòng)、停止工作運(yùn)行。1引育L1目的確宦元件瑤露于亮

3、枇溫梃值F*以及商低匍極値寰替沖擊下所良有的抗御能力一L2施用試驗(yàn)樣品的失效散應(yīng)以最石檢雋為依據(jù).2試蛍素件2-1Sftfl度及循環(huán)戻撥見(jiàn)表1.試驗(yàn)條件試躺條件試驗(yàn)條件荷環(huán)枕數(shù)A5B5C5A-I25B-1125A-2B- 2網(wǎng)C-250-ftA- 3L00B- 3C-3100濕度時(shí)間為廈時(shí)fil溫度時(shí)間cmin*Cmlnmin1-55S65*_,軽表2)3251025 10C5251C125嚴(yán)2臨,(見(jiàn)農(nóng)2)個(gè)人資料整理,僅供個(gè)人學(xué)習(xí)使用2 2 / / 3 3125105251022510!525土10500?1(見(jiàn)我2)150樸(見(jiàn)表2)4251052510525105么2度下的試驗(yàn)時(shí)間見(jiàn)表

4、2*表?試驗(yàn)舞品質(zhì)kg度T巖少試驗(yàn)時(shí)間hM0. 0281 25或仇50. 028M0. 136C-50. 136ML 3611.36M13+6213. 6WJ364M汕683對(duì)試驗(yàn)設(shè)備的要求高溫箱、低溫箱應(yīng)能提供第2章表1所規(guī)是的極值溫度荼件.3*2拓溫箱、低溫裕應(yīng)符合GJBS60. 1-37電子及電弋元件試驗(yàn)方法 總則,第比0條反的 現(xiàn)定-5. 5試驗(yàn)箱應(yīng)有足夠的熱磔址以便試附樣品放人試驗(yàn)箱話,在5min內(nèi)工作空間就龍達(dá)到所 規(guī)定的溫度値.3- 4試隸蟬品的安裝和支撐架的導(dǎo)熱率應(yīng)低以保址試驗(yàn)樣品與安裝和支撐架間處干一種絕 熱狀個(gè)人資料整理,僅供個(gè)人學(xué)習(xí)使用4 4 / / 3 3埶4試驗(yàn)程序4

5、- 1初始檢測(cè)在試驗(yàn)的標(biāo)櫛大代條件下按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定對(duì)試殮樣品進(jìn)行外觀檢脊和性能檢演.4 2試驗(yàn)樣品的安叢試驗(yàn)禪品的安裝由有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定當(dāng)裝入試驗(yàn)箱時(shí)應(yīng)使吒流暢通無(wú)阻壇穿過(guò)及繞過(guò)試釜粹品.4/試驗(yàn)4-31將試驗(yàn)樣晶置于低溫箱中,此時(shí)*低溫筆的溫度巳調(diào)至表1規(guī)宦的極值溫度*并在此溫 度下按表2規(guī)定的時(shí)間進(jìn)行保據(jù).4.3,2保滉時(shí)間到在5mM內(nèi)將試驗(yàn)樣品從低渦箱移至高溫箱中.此時(shí).髙朗箱的溫度已鳴 至表丨規(guī)定的扱值溫度、并住此溫度卜、按表2規(guī)定的時(shí)間進(jìn)行保溫.4-3.3保溫時(shí)閭到,莊5曲也內(nèi)將試驗(yàn)樣品從高溫箱移至低ifi箱中。此時(shí),低1B箱的溫度巳調(diào) 至4 3 1飆的楓值倒度,并在此溫度下按1乩】獻(xiàn)的試驗(yàn)時(shí)間進(jìn)廿保沮.4.4按卷I規(guī)定的儕陌次數(shù)重期仁乳1至4.13款.一次憎環(huán)包據(jù)夜】中的I至步94.最初的5武循環(huán)應(yīng)達(dá)續(xù)地進(jìn)行.5次循環(huán)后,在任何一次循環(huán)完盛之后都可以中斷試驗(yàn). 再恢復(fù)試驗(yàn)之前可允許試驗(yàn)樣品恢復(fù)樣品恢復(fù)到試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)大乂條件.4-4中間檢測(cè)由有技標(biāo)雀規(guī)定4*5恢復(fù)恢復(fù)最后循環(huán)結(jié)東,試臉樣品St亍試臉的標(biāo)準(zhǔn)大弋條件下達(dá)到溫度穩(wěn)定*6后檢測(cè)按有關(guān)転準(zhǔn)規(guī)定對(duì)試驗(yàn)祥晶進(jìn)行外觀檢査和性能測(cè)姑.5失效鬣據(jù)由有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,

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