移位寄存器及其應(yīng)用研究

1、現(xiàn)代電子技術(shù)實驗現(xiàn)代電子技術(shù)實驗 移位寄存器及其應(yīng)用研究移位寄存器及其應(yīng)用研究現(xiàn)代電子技術(shù)實驗現(xiàn)代電子技術(shù)實驗 一、實驗?zāi)康?1、掌握4位雙向移位寄存器的邏輯功能及使用方法。 2、熟悉移位寄存器的應(yīng)用實現(xiàn)數(shù)據(jù)的串/并行轉(zhuǎn)換和構(gòu)成環(huán)形計數(shù)器。 現(xiàn)代電子技術(shù)實驗現(xiàn)代電子技術(shù)實驗二、實驗原理 1、邏輯功能 移位寄存器是指所存的代碼能在移位脈沖的作用下依次移位的寄存器，它是一種可以用二進制形式保存數(shù)據(jù)的雙穩(wěn)器件。即能左移又能右移的稱為雙向移位寄存器。現(xiàn)代電子技術(shù)實驗現(xiàn)代電子技術(shù)實驗移位寄存器存取信息的方式有：串入串出、串入并出、并入串出、并入并出四種形式。輸出端輸出端時鐘時鐘控制控制信號信號74LS1

2、94清零端清零端右移串行輸入右移串行輸入左移串行輸入左移串行輸入并行輸入端并行輸入端74LS194現(xiàn)代電子技術(shù)實驗現(xiàn)代電子技術(shù)實驗功能清零控制信號串行輸入時鐘CP 并行輸入 輸 出S1S0DSRDSLD0D1D2D3清零 0XX X X XXXXX 0 0 0 0送數(shù) 1 1 1 X X a b c d a b c d右移 1 0 1 d0 X XXXXd0左移 1 1 0 X d0 XXXXd0保持 1 0 0 X X XXXXXCrn0Q74LS194功能表n0Qn1Qn2Qn3Qn1Qn2Qn3Qn2Qn1Qn0Qn1Qn2Qn3Q現(xiàn)代電子技術(shù)實驗現(xiàn)代電子技術(shù)實驗 2、環(huán)形計數(shù)器、環(huán)形計

3、數(shù)器把移位寄存器的輸出端最高位Q3和SR相連，可構(gòu)成右移環(huán)形計數(shù)器。 CP Q0 Q1 Q2 Q3 1 1 0 0 0 2 0 1 0 0 3 0 0 1 0 4 0 0 0 1 5 1 0 0 0首先應(yīng)給輸出端賦初值，此時S1 S0為11。再將S1 S0改為10，使之工作在右移狀態(tài)?，F(xiàn)代電子技術(shù)實驗現(xiàn)代電子技術(shù)實驗 2、環(huán)形計數(shù)器、環(huán)形計數(shù)器把移位寄存器的輸出端最高位和SR相連，可構(gòu)成右移環(huán)形計數(shù)器。74LS1941000 CP Q0 Q1 Q2 Q3 1 1 0 0 0首先應(yīng)給輸出端賦初值，此時S1 S0為11。11現(xiàn)代電子技術(shù)實驗現(xiàn)代電子技術(shù)實驗 2、環(huán)形計數(shù)器、環(huán)形計數(shù)器74LS194

4、011000再將再將S1 S0改為改為01，使之工作在右移狀態(tài)。，使之工作在右移狀態(tài)。 C Q0 Q1 Q2 Q3 1 1 0 0 0 2 0 1 0 0 3 0 0 1 0 4 0 0 0 1 5 1 0 0 0反之，若把移位寄存器的輸出端最低位反之，若把移位寄存器的輸出端最低位Q0和和SL相連，相連，可構(gòu)成左移環(huán)形計數(shù)器?？蓸?gòu)成左移環(huán)形計數(shù)器?，F(xiàn)代電子技術(shù)實驗現(xiàn)代電子技術(shù)實驗 3、串、串/并行轉(zhuǎn)換器并行轉(zhuǎn)換器如圖所示，利用移位計數(shù)器可將串行輸入的數(shù)碼轉(zhuǎn)換成并行輸出。 圖中Q3=1時，S1 S0=01寄存器工作在串行右移方式，若Q3 =0，串行送數(shù)結(jié)束，已轉(zhuǎn)換為并行輸出。74LS194現(xiàn)代電

5、子技術(shù)實驗現(xiàn)代電子技術(shù)實驗CPQAQBQCQD說明00000清零10111送數(shù)2d0011右移操作三次3d1d0014d2d1d0050111送數(shù)串行輸入SR=d0,d1,d2現(xiàn)代電子技術(shù)實驗現(xiàn)代電子技術(shù)實驗三、實驗內(nèi)容三、實驗內(nèi)容1、基本功能測試。要求針對基本功能測試。要求針對74LS194各項基本功各項基本功能自擬測試方案。能自擬測試方案。2、串、串/并轉(zhuǎn)換測試。要求構(gòu)成右移串并轉(zhuǎn)換電路，并轉(zhuǎn)換測試。要求構(gòu)成右移串并轉(zhuǎn)換電路，完成一下數(shù)據(jù)表。完成一下數(shù)據(jù)表。 SRCPQ0Q1Q2Q30000000112031405清零現(xiàn)代電子技術(shù)實驗現(xiàn)代電子技術(shù)實驗3、右移環(huán)形計數(shù)器的測試。首先應(yīng)給寄存右移環(huán)形計數(shù)器的測試。首先應(yīng)給寄存器器置入初始值置入初始值，之后將工作狀態(tài)，之后將工作狀態(tài)設(shè)為右移設(shè)為右移，完成下，完成下表。表。CPQ0Q1Q2Q3101002345現(xiàn)代電子技術(shù)實驗現(xiàn)代電子技術(shù)實驗將將CP改為連續(xù)脈沖，重復(fù)以上操作，用示波器觀改為連續(xù)脈沖，重復(fù)以上操作，用示波器觀測測CP， Q0Q3的波形（雙蹤觀測）。的波形（雙蹤觀測）。Q0vtCPvtQ1vtQ2vtQ3vt參考答案參考答案參考波形參考波形現(xiàn)代電子技術(shù)實驗現(xiàn)代電子技術(shù)實驗四、注意事項1、如實驗中出現(xiàn)故障應(yīng)用邏輯測試筆進行檢測，以判