NBT 47013.2承壓設(shè)備無損檢測(cè)射線檢測(cè)講解

NB/T47013.2—2015承壓設(shè)備無損檢測(cè)第2部分：射線檢測(cè)NB/T47013.2的修訂特點(diǎn)修訂特點(diǎn)：⑴?適用范圍有所擴(kuò)大（增加了管座角焊縫，管子管板角焊縫等焊接接頭型式，適用的材質(zhì)、厚度范圍也有所增加）；?進(jìn)一步與國(guó)際接軌（體現(xiàn)在：膠片分類、放射源品種、孔型像質(zhì)計(jì)應(yīng)用，一些工藝參數(shù)等）；?更加完整、嚴(yán)密、規(guī)范（多處內(nèi)容、條款、文字的補(bǔ)充完善）。

目次（標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容瀏覽，正文8章）?前言?1?2?3?4?5?6?7范圍規(guī)范性引用文件術(shù)語和定義一般要求檢測(cè)工藝及其選擇承壓設(shè)備熔化焊焊接接頭射線檢測(cè)結(jié)果評(píng)定和質(zhì)量分級(jí)承壓設(shè)備管子及壓力管道熔化焊環(huán)向焊接接頭射線檢測(cè)結(jié)果評(píng)定和質(zhì)量分級(jí)?8檢測(cè)記錄和報(bào)告目次（附錄標(biāo)題瀏覽，12個(gè)）????????????附錄A（資料性附錄）管子－管板角焊縫射線照相技術(shù)要求附錄B（規(guī)范性附錄）工業(yè)射線膠片系統(tǒng)的特性指標(biāo)附錄C（資料性附錄）黑度計(jì)（光學(xué)密度計(jì)）定期核查方法附錄D（資料性附錄）暗室安全照明時(shí)間確定附錄E（資料性附錄）典型透照方式示意圖附錄F（資料性附錄）環(huán)向?qū)雍缚p透照次數(shù)確定方法附錄G（規(guī)范性附錄）焦點(diǎn)尺寸計(jì)算方法附錄H（規(guī)范性附錄）幾何不清晰度（UG）計(jì)算方法附錄I（資料性附錄）濾光板附錄J（規(guī)范性附錄）定位標(biāo)記的放置原則附錄K（資料性附錄）底片硫代硫酸鹽離子濃度測(cè)量方法附錄L（規(guī)范性附錄）對(duì)比試塊的型式和規(guī)格前言（主要技術(shù)變化瀏覽，31處）?本部分代替JB/T4730.2—2005《承壓設(shè)備無損檢測(cè)第2部 分：射線檢測(cè)》，與JB/T4730.2—2005相比，主要技術(shù)變化如下：?——擴(kuò)大了標(biāo)準(zhǔn)的適用范圍，增加插入式管座角接接頭對(duì)接焊縫、安放式管座角接接頭對(duì)接焊縫和管子－管板角焊縫的X射線及γ射線檢測(cè)技術(shù)和質(zhì)量分級(jí)要求，并取消了鋼的分類；?——修改和增加了部分規(guī)范性引用文件；?——增加了射線檢測(cè)專用術(shù)語和定義的內(nèi)容；?——增加了Tm170和Yb169射線源應(yīng)用的規(guī)定；?——修改了特殊條件下射線檢測(cè)技術(shù)等級(jí)允許放寬原則；前言（主要技術(shù)變化瀏覽-2）?——修改了工業(yè)射線膠片系統(tǒng)分類，將膠片分為C1、C2、

C3、C4、C5和C6六類。膠片類型的選擇按照新的分類標(biāo)準(zhǔn)重新進(jìn)行修訂，同時(shí)補(bǔ)充了膠片灰霧度測(cè)量的要求；?

——修改了黑度計(jì)核查時(shí)機(jī)的內(nèi)容；?——增加了標(biāo)準(zhǔn)密度片的黑度范圍和測(cè)量點(diǎn)數(shù)目的相關(guān)規(guī)定；?——增加了孔型像質(zhì)計(jì)應(yīng)用的內(nèi)容，并修訂了不同材料

的像質(zhì)計(jì)適用的工件材料范圍及像質(zhì)計(jì)使用和放置原則；?——修改了檢測(cè)時(shí)機(jī)要求，明確檢測(cè)時(shí)機(jī)應(yīng)滿足相關(guān)法規(guī)、規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)技術(shù)文件的要求，同時(shí)還應(yīng)滿足合同雙方商定的其他技術(shù)要求；前言（主要技術(shù)變化瀏覽-3）?——增加了焊接接頭檢測(cè)區(qū)寬度范圍確定的內(nèi)容；?——增加了內(nèi)偏心透照（F＜DO/2）時(shí)透照次數(shù)的計(jì)算公式；?——增加了暗室安全照明時(shí)間確定的內(nèi)容；?——增加了增感屏質(zhì)量及使用要求、中屏材料及厚度范圍、以及

Tm170和Yb169兩種γ射線增感屏材料及厚度范圍，并明確了增感屏制造標(biāo)準(zhǔn)；?——增加了射線檢測(cè)工藝文件的基本要求和驗(yàn)證的相關(guān)規(guī)定。?——增加了雙膠片透照技術(shù)和底片觀察技術(shù)應(yīng)用的內(nèi)容；?——增加了管座角焊縫、橢圓形封頭和蝶形封頭小r區(qū)的焊縫，以及其他曲率連續(xù)變化的焊縫確定一次透照長(zhǎng)度的原則；前言（主要技術(shù)變化瀏覽-4）?——增加了有效評(píng)定區(qū)搭接的技術(shù)要求；?——修改了結(jié)構(gòu)受限的特殊情況下小徑管的透照原則；?——增加了安放式和插入式管座角焊縫采用源在內(nèi)透照方式時(shí)f的放寬原則；?——增加了膠片與被檢工件之間距離的放置原則；?——增加了γ射線源曝光時(shí)間限值和限制使用多源曝光的規(guī)定，以及球罐全景曝光像質(zhì)計(jì)擺放要求；?——增加了濾光板應(yīng)用的推薦技術(shù)要求；?——修改了定位標(biāo)記和識(shí)別標(biāo)記的放置原則；前言（主要技術(shù)變化瀏覽-5）?——增加了膠片暗室處理試劑選用原則、膠片處理延遲時(shí)間及其底片處理質(zhì)量檢驗(yàn)的內(nèi)容；?——修改了底片質(zhì)量要求的內(nèi)容，增加了底片保存的內(nèi)容；?——修改了不同透照厚度應(yīng)達(dá)到的像質(zhì)計(jì)靈敏度，對(duì)應(yīng)的材料厚度范圍有所擴(kuò)大，并增加了孔型像質(zhì)計(jì)的靈敏度要求；?——焊接接頭射線檢測(cè)結(jié)果評(píng)定和質(zhì)量分級(jí)部分增加了適用的焊接結(jié)構(gòu)型式；?——增加和修訂了射線檢測(cè)記錄和報(bào)告的內(nèi)容.?——取消了“專用像質(zhì)計(jì)的型式和規(guī)格”的內(nèi)容；?——修改了小徑管專用對(duì)比試塊?！P(guān)于適用范圍擴(kuò)大1.2本部分適用的金屬熔化焊焊接接頭的金屬包括鋼、銅及銅合金、鋁及鋁合金、鈦及鈦合金、鎳及鎳合金（5）。焊接接頭⑷的型式包括板及管的對(duì)接接頭對(duì)接焊縫（以下簡(jiǎn)稱“對(duì)接焊縫”）、插入式和安放式接管角接接頭對(duì)接焊縫（以下簡(jiǎn)稱“管座角焊縫”）和管子－管板角焊縫（5）。?

老標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730-2005規(guī)定：本部分適用于承壓設(shè)備的制造、安裝、在用檢測(cè)中對(duì)接焊接接頭的射線檢測(cè)。用于制作焊接接頭的金屬材料包括碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、銅及銅合金、鋁及鋁合金和鈦及鈦合金、鎳及鎳合金。?

解釋：用“鋼”代替“碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼”不僅簡(jiǎn)潔，而且范圍擴(kuò)大了，有些新鋼種，例如9Ni，P91等，合金含量超過5%，不屬于低合金鋼，老標(biāo)準(zhǔn)不能覆蓋，而新標(biāo)準(zhǔn)能夠覆蓋。1.1NB/T47013的本部分規(guī)定了承壓設(shè)備金屬熔化焊焊接接頭X射線和γ射線檢測(cè)技術(shù)和質(zhì)量分級(jí)要求。

（1）～（5）常用焊接方法分類（1）按照焊接過程中金屬所處的狀態(tài)不同，可以把焊接方法分為熔焊、壓焊和釬焊三類。

（5）

1.3

承壓設(shè)備其他支承件和結(jié)構(gòu)件的焊接接頭的射線檢測(cè)，也可參照使用。2規(guī)范性引用文件下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。

GB11533標(biāo)準(zhǔn)對(duì)數(shù)視力表

GB/T12604.2無損檢測(cè)術(shù)語射線照相檢測(cè)GB18871電離輻射防護(hù)及輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)

GB/T19348.1無損檢測(cè)工業(yè)射線照相膠片第1部分：工業(yè)射線照相膠片系統(tǒng)的分類-2014

GB/T19348.2無損檢測(cè)工業(yè)射線照相膠片第2部分：用參考值方法控制膠片處理

-2003——修改和增加了部分規(guī)范性引用文件?GBZ117?GBZ132工業(yè)X射線探傷放射衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)工業(yè)γ射線探傷放射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)?GB/T23901.2無損檢測(cè)射線照相底片像質(zhì)第2部分：階梯孔型像質(zhì)計(jì) 像質(zhì)指數(shù)的測(cè)定-2009?NB/T47013.1?JB/T5075?JB/T7902承壓設(shè)備無損檢測(cè)第1部分：通用要求無損檢測(cè)射線照相檢測(cè)用金屬增感屏—射線照相用線型像質(zhì)計(jì)GBZ117-2015工業(yè)X射線探傷放射防護(hù)要求GBZ132-2008JB/T7902-2015無損檢測(cè)線型像質(zhì)計(jì)通用規(guī)范2004版，廢止標(biāo)準(zhǔn)工業(yè)和信息化部（2011年第25號(hào)）?GB/T19802無損檢測(cè)工業(yè)射線照相觀片燈最低要求-20053術(shù)語和定義GB/T12604.2和NB/T47013.1界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。3.1透照厚度W（penetratedthickness）（5）射線照射方向上材料的公稱厚度。多層透照時(shí)，透照厚度為通過的各層材料公稱厚度T之和。T只計(jì)算母材厚度，不考慮焊縫余高，透照帶墊板單面焊縫時(shí)，不考慮墊板厚度。（1）理解：所謂射線照射方向上即與主射線垂直。（2）應(yīng)用：一般在雙壁雙影或雙壁單影以及帶夾套工件透照時(shí)采用透照厚度如?57×3.5mm，透照厚度是7mm，?219×7mm，透照厚度為14mm,夾套厚度10mm，焊接頭厚度是12mm，透照厚度22mm。（以透照厚度確定靈敏度，評(píng)級(jí)仍采用單壁公稱厚度）（3）注意：當(dāng)壁厚不等時(shí)以薄工件為準(zhǔn)，但選擇射線能量時(shí)要考慮厚的一面以及焊縫的余高和墊板的厚度。

3.2工件至膠片距離b（object-to-filmdistance）3.2～3.5（6）沿射線束中心測(cè)定的工件受檢部位射線源側(cè)表面與膠片之間的距離。（1）理解：b等于L2（2）應(yīng)用：計(jì)算幾何不清晰度（3）注意：計(jì)算b厚度時(shí)要考慮焊縫余高，雙壁雙影時(shí)為管子的外徑+2余高，雙壁單影時(shí)為管子的公稱厚度+1余高。3.3射線源至工件距離f（source-to-objectdistance）沿射線束中心測(cè)定的工件受檢部位射線源與受檢工件近源側(cè)表面之間的距離。（1）理解：f等于L1。（2）應(yīng)用：計(jì)算幾何不清晰度，環(huán)焊縫透照次數(shù)。（3）注意：只有采當(dāng)用內(nèi)透法時(shí)f值可以減小。中心50﹪，偏心20﹪而且與技術(shù)級(jí)別無關(guān)。3.4焦距F（focusdistance

）沿射線束中心測(cè)定的射線源與膠片之間的距離。（1）理解：F=f＋b（2）應(yīng)用：計(jì)算曝光量，采用其它方式透照環(huán)向?qū)咏宇^（3）注意：當(dāng)用X射線機(jī)時(shí)要考慮窗口到焦點(diǎn)的距離。

3.5射線源尺寸d

（externaldiameterofthepipe）

射線源的有效焦點(diǎn)尺寸。（1）理解：X光機(jī)所提供的焦點(diǎn)尺寸是有效焦點(diǎn)尺寸。（附錄G）（2）應(yīng)用：計(jì)算幾何不清晰度。（3）注意：采用?射線兩個(gè)以上源疊加時(shí)以長(zhǎng)軸計(jì)算。

3.6圓形缺陷（roundflaw）長(zhǎng)寬比不大于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷。

（1）理解：長(zhǎng)寬比小于和等于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷均屬于圓形缺陷。（2）應(yīng)用：在檢測(cè)報(bào)告缺陷性質(zhì)一欄中，凡長(zhǎng)寬比小于和等于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷均應(yīng)稱作圓形缺陷。（3）注意：當(dāng)圓形缺陷的長(zhǎng)徑大于1/2板厚時(shí)應(yīng)注明其尺寸。3.7條形缺陷（stripyflaw）長(zhǎng)寬比大于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷。

（1）理解：凡長(zhǎng)寬比大于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷均屬于條形缺陷。（2）應(yīng)用：在檢測(cè)報(bào)告缺陷性質(zhì)一欄中，凡長(zhǎng)寬比大于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷均應(yīng)稱作條形缺陷。（3）注意：在管對(duì)接接頭評(píng)級(jí)中，內(nèi)凹、咬邊不屬于條形缺陷。

3.8透照厚度比K（ratioofmax.andmin.penetratedthickness）一次透照長(zhǎng)度范圍內(nèi)射線束穿過母材的最大厚度與最小厚度之比。（1）理解：透照厚度比K值即橫向裂紋檢出角。（2）應(yīng)用：計(jì)算縱向焊接接頭一次透照長(zhǎng)度和環(huán)向焊接接頭的透照次數(shù)。（3）注意：對(duì)100mm＜D0≤400mm的環(huán)向焊接接頭可放寬K≤1.2與技術(shù)級(jí)別有關(guān)。（僅限A級(jí)和AB級(jí)）3.9一次透照長(zhǎng)度（effectiveareaofasingleexposure）符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的單次曝光有效檢測(cè)長(zhǎng)度。（1）理解：由K值確定的單次有效透照區(qū)間長(zhǎng)度。（2）應(yīng)用：工藝初次編制時(shí)：小徑管或該曲率半徑以下的環(huán)形接頭（如封頭拼縫小圓弧過渡區(qū)），一次透照長(zhǎng)度未知。（3）注意：工藝驗(yàn)證后：以底片黑度界定。

3.10底片評(píng)定范圍（filmevaluationscope）本部分規(guī)定底片上必須觀測(cè)和評(píng)定的范圍。（1）理解：以兩搭接標(biāo)記之間的距離為長(zhǎng)，焊縫加焊縫兩側(cè)熱影響區(qū)為寬的范圍。對(duì)小徑管而言應(yīng)是黑度大于1.5(AB級(jí)）或黑度大于大于2.0（B級(jí)）部分。（2）應(yīng)用：評(píng)片時(shí)評(píng)定范圍以外的缺陷不作為該片的評(píng)定依據(jù)，但要在備注欄中注明。當(dāng)缺陷延伸到評(píng)定范圍以外時(shí)也應(yīng)計(jì)算其尺寸和數(shù)量。（3）注意：丁字焊口的縱、環(huán)部分焊縫也應(yīng)進(jìn)行評(píng)定。3.11缺陷評(píng)定區(qū)（defectevaluationzone）在質(zhì)量分級(jí)評(píng)定時(shí)，為評(píng)價(jià)缺陷數(shù)量和密集程度而設(shè)置的一定尺寸區(qū)域，可以是正方形或長(zhǎng)方形。缺陷評(píng)定區(qū)應(yīng)選在缺陷最嚴(yán)重的部位。（1）理解：缺陷系指條形缺陷和圓形缺陷。評(píng)定區(qū)尺寸選取只與母材的公稱厚度有關(guān)，與技術(shù)級(jí)別無關(guān)。（2）應(yīng)用：按不同性質(zhì)的缺陷和母材的公稱厚度擇評(píng)定區(qū)，測(cè)量時(shí)評(píng)定區(qū)應(yīng)與焊縫平行，在圓形缺陷評(píng)定區(qū)內(nèi)存在條形缺陷時(shí)要綜合評(píng)級(jí)。（3）注意：對(duì)小徑管圓形缺陷評(píng)定區(qū)按10mm×10mm。

3.12雙膠片透照技術(shù)（doublefilmtechnique）暗盒內(nèi)裝兩張膠片和三片增感屏（前、中、后屏）進(jìn)行曝光，在觀片燈上采用雙片疊加方式進(jìn)行底片觀察的透照技術(shù)。3.13小徑管（smalldiametertube）外直徑Do小于或等于100mm的管子。

（1）理解：小徑管外直徑的上限為100mm，下限應(yīng)理解為5mm。（7.1.1評(píng)級(jí)中規(guī)定壁厚≥2mm）（2）應(yīng)用：小徑管的透照次數(shù)與技術(shù)級(jí)別無關(guān)。（3）注意：由于結(jié)構(gòu)原因不能進(jìn)行多次透照時(shí)，應(yīng)采取有效措施擴(kuò)大缺陷的檢出范圍。4一般要求4.1檢測(cè)人員4.1.1從事射線檢測(cè)的人員應(yīng)滿足NB/T47013.1的有關(guān)規(guī)定。4.1.2從事射線檢測(cè)的人員在上崗前應(yīng)進(jìn)行輻射安全知識(shí)的培訓(xùn)，并按照有關(guān)法規(guī)的要求取得相應(yīng)證書。4.1.3射線檢測(cè)人員未經(jīng)矯正或經(jīng)矯正的近（距）視力和遠(yuǎn)（距）視力應(yīng)不低于5.0（小數(shù)記錄值為1.0），測(cè)試方法應(yīng)符合GB11533的規(guī)定。從事評(píng)片的人員應(yīng)每年檢查一次視力。4.2檢測(cè)設(shè)備和器材4.2.1射線裝置4.2.1.1可以使用兩種射線源：a）由X射線機(jī)和加速器產(chǎn)生的X射線；b）由Co60、Ir192、Se75、Yb169

和Tm170射線源產(chǎn)生的γ射線。（6）4.2.1.2經(jīng)合同雙方商定，允許采用其他新型射線源。采用其他射線源時(shí)，有關(guān)檢測(cè)技術(shù)要求仍應(yīng)參照本部分的規(guī)定執(zhí)行。

?Tml70的平均能量0.072MeV，半衰期為127天，當(dāng)量能≤100KV，Tm170發(fā)出的γ射線有較低的能量，可用作薄鋼工件及輕金屬的透照。?Yb169平均能量0.156MeV，半衰期32天。半衰期對(duì)比：Co60/5.3年；Ir192/75天；Se75/120天。

—增加了Tm170和Yb169射線源應(yīng)用的規(guī)定

?標(biāo)準(zhǔn)新增加了放射源品種，Tm170和Yb169，實(shí)現(xiàn)與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)接軌，形成從薄到厚工件的適用的放射源系列。?“Tm170射線源”?元素符號(hào)：Tm；英文名：Thulium；中文名：銩；?原子序數(shù):69；放射性核素Tm170；相對(duì)原子質(zhì)量：169?Kγ放射常數(shù)為0.0014R·m2/(h·Ci)；?實(shí)際比活度為1000Ci/g；56關(guān)于“Tm170

、Yb169射線源”的進(jìn)一步知識(shí)衰變過程：用熱中子照射穩(wěn)定同位素Tm169，就形成人工放射性同位素Tm170，在蛻變時(shí)約有76％的Tm170的核放射出最大能量為0.968MeV的β粒子而形成穩(wěn)定的同位素Ybl70（沒有γ射線），約有24％的Tm170核放出最大能量為0.886MeV的β粒子（沒有γ射線）而形成處于受激狀態(tài)的Ybl70。在轉(zhuǎn)變到穩(wěn)定狀態(tài)時(shí)，約有3％放出能量為0.084MeV的γ射線，約有5％通過內(nèi)轉(zhuǎn)換發(fā)射K層軌道電子，隨后發(fā)生電子躍遷發(fā)射出52KeV的特征X射線。?

元素符號(hào)：Yb英文名：Ytterbium；中文名：鐿[yì]放射性核素Yb169：原子序數(shù):70；相對(duì)原子質(zhì)量：173?

平均能量0.156MeV，半衰期32.0天；半衰期對(duì)比：Co60/5.3年；Ir192/75天；Se75/120天；Yb169/32天；Tml70的/127天.Yb169能譜——其γ輻射強(qiáng)度最大的部分在49keV到59keV之間，此外在63keV到308keV范圍有強(qiáng)度較小的γ輻射

——修改了工業(yè)射線膠片系統(tǒng)分類，將膠片分為C1、C2、C3、C4、C5和C6六類。膠片類型的選擇按照新的分類標(biāo)準(zhǔn)重新進(jìn)行修訂，同時(shí)補(bǔ)充了膠片灰霧度測(cè)量的要求

4.2.2射線膠片（7）-12、13、14

4.2.2.1膠片系統(tǒng)按照GB/T19348.1分為六類，即C1、C2、C3、C4、C5和C6類。C1為最高類別，C6為最低類別，膠片系統(tǒng)的特性指標(biāo)見附錄B。4.2.2.2膠片制造商應(yīng)對(duì)所生產(chǎn)的膠片進(jìn)行系統(tǒng)性能測(cè)試并提供類別和參數(shù)。膠片處理方法、設(shè)備和化學(xué)藥劑可按GB/T19348.2的規(guī)定，用膠片制造商提供的預(yù)先曝光膠片測(cè)試片進(jìn)行測(cè)試和控制。不得使用超過膠片制造商規(guī)定的使用期限的膠片。膠片應(yīng)按制造商推薦的溫度和濕度條件予以保存，并應(yīng)避免受任何電離輻射的照射。膠片標(biāo)準(zhǔn)新版本ISO11699.1-2008；GB/T19348.1-2014；老版本是2003。膠片（新舊標(biāo)準(zhǔn)）型號(hào)的對(duì)照：C4-T2C5-T3C6-T4

常用膠片類型C4類:天Ⅳ，kodakM、T，agfaD4、D5、fuji50、80、上海GX-A5C5類:天Ⅲ、kodakAA、B，AgfaD7、D8，fuji100，上海GX-A71、理解：（1）按膠片系統(tǒng)進(jìn)行分類，不是按膠片的感光速度分類。膠片系統(tǒng)包括了膠片、增感屏（材質(zhì)、厚度）和沖洗條件（方式、配方、溫度、時(shí)間）。（2）檢測(cè)的技術(shù)級(jí)別與膠片的類別有關(guān)。2、應(yīng)用：選擇的原則（1）A級(jí)和AB級(jí)檢測(cè)技術(shù)不得低于C5類、B級(jí)檢測(cè)技術(shù)不得低于C4類。（2）采用γ射線允許采用C5類膠片，但靈敏度應(yīng)滿足要求。3、注意：（1）當(dāng)對(duì)公稱厚度或透照厚度較薄的工件進(jìn)行γ射線照相時(shí)應(yīng)采用高類別的膠片。（2）γ射線照相和高能X射線，以及對(duì)可焊性差的材料或Rm≥540MPa高強(qiáng)鋼進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，應(yīng)選擇C4類或更高類別的膠片。4.2.3觀片燈觀片燈的主要性能應(yīng)符合GB/T19802的有關(guān)規(guī)定，最大亮度應(yīng)能滿足評(píng)片的要求。1、理解：（1）觀片燈的主要性能指標(biāo)除了亮度以外還包括:亮度的均勻性、外殼溫度、噪聲、絕緣程度等。（2）觀片燈亮度和照度的關(guān)系，即140000lx——45000cd/m22、應(yīng)用：當(dāng)?shù)灼u(píng)定范圍內(nèi)的黑度≤2.5時(shí)，觀片燈的亮度不應(yīng)低于30cd/m2、當(dāng)?shù)灼u(píng)定范圍內(nèi)的黑度D＞2.5時(shí)觀片燈的亮度不應(yīng)低于10cd/m2

。（5.15.3）(已知底片的黑度，應(yīng)會(huì)計(jì)算觀片燈的亮度）3、注意：生產(chǎn)觀片燈的廠家所提供的亮度指標(biāo)應(yīng)用cd/m2表示。

——新標(biāo)準(zhǔn)關(guān)于黑度計(jì)的內(nèi)容；增加了黑度計(jì)核查內(nèi)容，標(biāo) 準(zhǔn)密度片的黑度范圍和測(cè)量點(diǎn)數(shù)目的相關(guān)規(guī)定4.2.4黑度計(jì)（光學(xué)密度計(jì)）4.2.4.1黑度計(jì)可測(cè)的最大黑度應(yīng)不小于4.5，測(cè)量值的誤差應(yīng)不 超過±0.05。4.2.4.2黑度計(jì)首次使用前應(yīng)進(jìn)行核查，以后至少每六個(gè)月應(yīng)進(jìn) 行一次核查。核查方法可參照附錄C的規(guī)定進(jìn)行，每次核查后應(yīng) 填寫核查記錄。在工作開始時(shí)或連續(xù)工作超過8h后應(yīng)在擬測(cè)量 黑度范圍內(nèi)選擇至少兩點(diǎn)進(jìn)行檢查。

JB/T4730-2005規(guī)定：3.4黑度計(jì)（光學(xué)密度計(jì)）3.4.1黑度計(jì)可測(cè)的最大黑度應(yīng)不小于4.5，測(cè)量值的誤差應(yīng)不超過±0.05。3.4.2黑度計(jì)至少每6個(gè)月校驗(yàn)一次。校驗(yàn)方法可參照附錄B（資料性附錄）的規(guī)定進(jìn)行。4.2.5標(biāo)準(zhǔn)密度片

標(biāo)準(zhǔn)密度片應(yīng)至少有8個(gè)一定間隔的黑度基準(zhǔn)，且能覆蓋0.3-4.5黑度范圍，應(yīng)至少每2年校準(zhǔn)一次。必須特別注意標(biāo)準(zhǔn)密度片的保存和使用條件。?JB/T4730-2005未作規(guī)定。?新標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定主要參考了ASME規(guī)范和RCC-M標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)標(biāo)準(zhǔn)密度片黑度范圍和基準(zhǔn)數(shù)量的要求。1、理解：在一定情況下底片的黑度允許大于4.5。2、應(yīng)用：黑度計(jì)屬于需核查儀器，不是強(qiáng)制檢定設(shè)備。黑度計(jì)的核查應(yīng)有記錄并有相關(guān)人員簽字，保存到下一校驗(yàn)周期。3、注意：核查黑度計(jì)用的標(biāo)準(zhǔn)黑度片必須在校準(zhǔn)有效期內(nèi)，新購(gòu)置的標(biāo)準(zhǔn)黑度片只要在有效期內(nèi)也允許?！黾恿嗽龈衅临|(zhì)量及使用要求、中屏材料及厚度范圍、以及Tm170和Yb169兩種γ射線增感屏材料及厚度范圍，并明確了增感屏制造標(biāo)準(zhǔn)

4.2.6增感屏

4.2.6.1射線檢測(cè)一般應(yīng)使用金屬增感屏或不用增感 屏，金屬增感屏應(yīng)滿足JB/T5075的要求，增感屏應(yīng)完 全干凈、拋光和無紋道。?4.2.6.2使用增感屏?xí)r，膠片和增感屏之間應(yīng)接觸良 好。增感屏的選用應(yīng)符合表1的規(guī)定。射線源材料前屏后屏

c中屏厚度/mm厚度/mm厚度/mm

d X射線（＞250 kV～500kV）鉛0.02～0.200.02～0.202×0.02～

2×0.10Tm170鉛不用或 ≤0.03不用或 ≤0.03—

dYb169鉛0.02～0.150.02～0.152×0.02～

2×0.10b 采用Co60射線源透照延遲裂紋傾向或標(biāo)準(zhǔn)抗拉強(qiáng)度下限值Rm≥540MPa材料時(shí)，AB級(jí)和B級(jí)應(yīng)采用鋼或銅增感屏。（7）c雙膠片透照技術(shù)應(yīng)增加使用中屏。d采用X射線和Yb169射線源時(shí)，每層中屏的厚度應(yīng)不大于前屏厚度。96

表1增感屏的材料和厚度1、理解：（1）X射線照相，能量在500KV以下增感屏的材料應(yīng)是鉛，鉛屏的厚度不涉及技術(shù)級(jí)別只與射線能量有關(guān)。（2）如采用Se-75或Ir-192，增感屏的厚度與技術(shù)級(jí)別有關(guān)。（3）如采用Co60或高能X射線（4MeV以下）選擇增感屏所用的材料和厚度均與技術(shù)級(jí)別有關(guān)。2、應(yīng)用：（1）前屏和后屏的厚度可以相同也可以不同?！黾恿丝仔拖褓|(zhì)計(jì)應(yīng)用的內(nèi)容，并修訂了不同材料的像質(zhì)計(jì)適用的工件材料范圍及像質(zhì)計(jì)使用和放置原則4.2.7像質(zhì)計(jì)（8）4.2.7.1底片影像質(zhì)量采用線型像質(zhì)計(jì)或孔型像質(zhì)計(jì)測(cè)定。通用線型像質(zhì)計(jì)和等徑線型像質(zhì)計(jì)的型號(hào)和規(guī)格應(yīng)符合JB/T7902的規(guī)定，孔型像質(zhì)計(jì)型號(hào)和規(guī)格應(yīng)滿足GB/T23901.2的規(guī)定。引用標(biāo)準(zhǔn)GB/T23901.2射線照相用孔型像質(zhì)計(jì),該標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO19232JB/T7902線型像質(zhì)計(jì)由19根不同線徑的金屬絲構(gòu)成（線號(hào)/線徑：1/3.20-19/0.050），組成了4組（有重疊），每組7個(gè)連續(xù)的線編號(hào)：1-7、6-12、10-16、13-19。(1號(hào)、6號(hào)、10號(hào)、13號(hào))GB/T23901.2孔型像質(zhì)計(jì)由18塊不同厚度和直徑的階梯/孔徑（孔編號(hào)/孔徑：H1/0.125-H18/6.300）構(gòu)成，劃分為4組（有重疊），每組6個(gè)連續(xù)的孔編號(hào)：H1-H6，H5-H10，H9-H14和H13-H18。（1號(hào)、5號(hào)、9號(hào)、13號(hào)）孔徑=臺(tái)階厚度H1（0.125）H10（1.000）H2（0.160）H11（1.250）H3（0.200）H12（1.500）H4（0.250）H13（2.000）H5（0.320）H14（2.500）H6（0.400）H15（3.200）H7（0.500）H16（4.000）H8（0.630）H17（5.000）H9（0.800）H18（6.300）孔徑和臺(tái)階厚度系列694.2.7.2像質(zhì)計(jì)的材料、材料代號(hào)和不同材料的像質(zhì)計(jì)適用的工件材料范圍可按表2的規(guī)定執(zhí)行，像質(zhì)計(jì)材料的吸收系數(shù)應(yīng)盡可能的接近或等同于被檢材料的吸收系數(shù)，任何情況下不能高于被檢材料的吸收系數(shù)。應(yīng)用：（1）應(yīng)根據(jù)檢測(cè)技術(shù)級(jí)別、透照方式和像質(zhì)計(jì)擺放的位置及公稱厚度（T）、透照厚度（W）、確定像質(zhì)計(jì)靈敏度。（2）以低原子序數(shù)材料制作的像質(zhì)計(jì)可以用于高原子序數(shù)材料制成的工件照相。即鐵（Fe）像質(zhì)計(jì)可以用于鎳（Ni）、銅（Cu）材料的照相，但不能用于鈦（Ti）、鋁（AI）材料的照相?！黾恿税凳野踩丈鋾r(shí)間確定的內(nèi)容?附錄D（資料性附錄）暗室安全照射時(shí)間確定通過試驗(yàn)確定暗室安全照明時(shí)間。曝光前照射試驗(yàn)t1曝光后照射試驗(yàn)t2潮濕膠片曝光后照射試驗(yàn)t3射線曝光用階梯試塊；安全燈照射用多條膠片分別試驗(yàn)；暗室處理后對(duì)底片進(jìn)行黑度測(cè)量和目視觀察；?D.6暗室安全照射時(shí)間的確定?D.6.1以試驗(yàn)得到的t1、t2和t3之中最小值的一半作為膠片在 暗室處理過程允許的安全燈照射時(shí)間，即暗室安全照射時(shí)間。4.2.8暗室安全照明時(shí)間確定膠片應(yīng)在膠片制造商所推薦的安全燈光條件下進(jìn)行暗室處理，暗室安全照明時(shí)間的確定方法可參考附錄D進(jìn)行。附錄D暗室安全照射時(shí)間確定?D.6.2如果試驗(yàn)測(cè)定的安全照明時(shí)間不足以完成整個(gè)暗室處理，應(yīng)考慮更換安全燈，并重新通過試驗(yàn)確定暗室安全照射時(shí)間；?D.6.3實(shí)際生產(chǎn)過程中，膠片暗室處理應(yīng)在試驗(yàn)確定的安全照射時(shí)間、安全距離等參數(shù)下進(jìn)行。?老標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730-2005：沒有相似規(guī)定。?參考GB/T6846-2008、ISO8374-2001和ASME規(guī)范。944.3檢測(cè)技術(shù)等級(jí)4.3.1射線檢測(cè)技術(shù)分為三級(jí)：A級(jí)——低靈敏度技術(shù)；AB級(jí)——中靈敏度技術(shù)；B級(jí)——高靈敏度技術(shù)。4.3.2射線檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇應(yīng)符合相關(guān)法規(guī)、規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)技術(shù)文件的要求，同時(shí)還應(yīng)滿足合同雙方商定的其他技術(shù)要求。承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭的射線檢測(cè)，一般應(yīng)采用AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)。對(duì)重要設(shè)備、結(jié)構(gòu)、特殊材料和特殊焊接工藝制作的對(duì)接焊接接頭，可采用B級(jí)技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)?！薷牧颂厥鈼l件下射線檢測(cè)技術(shù)等級(jí)允許放寬原則4.3.3

當(dāng)檢測(cè)中某些條件不能滿足AB級(jí)（或B級(jí)）射線檢測(cè)技術(shù)的要求時(shí)，經(jīng)合同雙方商定（JB/T4730的規(guī)定為“經(jīng)檢測(cè)方技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn)），在采取有效補(bǔ)償措施（例如選用更高類別的膠片）的前提下，若底片的像質(zhì)計(jì)靈敏度達(dá)到了AB級(jí)（或B級(jí)）射線檢測(cè)技術(shù)的規(guī)定，則可認(rèn)為按AB級(jí)（或B級(jí)）射線檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行了檢測(cè)。4.3.4承壓設(shè)備在用檢測(cè)中，檢測(cè)的某些條件不能滿足AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)的要求時(shí)，經(jīng)合同雙方商定（JB/T4730的規(guī)定為“經(jīng)檢測(cè)方技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn)），在采取有效補(bǔ)償措施（例如選用更高類別的膠片）后可采用A級(jí)技術(shù)進(jìn)行射線檢測(cè)，但應(yīng)同時(shí)采用其他無損檢測(cè)方法進(jìn)行補(bǔ)充檢測(cè)。（8）1、理解：（1）承壓類設(shè)備的制造、安裝、在用的檢測(cè)技術(shù)級(jí)別一般不應(yīng)低于AB級(jí)。（2）承壓設(shè)備在用檢測(cè)特殊情況下可以采用A級(jí)檢測(cè)技術(shù)。（3）有效措施一般包括：高類別膠片、提高底片黑度、采用最佳透照方式、最大限度的控制散亂射線等措施。2、應(yīng)用：某些條件是指“結(jié)構(gòu)、環(huán)境、射線設(shè)備等方面的限制”。3、注意：底片靈敏度必須達(dá)到相應(yīng)技術(shù)級(jí)別的規(guī)定。對(duì)在用設(shè)備如采用A級(jí)檢測(cè)技術(shù)應(yīng)補(bǔ)充其他檢測(cè)方法進(jìn)行檢測(cè)。返修焊縫應(yīng)采用AB級(jí)或達(dá)到AB級(jí)靈敏度。4.4檢測(cè)工藝文件4.4.1檢測(cè)工藝文件包括工藝規(guī)程和操作指導(dǎo)書。4.4.2工藝規(guī)程除了滿足NB/T47013.1的要求外，還應(yīng)規(guī)定下列相關(guān)因素的具體范圍或要求；如相關(guān)因素的變化超出規(guī)定時(shí)，應(yīng)重新編制或修訂工藝規(guī)程：a）適用范圍中的結(jié)構(gòu)、材料類別及厚度；b）射線源種類、能量及焦點(diǎn)尺寸；c）檢測(cè)技術(shù)等級(jí)；d）透照技術(shù)；e）透照方式；f）膠片型號(hào)及等級(jí)；g）像質(zhì)計(jì)種類；——增加了射線檢測(cè)工藝文件的基本要求和驗(yàn)證的相關(guān)規(guī)定h）增感屏和濾光板型號(hào)（如使用）；i）暗室處理方法或條件；j）底片觀察技術(shù)。4.4.3應(yīng)針對(duì)具體檢測(cè)對(duì)象根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)和工藝規(guī)程編寫操作指導(dǎo)書，其內(nèi)容除滿足NB/T47013.1的要求外，至少還應(yīng)包括：a）編制依據(jù)；b）適用范圍：被檢工件的類型（形狀、結(jié)構(gòu)等）、尺寸范圍（厚度及其它幾何尺寸）、所用材料種類；c）檢測(cè)設(shè)備器材：射線源（種類、型號(hào)、焦點(diǎn)尺寸）、膠片（牌號(hào)及其分類等級(jí)）、增感屏（類型、數(shù)量和厚度）、像質(zhì)計(jì)（種類和型號(hào)）、濾光板、背散射屏蔽鉛版、標(biāo)記、膠片暗室處理和觀察設(shè)備等；d）檢測(cè)技術(shù)與工藝：采用的檢測(cè)技術(shù)等級(jí)、透照技術(shù)（單或雙膠片），透照方式（源-工件-膠片相對(duì)位置），射線源、膠片、曝光參數(shù)、像質(zhì)計(jì)的類型、擺放位置和數(shù)量，標(biāo)記符號(hào)類型和放置、布片原則等；e）膠片暗室處理方法和條件要求；f）底片觀察技術(shù)（雙片疊加或單片觀察評(píng)定）；g）底片質(zhì)量要求：幾何不清晰度、黑度、像質(zhì)計(jì)靈敏度、標(biāo)記等；h）驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)；i）操作指導(dǎo)書的驗(yàn)證要求。4.4.4首次使用的操作指導(dǎo)書應(yīng)進(jìn)行工藝驗(yàn)證，以驗(yàn)證底片質(zhì)量是否能達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求。驗(yàn)證可通過專門的透照試驗(yàn)進(jìn)行，或以產(chǎn)品的第一批底片作為驗(yàn)證依據(jù)。在這兩種情況下，作為依據(jù)的驗(yàn)證底片應(yīng)做出標(biāo)識(shí)。4.5輻射安全防護(hù)

（8）～（10）4.5.1放射衛(wèi)生防護(hù)應(yīng)符合GB18871、GBZ117和GBZ132的有關(guān)規(guī)定。4.5.2現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行Ｘ射線檢測(cè)時(shí)，應(yīng)按GBZ117的規(guī)定劃定控制區(qū)和管理區(qū)、設(shè)置警告標(biāo)志。檢測(cè)工作人員應(yīng)佩帶個(gè)人劑量計(jì)，并攜帶劑量報(bào)警儀。4.5.3現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行γ射線檢測(cè)時(shí)，應(yīng)按GBZ132的規(guī)定劃定控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)、設(shè)置警告標(biāo)志，檢測(cè)作業(yè)時(shí)，應(yīng)圍繞控制區(qū)邊界測(cè)定輻射水平。檢測(cè)工作人員應(yīng)佩帶個(gè)人劑量計(jì)，并攜帶劑量報(bào)警儀。1、理解：（1）現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行Ｘ射線檢測(cè)或進(jìn)行γ射線檢測(cè)時(shí)對(duì)輻射防護(hù)提出了不同的要求。（2）在兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)都提出了輻射照射量的新名詞——比釋動(dòng)能和空氣比釋動(dòng)能率，比釋動(dòng)能是指不帶電粒子與物質(zhì)相互作用，在單位質(zhì)量的物質(zhì)中釋放出來的所有帶電粒子的初始動(dòng)能的總和。2、應(yīng)用：（1）空氣比釋動(dòng)能率用儀器可以測(cè)出。（2）控制區(qū)、管理區(qū)、監(jiān)督區(qū)范圍的確定均根據(jù)空氣比釋動(dòng)能率量值進(jìn)行劃分的。3、注意：盡管兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的某些條款內(nèi)容相同或相近，但在使用中不能相互代替。——修改了檢測(cè)時(shí)機(jī)要求5檢測(cè)工藝及其選擇5.1檢測(cè)時(shí)機(jī)（10）5.1.1檢測(cè)時(shí)機(jī)應(yīng)滿足相關(guān)法規(guī)、規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)技術(shù)文件的要求，同時(shí)還應(yīng)滿足合同雙方商定的其他技術(shù)要求。5.1.2除非另有規(guī)定，射線檢測(cè)應(yīng)在焊接接頭制造完工后進(jìn)行，對(duì)有延遲裂紋傾向的材料，至少應(yīng)在焊接完成24h后進(jìn)行射線檢測(cè)。?對(duì)照老標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730的規(guī)定：除非另有規(guī)定，射線檢測(cè)應(yīng)在焊后進(jìn)行。對(duì)有延遲裂紋傾向的材料，至少應(yīng)在焊接完成24h后進(jìn)行射線檢測(cè)。。1、理解：（1）除非另有規(guī)定系指設(shè)計(jì)圖紙的規(guī)定、制造方的規(guī)定或焊縫返修后焊接工藝的規(guī)定。（2）有延遲裂紋的材料一般指低合金高強(qiáng)鋼、鉻鉬鋼等。Rm≥540MPa高強(qiáng)鋼材料：低合金高強(qiáng)鋼類-如15MnVNR、18MnMoNbR、07MnCrMoR；低合金耐熱鋼類-如1.OCr0.5Mo(15CrMo)、1.25Cr0.5Mo(14Cr1Mo)馬氏體不銹鋼：1Cr13、2Cr132、應(yīng)用：（1）射線檢測(cè)工藝卡中應(yīng)明確檢測(cè)時(shí)機(jī)。（2）當(dāng)?shù)灼洗嬖诓挥绊懺u(píng)定的偽缺陷時(shí)應(yīng)在底片評(píng)定原始記錄中注明?！黾恿撕附咏宇^檢測(cè)區(qū)寬度范圍確定的內(nèi)容5.2檢測(cè)區(qū)5.2.1檢測(cè)區(qū)寬度應(yīng)滿足相關(guān)法規(guī)、規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)技術(shù)文件的要求，同時(shí)還應(yīng)滿足合同雙方商定的其他技術(shù)要求，對(duì)于非電渣焊焊接接頭，一般應(yīng)滿足以下規(guī)定：a）對(duì)于對(duì)接焊縫，檢測(cè)區(qū)包括焊縫金屬及相對(duì)于焊縫邊緣至少為5mm的相鄰母材區(qū)域；b）對(duì)于管座角焊縫，檢測(cè)區(qū)包括焊縫金屬及相對(duì)于焊縫 邊緣至少為5mm的安放式接管相鄰母材區(qū)域或插入式主管（或筒體、封頭、平板等）相鄰母材區(qū)域。（11）5.2.2對(duì)于電渣焊焊接接頭，其檢測(cè)區(qū)寬度可通過實(shí)際測(cè)量熱影響區(qū)確定，或由合同雙方商定。?老標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730-2005未做規(guī)定。5.3表面要求

在射線檢測(cè)之前，對(duì)接焊接接頭的表面應(yīng)經(jīng)目視檢測(cè)并合格。表面的不規(guī)則狀態(tài)在底片上的影像不得掩蓋或干擾缺陷影像，否則應(yīng)對(duì)表面作適當(dāng)修整。

——新標(biāo)準(zhǔn)關(guān)于針對(duì)不同技術(shù)等級(jí)和檢測(cè)對(duì)象選擇膠片類 別的具體規(guī)定5.4膠片選擇（11）～（12）5.4.1A級(jí)和AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)應(yīng)采用C5類或更高類別的膠片，B級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)應(yīng)采用C4類或更高類別的膠片。5.4.2采用γ射線和高能X射線進(jìn)行射線檢測(cè)時(shí)，以及對(duì)標(biāo)準(zhǔn)抗拉強(qiáng)度下限值Rｍ≥540MPa高強(qiáng)度材料射線檢測(cè)時(shí)，應(yīng)采用C4類或更高類別的膠片。膠片的類別選擇與檢測(cè)的技術(shù)級(jí)別有關(guān)。膠片選擇需要考慮的其它因素：射線源的種類、檢測(cè)對(duì)象的材質(zhì)Rm≥540MPa高強(qiáng)鋼材料：低合金高強(qiáng)鋼類-如18MnMoNbR、07MnCrMoR；低合金耐熱鋼類-如1.OCr0.5Mo(15CrMo)、1.25Cr0.5Mo(14Cr1Mo)——增加了雙膠片透照技術(shù)和底片觀察技術(shù)應(yīng)用的內(nèi)容5.5透照布置5.5.1膠片透照技術(shù)本部分允許以下兩種膠片透照技術(shù)：a）單膠片透照技術(shù)使用單張膠片。X射線（≤100kV）和Tm170射線源只允許采用單膠片透照技術(shù)。b）雙膠片透照技術(shù)（12）使用兩張分類等級(jí)相同或相近的膠片。雙膠片技術(shù)的原理、特點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)關(guān)于雙膠片技術(shù)應(yīng)用的規(guī)定?

什么是雙膠片技術(shù)？暗盒內(nèi)裝兩張膠片和三片增感屏（前、中、后屏）進(jìn)行曝光，在觀片燈上采用雙片疊加方式進(jìn)行底片觀察的檢測(cè)技術(shù)。?

雙膠片技術(shù)特點(diǎn)：1、可排除多種偽缺陷干擾，有利于提高底片評(píng)定準(zhǔn)確性。2、可增加透照厚度寬容度，檢測(cè)大厚度差工件。3、可縮短曝光時(shí)間，提高效率。4、可減少像質(zhì)不合格造成的返工。注意：雙膠片技術(shù)也有缺點(diǎn)。?

有關(guān)規(guī)定主要參考了ASME和RCC-M標(biāo)準(zhǔn)。5.5.2透照方式

（14）5.5.2.1應(yīng)根據(jù)工件特點(diǎn)和技術(shù)條件的要求選擇適宜的透照方式。在可以實(shí)施的情況下應(yīng)優(yōu)先選用單壁透照方式，在單壁透照不能實(shí)施時(shí)才允許采用雙壁透照方式。典型的透照方式參見附錄E。對(duì)接接頭8種：?jiǎn)伪谕庹辗?；單壁?nèi)照法；環(huán)縫中心法；環(huán)縫雙壁單影（2）；縱縫雙壁單影；雙壁雙影（2）角接接頭6種：插入式接管（3）；安放式接管（3）1、理解：（1）單壁透照最有利于發(fā)現(xiàn)缺陷，但并不是最便捷的透照方法。（2）對(duì)“在單壁透照不能實(shí)施時(shí)才允許采用雙壁透照方式”要有正確的理解，不能實(shí)施時(shí)主要針對(duì)工況條件和檢驗(yàn)檢測(cè)單位的資源條件而言，不是指最佳的透照方式。（3）一次透照長(zhǎng)度與檢測(cè)技術(shù)級(jí)別有關(guān)。2、應(yīng)用：透照方式不能任意選取，在可以實(shí)施的情況下應(yīng)選用單壁透照方式。（在用設(shè)備）3、注意：其他方式透照環(huán)向?qū)咏宇^時(shí)，有不能實(shí)施的部位即陰影區(qū)。（附錄F圖F.6）5.5.2.2安放式和插入式管座角焊縫應(yīng)優(yōu)先選擇源在外透照方式。插入式管座角焊縫源在內(nèi)透照方式時(shí)，應(yīng)優(yōu)先選擇射線源放置在支管軸線上的透照布置。（14）～（17）5.5.3透照方向

透照時(shí)射線束中心一般應(yīng)垂直指向透照區(qū)中心，并應(yīng)與工件表面法線重合，需要時(shí)也可選用有利于發(fā)現(xiàn)缺陷的方向透照?！黾恿藘?nèi)偏心透照（F＜DO/2）時(shí)透照次數(shù)的計(jì)算公式

5.5.4一次透照長(zhǎng)度：（18）a）一次透照長(zhǎng)度應(yīng)以透照厚度比K進(jìn)行控制。不同級(jí)別射線檢測(cè)技術(shù)和不同類型對(duì)接焊接接頭的透照厚度比應(yīng)符合表3的規(guī)定。通過K值確定的整條環(huán)向焊接接頭所需的透照次數(shù)可參照附錄F的曲線圖確定；附錄F中，增加了：F.3射線源在內(nèi)偏心透照（F<Do/2）最少透照次數(shù)N計(jì)算公式N=1800/α；α=η-θ；η=sin-1【Di/（Di-2L1)θ】；θ=cos-1【1-（K2-1)T/Di]/K;當(dāng)D＞＞T時(shí)，θ≈cos-1k-1；實(shí)際檢測(cè)時(shí)可不用此公式計(jì)算，按照平板焊縫的K值和一次透照長(zhǎng)度關(guān)系選擇即可。。b）采用射線源在內(nèi)偏心透照（F<D0/2）時(shí)，透照次數(shù)參照附錄F的公式進(jìn)行計(jì)算?！黾恿舜_定管座角焊縫、橢圓形封頭和蝶形封頭小r區(qū)的焊縫，以及其他曲率連續(xù)變化的焊縫一次透照長(zhǎng)度的原則5.5.4一次透照長(zhǎng)度：

（18）c）管座角焊縫、橢圓形封頭、碟形封頭小r區(qū)的焊縫，以及其他曲率連續(xù)變化的焊縫可不采用以K值確定一次透照長(zhǎng)度的方法，允許用黑度范圍來確定一次透照長(zhǎng)度，底片黑度滿足5.16.1的長(zhǎng)度范圍即為允許采用的一次透照長(zhǎng)度?！黾恿擞行гu(píng)定區(qū)搭接的技術(shù)要求，修改了定位標(biāo)記和識(shí)別標(biāo)記的放置原則5.5.5有效評(píng)定區(qū)搭接5.5.5.1焊縫進(jìn)行全部射線檢測(cè)時(shí)，采取的曝光次數(shù)和有效評(píng)定區(qū)的重疊應(yīng)能保證檢測(cè)到被檢測(cè)區(qū)的整個(gè)體積范圍。5.5.5.2如果采用暗盒直接搭接透照的方式，也應(yīng)保證整個(gè)有效評(píng)定區(qū)的底片黑度滿足5.16.1的要求。。5.5.6小徑管透照

5.5.6.1小徑管環(huán)向焊接接頭的透照布置

（19）

小徑管環(huán)向焊接接頭采用雙壁雙影透照布置，當(dāng)同時(shí)滿足下列兩條件時(shí)應(yīng)采用傾斜透照方式橢圓成像： T（壁厚）≤8mm；g（焊縫寬度）≤Do/4

橢圓成像時(shí)，應(yīng)控制影像的開口寬度（上下焊縫投影最大間距）在1倍焊縫寬度左右。（最大25mm）

不滿足上述條件或橢圓成像有困難時(shí)可采用垂直透照方式重疊成像。——修改了結(jié)構(gòu)限制特殊情況下小徑管的透照原則5.5.6.2小徑管環(huán)向?qū)咏宇^的透照次數(shù)

（20）

小徑管環(huán)向?qū)雍附咏宇^100%檢測(cè)的透照次數(shù)：采用傾斜透照橢圓成像時(shí)，當(dāng)T/Do≤0.12時(shí)，相隔90°透照2次。當(dāng)T/Do＞0.12時(shí)，相隔120°或60°透照3次。垂直透照重疊成像時(shí)，一般應(yīng)相隔120°或60°透照3次。

按照上述規(guī)定進(jìn)行多次透照時(shí)，底片上被檢測(cè)區(qū)黑度滿足5.16.1的區(qū)域?yàn)橛行гu(píng)定區(qū)，相鄰底片的有效評(píng)定區(qū)的重疊應(yīng)保證覆蓋被檢測(cè)區(qū)的整個(gè)體積范圍，如最少曝光次數(shù)不能滿足100%覆蓋要求，則應(yīng)增加曝光次數(shù)。5.5.6.3特殊情況

（20）

由于結(jié)構(gòu)原因不能按5.5.6.2的規(guī)定的間隔角度多次透照時(shí)，經(jīng)合同雙方商定，可不再?gòu)?qiáng)制限制5.5.6.2規(guī)定的間隔角度，但應(yīng)采取有效措施盡量擴(kuò)大缺陷可檢出范圍，同時(shí)應(yīng)保證底片評(píng)定范圍內(nèi)黑度和靈敏度滿足要求，并在檢測(cè)報(bào)告中對(duì)有關(guān)情況進(jìn)行說明。1、理解：（1）雙壁雙影橢圓成像的實(shí)施原則，即T（壁厚）≤8mm、g（焊縫寬度）≤Do/4（?60×5mm）。（2）橢圓成像有困難一般是指焦距不滿足要求。（3）小徑管的透照次數(shù)與管外徑和壁厚有關(guān)，與檢測(cè)技術(shù)級(jí)別無關(guān)。（4）規(guī)定小徑管的透照次數(shù)的主要目的是控制透照厚度比。（5）結(jié)構(gòu)：一般系指排管或盤管。2、應(yīng)用：（1）為控制影像的開口寬度應(yīng)采用偏心距法。（2）擴(kuò)大缺陷可檢出范圍的有效措施一般包括：雙膠片技術(shù)、適當(dāng)提高管電壓、窗口加濾波板。3、注意：當(dāng)Do≤20mm、T＞

8mm、g＞Do/4，或者為了重點(diǎn)檢查根部裂紋或未焊透時(shí)應(yīng)采用垂直透照。5.6射線能量

（20）5.6.1在保證穿透力的前提下，X射線照相應(yīng)選用較低的管電壓。在采用較高管電壓時(shí)，應(yīng)保證適當(dāng)?shù)钠毓饬?。圖1規(guī)定了不同材料、不同透照厚度允許采用的最高Ｘ射線管電壓。5.6.2對(duì)截面厚度變化大的承壓設(shè)備，在保證靈敏度要求的前提下，允許采用超過圖1規(guī)定的Ｘ射線管電壓。但對(duì)鋼、銅及銅合金材料，管電壓增量不應(yīng)超過50kV；對(duì)鈦及鈦合金材料，管電壓增量不應(yīng)超過40kV；對(duì)鋁及鋁合金材料，管電壓增量不應(yīng)超過30kV。1、理解：（1）不同材料、不同透照厚度允許采用的最高Ｘ射線管電壓與檢測(cè)技術(shù)級(jí)別無關(guān)。（2）控制Ｘ射線管電壓的目的是保證底片的對(duì)比度，避免影響小缺陷的檢出率。（3）截面厚度變化大（以AB級(jí)C5類膠片為基準(zhǔn)，如較厚部位黑度為2.0，而較薄部位的黑度大于4.5）2、應(yīng)用：（1）在能穿透工件的前提下，應(yīng)盡量選擇較低的KV值。（2）對(duì)截面厚度變化大的承壓設(shè)備（對(duì)截面厚度變化大的承壓設(shè)備：如筒體與封頭不等厚且差別較大時(shí)），適當(dāng)提高管電壓、利用中心指示器使射線束中心對(duì)準(zhǔn)較厚部位、采用雙膠片技術(shù)、補(bǔ)償技術(shù)。3、注意：選擇能量時(shí)必須考慮穿透厚度。5.6.3γ射線源和高能Ｘ射線適用的透照厚度范圍應(yīng)符合表4的規(guī)定。（21）5.6.4采用源在內(nèi)中心透照方式，在保證像質(zhì)計(jì)靈敏度達(dá)到5.16.2要求的前提下，允許γ射線最小透照厚度取表4下限值的1/2。（22）（1）理解：該表對(duì)X射線而言只是一個(gè)參考值，不是限定值。對(duì)γ射線和高能射線則是限定值，不是參考值。（2）應(yīng)用：對(duì)X射線而言只要底片靈敏度、黑度符合標(biāo)準(zhǔn)要求可以適當(dāng)?shù)母叱鲈摫硭?guī)定的厚度值。（3）注意：暗盒后面應(yīng)貼加一定厚度的鉛皮，把不需要曝光的部位遮蓋掉，盡量減少來自工件內(nèi)部的散亂射線。5.6.5采用其他透照方式，在采取有效補(bǔ)償措施并保證像質(zhì)計(jì)靈敏度達(dá)到5.16.2要求的前提下，經(jīng)合同雙方商定，A級(jí)，AB級(jí)技術(shù)的Ir192源的最小透照厚度可降至10mm，Se75源的最小透照厚度可降至5mm。（22）1、理解：（1）放寬目的：鼓勵(lì)和提倡采用源在內(nèi)中心透照方式盡可能實(shí)現(xiàn)單壁透照，同時(shí)也有利于橫向裂紋的檢出。（2）其他透照方式包括：雙壁雙影、雙壁單影、內(nèi)透法F＞R、F＜R。（3）經(jīng)合同雙方商定的主要目的是對(duì)‘放寬最小透照厚度’要慎重。（4）γ射線源和高能Ｘ射線適用的透照厚度范圍與檢測(cè)的技術(shù)級(jí)別有關(guān)，其他透照方式‘放寬最小透照厚度’與技術(shù)級(jí)別有關(guān)。（僅限于A級(jí)AB級(jí)）2、應(yīng)用：（1）采用Ir-192源中心透照時(shí)最小透照厚度可為10mm，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于10mm時(shí)，即使經(jīng)合同雙方商定也不能實(shí)施。采用其他透照方式當(dāng)透照厚度小于20mm時(shí)，應(yīng)經(jīng)合同各方同意。如最小透照厚度小于10mm時(shí)，即使合同各方同意也不能實(shí)施。（2）采用Se-75源中心透照時(shí)最小透照厚度可為5mm，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于5mm時(shí)，即使合同各方同意也不能實(shí)施。采用其他透照方式當(dāng)透照厚度小于10mm時(shí)，應(yīng)經(jīng)合同各方同意。如最小透照厚度小于5mm時(shí)，即使合同各方同意也不能實(shí)施。（3）有效補(bǔ)償措施包括：高類別的膠片、適當(dāng)提高底片黑度、提高增感屏的厚度、散射線的屏蔽。3、注意：（1）最小透照厚度以公稱厚度計(jì)算。（2）合同雙方商定：一般指在施工方案上或工藝文件上有甲方簽字認(rèn)可，并存檔。5.7射線源至工件表面的最小距離

（22）5.7.1所選用的射線源至工件表面的距離f應(yīng)滿足下式的要求：A級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)：f≥7.5d·b

2/3

AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)：f≥10d·b2/3B級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)：

f≥15d·b2/3

圖2是A級(jí)和B級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)確定f的諾模圖，圖3是AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)確定f的諾模圖。有效焦點(diǎn)尺寸d

按附錄G的規(guī)定計(jì)算。5.7.2采用源在內(nèi)中心透照方式周向曝光時(shí)，只要得到的底片質(zhì)量符合5.16.1和5.16.2的要求，f值可以減小，但減小值不應(yīng)超過規(guī)定值的50%。5.7.3采用源在內(nèi)單壁透照方式時(shí)，只要得到的底片質(zhì)量符合5.16.1和5.16.2的要求，f值可以減小，但減小值不應(yīng)超過規(guī)定值的20%。

（23）1、理解：（1）確定射線源至工件表面的最小距離與檢測(cè)技術(shù)級(jí)別有關(guān)。減小值與檢測(cè)技術(shù)級(jí)別無關(guān)，與透照方式有關(guān)。（2）鼓勵(lì)和提倡采用內(nèi)透法特別是中心內(nèi)透法。體現(xiàn)了采用單壁透照的原則。減少透照厚度，有利與檢驗(yàn)缺陷；減少照射角，有利裂紋檢出。2、應(yīng)用：（1）由諾模圖中可直接得出射線源至工件表面最小距離。（2）工件表面至膠片的距離應(yīng)根據(jù)透照方式確定，同時(shí)應(yīng)考慮焊縫余高和墊板（雙壁單影、單壁單影）的厚度。3、注意：由諾模圖中給出的數(shù)據(jù)是射線源至工件表面的最小距離?！黾恿税卜攀胶筒迦胧焦茏呛缚p采用源在內(nèi)透照方式時(shí)f的放寬原則5.7.4安放式和插入式管座角焊縫采用源在內(nèi)單壁中心透照方式（附錄E中圖E.9和圖E.13）時(shí)，只要得到的底片質(zhì)量符合5.16.1和5.16.2的要求f值可以減小，但減小值不應(yīng)超過規(guī)定值的50%。5.7.5安放式和插入式管座角焊縫采用源在內(nèi)單壁偏心透照方式（附錄E中圖E.10和圖E.14）時(shí)，只要得到的底片質(zhì)量符合5.16.1和5.16.2的要求f值可以減小，但減小值不應(yīng)超過規(guī)定值的20%。

5.7.6如果相關(guān)法規(guī)、規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)、設(shè)計(jì)技術(shù)文件或合同雙方商定規(guī)定了允許的幾何不清晰度（Ug）最大值，實(shí)際透照時(shí)，幾何不清晰度（Ug）值應(yīng)按照附錄H進(jìn)行計(jì)算。（23）圖E9圖E13圖E10圖E14——增加了膠片與被檢工件之間距離的放置原則5.8膠片與被檢工件之間的距離

（23）

曝光期間，膠片應(yīng)緊貼于工件，除非有特殊規(guī)定或透照布置能使被檢區(qū)域得到更好的透照影像。管座角焊縫源在內(nèi)透照時(shí)，膠片應(yīng)盡可能的靠近被檢工件焊縫。5.9曝光量5.9.1Ｘ射線照相，當(dāng)焦距為700mm時(shí)，曝光量的推薦值為：A級(jí)和AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)不小于15mA·min；B級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)不小于20mA·min。當(dāng)焦距改變時(shí)可按平方反比定律對(duì)曝光量的推薦值進(jìn)行換算。5.9.2采用γ射線源透照時(shí)，總的曝光時(shí)間應(yīng)不少于輸送源往返所需時(shí)間的10倍。5.9.3采用Co60γ射線源透照時(shí)，曝光時(shí)間不應(yīng)超過12h；采用Ir192γ射線源透照時(shí)，曝光時(shí)間不應(yīng)超過8h,且不得采用多個(gè)射線源捆綁方式進(jìn)行透照。1、理解：（1）曝光量的大小與焦距有關(guān)。（2）X射線的曝光量的選擇與檢測(cè)技術(shù)級(jí)別有關(guān)。（3）采用γ射線源透照時(shí)，在某一時(shí)段焦距是在不斷變化，為保證底片質(zhì)量，從而確定了總的曝光時(shí)間。2、應(yīng)用：以AB級(jí)為例：當(dāng)焦距700mm時(shí)，曝光量應(yīng)大于或等于15mA·min、當(dāng)焦距大于700mm時(shí)，曝光量應(yīng)大于15mA·min、當(dāng)焦距小于700mm時(shí)，曝光量可小于或等于15mA·min、焦距改變時(shí)按平方反比定律對(duì)曝光量的推薦值進(jìn)行換算。3、注意：對(duì)小口徑薄壁管采用γ射線源透照時(shí)，強(qiáng)度不宜太大?！黾恿甩蒙渚€源曝光時(shí)間限值和限制使用多源曝光的規(guī)定，以及球罐全景曝光像質(zhì)計(jì)擺放要求5.9.3采用Co60γ射線源透照時(shí)，曝光時(shí)間不應(yīng)超過12h；采用Ir192γ射線源透照時(shí)，曝光時(shí)間不應(yīng)超過8h,且不得采用多個(gè)射線源捆綁方式進(jìn)行透照。5.10.4采用采用γ射線源時(shí)，可采用曝光尺等方式計(jì)算曝光時(shí)間。5.12.1像質(zhì)計(jì)放置原則b）單壁透照中，如果像質(zhì)計(jì)無法放置在源側(cè)，允許放置在膠片側(cè)（球罐全景曝光除外）；5.12.2像質(zhì)計(jì)數(shù)量b）球罐對(duì)接焊接接頭采用源置于球心的全景曝光時(shí)，在上極和下極焊縫的每張底片上都應(yīng)放置像質(zhì)計(jì)，且在每帶的縱縫和環(huán)縫上沿經(jīng)度方向等間隔至少放置3個(gè)像質(zhì)計(jì)；球罐γ射線全景曝光的原理、優(yōu)缺點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)中限制球罐γ射線全景曝光技術(shù)應(yīng)用的條款63球罐γ射線全景曝光示意圖新標(biāo)準(zhǔn)中限制球罐全景曝光的條款?從兩個(gè)方面：1、限制曝光時(shí)間和限制使用多源曝光的規(guī)定；2、球罐全景曝光像質(zhì)計(jì)擺放位置和數(shù)量；5.9.3采用Co60γ射線源透照時(shí)，曝光時(shí)間不應(yīng)超過12h；采用Ir192γ射線源透照時(shí)，曝光時(shí)間不應(yīng)超過8h，且不得采用多個(gè)射線源捆綁方式進(jìn)行透照。5.12.1b）單壁透照中，如果像質(zhì)計(jì)無法放置在射線源側(cè)，允許放置在膠片側(cè)（球罐全景曝光除外）；一般單壁透照，如果像質(zhì)計(jì)無法放置在射源側(cè)，允許通過對(duì)比試驗(yàn)修正靈敏度后將像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)，而球罐全景曝光照相不允許。5.12.2b）球罐焊接接頭采用源置于球心的全景曝光時(shí)，在上極和下極焊縫的每張底片上都應(yīng)放置像質(zhì)計(jì)………GB12337-2014鋼制球形儲(chǔ)罐的規(guī)定668.6無損檢測(cè)8.6.1無損檢測(cè)方法的選擇8.6.1.1無損檢測(cè)方法選擇包括射線檢測(cè)（X射線定向 曝光、γ射線周向曝光、γ射線全景曝光技術(shù)）超聲 檢測(cè)【衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)（TOFD）、可記錄的脈沖反射法檢測(cè)、不可記錄的脈沖反射法檢測(cè)】、磁粉檢測(cè)、滲透檢測(cè)。8.6.1.4不宜采用γ射線全景曝光技術(shù)。限制球罐全景曝光技術(shù)后球罐檢測(cè)怎么辦？?采用先進(jìn)檢測(cè)技術(shù)——衍射時(shí)差法超聲（TOFD）檢測(cè)技術(shù)，有以下優(yōu)點(diǎn)：速度快、效率高、成本低、無輻射、無污染，可全過程記錄檢測(cè)信息，檢測(cè)結(jié)果能夠成像，靈敏度高，可靠性好。67

1 2345.10曝光曲線

（23）5.10.1對(duì)每臺(tái)在用射線設(shè)備均應(yīng)做出經(jīng)常檢測(cè)材料的曝光曲線，依據(jù)曝光曲線確定曝光參數(shù)。5.10.2制作曝光曲線所采用的膠片、增感屏、焦距、射線能量等條件以及底片應(yīng)達(dá)到的靈敏度、黑度等參數(shù)均應(yīng)符合本部分的規(guī)定。5.10.3對(duì)使用中的曝光曲線，每年至少應(yīng)核查一次。射線設(shè)備更換重要部件或經(jīng)較大修理后應(yīng)及時(shí)對(duì)曝光曲線進(jìn)行核查或重新制作。5.10.4采用γ射線源時(shí)，可采用曝光尺等方式計(jì)算曝光時(shí)間。1、理解：（1）曝光曲線是針對(duì)X射線機(jī)。（2）每臺(tái)X射線機(jī)必須有曝光曲線且不能混用。（3）射線設(shè)備重要部件是指X射線管和高壓包。2、應(yīng)用：（1）曝光曲線橫坐標(biāo)上的厚度應(yīng)是穿透厚度。（2）當(dāng)實(shí)際拍片的條件與制作曝光曲線的條件不一致時(shí)，必須對(duì)曝光曲線作相應(yīng)的修正。3、注意：曝光曲線每年至少核查一次?！黾恿藶V光板應(yīng)用的推薦技術(shù)要求（附錄I）5.11無用射線和散射線屏蔽

（24）5.11.1應(yīng)采用金屬增感屏、鉛板、濾光板、準(zhǔn)直器等適當(dāng)措施，屏蔽散射線和無用射線，限制照射場(chǎng)范圍。鋼制承壓設(shè)備濾光板推薦的技術(shù)要求見附錄I。

推薦γ射線檢測(cè)使用濾光板。5.11.2對(duì)初次制定的檢測(cè)工藝，以及在使用中檢測(cè)條件、環(huán)境發(fā)生改變時(shí)，應(yīng)進(jìn)行背散射防護(hù)檢查。

檢查背散射防護(hù)的方法是：在暗盒背面貼附“B”鉛字標(biāo)記，一般B鉛字的高度為13mm、厚度為1.6mm，按檢測(cè)工藝的規(guī)定進(jìn)行透照和暗室處理。若在底片上出現(xiàn)黑度低于周圍背景黑度的“B”字影像，則說明背散射防護(hù)不夠，應(yīng)增大背散射防護(hù)鉛板的厚度。若底片上不出現(xiàn)“B”字影像或出現(xiàn)黑度高于周圍背景黑度的“B”字影像，則說明背散射防護(hù)符合要求。1、理解：（1）金屬增感屏、鉛板、濾波板、準(zhǔn)直器等是屏蔽和控制散射線的主要器件。（2）屏蔽和控制散射線與檢測(cè)技術(shù)級(jí)別無關(guān)。（3）背散射檢查的前提條件。（初次制定的檢測(cè)工藝或當(dāng)在使用中檢測(cè)工藝的條件、環(huán)境發(fā)生改變）2、應(yīng)用：對(duì)不是初次制定的檢測(cè)工藝或在使用中檢測(cè)工藝的條件、環(huán)境未發(fā)生變化時(shí)，不用每次都進(jìn)行背散射檢查。3、注意：在薄工件或不用增感屏?xí)r，有時(shí)會(huì)出現(xiàn)黑度高于周圍背景黑度的“B”字影像。暗盒

工件 濾光板前增感屏膠片后增感屏濾光板技術(shù)原理、特點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)關(guān)于濾光板應(yīng)用的規(guī)定

濾光板放置在工件與暗盒之間，濾掉散射線，減小散射比，提高靈敏度。

源種類膠片種類透照厚度鉛濾光板 厚度濾光板 位置像質(zhì)計(jì)靈敏度Ir192C2200.5工件與暗盒之間0.2射線機(jī)窗口0.32不使用濾光板0.25C4702.0工件與暗盒之間0.4射線機(jī)窗口0.5不使用濾光板0.5Co60C4702.0工件與暗盒之間0.5射線機(jī)窗口0.6不使用濾光板0.63加濾光板的射線檢測(cè)靈敏度試驗(yàn)透照厚度

/mm濾光板厚度（鉛）/mmT≤400.540＜T≤60160＜T≤801.5或2（用于碳素鋼或低合金鋼）、2

（其他鋼）T＞802注：X射線檢測(cè)使用濾光板時(shí)，可參考表中的厚度或通過試驗(yàn)進(jìn)行確定。?附錄I（資料性附錄）濾光板5.12像質(zhì)計(jì)的使用5.12.1像質(zhì)計(jì)放置原則

絲型像質(zhì)計(jì)一般應(yīng)放置在焊接接頭的一端（在被檢區(qū)長(zhǎng)度的1/4左右位置），金屬絲應(yīng)橫跨焊縫，細(xì)絲置于外側(cè)；階梯孔型像質(zhì)計(jì)一般應(yīng)放置于被檢區(qū)中心部位的焊接接頭熱影響區(qū)以外，在不可能實(shí)現(xiàn)的情況下，至少應(yīng)放置于熔敷金屬區(qū)域以外。當(dāng)一張膠片上同時(shí)透照多條焊接接頭時(shí)，像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在透照區(qū)最邊緣的焊縫處，還應(yīng)滿足以下規(guī)定：a）單壁透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)放置在源側(cè)。雙壁單影透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)。雙壁雙影透照像質(zhì)計(jì)可放置在源側(cè)，也可放置在膠片側(cè)；b）單壁透照中，如果像質(zhì)計(jì)無法放置在源側(cè)，允許放置在膠片側(cè)（球罐全景曝光除外）；c）單壁透照中像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時(shí)，應(yīng)進(jìn)行對(duì)比試驗(yàn)。對(duì)比試驗(yàn)方法是在射源側(cè)和膠片側(cè)各放一個(gè)像質(zhì)計(jì)，用與工件相同的條件透照，測(cè)定出像質(zhì)計(jì)放置在源側(cè)和膠片側(cè)的靈敏度差異，以此修正像質(zhì)計(jì)靈敏度的規(guī)定，以保證實(shí)際透照的底片靈敏度符合要求；d）當(dāng)像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時(shí)，應(yīng)在像質(zhì)計(jì)上適當(dāng)位置放置鉛字“F”作為標(biāo)記，F(xiàn)標(biāo)記的影像應(yīng)與像質(zhì)計(jì)的標(biāo)記同時(shí)出現(xiàn)在底片上，且應(yīng)在檢測(cè)報(bào)告中注明。5.12.2像質(zhì)計(jì)數(shù)量

原則上每張底片上都應(yīng)有像質(zhì)計(jì)的影像。當(dāng)一次曝光完成多張膠片照相時(shí)，使用的像質(zhì)計(jì)數(shù)量允許減少但應(yīng)符合以下要求：

a）環(huán)形對(duì)接焊接接頭采用源置于中心周向曝光時(shí)，至少在圓周上等間隔地放置3個(gè)像質(zhì)計(jì)；

b）球罐對(duì)接焊接接頭采用源置于球心的全景曝光時(shí)，在上極和下極焊縫的每張底片上都應(yīng)放置像質(zhì)計(jì)，且在每帶的縱縫和環(huán)縫上沿經(jīng)度方向等間隔至少放置3個(gè)像質(zhì)計(jì)；c）一次曝光連續(xù)排列的多張膠片時(shí)，至少在第一張、中間一張和最后一張膠片處各放置一個(gè)像質(zhì)計(jì)。5.12.3小徑管對(duì)接焊縫

小徑管使用通用絲型和專用等徑絲型像質(zhì)計(jì)時(shí)，金屬絲應(yīng)橫跨垂直焊縫放置。像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置于源側(cè)，當(dāng)無法放置在源側(cè)時(shí)，可將像質(zhì)計(jì)置于膠片側(cè)，但應(yīng)在檢測(cè)記錄和報(bào)告中說明?！坏群窕虿煌牧虾缚p，以及管座焊縫的像質(zhì)計(jì)擺放5.12.4不等厚或不同種類材料之間對(duì)接焊縫如果焊接接頭的幾何形狀允許，厚度不同或材料類型不同的部位應(yīng)分別采用與被檢材料厚度或類型相匹配的像質(zhì)計(jì)，并分別放置在焊接接頭相對(duì)應(yīng)部位。5.12.5管座角焊縫推薦采用線型像質(zhì)計(jì)，根據(jù)像質(zhì)計(jì)能夠投影到被檢測(cè)區(qū)的位置而放置。如果允許，像質(zhì)計(jì)盡可能置于黑度最小的區(qū)域。?解釋：老標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730-2005沒有規(guī)定。5.12.6像質(zhì)計(jì)影像識(shí)別

（24）

使用絲型像質(zhì)計(jì)時(shí)，底片上能夠識(shí)別的最細(xì)線的編號(hào)即為像質(zhì)計(jì)靈敏度值。如底片黑度均勻部位（一般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū)）能夠清晰地看到長(zhǎng)度不小于10mm的連續(xù)金屬絲影像時(shí)，則認(rèn)為該絲是可識(shí)別的。專用等徑絲型像質(zhì)計(jì)至少應(yīng)能識(shí)別兩根金屬絲。

使用階梯孔型像質(zhì)計(jì)時(shí)，底片上能夠識(shí)別的最小孔的編號(hào)即為像質(zhì)計(jì)靈敏度值，當(dāng)同一階梯上含有兩個(gè)孔時(shí)，則兩個(gè)孔都應(yīng)在底片上可識(shí)別。1、理解：（1）在像質(zhì)計(jì)擺放原則中對(duì)1/4處是一個(gè)相對(duì)概念。（2）根據(jù)透照方式的不同規(guī)定了像質(zhì)計(jì)應(yīng)的擺放位置。（3）規(guī)定了允許減少的三種情況（環(huán)形焊縫周向曝光：≥3；連續(xù)多張一次曝光：≥3；球：限制）（4）小徑管即可以選用通用線型像質(zhì)計(jì)也可以選用專用線型像質(zhì)計(jì)。（4）像質(zhì)計(jì)的觀察一般在母材上而不是在焊縫上。（考慮深槽焊）。（5）“F”標(biāo)記的影像應(yīng)與像質(zhì)計(jì)的標(biāo)記同時(shí)出現(xiàn)在底片上（像質(zhì)計(jì)的標(biāo)記是指像質(zhì)計(jì)上的標(biāo)準(zhǔn)號(hào)）。2、應(yīng)用：（1）只有在單壁透照，像質(zhì)計(jì)放在膠片側(cè)時(shí)才進(jìn)行對(duì)比試驗(yàn)，其他方式均不用做對(duì)比試驗(yàn)。（2）像質(zhì)計(jì)可放置在源側(cè)，也可放置在膠片側(cè)僅限于小徑管雙壁雙影時(shí)使用。（3）“F”標(biāo)記一般應(yīng)放置在像質(zhì)計(jì)標(biāo)識(shí)的右上角。（4）當(dāng)焊縫寬度較大時(shí)應(yīng)加長(zhǎng)金屬絲的長(zhǎng)度，或適當(dāng)移動(dòng)像質(zhì)計(jì)的位置。（5）當(dāng)像質(zhì)計(jì)放在膠片側(cè)時(shí)，應(yīng)在檢驗(yàn)報(bào)告像質(zhì)計(jì)靈敏度一欄中注明。3、注意：（1）雙壁雙影最大透照厚度上限：（表7）。（2）小徑管使用專用像質(zhì)計(jì)時(shí)要看到兩根。5.13標(biāo)記

（24）5.13.1透照部位的標(biāo)記由識(shí)別標(biāo)記和定位標(biāo)記組成。標(biāo)記一般由適當(dāng)尺寸的鉛（或其他適宜的重金屬）制數(shù)字、拼音字母和符號(hào)等構(gòu)成。底片標(biāo)識(shí)能清晰顯示且不至于對(duì)底片的評(píng)定帶來影響，標(biāo)記的材料和厚度應(yīng)根據(jù)被檢工件的厚度來選擇，保證標(biāo)記影像不模糊，也不至于產(chǎn)生眩光。5.13.2

識(shí)別標(biāo)記一般包括：產(chǎn)品編號(hào)、焊接接頭編號(hào)、部位編號(hào)和透照日期。返修后的透照還應(yīng)有返修標(biāo)記，擴(kuò)大檢測(cè)比例的透照應(yīng)有擴(kuò)大檢測(cè)標(biāo)記。5.13.3

定位標(biāo)記一般包括中心標(biāo)記、搭接標(biāo)記、檢測(cè)區(qū)標(biāo)記等。中心標(biāo)記指示透照部位區(qū)段的中心位置和分段編號(hào)的方向，一般用十字箭頭“↑”表示。搭接標(biāo)記是連續(xù)檢測(cè)時(shí)的透照分段標(biāo)記，可用符號(hào)“↑”或其他能顯示搭接情況的方法（如數(shù)字等）表示。檢測(cè)區(qū)標(biāo)記采取的方式能夠清晰標(biāo)識(shí)檢測(cè)區(qū)范圍即可。5.13.4內(nèi)外焊縫余高均磨平的情況，底片上不能直接正確測(cè)定和區(qū)別檢測(cè)區(qū)位置和寬度時(shí)，應(yīng)采用適當(dāng)?shù)亩ㄎ粯?biāo)記（如采用鉛質(zhì)窄條）進(jìn)行標(biāo)識(shí)。5.13.5允許采用預(yù)曝光方式獲得相關(guān)識(shí)別標(biāo)記，但必須采取有效措施保證根據(jù)射線底片上的預(yù)曝光識(shí)別標(biāo)記能追蹤到工件的相應(yīng)被檢區(qū)域，并應(yīng)采取有效屏蔽措施保證放置識(shí)別標(biāo)記以外的區(qū)域不被曝光。5.13.6定位標(biāo)記應(yīng)放在工件上，其擺放應(yīng)符合附錄J的規(guī)定。所有標(biāo)記的影像不應(yīng)重疊，且不應(yīng)干擾有效評(píng)定范圍內(nèi)的影像。當(dāng)由于結(jié)構(gòu)原因，定位標(biāo)記需要放置于膠片側(cè)時(shí)，檢測(cè)記錄和報(bào)告應(yīng)標(biāo)注實(shí)際的評(píng)定范圍。（標(biāo)記影像不得進(jìn)入檢測(cè)區(qū)源側(cè)表面在底片上的投影區(qū)內(nèi)）5.13.7識(shí)別標(biāo)記允許放置于源側(cè)或膠片側(cè)，所有標(biāo)記的影像不應(yīng)重疊，且不應(yīng)干擾有效評(píng)定范圍內(nèi)的影像。5.13.8為了能精確的辨別底片位置，以被檢工件上永久標(biāo)識(shí)或部位特征作為參考點(diǎn)；如果因材料性質(zhì)和使用條件而不能進(jìn)行永久標(biāo)識(shí)時(shí)，應(yīng)采用其他方法（如布片圖）確定底片位置。（25）1、理解：（1）未對(duì)返修標(biāo)記,擴(kuò)大檢測(cè)比例的擴(kuò)大