標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 17626.17-2005 是一項中國國家標(biāo)準(zhǔn)，全稱為《電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗》。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子設(shè)備或系統(tǒng)在直流電源輸入端口面臨紋波干擾時的測試方法及要求，旨在評估設(shè)備在實際工作環(huán)境中對電源線路上可能出現(xiàn)的電壓波動的承受能力，確保其穩(wěn)定運行和電磁兼容性。

標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容概覽：

  1. 范圍：明確了該標(biāo)準(zhǔn)適用于直流供電設(shè)備或系統(tǒng)的紋波抗擾度測試，特別是那些通過直流電源輸入端口連接到電源的設(shè)備。

  2. 規(guī)范性引用文件：列出了實施本標(biāo)準(zhǔn)時需要參考的其他相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和文件，這些文件中的部分內(nèi)容被視為本標(biāo)準(zhǔn)的一部分。

  3. 術(shù)語和定義：對測試中涉及的關(guān)鍵術(shù)語進(jìn)行了解釋，如紋波抗擾度、試驗等級等，確保對標(biāo)準(zhǔn)的理解統(tǒng)一。

  4. 試驗設(shè)備：詳細(xì)描述了進(jìn)行紋波抗擾度測試所需的設(shè)備和設(shè)施，包括信號發(fā)生器、耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)、測量儀器等，以及它們的性能要求。

  5. 試驗布置：說明了被測設(shè)備（DUT）與測試設(shè)備之間的連接方式，以及如何設(shè)置測試環(huán)境以模擬真實使用條件。

  6. 試驗程序：

    • 預(yù)處理：在正式測試前，可能需要對DUT進(jìn)行一定的預(yù)處理，以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
    • 試驗等級確定：根據(jù)設(shè)備類型和預(yù)期應(yīng)用環(huán)境，選擇合適的試驗等級，即設(shè)定紋波電壓的幅值和頻率。
    • 試驗實施：通過施加不同等級的紋波電壓至直流電源輸入端口，觀察并記錄DUT的響應(yīng)和性能變化。

  7. 評價準(zhǔn)則：規(guī)定了判斷DUT是否通過測試的標(biāo)準(zhǔn)，通常包括功能正常、無永久性損壞、數(shù)據(jù)丟失或誤操作等。

  8. 試驗報告：要求詳細(xì)記錄測試過程、所用參數(shù)、觀察結(jié)果及結(jié)論，為產(chǎn)品認(rèn)證、設(shè)計改進(jìn)提供依據(jù)。

重要性：

此標(biāo)準(zhǔn)的實施有助于制造商確保其產(chǎn)品在存在直流電源紋波的復(fù)雜電磁環(huán)境中仍能穩(wěn)定工作，減少因電源質(zhì)量不穩(wěn)定導(dǎo)致的故障，提升產(chǎn)品的可靠性和用戶滿意度。同時，也是產(chǎn)品認(rèn)證、出口檢驗等環(huán)節(jié)的重要參考依據(jù)。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2005-02-06 頒布
  • 2005-12-10 實施
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GB/T 17626.17-2005電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗_第1頁
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文檔簡介

ICS33.100.20L06中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17626.17-2005/IEC61000-4-17:2002電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗ElectromagnetieCompatibility-Testingandmeasurementtechniques-Rippleond.c.inputpowerportimmunitytest（IEC61000-4-17:2002,IDT)2005-02-06發(fā)布2005-12-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T17626.17-2005/IEC61000-4-17:2002前言IEC引言范圍2規(guī)范性引用文件3概述4術(shù)語和定義5試驗等級和波形6試驗發(fā)生器7試驗配置8試驗程序9試驗結(jié)果的評定10試驗報告…附錄A（資料性附錄）紋波現(xiàn)象的資料A.1紋波現(xiàn)象的描述……A.2試驗等級的選擇A.3有關(guān)發(fā)生器的資料圖1紋波電壓波形示例…圖A.1以整流系統(tǒng)為基礎(chǔ)的發(fā)生器示例圖A.2以可編程裝置為基礎(chǔ)的發(fā)生器示例表1試驗等級

GB/T17626.17-2005/IEC61000-4-17:2002本部分等同采用IEC61000-4-17:2002《電磁兼容第4部分：試驗和測量技術(shù)第17分部分：直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗》。本部分規(guī)定了電氣和電子設(shè)備對直流電源輸人端口紋波抗擾度試驗的試驗等級和測量方法。本部分是《電磁兼容試驗和測量技術(shù)》系列標(biāo)準(zhǔn)之一，該系列標(biāo)準(zhǔn)目前包括以下部分：GB/T17626.1—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)抗擾度試驗總論（idtIEC61000-4-1：1992)GB/T17626.2—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(idtIEC61000-4-2:1995)GB/T17626.3—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻電磁場輻射抗擾度試驗(idtIEC61000-4-3:1995）GB/T17626.4—1998電磁兼容武驗和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗（idtIEC61000-4-4:1995）GB/T17626.5-1999電電磁兼容試驗和測量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗(idtIEC61000-4-5:1995）GB/T17626.6-1998電磁兼容武驗和測量技術(shù)耐頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度（idtIEC61000-4-6:1996）GB/T17626.7—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)：供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、諧間波的測量和測量儀器導(dǎo)則(idtIEC61000-4-7:1991）GB/T17626.8—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻磁場抗擾度試驗（idtIEC61000-4-8：1993）GB/T17626.9—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)脈沖磁場抗抗度試驗（idtIEC61000-4-9:1993）GB/T17626.10-1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)尼振蕩磁場抗擾度試驗（idtIEC61000-4-10:1993）GB/T17626.11-1999電磁兼容：試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗(idtIEC61000-4-11:1994）GB/T17626.12-1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)振蕩波抗擾度試驗(idtIEC61000-4-12:1995）GB/T17626.14-2005電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓波動抗擾度試驗(IEC61000-4-14:2002.IDT)GB/T17626.17—2005電磁兼容試驗和測量技術(shù)0～150kHz傳導(dǎo)共模騷擾抗擾度試驗電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸人端口紋波抗擾度試驗(IEC61000-4-17:2002.IDT)電磁兼容試驗和測量技術(shù)三相電壓不平衡抗擾度試驗電磁兼容試驗和測量技術(shù)電源頻率變化抗擾度試驗電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸人端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗抗度試驗本部分的附錄A是資料性附錄。本部分由國家經(jīng)濟(jì)貿(mào)易委員會電力司提出本部分由全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC246)歸口本部分起草單位：國家電力公司武漢高壓研究所本部分主要起草人：萬保權(quán)、張小武、鄲雄、蔣虹、王勤、張廣洲。

GB/T17626.17-2005/IEC61000-4-17:2002IEC引本部分是IEC61000系列出版物的一部分,該系列出版物的構(gòu)成如下第一部分：綜述總的考慮(概述、基本原理)定義、術(shù)語第二部分：環(huán)境環(huán)境的描述環(huán)境的分類兼容性水平第三部分：限值發(fā)射限值坑擾度限值(當(dāng)它們不屬于產(chǎn)品委員會的責(zé)任范圍時)第四部分：試驗和測量技術(shù)測量技術(shù)試驗技術(shù)第五部分：安裝和減緩導(dǎo)則安裝導(dǎo)則減緩方法和裝置第六部分：通用標(biāo)準(zhǔn)第九部分：其他每一部分又可分為若干分部分.它們作為國際標(biāo)準(zhǔn)或技術(shù)報告出版

GB/T17626.17-2005/IEC61000-4-17:2002電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗批度試驗1范圍本部分規(guī)定了電氣和電子設(shè)備的直流電源輸人端口的紋波抗擾度試驗方法本部分適用于由外部整流系統(tǒng)或正在充電的蓄電池供電的設(shè)備的低壓直流電源端口。本部分的目的是建立一個通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn).以在試驗室條件下對電力和電子設(shè)備進(jìn)行來自于如整流系統(tǒng)和/或蓄電池充電時疊加在直流電源上的紋波電壓的抗擾度試驗。本部分規(guī)定了：武試驗電壓的波形；試驗等級范圍；試驗發(fā)生器；試驗配置：試驗程序下述的試驗要求適用于電氣和電子設(shè)備及系統(tǒng)。當(dāng)受試設(shè)備的額定功率大于第6章中描述的試驗發(fā)生器的容量時，本試驗也適用于其組件或分系統(tǒng)。本試驗不適用于按開關(guān)模式轉(zhuǎn)換的蓄電池充電系統(tǒng)供電的設(shè)備本部分未規(guī)定用于特殊設(shè)備或系統(tǒng)的試驗。本部分的主要目的是為有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提供一個一般性的基本依據(jù)。有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(或用戶和制造商)有責(zé)任為其設(shè)備選擇合適的試驗項目和嚴(yán)酷等級。專門的試驗程序適用于特殊的電力或電子設(shè)備.如與電話交換中心直流供電網(wǎng)絡(luò)相連的設(shè)備：有關(guān)的專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會應(yīng)對本基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)中給出的試驗程序的相關(guān)性和適用性作出評價2范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T17626的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而·鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。GB/T4365電磁兼容術(shù)語(GB/T4365-2003IEV60050(161).IDT)GB17626.11—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓酒降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗(GB/T17626.11-1999,idtIEC61000-4-11）GB/T2421電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

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